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    • 19. 发明专利
    • 無殘渣助焊劑及半導體封裝件之製造方法
    • 无残渣助焊剂及半导体封装件之制造方法
    • TW201634168A
    • 2016-10-01
    • TW104144430
    • 2015-12-30
    • 納美仕有限公司NAMICS CORPORATION
    • 西迫有希NISHISAKO, YUKI白井恭夫SHIRAI, YUKIO鈴木理SUZUKI, OSAMU
    • B23K35/363B23K1/00B23K31/02H05K3/34H05K3/28H01L21/60B23K101/40
    • B23K1/00B23K31/02H01L2224/73204H01L2224/92125H05K3/28H05K3/34
    • 本發明之課題在於提供一種可使用在下述製造方法之無殘渣助焊劑,該製造方法係於焊接後不冷卻至室溫,而是冷卻至約110℃後,於同一溫度下填充底填料後使之硬化。 本發明之解決手段為一種無殘渣助焊劑,其係使用在下述步驟者:於室溫下,將無殘渣助焊劑塗佈在形成於半導體晶片之焊料凸塊與形成於基板之經鍍焊的配線之間,並將焊料凸塊與配線進行焊接後,冷卻至100至120℃,並保持在同一溫度下,將底填料填充於半導體晶片與基板之間後,使底填料硬化之半導體封裝步驟;該無殘渣助焊劑係含有:(A)於熱重分析中,質量減少至50%之溫度為160至210℃之溶劑以及(B)質量減少至50%之溫度為190至320℃之二羧酸或三羧酸,且相對於無殘渣助焊劑100質量份,含有0.3至3.0質量份的(B)成分。
    • 本发明之课题在于提供一种可使用在下述制造方法之无残渣助焊剂,该制造方法系于焊接后不冷却至室温,而是冷却至约110℃后,于同一温度下填充底填料后使之硬化。 本发明之解决手段为一种无残渣助焊剂,其系使用在下述步骤者:于室温下,将无残渣助焊剂涂布在形成于半导体芯片之焊料凸块与形成于基板之经镀焊的配线之间,并将焊料凸块与配线进行焊接后,冷却至100至120℃,并保持在同一温度下,将底填料填充于半导体芯片与基板之间后,使底填料硬化之半导体封装步骤;该无残渣助焊剂系含有:(A)于热重分析中,质量减少至50%之温度为160至210℃之溶剂以及(B)质量减少至50%之温度为190至320℃之二羧酸或三羧酸,且相对于无残渣助焊剂100质量份,含有0.3至3.0质量份的(B)成分。