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1. 发明专利

TW200738331A 含有水溶性高分子及低分子化合物試料中之低分子化合物的分析方法审中-公开
简体标题：含有水溶性高分子及低分子化合物试料中之低分子化合物的分析方法
公开(公告)号：TW200738331A
公开(公告)日：2007-10-16
申请号：TW095126972
申请日：2006-07-24
申请人：昭和電工股份有限公司 SHOWA DENKO K. K.
发明人：岡田由治 OKADA, YOSHIJI , 新保邦明 SHIMBO, KUNIAKI , 近藤英幸 KONDO, HIDEYUKI
IPC分类号： B01J , G01N
CPC分类号： B01D15/08 , B01D15/426 , B01J20/285 , B01J2220/54
摘要：提供水溶性高分子及低分子化合物之分離良好,不受蛋白質等之影響,於等梯度條件下,可迅速地進行分析含有水溶性高分子及低分子化合物試料中之低分子化合物的分析方法。使用由90質量%以上之具有2個乙烯性碳-碳雙鍵及1個羥基之化合物(甘油二甲基丙烯酸酯等)作為原料單體所得之交聯有機高分子所形成,由普路蘭之排除臨界分子量為30000以下,3000以上,質量平均粒子徑為0.1至100��m之充填劑所成之管柱,進行高效能液相層析法分析為特徵之含有水溶性高分子及低分子化合物試料中之低分子化合物的分析方法,使用於該分析方法所使用之充填劑之含有水溶性高分子及低分子化合物試料中之低分子化合物分析用液相層析法用管柱。
简体摘要：提供水溶性高分子及低分子化合物之分离良好,不受蛋白质等之影响,于等梯度条件下,可迅速地进行分析含有水溶性高分子及低分子化合物试料中之低分子化合物的分析方法。使用由90质量%以上之具有2个乙烯性碳-碳双键及1个羟基之化合物(甘油二甲基丙烯酸酯等)作为原料单体所得之交联有机高分子所形成,由普路兰之排除临界分子量为30000以下,3000以上,质量平均粒子径为0.1至100��m之充填剂所成之管柱,进行高性能液相层析法分析为特征之含有水溶性高分子及低分子化合物试料中之低分子化合物的分析方法,使用于该分析方法所使用之充填剂之含有水溶性高分子及低分子化合物试料中之低分子化合物分析用液相层析法用管柱。

2. 发明专利

TW200639190A 離子層析儀用填充劑审中-公开
简体标题：离子层析仪用填充剂
公开(公告)号：TW200639190A
公开(公告)日：2006-11-16
申请号：TW095101240
申请日：2006-01-12
申请人：昭和電工股份有限公司 SHOWA DENKO K. K.
发明人：近藤英幸 KONDO, HIDEYUKI , 岡田由治 OKADA, YOSHIJI
IPC分类号： C08F , B01J , G01N
CPC分类号： B01D15/363 , B01J20/289 , B01J41/20 , B01J2220/54 , G01N30/96
摘要：本發明提供一種，在使用7種標準無機陰離子及3種鹵素氧化物陰離子之共10種陰離子的導電度檢測法，或藉由後筒柱衍生物化之紫外線檢測法的任一方法中，可避免壓力上升，且不受測定溫度或移動相流速之限制，能充分分離之離子層析儀用填充劑，使用此填充劑之化學質分離用具及分離方法。其係式(1)所示之季銨鹽基直接或透過間隔體連接於基材的離子層析儀用填充劑，使用此填充劑之化學物質分離用具及分離方法。095101240-p01.bmp(式中，R^1為具有至少一個烯烴性雙鍵或共軛雙鍵之基；R^2及R^3為分別獨立之與R^1相同或相異的有機殘基)。095101240-p01.bmp
简体摘要：本发明提供一种，在使用7种标准无机阴离子及3种卤素氧化物阴离子之共10种阴离子的导电度检测法，或借由后筒柱衍生物化之紫外线检测法的任一方法中，可避免压力上升，且不受测定温度或移动相流速之限制，能充分分离之离子层析仪用填充剂，使用此填充剂之化学质分离用具及分离方法。其系式(1)所示之季铵盐基直接或透过间隔体连接于基材的离子层析仪用填充剂，使用此填充剂之化学物质分离用具及分离方法。095101240-p01.bmp(式中，R^1为具有至少一个烯烃性双键或共轭双键之基；R^2及R^3为分别独立之与R^1相同或相异的有机残基)。095101240-p01.bmp

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