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    • 3. 发明专利
    • 層合薄膜
    • 层合薄膜
    • TW201404592A
    • 2014-02-01
    • TW102113482
    • 2013-04-16
    • 住友化學股份有限公司SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED
    • 山下恭弘YAMASHITA, YASUHIRO黑田俊也KURODA, TOSHIYA
    • B32B3/30C23C16/44
    • B32B3/30B32B2250/02C23C16/401C23C16/545Y10T428/24355
    • 本發明係一種基材之表面經平坦化之氣體阻隔性優異之層合薄膜,其係具備基材、與形成於前述基材之至少一表面上之至少一層薄膜層的層合薄膜,於垂直於前述基材之表面之方向的截面,當令前述基材之形成有前述薄膜層側之連結表面之兩端部的方向為X方向、垂直於前述X方向的方向為Y方向時,前述基材當於形成有前述薄膜層側之表面具有突起部時,求出通過前述突起部之邊緣且平行於X方向之線段x1、與通過前述突起部之頂點且平行於Y方向之線段y1的交點p1,令前述線段y1之前述頂點與前述交點p1之間的距離為a、前述線段x1之前述邊緣與前述交點p1之間的距離為b、前述基材之前述突起部附近之平坦部上之前述薄膜層的厚度為h,前述基材當於形成有前述薄膜層之側的表面,具有凹陷部時,求出通過前述凹陷部之邊緣且平行於X方向之線段x2、與通過前述凹陷部之底且平行於Y方向之線段y2的交點p2,令前述線段y2之前述底與前述交點p2之間的距離為a、前述線段x2之前述邊緣與前述交點p2之間的距離為b、前述基材之前述凹陷部附近之平坦部上之前述薄膜層的厚度為h,惟,前述截面,係以使a/b之值成為最大的方式所設定者,前述表面中之所有的前述突起部及凹陷部,係滿足下述式(1)所表示之關係。a/b<0.7(a/h)-1+0.31...(1)
    • 本发明系一种基材之表面经平坦化之气体阻隔性优异之层合薄膜,其系具备基材、与形成于前述基材之至少一表面上之至少一层薄膜层的层合薄膜,于垂直于前述基材之表面之方向的截面,当令前述基材之形成有前述薄膜层侧之链接表面之两端部的方向为X方向、垂直于前述X方向的方向为Y方向时,前述基材当于形成有前述薄膜层侧之表面具有突起部时,求出通过前述突起部之边缘且平行于X方向之线段x1、与通过前述突起部之顶点且平行于Y方向之线段y1的交点p1,令前述线段y1之前述顶点与前述交点p1之间的距离为a、前述线段x1之前述边缘与前述交点p1之间的距离为b、前述基材之前述突起部附近之平坦部上之前述薄膜层的厚度为h,前述基材当于形成有前述薄膜层之侧的表面,具有凹陷部时,求出通过前述凹陷部之边缘且平行于X方向之线段x2、与通过前述凹陷部之底且平行于Y方向之线段y2的交点p2,令前述线段y2之前述底与前述交点p2之间的距离为a、前述线段x2之前述边缘与前述交点p2之间的距离为b、前述基材之前述凹陷部附近之平坦部上之前述薄膜层的厚度为h,惟,前述截面,系以使a/b之值成为最大的方式所设置者,前述表面中之所有的前述突起部及凹陷部,系满足下述式(1)所表示之关系。a/b<0.7(a/h)-1+0.31...(1)