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1. 发明专利

TW201409071A 反向聚焦顯微成像結構及方法失效
简体标题：反向聚焦显微成像结构及方法
公开(公告)号：TW201409071A
公开(公告)日：2014-03-01
申请号：TW101129807
申请日：2012-08-16
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：孫慶成 , SUN, CHING CHERNG , 余業緯 , YU, YEH WEI , 林哲巨 , LIN, CHE CHU , 陳思妤 , CHEN, SZU YU
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/36
CPC分类号： G01N21/45 , A61B5/0059 , G02B21/0056 , G02B21/082 , G02B21/14 , G02B21/16 , G02B21/365
摘要：本發明為一種反向聚焦之顯微成像結構及方法，反向聚焦之顯微成像結構包括：第一分光鏡；物鏡；以及相位共軛模組。其首先藉由第一分光鏡輸入探測光並輸出至物鏡，又藉由物鏡接收探測光反射後之訊號光，然後再次由第一分光鏡將訊號光投射至相位共軛模組。藉由本發明的實施，可以對待測之生醫組織進行單邊探測並提高顯微成像之縱向解析度。
简体摘要：本发明为一种反向聚焦之显微成像结构及方法，反向聚焦之显微成像结构包括：第一分光镜；物镜；以及相位共轭模块。其首先借由第一分光镜输入探测光并输出至物镜，又借由物镜接收探测光反射后之信号光，然后再次由第一分光镜将信号光投射至相位共轭模块。借由本发明的实施，可以对待测之生医组织进行单边探测并提高显微成像之纵向分辨率。

2. 发明专利

TWI456255B 反向聚焦顯微成像結構及方法失效
简体标题：反向聚焦显微成像结构及方法
公开(公告)号：TWI456255B
公开(公告)日：2014-10-11
申请号：TW101129807
申请日：2012-08-16
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：孫慶成 , SUN, CHING CHERNG , 余業緯 , YU, YEH WEI , 林哲巨 , LIN, CHE CHU , 陳思妤 , CHEN, SZU YU
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/36
CPC分类号： G01N21/45 , A61B5/0059 , G02B21/0056 , G02B21/082 , G02B21/14 , G02B21/16 , G02B21/365

3. 发明专利

TW201605507A ＵＶＢ－ＬＥＤ可攜式自動追蹤光癬治療機审中-公开
简体标题：ＵＶＢ－ＬＥＤ可携式自动追踪光癣治疗机
公开(公告)号：TW201605507A
公开(公告)日：2016-02-16
申请号：TW103127807
申请日：2014-08-13
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：孫慶成 , SUN, CHING CHERNG , 陳思妤 , CHEN, SZU YU , 張育譽 , CHANG, YU YU , 加西亞 , CAMACHO, RODOLFO GARCIA
IPC分类号： A61N5/06
摘要：本發明一種UVB-LED可攜式自動追蹤光癬治療機，其專用於乾癬的治療，其包括：一基體，其一端具有一透射部；一裝設於基體內並位於透射部之光療照射件，光療照射件係具有複數呈陣列排序之發光二極體朝透射部透射出基體，而在透射部頂端進一步裝設有空間光調製器改變光線之亮暗分佈；一裝設於基體上之攝像件；一資料庫，其設置於基體內並與光療照射件、攝像件電性連接，攝像件係拍攝乾癬處形成區域比對資料與資料庫內建之資料進行對照比較，另設有控制單元裝設於基體內，又控制單元係與資料庫、光療照射件電性連接，資料庫與比對資料比對完成後，控制單元根據比對完成的資訊進一步控制光療照射件之複數發光二極體的亮滅及照射範圍。
简体摘要：本发明一种UVB-LED可携式自动追踪光癣治疗机，其专用于干癣的治疗，其包括：一基体，其一端具有一透射部；一装设于基体内并位于透射部之光疗照射件，光疗照射件系具有复数呈数组排序之发光二极管朝透射部透射出基体，而在透射部顶端进一步装设有空间光调制器改变光线之亮暗分布；一装设于基体上之摄像件；一数据库，其设置于基体内并与光疗照射件、摄像件电性连接，摄像件系拍摄干癣处形成区域比对数据与数据库内置之数据进行对照比较，另设有控制单元装设于基体内，又控制单元系与数据库、光疗照射件电性连接，数据库与比对数据比对完成后，控制单元根据比对完成的信息进一步控制光疗照射件之复数发光二极管的亮灭及照射范围。

4. 发明专利

TW201704742A 倍頻非螢光基態耗損超解析之顯微成像方法审中-公开
简体标题：倍频非萤光基态耗损超解析之显微成像方法
公开(公告)号：TW201704742A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：TW104123137
申请日：2015-07-16
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：陳思妤 , CHEN, SZU YU , 張瑞芬 , CHANG, JUI FEN , 戴朝義 , TAI, CHAO YI , 吳濠濠 , WU, HAO HAO
IPC分类号： G01N23/227
CPC分类号： G02B21/0072 , G02B21/0032 , G02B21/0084 , G02B21/16 , G02B21/365 , G02F1/353
摘要：本發明為一種倍頻非螢光基態耗損超解析之顯微成像方法，其包括下列步驟：提供一有機材料單元；聚焦激發光及基態耗損光；產生倍頻訊號；進行基態耗損；以及進行顯微成像。藉由本發明之實施，以激發光照射並激發有機材料單元，使其電子受激發並跳躍至單重態能階並使其分子感應產生倍頻訊號；又以基態耗損光將有機材料單元之基態能階電子激發至單重態能階，並經由系間轉換至三重態能階而導致有機材料單元產生基態耗損，降低非線性吸收，並抑制倍頻訊號的強度，進而調制(調變)非螢光倍頻訊號在空間上的分布。如此，可以將STED超解析顯微成像技術應用到非螢光訊號的調變與顯微成像，並提高顯微成像之影像解析度。
简体摘要：本发明为一种倍频非萤光基态耗损超解析之显微成像方法，其包括下列步骤：提供一有机材料单元；聚焦激发光及基态耗损光；产生倍频信号；进行基态耗损；以及进行显微成像。借由本发明之实施，以激发光照射并激发有机材料单元，使其电子受激发并跳跃至单重态能阶并使其分子感应产生倍频信号；又以基态耗损光将有机材料单元之基态能阶电子激发至单重态能阶，并经由系间转换至三重态能阶而导致有机材料单元产生基态耗损，降低非线性吸收，并抑制倍频信号的强度，进而调制(调制)非萤光倍频信号在空间上的分布。如此，可以将STED超解析显微成像技术应用到非萤光信号的调制与显微成像，并提高显微成像之影像分辨率。

5. 发明专利

TWI560468B 結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統有权
简体标题：结构照明平行接收之萤光超光谱显微系统
公开(公告)号：TWI560468B
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：TW104113747
申请日：2015-04-29
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：陳思妤 , CHEN, SZU YU , 蘇柏宇 , SU, POYU , 呂喬聖 , LU, CHIAO SHENG , 徐鈺 , HSU, YU JOHN
IPC分类号： G02B21/06 , G01N21/64
CPC分类号： G01N21/6458 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0229 , G01J3/0267 , G01J3/04 , G01J3/06 , G01J3/10 , G01J3/12 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/4406 , G01J2003/2813 , G01J2003/282 , G01N2021/6421 , G01N2021/6423 , G01N2021/6476 , G01N2021/6478

6. 发明专利

TW201634907A 一次性多角度光譜量測系統审中-公开
简体标题：一次性多角度光谱量测系统
公开(公告)号：TW201634907A
公开(公告)日：2016-10-01
申请号：TW104110077
申请日：2015-03-27
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：陳思妤 , CHEN, SZU YU , 張瑞芬 , CHANG, JUI FEN , 徐鈺 , HSU, YU JOHN , 呂揚翰 , LU, YANG HAN
IPC分类号： G01J3/28
摘要：本發明為一種一次性多角度光譜量測系統，其包括：一光學轉換模組；一角度選擇元件；一色散元件；一第一集光元件；一第二集光元件以及一二維偵測元件。光學轉換模組將一光源發射出的不同角度的光線進行轉換，匯聚為空間分佈的一光訊號，再經由角度選擇元件、第一集光元件、色散元件、第二集光元件及二維偵測元件偵測得光源所輸出光型得一縱切面上不同角度之頻譜。藉由本發明之實施，使光源偵測得以一次進行，不必進行逐一掃描，即可同時獲得光源所有偵測角度上的光譜，不但節省光源發射光譜的偵測時間，更可以避免掃描元件所可能產生的光學或機構誤差及不連續的現象所產生的偵測錯誤，是光源頻譜分析的一項重大進步。
简体摘要：本发明为一种一次性多角度光谱量测系统，其包括：一光学转换模块；一角度选择组件；一色散组件；一第一集光组件；一第二集光组件以及一二维侦测组件。光学转换模块将一光源发射出的不同角度的光线进行转换，汇聚为空间分布的一光信号，再经由角度选择组件、第一集光组件、色散组件、第二集光组件及二维侦测组件侦测得光源所输出光型得一纵切面上不同角度之频谱。借由本发明之实施，使光源侦测得以一次进行，不必进行逐一扫描，即可同时获得光源所有侦测角度上的光谱，不但节省光源发射光谱的侦测时间，更可以避免扫描组件所可能产生的光学或机构误差及不连续的现象所产生的侦测错误，是光源频谱分析的一项重大进步。

7. 发明专利

TWI560443B 倍頻非螢光基態耗損超解析之顯微成像方法有权
简体标题：倍频非萤光基态耗损超解析之显微成像方法
公开(公告)号：TWI560443B
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：TW104123137
申请日：2015-07-16
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：陳思妤 , CHEN, SZU YU , 張瑞芬 , CHANG, JUI FEN , 戴朝義 , TAI, CHAO YI , 吳濠濠 , WU, HAO HAO
IPC分类号： G01N23/227
CPC分类号： G02B21/0072 , G02B21/0032 , G02B21/0084 , G02B21/16 , G02B21/365 , G02F1/353

8. 发明专利

TW201638628A 結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統审中-公开
简体标题：结构照明平行接收之萤光超光谱显微系统
公开(公告)号：TW201638628A
公开(公告)日：2016-11-01
申请号：TW104113747
申请日：2015-04-29
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：陳思妤 , CHEN, SZU YU , 蘇柏宇 , SU, POYU , 呂喬聖 , LU, CHIAO SHENG , 徐鈺 , HSU, YU JOHN
IPC分类号： G02B21/06 , G01N21/64
CPC分类号： G01N21/6458 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0229 , G01J3/0267 , G01J3/04 , G01J3/06 , G01J3/10 , G01J3/12 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/4406 , G01J2003/2813 , G01J2003/282 , G01N2021/6421 , G01N2021/6423 , G01N2021/6476 , G01N2021/6478
摘要：本發明為一種結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統，其包括有：一投光系統；一偵測系統；以及一電控裝置。其中，投光系統包括：一數位光源處理模組(Digital Light Processing Module，DLP)；一第一透鏡組；一光路分配元件；及一物鏡，其中數位光源處理模組係用以產生線型結構激發光。偵測系統則包括：一第二透鏡組；一分頻反射元件；一二維光偵測器；及一集光元件。藉由本發明之實施，以光學的投光系統及偵測系統進行偵測，並以電控裝置控制數位光源處理模組、二維移動平台及二維光偵測器，結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統可以提高解析度並取得準確的空間維度與光譜維度的資訊，而獲得一待測物之四維超光譜影像。
简体摘要：本发明为一种结构照明平行接收之萤光超光谱显微系统，其包括有：一投光系统；一侦测系统；以及一电控设备。其中，投光系统包括：一数码光源处理模块(Digital Light Processing Module，DLP)；一第一透镜组；一光路分配组件；及一物镜，其中数码光源处理模块系用以产生线型结构激发光。侦测系统则包括：一第二透镜组；一分频反射组件；一二维光侦测器；及一集光组件。借由本发明之实施，以光学的投光系统及侦测系统进行侦测，并以电控设备控制数码光源处理模块、二维移动平台及二维光侦测器，结构照明平行接收之萤光超光谱显微系统可以提高分辨率并取得准确的空间维度与光谱维度的信息，而获得一待测物之四维超光谱影像。

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