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    • 3. 发明专利
    • 電漿處理裝置
    • 等离子处理设备
    • TW201526716A
    • 2015-07-01
    • TW103135097
    • 2014-10-08
    • 東京威力科創股份有限公司TOKYO ELECTRON LIMITED大亨股份有限公司DAIHEN CORPORATION
    • 永海幸一NAGAMI, KOICHI板谷耕司ITADANI, KOJI薦田剛KOMODA, TSUYOSHI
    • H05H1/46
    • C23C16/52H01J37/32146H01J37/32165H01J37/32174H01J37/32183
    • 本發明旨在提供一種電漿處理裝置,將對處理容器供給之兩種高頻波的功率以頻率不同的脈衝同時調變的情況,雙方匹配器中任一者皆可進行穩定且精確的匹配動作。 此電漿處理裝置中,對電漿生成用高頻波RF1及離子引進用高頻波RF2的功率,以不同頻率的第1及第2脈衝PS1、PS2進行調變時,於電漿生成系統的匹配器40,阻抗感測器96A,於低頻率的第2脈衝PS2的各週期,在高頻波供電線43上計算負載阻抗的平均值(一次移動平均值ma),根據該負載阻抗的平均值,輸出負載阻抗測定值。又,匹配控制器94A以可變方式控制匹配電路88A內的電抗元件XH1、XH2的電抗,俾負載阻抗測定值與匹配點(50Ω)一致或近似。
    • 本发明旨在提供一种等离子处理设备,将对处理容器供给之两种高频波的功率以频率不同的脉冲同时调制的情况,双方匹配器中任一者皆可进行稳定且精确的匹配动作。 此等离子处理设备中,对等离子生成用高频波RF1及离子引进用高频波RF2的功率,以不同频率的第1及第2脉冲PS1、PS2进行调制时,于等离子生成系统的匹配器40,阻抗传感器96A,于低频率的第2脉冲PS2的各周期,在高频波供电线43上计算负载阻抗的平均值(一次移动平均值ma),根据该负载阻抗的平均值,输出负载阻抗测定值。又,匹配控制器94A以可变方式控制匹配电路88A内的电抗组件XH1、XH2的电抗,俾负载阻抗测定值与匹配点(50Ω)一致或近似。