专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

31. 发明专利

TW201633149A 產生用於共享快取記憶體系統之近似使用量測审中-公开
简体标题：产生用于共享高速缓存系统之近似使用量测
公开(公告)号：TW201633149A
公开(公告)日：2016-09-16
申请号：TW104136889
申请日：2015-11-09
申请人：高通公司 , QUALCOMM INCORPORATED
发明人：霍華德瑞克羅伯特 , HOWER, DEREK ROBERT , 坎哈洛德韋德三世 , CAIN, HAROLD WADE III
IPC分类号： G06F12/08
CPC分类号： G06F12/084 , G06F11/3037 , G06F11/3433 , G06F11/3466 , G06F11/3471 , G06F11/348 , G06F12/0846 , G06F12/0848 , G06F12/0864 , G06F12/0895 , G06F2201/88 , G06F2201/885 , G06F2212/1016 , G06F2212/1044 , G06F2212/2112 , G06F2212/282 , G06F2212/314 , Y02D10/13
摘要：本發明揭示產生用於共享快取記憶體系統之近似使用量測。在一個態樣中，提供一快取記憶體系統。該快取記憶體系統包含一共享快取記憶體系統。該共享快取記憶體系統之一子集包含經組態以儲存針對一QoS類別之一QoSID跟蹤指示符之一服務品質識別符(QoSID)跟蹤標籤。該共享快取記憶體系統進一步包含一快取控制器，其經組態以接收包含一QoSID之一記憶體存取請求，且經組態以存取對應於該記憶體存取請求之一快取行。該快取控制器亦經組態以判定該記憶體存取請求之該QoSID是否對應於指派至該QoSID之一快取行。若判定為「是」，則該快取控制器另外經組態以更新該QoSID跟蹤標籤。
简体摘要：本发明揭示产生用于共享高速缓存系统之近似使用量测。在一个态样中，提供一高速缓存系统。该高速缓存系统包含一共享高速缓存系统。该共享高速缓存系统之一子集包含经组态以存储针对一QoS类别之一QoSID跟踪指示符之一服务品质识别符(QoSID)跟踪标签。该共享高速缓存系统进一步包含一缓存控制器，其经组态以接收包含一QoSID之一内存存取请求，且经组态以存取对应于该内存存取请求之一缓存行。该缓存控制器亦经组态以判定该内存存取请求之该QoSID是否对应于指派至该QoSID之一缓存行。若判定为“是”，则该缓存控制器另外经组态以更新该QoSID跟踪标签。

32. 发明专利

TWI505089B 監控記憶體系統之系統及方法有权
简体标题：监控内存系统之系统及方法
公开(公告)号：TWI505089B
公开(公告)日：2015-10-21
申请号：TW099100727
申请日：2010-01-12
申请人：美光科技公司 , MICRON TECHNOLOGY, INC.
发明人：傑德羅喬M , JEDDELOH, JOE M.
IPC分类号： G06F12/02 , G06F11/30
CPC分类号： G06F11/073 , G06F11/0754 , G06F11/0766 , G06F11/3034 , G06F11/3037 , G06F11/3058 , G06F11/3062 , G06F11/3433 , G06F11/3452 , G06F11/3471 , Y02D10/34

33. 发明专利

TW201513113A 位址偵測電路及包含其之記憶體审中-公开
简体标题：位址侦测电路及包含其之内存
公开(公告)号：TW201513113A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：TW103104295
申请日：2014-02-10
申请人：愛思開海力士有限公司 , SK HYNIX INC.
发明人：周珉鎬 , JOO, MIN-HO , 權奇昌 , KWEAN, KI-CHANG
IPC分类号： G11C11/408 , G11C11/4063
CPC分类号： G06F11/1016 , G06F11/3037 , G11C7/02 , G11C8/06 , G11C8/08 , G11C11/406 , G11C11/408
摘要：本發明揭示一種位址偵測電路，其包括：第一至第N個位址儲存單元，其適用於儲存一位址；第一至第N個計算單元，每一計算單元適用於在將一位址儲存於該等位址儲存單元當中之一對應位址儲存單元中或輸入儲存於該對應位址儲存單元中之該位址時執行一計數操作；一控制單元，其適用於將一輸入位址依序儲存於該等位址儲存單元中，且在所有該等位址儲存單元各自儲存一位址時將該輸入位址儲存於該等位址儲存單元當中之一選定位址儲存單元中；及一偵測單元，其適用於基於該等計算單元之輸出而偵測儲存於該等位址儲存單元中之該等位址當中被輸入達參考數目次或更多次之一位址。
简体摘要：本发明揭示一种位址侦测电路，其包括：第一至第N个位址存储单元，其适用于存储一位址；第一至第N个计算单元，每一计算单元适用于在将一位址存储于该等位址存储单元当中之一对应位址存储单元中或输入存储于该对应位址存储单元中之该位址时运行一计数操作；一控制单元，其适用于将一输入位址依序存储于该等位址存储单元中，且在所有该等位址存储单元各自存储一位址时将该输入位址存储于该等位址存储单元当中之一选定位址存储单元中；及一侦测单元，其适用于基于该等计算单元之输出而侦测存储于该等位址存储单元中之该等位址当中被输入达参考数目次或更多次之一位址。

34. 发明专利

TW201316342A 記憶體參數的測試方法及其測試設備审中-公开
简体标题：内存参数的测试方法及其测试设备
公开(公告)号：TW201316342A
公开(公告)日：2013-04-16
申请号：TW100136866
申请日：2011-10-12
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：陳鵬 , CHEN, PENG , 羅奇艷 , LUO, QI-YAN , 童松林 , TONG, SONG-LIN
IPC分类号： G11C29/56 , G01R31/319
CPC分类号： G06F11/3037 , G06F11/3062 , G06F11/3093 , G11C5/14
摘要：本發明提供一種記憶體電源性能參數的測試設備與測試方法。測試設備包括主電路板、連接器與測試模組，該連接器與該測試模組設置於該主電路板上，該測試模組經由該連接器與主電路板電連接，該主電路板、該連接器與測試模組配合用於測試待測試的記憶體的電源性能參數。該連接器包括若干連接端，該若干連接端中包括至少一第一電源端，該至少一電源端用於連接對應該記憶體的至少一電源引腳，該測試模組用於測試該記憶體對應該至少一第一電源端的電源性能參數。
简体摘要：本发明提供一种内存电源性能参数的测试设备与测试方法。测试设备包括主电路板、连接器与测试模块，该连接器与该测试模块设置于该主电路板上，该测试模块经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模块配合用于测试待测试的内存的电源性能参数。该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该内存的至少一电源引脚，该测试模块用于测试该内存对应该至少一第一电源端的电源性能参数。

35. 发明专利

TWI346847B 用以提供省電之積體電路、方法、及系統 INTEGRATED CIRCUIT, METHOD AND SYSTEM TO PROVIDE POWER SAVINGS 有权
简体标题：用以提供省电之集成电路、方法、及系统 INTEGRATED CIRCUIT, METHOD AND SYSTEM TO PROVIDE POWER SAVINGS
公开(公告)号：TWI346847B
公开(公告)日：2011-08-11
申请号：TW096122078
申请日：2007-06-20
申请人：英特爾公司
发明人：寇克斯克里斯多夫
IPC分类号： G05B , G11C
CPC分类号： G01K1/00 , G01K7/425 , G01K2215/00 , G06F1/206 , G06F1/32 , G06F11/3034 , G06F11/3037 , G06F11/3093 , H01L2924/0002 , Y02D10/16 , H01L2924/00
摘要：本發明的實施例係大致有關利用跳變控制技術來節省熱感測器電力的系統、方法、與裝置。在某些實施例中，一積體電路(例如，一記憶體裝置)包括一晶粒上熱感測器、一儲存元件(例如，一暫存器)、以及跳變邏輯裝置。該跳變邏輯裝置可至少部分地響應於一跳變指示，使該熱感測器從一第一電力消耗量位準轉變到一第二電力消耗量位準。
简体摘要：本发明的实施例系大致有关利用跳变控制技术来节省热传感器电力的系统、方法、与设备。在某些实施例中，一集成电路(例如，一内存设备)包括一晶粒上热传感器、一存储组件(例如，一寄存器)、以及跳变逻辑设备。该跳变逻辑设备可至少部分地响应于一跳变指示，使该热传感器从一第一电力消耗量位准转变到一第二电力消耗量位准。

36. 发明专利

TW201037517A 用於交易式記憶體系統中之硬體屬性之記憶體模式 MEMORY MODEL FOR HARDWARE ATTRIBUTES WITHIN A TRANSACTIONAL MEMORY SYSTEM 审中-公开
简体标题：用于交易式内存系统中之硬件属性之内存模式 MEMORY MODEL FOR HARDWARE ATTRIBUTES WITHIN A TRANSACTIONAL MEMORY SYSTEM
公开(公告)号：TW201037517A
公开(公告)日：2010-10-16
申请号：TW098143379
申请日：2009-12-17
申请人：英特爾股份有限公司
发明人：薛佛蓋德 , 瑞金修莫 , 巴辛瓦丁 , 柯罕修德 , 瑪格莉斯歐格
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F9/3834 , G06F9/30076 , G06F9/3838 , G06F11/0715 , G06F11/0724 , G06F11/073 , G06F11/0751 , G06F11/3017 , G06F11/3037 , G06F11/3089 , G06F11/3471 , G06F12/0831 , G06F12/084 , G06F2201/885
摘要：本發明說明了一種提供用來支援交易執行的硬體屬性之記憶體模型之方法及裝置。於遇到硬體屬性的載入時，諸如一測試監視器操作要載入一讀取監視器、寫入監視器、或緩衝屬性時，將回應用來指示該硬體屬性已丟失之一丟失欄位，而發出一錯誤訊息。此外，根據位址相依性及存取型別相依性，將諸如阻止及轉送等的相依性行動提供給屬性存取操作。因此，在一記憶體模型中容許及限制屬性丟失及對屬性丟失的測試之不同情況。
简体摘要：本发明说明了一种提供用来支持交易运行的硬件属性之内存模型之方法及设备。于遇到硬件属性的加载时，诸如一测试监视器操作要加载一读取监视器、写入监视器、或缓冲属性时，将回应用来指示该硬件属性已丢失之一丢失字段，而发出一错误消息。此外，根据位址相依性及存取类型相依性，将诸如阻止及转送等的相依性行动提供给属性存取操作。因此，在一内存模型中容许及限制属性丢失及对属性丢失的测试之不同情况。

37. 发明专利

TW200802400A 使用晶片內熱感應器之熱管理方法與系統 THERMAL MANAGEMENT USING AN ON-DIE THERMAL SENSOR 审中-公开
简体标题：使用芯片内热感应器之热管理方法与系统 THERMAL MANAGEMENT USING AN ON-DIE THERMAL SENSOR
公开(公告)号：TW200802400A
公开(公告)日：2008-01-01
申请号：TW096104649
申请日：2007-02-08
申请人：英特爾股份有限公司 INTEL CORPORATION
发明人：大衛懷特 WYATT, DAVID
IPC分类号： G11C , G06F
CPC分类号： G11C5/00 , G06F11/3034 , G06F11/3037 , G06F11/3058 , G11C5/143 , H01L23/34 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要：本發明的實施例係與使用一晶片內熱感應器用以進行熱管理的系統、方法、以及設備有關。在某些實施例中,一積體電路(例如一記憶體控制器)包括溫度收集邏輯與控制邏輯。該溫度收集邏輯接收與儲存來自複數個遠端記憶裝置的溫度資料,每一該複數個遠端記憶體裝置具有一晶片內熱感應器。在某些實例中,該控制邏輯至少一部分根據該溫度資料,控制一熱節流閥。本說明書中也將說明與主張其他的實施例。
简体摘要：本发明的实施例系与使用一芯片内热感应器用以进行热管理的系统、方法、以及设备有关。在某些实施例中,一集成电路(例如一内存控制器)包括温度收集逻辑与控制逻辑。该温度收集逻辑接收与存储来自复数个远程记忆设备的温度数据,每一该复数个远程内存设备具有一芯片内热感应器。在某些实例中,该控制逻辑至少一部分根据该温度数据,控制一热节流阀。本说明书中也将说明与主张其他的实施例。

38. 发明专利

TW200512572A 事件特徵之裝置、系統及方法 EVENT SIGNATURE APPARATUS, SYSTEMS, AND METHODS 失效
简体标题：事件特征之设备、系统及方法 EVENT SIGNATURE APPARATUS, SYSTEMS, AND METHODS
公开(公告)号：TW200512572A
公开(公告)日：2005-04-01
申请号：TW093106946
申请日：2004-03-16
申请人：英特爾公司 INTEL CORPORATION
发明人：雪洛克舒亨札達 SHAHIDZADEH, SHAHROKH , 喬納森P 道格拉斯 DOUGLAS, JONATHAN P. , 俄尼爾V 庫莫 KUMAR, ANIL V.
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F11/3058 , G06F11/0754 , G06F11/3037
摘要：本發明係關於一種裝置及系統，以及一種方法和物品，其可用以將一電路運作條件和一規定的條件作比較，記錄一規格外的條件，並且決定規定數量之經記錄的規格外條件。
简体摘要：本发明系关于一种设备及系统，以及一种方法和物品，其可用以将一电路运作条件和一规定的条件作比较，记录一规格外的条件，并且决定规定数量之经记录的规格外条件。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式