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1. 发明专利

TW201638628A 結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統审中-公开
简体标题：结构照明平行接收之萤光超光谱显微系统
公开(公告)号：TW201638628A
公开(公告)日：2016-11-01
申请号：TW104113747
申请日：2015-04-29
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：陳思妤 , CHEN, SZU YU , 蘇柏宇 , SU, POYU , 呂喬聖 , LU, CHIAO SHENG , 徐鈺 , HSU, YU JOHN
IPC分类号： G02B21/06 , G01N21/64
CPC分类号： G01N21/6458 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0229 , G01J3/0267 , G01J3/04 , G01J3/06 , G01J3/10 , G01J3/12 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/4406 , G01J2003/2813 , G01J2003/282 , G01N2021/6421 , G01N2021/6423 , G01N2021/6476 , G01N2021/6478
摘要：本發明為一種結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統，其包括有：一投光系統；一偵測系統；以及一電控裝置。其中，投光系統包括：一數位光源處理模組(Digital Light Processing Module，DLP)；一第一透鏡組；一光路分配元件；及一物鏡，其中數位光源處理模組係用以產生線型結構激發光。偵測系統則包括：一第二透鏡組；一分頻反射元件；一二維光偵測器；及一集光元件。藉由本發明之實施，以光學的投光系統及偵測系統進行偵測，並以電控裝置控制數位光源處理模組、二維移動平台及二維光偵測器，結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統可以提高解析度並取得準確的空間維度與光譜維度的資訊，而獲得一待測物之四維超光譜影像。
简体摘要：本发明为一种结构照明平行接收之萤光超光谱显微系统，其包括有：一投光系统；一侦测系统；以及一电控设备。其中，投光系统包括：一数码光源处理模块(Digital Light Processing Module，DLP)；一第一透镜组；一光路分配组件；及一物镜，其中数码光源处理模块系用以产生线型结构激发光。侦测系统则包括：一第二透镜组；一分频反射组件；一二维光侦测器；及一集光组件。借由本发明之实施，以光学的投光系统及侦测系统进行侦测，并以电控设备控制数码光源处理模块、二维移动平台及二维光侦测器，结构照明平行接收之萤光超光谱显微系统可以提高分辨率并取得准确的空间维度与光谱维度的信息，而获得一待测物之四维超光谱影像。

2. 发明专利

TWI560468B 結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統有权
简体标题：结构照明平行接收之萤光超光谱显微系统
公开(公告)号：TWI560468B
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：TW104113747
申请日：2015-04-29
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：陳思妤 , CHEN, SZU YU , 蘇柏宇 , SU, POYU , 呂喬聖 , LU, CHIAO SHENG , 徐鈺 , HSU, YU JOHN
IPC分类号： G02B21/06 , G01N21/64
CPC分类号： G01N21/6458 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0229 , G01J3/0267 , G01J3/04 , G01J3/06 , G01J3/10 , G01J3/12 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/4406 , G01J2003/2813 , G01J2003/282 , G01N2021/6421 , G01N2021/6423 , G01N2021/6476 , G01N2021/6478

3. 发明专利

TW201634907A 一次性多角度光譜量測系統审中-公开
简体标题：一次性多角度光谱量测系统
公开(公告)号：TW201634907A
公开(公告)日：2016-10-01
申请号：TW104110077
申请日：2015-03-27
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：陳思妤 , CHEN, SZU YU , 張瑞芬 , CHANG, JUI FEN , 徐鈺 , HSU, YU JOHN , 呂揚翰 , LU, YANG HAN
IPC分类号： G01J3/28
摘要：本發明為一種一次性多角度光譜量測系統，其包括：一光學轉換模組；一角度選擇元件；一色散元件；一第一集光元件；一第二集光元件以及一二維偵測元件。光學轉換模組將一光源發射出的不同角度的光線進行轉換，匯聚為空間分佈的一光訊號，再經由角度選擇元件、第一集光元件、色散元件、第二集光元件及二維偵測元件偵測得光源所輸出光型得一縱切面上不同角度之頻譜。藉由本發明之實施，使光源偵測得以一次進行，不必進行逐一掃描，即可同時獲得光源所有偵測角度上的光譜，不但節省光源發射光譜的偵測時間，更可以避免掃描元件所可能產生的光學或機構誤差及不連續的現象所產生的偵測錯誤，是光源頻譜分析的一項重大進步。
简体摘要：本发明为一种一次性多角度光谱量测系统，其包括：一光学转换模块；一角度选择组件；一色散组件；一第一集光组件；一第二集光组件以及一二维侦测组件。光学转换模块将一光源发射出的不同角度的光线进行转换，汇聚为空间分布的一光信号，再经由角度选择组件、第一集光组件、色散组件、第二集光组件及二维侦测组件侦测得光源所输出光型得一纵切面上不同角度之频谱。借由本发明之实施，使光源侦测得以一次进行，不必进行逐一扫描，即可同时获得光源所有侦测角度上的光谱，不但节省光源发射光谱的侦测时间，更可以避免扫描组件所可能产生的光学或机构误差及不连续的现象所产生的侦测错误，是光源频谱分析的一项重大进步。

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