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31. 发明专利

TW200826507A 取樣電路及取樣方法 SAMPLE CIRCUIT AND SAMPLE METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：采样电路及采样方法 SAMPLE CIRCUIT AND SAMPLE METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW200826507A
公开(公告)日：2008-06-16
申请号：TW095146472
申请日：2006-12-12
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：陳逸琳 CHEN, YI LIN , 黃怡智 HUANG, YI CHIH
IPC分类号： H03M
CPC分类号： G01R31/31727 , G01R31/3016 , G01R31/31725
摘要：一種取樣電路,其包含有一取樣單元、一第一延遲鏈電路、一反相器以及一第二延遲鏈電路。該取樣單元係偵測一第一延遲訊號與一第二延遲訊號之邊緣觸發來分別取樣一輸入資料以產生一輸出資料;該第一延遲鏈電路耦接於該取樣單元,用來延遲一取樣時脈訊號以輸出該第一延遲訊號;該反相器用來反向該取樣時脈訊號以產生一反向取樣時脈訊號;以及該第二延遲鏈電路耦接於該反相器與該取樣單元,用來延遲該反向取樣時脈訊號以輸出該第二延遲訊號。
简体摘要：一种采样电路,其包含有一采样单元、一第一延迟链电路、一反相器以及一第二延迟链电路。该采样单元系侦测一第一延迟信号与一第二延迟信号之边缘触发来分别采样一输入数据以产生一输出数据;该第一延迟链电路耦接于该采样单元,用来延迟一采样时脉信号以输出该第一延迟信号;该反相器用来反向该采样时脉信号以产生一反向采样时脉信号;以及该第二延迟链电路耦接于该反相器与该采样单元,用来延迟该反向采样时脉信号以输出该第二延迟信号。

32. 发明专利

TW200819765A 半導體測試裝置 TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE 审中-公开
简体标题：半导体测试设备 TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
公开(公告)号：TW200819765A
公开(公告)日：2008-05-01
申请号：TW096136551
申请日：2007-09-29
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：田村賢仁 TAMURA, KENJI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31725 , G01R31/31727
摘要：本發明係提供一種半導體測試裝置,係可在線上對測試控制器配置測試接腳群,並個別地控制測試接腳群者。本實施形態之半導體測試裝置具有:測試控制器10─1、…、10─N;可變時鐘產生器24─1、...、24─N,係用以輸出與對應之測試控制器10─1、...、10─N所輸出之控制訊號具有一定相位關係的可變時鐘訊號者;測試接腳群12─1、...、12─N,係與可變時鐘訊號同步,並可根據控制訊號進行DUT之測試者;N�N開關矩陣16,係可對已配置於測試控制器10─i之測試接腳群12─j供給來自測試控制器10─i之控制訊號者;以及,N�N開關矩陣18,係可將來自與測試控制器10─i對應之可變時鐘產生器24─i的可變時鐘訊號供給至測試接腳群12─j者。
简体摘要：本发明系提供一种半导体测试设备,系可在在线对测试控制器配置测试接脚群,并个别地控制测试接脚群者。本实施形态之半导体测试设备具有:测试控制器10─1、…、10─N;可变时钟产生器24─1、...、24─N,系用以输出与对应之测试控制器10─1、...、10─N所输出之控制信号具有一定相位关系的可变时钟信号者;测试接脚群12─1、...、12─N,系与可变时钟信号同步,并可根据控制信号进行DUT之测试者;N�N开关矩阵16,系可对已配置于测试控制器10─i之测试接脚群12─j供给来自测试控制器10─i之控制信号者;以及,N�N开关矩阵18,系可将来自与测试控制器10─i对应之可变时钟产生器24─i的可变时钟信号供给至测试接脚群12─j者。

33. 发明专利

TWI289677B 測試橋接電路的方法與裝置 METHOD AND APPARATUS FOR TESTING A BRIDGE CIRCUIT 有权
简体标题：测试桥接电路的方法与设备 METHOD AND APPARATUS FOR TESTING A BRIDGE CIRCUIT
公开(公告)号：TWI289677B
公开(公告)日：2007-11-11
申请号：TW093125283
申请日：2004-08-20
申请人：威盛電子股份有限公司 VIA TECHNOLOGIES INC.
发明人：葉碧雲 YEH, BIYUN , 吳勝宗 WU, VICTOR , 賴瑾 LAI, JIIN
IPC分类号： G01R , G06F , H04L
CPC分类号： G01R31/31725 , G01R31/31727
摘要：本發明係提供一種測試橋接電路的方法與裝置，該方法包含有輸入一第一測試時脈至一第一轉換單元以於該第一測試時脈之正緣觸發該第一轉換單元將一測試資料傳遞至一第二轉換單元，輸入一第二測試時脈至該第二轉換單元以於該第二測試時脈之負緣觸發該第二轉換單元輸出一輸出資料，以及控制該第二測試時脈之正緣未同步於該第一測試時脈之正緣。此外，該第一測試時脈之頻率係為該第二測試時脈之頻率的偶數倍。
简体摘要：本发明系提供一种测试桥接电路的方法与设备，该方法包含有输入一第一测试时脉至一第一转换单元以于该第一测试时脉之正缘触发该第一转换单元将一测试数据传递至一第二转换单元，输入一第二测试时脉至该第二转换单元以于该第二测试时脉之负缘触发该第二转换单元输出一输出数据，以及控制该第二测试时脉之正缘未同步于该第一测试时脉之正缘。此外，该第一测试时脉之频率系为该第二测试时脉之频率的偶数倍。

34. 发明专利

TW200736642A 測試裝置、測試方法以及記錄媒體 TEST EQUIPMENT, TEST METHOD AND RECORDING MEDIA 失效
简体标题：测试设备、测试方法以及记录媒体 TEST EQUIPMENT, TEST METHOD AND RECORDING MEDIA
公开(公告)号：TW200736642A
公开(公告)日：2007-10-01
申请号：TW095149437
申请日：2006-12-28
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：山田達也 YAMADA, TATSUYA , 土井優 DOI, MASARU , 佐藤新哉 SATOU, SHINYA
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31725 , G01R31/31726 , G01R31/31727 , G01R31/31937
摘要：本發明提供一種測試裝置,用於測試被測試元件,其包括:週期產生器,產生速率信號,該速率信號決定被測試元件之動作週期所對應的測試週期;相位比較部,輸入被測試元件所產生的被測試元件之動作時脈信號,並檢測與以速率信號作為基準的動作時脈信號的相位差;測試信號產生部,生成應供給至被測試元件的測試信號,該測試信號與速率信號同步;延遲部,響應相位差而使測試信號延遲,且使該測試信號與動作時脈信號大致同步;以及測試信號供給部,將延遲後的測試信號供給至被測試元件。
简体摘要：本发明提供一种测试设备,用于测试被测试组件,其包括:周期产生器,产生速率信号,该速率信号决定被测试组件之动作周期所对应的测试周期;相位比较部,输入被测试组件所产生的被测试组件之动作时脉信号,并检测与以速率信号作为基准的动作时脉信号的相位差;测试信号产生部,生成应供给至被测试组件的测试信号,该测试信号与速率信号同步;延迟部,响应相位差而使测试信号延迟,且使该测试信号与动作时脉信号大致同步;以及测试信号供给部,将延迟后的测试信号供给至被测试组件。

35. 发明专利

TW200736622A 環式振盪電路、延遲時間測定電路、測試電路、時脈產生電路、影像感測器、脈波產生電路、半導體積體電路及其測試方法失效
简体标题：环式振荡电路、延迟时间测定电路、测试电路、时脉产生电路、影像传感器、脉波产生电路、半导体集成电路及其测试方法
公开(公告)号：TW200736622A
公开(公告)日：2007-10-01
申请号：TW095148523
申请日：2006-12-22
申请人：夏普股份有限公司 SHARP KABUSHIKI KAISHA
发明人：島本行博 SHIMAMOTO, YUKIHIRO
IPC分类号： G01R
CPC分类号： H03K3/0315 , G01R29/26 , G01R31/31709 , G01R31/31725 , H03K5/135 , H03K5/1534
摘要：本發明提供一種可穩定持續進行正反饋之環式振盪動作之環式振盪電路,應用於正確之延遲時間測定及時脈信號之抖動等時序(Timing)精度之高度精確測定。具備延遲電路2及單穩態多諧振盪器3而構成環式振盪電路1。藉由延遲電路2之輸出連接於單穩態多諧振盪器3之輸入,單穩態多諧振盪器3之輸出連接於延遲電路2之輸入,延遲電路2與單穩態多諧振盪器3構成正反饋迴路。受理振盪啓動用之觸發脈波輸入而啓動振盪之振盪啓動電路4設於正反饋迴路上,或延遲電路2與單穩態多諧振盪器3之內部。
简体摘要：本发明提供一种可稳定持续进行正反馈之环式振荡动作之环式振荡电路,应用于正确之延迟时间测定及时脉信号之抖动等时序(Timing)精度之高度精确测定。具备延迟电路2及单稳态多谐振荡器3而构成环式振荡电路1。借由延迟电路2之输出连接於单稳态多谐振荡器3之输入,单稳态多谐振荡器3之输出连接于延迟电路2之输入,延迟电路2与单稳态多谐振荡器3构成正反馈回路。受理振荡启动用之触发脉波输入而启动振荡之振荡启动电路4设于正反馈回路上,或延迟电路2与单稳态多谐振荡器3之内部。

36. 发明专利

TW200719617A 用於一傳送及接收系統之測試方法及裝置 TESTING METHOD AND APPARATUS FOR A TRANSMISSION AND RECEPTION SYSTEM 审中-公开
简体标题：用于一发送及接收系统之测试方法及设备 TESTING METHOD AND APPARATUS FOR A TRANSMISSION AND RECEPTION SYSTEM
公开(公告)号：TW200719617A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：TW095125519
申请日：2006-07-12
申请人：皇家飛利浦電子股份有限公司 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.
发明人：羅傑法蘭克舒特德 SCHUTTERT, RODGER FRANK , 吉特珍裘登斯 JOORDENS, GEERTJAN , 威廉法蘭西斯克斯史藍登布克 SLENDEBROEK, WILLEM FRANCISCUS
IPC分类号： H04L
CPC分类号： H04L1/205 , G01R31/31725 , G01R31/31937 , H04L1/242
摘要：一種測試一資料傳送及接收系統之方法,其包含:將一來自該系統之一傳送器(14)的測試訊號發送至該系統之一接收器(12),且分析該接收之訊號。改變該測試訊號與由該系統之該接收器所使用之計時訊號之間的一工作週期關係,且分析該工作週期改變之效應。改變該工作週期關係提供工作週期失真(DCD),且可將此情形認為是嵌式抖動插入之一形式。此類型之抖動可相對容易地量測。
简体摘要：一种测试一数据发送及接收系统之方法,其包含:将一来自该系统之一发送器(14)的测试信号发送至该系统之一接收器(12),且分析该接收之信号。改变该测试信号与由该系统之该接收器所使用之计时信号之间的一工作周期关系,且分析该工作周期改变之效应。改变该工作周期关系提供工作周期失真(DCD),且可将此情形认为是嵌式抖动插入之一形式。此类型之抖动可相对容易地量测。

37. 发明专利

TW200630620A 用以量化信號路徑阻抗變化所致時序誤差之方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR QUANTIFYING THE TIMING ERROR INDUCED BY AN IMPEDANCE VARIATION OF A SIGNAL PATH 审中-公开
简体标题：用以量化信号路径阻抗变化所致时序误差之方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR QUANTIFYING THE TIMING ERROR INDUCED BY AN IMPEDANCE VARIATION OF A SIGNAL PATH
公开(公告)号：TW200630620A
公开(公告)日：2006-09-01
申请号：TW094128911
申请日：2005-08-24
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：松宮廣之 MATSUMIYA, HIROSHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： H04L25/12 , G01R31/31725 , G01R31/31901 , H04L25/0278
摘要：在一實施例中，複數信號被連續驅動到一信號路徑上。每一信號具有一由一觸發器邊緣和一感測器邊緣限定的脈寬，且至少一些信號具有不同的脈寬。在驅動每一信號後，信號在該信號的感測器邊緣的一時序上或其周圍被取樣，以藉此特性化該信號的感測器邊緣。然後相對應於不同信號的感測器邊緣特性被分析以量化信號路徑的阻抗變化所引起的時序誤差。
简体摘要：在一实施例中，复数信号被连续驱动到一信号路径上。每一信号具有一由一触发器边缘和一传感器边缘限定的脉宽，且至少一些信号具有不同的脉宽。在驱动每一信号后，信号在该信号的传感器边缘的一时序上或其周围被采样，以借此特性化该信号的传感器边缘。然后相对应于不同信号的传感器边缘特性被分析以量化信号路径的阻抗变化所引起的时序误差。

38. 发明专利

TW200606615A 產生抖動測試信號之系統及方法 SYSTEM AND METHOD FOR GENERATING A JITTERED TEST SIGNAL 失效
简体标题：产生抖动测试信号之系统及方法 SYSTEM AND METHOD FOR GENERATING A JITTERED TEST SIGNAL
公开(公告)号：TW200606615A
公开(公告)日：2006-02-16
申请号：TW094114225
申请日：2005-05-03
申请人： DFT微系統公司 DFT MICROSYSTEMS, INC.
发明人：穆罕默德M 哈費德 HAFED, MOHAMED M. , 傑佛瑞D 杜爾登 DUERDEN, GEOFFREY D. , 高登W 羅勃特斯 ROBERTS, GORDON W.
IPC分类号： G06F
CPC分类号： H04B3/462 , G01R31/31709 , G01R31/31725 , G01R31/3183 , G01R31/31917
摘要：一種多重速度之信號產生器(216、400)，其使用頻率定標器(428)將低速抖動信號(420)定標，藉以產生全速之抖動信號(404)。使用抖動注入器(432)將調變信號(416)注入參考信號(412)來產生低速之抖動信號。相較於將抖動資訊注入於全速參考信號之中所產生的傳統抖動信號，將抖動注入低速參考信號之中容許全速抖動信號具有較高之品質。多重速度信號產生器係可以被使用於作為測試系統(208)之一部分，以測試各種不同電氣迴路，諸如高速串列器／解串列器之電氣迴路(220)。
简体摘要：一种多重速度之信号产生器(216、400)，其使用频率定标器(428)将低速抖动信号(420)定标，借以产生全速之抖动信号(404)。使用抖动注入器(432)将调制信号(416)注入参考信号(412)来产生低速之抖动信号。相较于将抖动信息注入于全速参考信号之中所产生的传统抖动信号，将抖动注入低速参考信号之中容许全速抖动信号具有较高之品质。多重速度信号产生器系可以被使用于作为测试系统(208)之一部分，以测试各种不同电气回路，诸如高速串行器／解串行器之电气回路(220)。

39. 发明专利

TWI229504B 可指示積體電路晶片時脈偏移之系統有权
简体标题：可指示集成电路芯片时脉偏移之系统
公开(公告)号：TWI229504B
公开(公告)日：2005-03-11
申请号：TW091125220
申请日：2002-10-25
申请人：威盛電子股份有限公司 VIA TECHNOLOGIES, INC.
发明人：林益明 I-MING LIN
IPC分类号： H03K
CPC分类号： G01R31/31725 , G01R31/3016 , G01R31/31937
摘要：一種可指示積體電路晶片時脈偏移之系統，包括一第一積體電路晶片以及一第二積體電路晶片。第一積體電路晶片依據第一時脈訊號工作，並可輸出該第一時脈訊號；第二積體電路晶片則依據一第二時脈訊號工作，且具有一種指示積體電路時脈偏移之裝置，包括一偵測電路以及一取樣電路。偵測電路接收第二時脈訊號和第一積體電路晶片所輸出之第一時脈訊號，以產生一比較訊號。取樣電路根據比較訊號設定一輸出訊號，以指示第一時脈訊號和第二時脈訊號之間是否存在時脈偏移。其中，比較訊號其脈衝寬度和時脈偏移的大小成比例。
简体摘要：一种可指示集成电路芯片时脉偏移之系统，包括一第一集成电路芯片以及一第二集成电路芯片。第一集成电路芯片依据第一时脉信号工作，并可输出该第一时脉信号；第二集成电路芯片则依据一第二时脉信号工作，且具有一种指示集成电路时脉偏移之设备，包括一侦测电路以及一采样电路。侦测电路接收第二时脉信号和第一集成电路芯片所输出之第一时脉信号，以产生一比较信号。采样电路根据比较信号设置一输出信号，以指示第一时脉信号和第二时脉信号之间是否存在时脉偏移。其中，比较信号其脉冲宽度和时脉偏移的大小成比例。

40. 发明专利

TWI585427B 延遲量測電路及其量測方法有权
简体标题：延迟量测电路及其量测方法
公开(公告)号：TWI585427B
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：TW105116063
申请日：2016-05-24
申请人：國立中央大學 , NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY
发明人：李進福 , LI, JIN-FU , 巫函諭 , WU, HAN-YU , 周哲緯 , CHOU, CHE-WEI , 陳詠孝 , CHEN, YONG-XIAO
IPC分类号： G01R31/317
CPC分类号： G01R31/2882 , G01R31/31725 , G01R31/31937

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