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    • 8. 实用新型
    • 晶粒及其銲墊
    • 晶粒及其焊垫
    • TW519301U
    • 2003-01-21
    • TW091200974
    • 2002-01-30
    • 日月光半導體製造股份有限公司
    • 翁振源徐正宗
    • H01L
    • 本創作主要係關於一種用於晶粒之銲墊,該晶粒包含一主動表面、複數個銲墊及一隔離層,其中該主動表面包含複數個輸出入端點以作為該晶粒內部及外部之電性通孔;各該銲墊分別設置於各該輸出入端點上方;及該隔離層覆蓋於該主動表面上,並於相對該等銲墊之位置形成複數個開窗,用以外露該複數個銲墊,其特徵在於各該銲墊包含一連接區、一測試區及一分隔區,其中該連接區提供該等輸出入端點之電性通路,該測試區係用以供電性測試,該分隔區係分別鄰接該連接區與該測試區,用以分隔該連接區與該測試區。本創作以分隔區分隔該連接區與該測試區,其可避免先前技藝中電性測試時留下探針印而導致銲線黏接不佳之缺點,並提昇產品良率。
    • 本创作主要系关于一种用于晶粒之焊垫,该晶粒包含一主动表面、复数个焊垫及一隔离层,其中该主动表面包含复数个输出入端点以作为该晶粒内部及外部之电性通孔;各该焊垫分别设置于各该输出入端点上方;及该隔离层覆盖于该主动表面上,并于相对该等焊垫之位置形成复数个开窗,用以外露该复数个焊垫,其特征在于各该焊垫包含一连接区、一测试区及一分隔区,其中该连接区提供该等输出入端点之电性通路,该测试区系用以供电性测试,该分隔区系分别邻接该连接区与该测试区,用以分隔该连接区与该测试区。本创作以分隔区分隔该连接区与该测试区,其可避免先前技艺中电性测试时留下探针印而导致焊线黏接不佳之缺点,并提升产品良率。