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    • 10. 发明专利
    • 溫度循環測試裝置及利用此裝置加熱覆晶封裝結構的方法 TEMPERATURE CYCLE TEST APPARATUS AND METHOD FOR HEATING FLIP CHIP STRUCTURE USING THE SAME
    • 温度循环测试设备及利用此设备加热覆晶封装结构的方法 TEMPERATURE CYCLE TEST APPARATUS AND METHOD FOR HEATING FLIP CHIP STRUCTURE USING THE SAME
    • TWI372434B
    • 2012-09-11
    • TW097103479
    • 2008-01-30
    • 日月光半導體製造股份有限公司
    • 鍾啟生賴逸少葉昶麟
    • H01L
    • 一種適於加熱覆晶封裝結構的溫度循環測試裝置。覆晶封裝結構包括第一基板、晶片、第一承載基板與多個第一銲球,晶片與第一承載基板分別配置於第一基板之上表面與下表面。其中,晶片係以覆晶接合方式與第一基板電性連接。第一銲球配置於第一基板與第一承載基板之間,且第一基板與第一承載基板藉由第一銲球而電性連接。溫度循環測試裝置包括第二基板、熱測試晶片、多個凸塊、第二承載基板與多個第二銲球。第二基板具有上表面與下表面,而熱測試晶片配置於第二基板的上表面上方且貼附於晶片上。凸塊配置於第二基板與熱測試晶片之間並電性連接第二基板與熱測試晶片。第二承載基板配置於第二基板的下表面的下方,而第二銲球配置於第二基板與第二承載基板之間並電性連接第二基板與第二承載基板。
    • 一种适于加热覆晶封装结构的温度循环测试设备。覆晶封装结构包括第一基板、芯片、第一承载基板与多个第一焊球,芯片与第一承载基板分别配置于第一基板之上表面与下表面。其中,芯片系以覆晶接合方式与第一基板电性连接。第一焊球配置于第一基板与第一承载基板之间,且第一基板与第一承载基板借由第一焊球而电性连接。温度循环测试设备包括第二基板、热测试芯片、多个凸块、第二承载基板与多个第二焊球。第二基板具有上表面与下表面,而热测试芯片配置于第二基板的上表面上方且贴附于芯片上。凸块配置于第二基板与热测试芯片之间并电性连接第二基板与热测试芯片。第二承载基板配置于第二基板的下表面的下方,而第二焊球配置于第二基板与第二承载基板之间并电性连接第二基板与第二承载基板。