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1. 实用新型

TWM589791U 高精度自動化物體表面瑕疵影像擷取裝置有权
简体标题：高精度自动化物体表面瑕疵影像截取设备
公开(公告)号：TWM589791U
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：TW108211066
申请日：2019-08-20
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO.,LTD.
发明人：魏源鍾 , 許智欽
IPC分类号： G01M11/00

2. 发明专利

TW201408998A 簡易型雙軸光電水平儀审中-公开
简体标题：简易型双轴光电水平仪
公开(公告)号：TW201408998A
公开(公告)日：2014-03-01
申请号：TW101131032
申请日：2012-08-27
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH CHIN
IPC分类号： G01C9/06 , G01C9/20
CPC分类号： G01C9/20 , G01C9/06 , G01C2009/066
摘要：一種簡易型雙軸光電水平儀，包括承載件、可調式固定機構、水平感測元件、內充液體的容器槽以及反射元件。可調式固定機構及內充液體的容器槽分別固定於承載件。水平感測元件固定於可調式固定機構且與容器槽相對。反射元件固定於容器槽內底面。水平感測元件適於提供測量光束，測量光束入射至液體表面，其折射光束傳遞至反射元件表面，其反射光再經由液體表面折射回水平感測元件。經由此光的折射效應，水平感測元件可感測出承載件底面與液體表面所夾的雙軸角度。此簡易型雙軸光電水平儀具有結構簡單、低成本、及區分兩軸水平角的優點。
简体摘要：一种简易型双轴光电水平仪，包括承载件、可调式固定机构、水平传感组件、内充液体的容器槽以及反射组件。可调式固定机构及内充液体的容器槽分别固定于承载件。水平传感组件固定于可调式固定机构且与容器槽相对。反射组件固定于容器槽内底面。水平传感组件适于提供测量光束，测量光束入射至液体表面，其折射光束传递至反射组件表面，其反射光再经由液体表面折射回水平传感组件。经由此光的折射效应，水平传感组件可传感出承载件底面与液体表面所夹的双轴角度。此简易型双轴光电水平仪具有结构简单、低成本、及区分两轴水平角的优点。

3. 发明专利

TWI558978B 真圓度量測裝置及真圓度量測方法有权
简体标题：真圆度量测设备及真圆度量测方法
公开(公告)号：TWI558978B
公开(公告)日：2016-11-21
申请号：TW104120380
申请日：2015-06-24
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH CHIN
IPC分类号： G01B21/10 , G01B21/20
CPC分类号： G01B5/201

4. 发明专利

TWI550982B 可見光之即時波長修正系統有权
简体标题：可见光之实时波长修正系统
公开(公告)号：TWI550982B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：TW104107292
申请日：2015-03-06
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH CHIN
IPC分类号： H01S5/068 , H01S5/0687
CPC分类号： H01S3/0014 , G02B27/0056 , G02B27/4244 , H01S5/0687

5. 发明专利

TW201633640A 可見光之即時波長修正系統审中-公开
简体标题：可见光之实时波长修正系统
公开(公告)号：TW201633640A
公开(公告)日：2016-09-16
申请号：TW104107292
申请日：2015-03-06
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH CHIN
IPC分类号： H01S5/068 , H01S5/0687
CPC分类号： H01S3/0014 , G02B27/0056 , G02B27/4244 , H01S5/0687
摘要：一種可見光之即時波長修正系統，是利用繞射光柵將分光平行光束繞射產生第零階繞射光束及第一階繞射光束。第零階繞射光束於第一聚焦透鏡之第一後焦平面處聚焦形成第一光點，以藉由第一光點的位移計算出角度偏移量，而第一階繞射光束於第二聚焦透鏡之第二後焦平面處聚焦形成第二光點，以藉由第二光點的位移計算出波長受溫度變化影響而產生的第一階繞射光束角度偏移量，進而依據角度偏移量與第一階繞射光束角度偏移量修正分光平行光束之波長，有效解決光束漂移及環境溫度變化所造成的影響，因此本系統具有結構簡單且成本低廉的優點。
简体摘要：一种可见光之实时波长修正系统，是利用绕射光栅将分光平行光束绕射产生第零阶绕射光束及第一阶绕射光束。第零阶绕射光束于第一聚焦透镜之第一后焦平面处聚焦形成第一光点，以借由第一光点的位移计算出角度偏移量，而第一阶绕射光束于第二聚焦透镜之第二后焦平面处聚焦形成第二光点，以借由第二光点的位移计算出波长受温度变化影响而产生的第一阶绕射光束角度偏移量，进而依据角度偏移量与第一阶绕射光束角度偏移量修正分光平行光束之波长，有效解决光束漂移及环境温度变化所造成的影响，因此本系统具有结构简单且成本低廉的优点。

6. 实用新型

TWM596871U 智慧型光學檢測AI資料蒐集系統有权
简体标题：智能型光学检测AI数据搜集系统
公开(公告)号：TWM596871U
公开(公告)日：2020-06-11
申请号：TW108216076
申请日：2019-12-03
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO.,LTD.
发明人：廖昭昌 , LIAO, CHAO-CHANG , 魏源鍾 , WEI, YUAN-CHUNG , 許智欽 , HSU, CHIH-CHIN
IPC分类号： G01N21/93 , G06T1/40

7. 发明专利

TW201816531A 具有空間位置誤差補償的數值控制工具機审中-公开
简体标题：具有空间位置误差补偿的数值控制工具机
公开(公告)号：TW201816531A
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：TW105135222
申请日：2016-10-31
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG-CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH-CHIN
IPC分类号： G05B19/404
摘要：工具機包括刀具、主軸、三軸移動平台、三軸位置感測裝置、三軸角度感測模組、誤差補償單元以及控制器。三軸移動平台分別用以夾持一加工工件或是承載主軸與刀具，且沿X軸、Y軸或Z軸運動。各軸感測位置裝置用以感測各軸移動平台所在位置，而發出各軸移動平台位置資訊。各軸角度感測模組用以感測各軸移動平台的三種轉動角度，而產生各軸角度誤差資訊。誤差補償單元用以接收各軸感測位置資訊及角度誤差資訊而產生空間加工位置誤差補償資訊。控制器用以根據加工位置誤差補償資訊操作三軸移動平台而將加工工件進行空間位置誤差補償切削加工。
简体摘要：工具机包括刀具、主轴、三轴移动平台、三轴位置传感设备、三轴角度传感模块、误差补偿单元以及控制器。三轴移动平台分别用以夹持一加工工件或是承载主轴与刀具，且沿X轴、Y轴或Z轴运动。各轴传感位置设备用以传感各轴移动平台所在位置，而发出各轴移动平台位置信息。各轴角度传感模块用以传感各轴移动平台的三种转动角度，而产生各轴角度误差信息。误差补偿单元用以接收各轴传感位置信息及角度误差信息而产生空间加工位置误差补偿信息。控制器用以根据加工位置误差补偿信息操作三轴移动平台而将加工工件进行空间位置误差补偿切削加工。

8. 发明专利

TWI604290B 具有空間位置誤差補償的數值控制工具機有权
简体标题：具有空间位置误差补偿的数值控制工具机
公开(公告)号：TWI604290B
公开(公告)日：2017-11-01
申请号：TW105135222
申请日：2016-10-31
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG-CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH-CHIN
IPC分类号： G05B19/404

9. 发明专利

TW201506354A 可見光之即時波長修正系統审中-公开
简体标题：可见光之实时波长修正系统
公开(公告)号：TW201506354A
公开(公告)日：2015-02-16
申请号：TW102128632
申请日：2013-08-09
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH CHIN
IPC分类号： G01B9/02 , G02B5/18 , G01J9/02
摘要：一種可見光之即時波長修正系統，其包括一繞射光柵、一聚焦透鏡及一光點位置感測器。繞射光柵是依據光學繞射原理使特定波長的平行光束產生一特定的繞射角，聚焦透鏡及光點位置感測器是依據自動視準儀原理，感測出平行光束之波長值受到環境因素的影響所產生的繞射角變化，以提供實際波長值的即時修正。此即時波長修正系統具有結構簡單及低成本的優點，適合應用於任何雷射位移干涉儀。此外，本發明亦可使用雷射二極體為光源以縮小整體雷射位移干涉儀尺寸，適合作為短行程奈米定位平台的位移感測器。
简体摘要：一种可见光之实时波长修正系统，其包括一绕射光栅、一聚焦透镜及一光点位置传感器。绕射光栅是依据光学绕射原理使特定波长的平行光束产生一特定的绕射角，聚焦透镜及光点位置传感器是依据自动视准仪原理，传感出平行光束之波长值受到环境因素的影响所产生的绕射角变化，以提供实际波长值的实时修正。此实时波长修正系统具有结构简单及低成本的优点，适合应用于任何激光位移干涉仪。此外，本发明亦可使用激光二极管为光源以缩小整体激光位移干涉仪尺寸，适合作为短行程奈米定位平台的位移传感器。

10. 发明专利

TW201700953A 真圓度量測裝置及真圓度量測方法审中-公开
简体标题：真圆度量测设备及真圆度量测方法
公开(公告)号：TW201700953A
公开(公告)日：2017-01-01
申请号：TW104120380
申请日：2015-06-24
申请人：智泰科技股份有限公司 , 3DFAMILY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：范光照 , FAN, KUANG CHAO , 許智欽 , HSU, CHIH CHIN
IPC分类号： G01B21/10 , G01B21/20
CPC分类号： G01B5/201
摘要：一種真圓度量測方法包括以下步驟。承載並轉動待測物於轉盤上。驅動二量測單元的二量測平面而分別抵接於待測物的相對兩側，其中二量測單元設置於轉盤的相對兩側，且二量測平面彼此平行且垂直轉盤的頂面。在轉動轉盤一圈時，間隔的量測二量測平面的最短直線距離而產生一變化資訊。在轉盤轉動一圈後，經由處理單元接收變化資訊而產生量測資訊。另外，本發明還揭露一真圓度量測裝置的實施例。
简体摘要：一种真圆度量测方法包括以下步骤。承载并转动待测物于转盘上。驱动二量测单元的二量测平面而分别抵接于待测物的相对两侧，其中二量测单元设置于转盘的相对两侧，且二量测平面彼此平行且垂直转盘的顶面。在转动转盘一圈时，间隔的量测二量测平面的最短直线距离而产生一变化信息。在转盘转动一圈后，经由处理单元接收变化信息而产生量测信息。另外，本发明还揭露一真圆度量测设备的实施例。

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