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1. 发明专利

TW201634907A 一次性多角度光譜量測系統审中-公开
简体标题：一次性多角度光谱量测系统
公开(公告)号：TW201634907A
公开(公告)日：2016-10-01
申请号：TW104110077
申请日：2015-03-27
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：陳思妤 , CHEN, SZU YU , 張瑞芬 , CHANG, JUI FEN , 徐鈺 , HSU, YU JOHN , 呂揚翰 , LU, YANG HAN
IPC分类号： G01J3/28
摘要：本發明為一種一次性多角度光譜量測系統，其包括：一光學轉換模組；一角度選擇元件；一色散元件；一第一集光元件；一第二集光元件以及一二維偵測元件。光學轉換模組將一光源發射出的不同角度的光線進行轉換，匯聚為空間分佈的一光訊號，再經由角度選擇元件、第一集光元件、色散元件、第二集光元件及二維偵測元件偵測得光源所輸出光型得一縱切面上不同角度之頻譜。藉由本發明之實施，使光源偵測得以一次進行，不必進行逐一掃描，即可同時獲得光源所有偵測角度上的光譜，不但節省光源發射光譜的偵測時間，更可以避免掃描元件所可能產生的光學或機構誤差及不連續的現象所產生的偵測錯誤，是光源頻譜分析的一項重大進步。
简体摘要：本发明为一种一次性多角度光谱量测系统，其包括：一光学转换模块；一角度选择组件；一色散组件；一第一集光组件；一第二集光组件以及一二维侦测组件。光学转换模块将一光源发射出的不同角度的光线进行转换，汇聚为空间分布的一光信号，再经由角度选择组件、第一集光组件、色散组件、第二集光组件及二维侦测组件侦测得光源所输出光型得一纵切面上不同角度之频谱。借由本发明之实施，使光源侦测得以一次进行，不必进行逐一扫描，即可同时获得光源所有侦测角度上的光谱，不但节省光源发射光谱的侦测时间，更可以避免扫描组件所可能产生的光学或机构误差及不连续的现象所产生的侦测错误，是光源频谱分析的一项重大进步。

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