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    • 10. 发明专利
    • 預清洗液、預清洗處理方法及圖案形成方法
    • 预清洗液、预清洗处理方法及图案形成方法
    • TW201640227A
    • 2016-11-16
    • TW105114652
    • 2016-05-12
    • 富士軟片股份有限公司FUJIFILM CORPORATION
    • 高橋年哉TAKAHASHI, TOSHIYA豊島安志TOYOSHIMA, YASUSHI阿部純也ABE, JUNYA望月英宏MOCHIZUKI, HIDEHIRO
    • G03F7/16B05D3/10C23G5/02G03F1/82H01L21/027
    • C11D7/5022C11D7/265C11D7/34G03F1/50G03F1/78G03F1/82G03F7/038G03F7/039G03F7/16G03F7/168G03F7/2037G03F7/322H01L21/027
    • 本發明提供一種預清洗液、以及使用其的預清洗處理方法及圖案形成方法,藉由該預清洗液,尤其於超微細(例如線寬為50 nm以下)的圖案的形成中,可形成感度、圖案的剖面形狀、解析性、及殘渣缺陷性能優異的圖案,該預清洗液用於將由感光化射線性或感放射線性組成物形成的抗蝕劑膜形成於基板上,並對所述抗蝕劑膜照射光化射線或放射線,藉此於基板上形成圖案的方法,且用以於將所述感光化射線性或感放射線性組成物塗佈在所述基板上前,對所述基板進行預清洗處理,其滿足下述(1)及下述(2)的條件。 (1)相對於所述預清洗液的總質量,所述預清洗液含有80質量%以上的有機溶劑。 (2)所述有機溶劑為選自由醇類、環狀醚類、二醇醚類、二醇醚乙酸酯類、烴類、酮類、內酯類、及酯類所組成的群組中的一種以上的有機溶劑。
    • 本发明提供一种预清洗液、以及使用其的预清洗处理方法及图案形成方法,借由该预清洗液,尤其于超微细(例如线宽为50 nm以下)的图案的形成中,可形成感度、图案的剖面形状、解析性、及残渣缺陷性能优异的图案,该预清洗液用于将由感光化射线性或感放射线性组成物形成的抗蚀剂膜形成于基板上,并对所述抗蚀剂膜照射光化射线或放射线,借此于基板上形成图案的方法,且用以于将所述感光化射线性或感放射线性组成物涂布在所述基板上前,对所述基板进行预清洗处理,其满足下述(1)及下述(2)的条件。 (1)相对于所述预清洗液的总质量,所述预清洗液含有80质量%以上的有机溶剂。 (2)所述有机溶剂为选自由醇类、环状醚类、二醇醚类、二醇醚乙酸酯类、烃类、酮类、内酯类、及酯类所组成的群组中的一种以上的有机溶剂。