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    • 93. 发明专利
    • 光束掃描裝置及圖案描繪裝置
    • 光束扫描设备及图案描绘设备
    • TW201827936A
    • 2018-08-01
    • TW106133272
    • 2017-09-28
    • 日商尼康股份有限公司NIKON CORPORATION
    • 加藤正紀KATO, MASAKI鬼頭義昭KITO, YOSHIAKI
    • G03F7/20G02B26/10
    • 本發明之描繪單元(Un)具備具有折射能力之fθ透鏡系統(FT),且以與多面鏡(PM)之反射面(RP)之角度變化相應的掃描速度使點光(SP)進行掃描,該fθ透鏡系統(FT)使經角度可變之多面鏡(PM)之反射面(RP)偏向之加工用光束(LBn)入射,並使加工用光束(LBn)於基板P聚光為點光(SP)。描繪單元(Un)具備:光電轉換元件(DTo),其接收朝向多面鏡(PM)之反射面(RP)投射之原點檢測用雷射光束(Bga)之反射光束(Bgb),並輸出表示多面鏡(PM)之反射面(RP)成為既定角度之時間點之原點訊號(SZn);及透鏡系統(GLb),其被設定為較fθ透鏡系統(FT)之折射能力低之折射能力,且使反射光束(Bgb)於光電轉換元件(DTo)聚光為點光(SPr)。
    • 本发明之描绘单元(Un)具备具有折射能力之fθ透镜系统(FT),且以与多面镜(PM)之反射面(RP)之角度变化相应的扫描速度使点光(SP)进行扫描,该fθ透镜系统(FT)使经角度可变之多面镜(PM)之反射面(RP)偏向之加工用光束(LBn)入射,并使加工用光束(LBn)于基板P聚光为点光(SP)。描绘单元(Un)具备:光电转换组件(DTo),其接收朝向多面镜(PM)之反射面(RP)投射之原点检测用激光光束(Bga)之反射光束(Bgb),并输出表示多面镜(PM)之反射面(RP)成为既定角度之时间点之原点信号(SZn);及透镜系统(GLb),其被设置为较fθ透镜系统(FT)之折射能力低之折射能力,且使反射光束(Bgb)于光电转换组件(DTo)聚光为点光(SPr)。
    • 94. 发明专利
    • 光束掃描裝置及圖案描繪裝置
    • 光束扫描设备及图案描绘设备
    • TW201827887A
    • 2018-08-01
    • TW106134123
    • 2017-10-03
    • 日商尼康股份有限公司NIKON CORPORATION
    • 加藤正紀KATO, MASAKI鬼頭義昭KITO, YOSHIAKI
    • G02B26/10G02B26/12
    • 本發明之描繪單元(Un)具備使經角度可變之多面鏡(PM)之反射面(RP)偏向之加工用光束(LBn)入射,並使加工用光束(LBn)於基板(P)聚光為點光(SP)之fθ透鏡系統(FT),且根據多面鏡(PM)之反射面(RP)之角度變化而使點光(SP)進行掃描。描繪單元(Un)具備:光束送光部(60a),其將用以檢測多面鏡(PM)之反射面(RP)成為既定角度之原點之光束(Bga)投射至多面鏡(PM)之反射面(RP);反射鏡(MRa),其使於反射面(RP)反射之光束(Bgb)入射,並反射向反射面(RP);及檢測部(60b),其基於在反射面(RP)再次反射之光束(Bgd)輸出原點訊號(SZn)。
    • 本发明之描绘单元(Un)具备使经角度可变之多面镜(PM)之反射面(RP)偏向之加工用光束(LBn)入射,并使加工用光束(LBn)于基板(P)聚光为点光(SP)之fθ透镜系统(FT),且根据多面镜(PM)之反射面(RP)之角度变化而使点光(SP)进行扫描。描绘单元(Un)具备:光束送光部(60a),其将用以检测多面镜(PM)之反射面(RP)成为既定角度之原点之光束(Bga)投射至多面镜(PM)之反射面(RP);反射镜(MRa),其使于反射面(RP)反射之光束(Bgb)入射,并反射向反射面(RP);及检测部(60b),其基于在反射面(RP)再次反射之光束(Bgd)输出原点信号(SZn)。
    • 96. 发明专利
    • 光束掃描裝置及光束掃描方法
    • 光束扫描设备及光束扫描方法
    • TW201819986A
    • 2018-06-01
    • TW107105593
    • 2015-04-28
    • 日商尼康股份有限公司NIKON CORPORATION
    • 加藤正紀KATO, MASAKI
    • G02B26/10G03F7/20B23K26/082
    • 圖案描繪裝置,係藉由雷射光之掃描點在被照射體上描繪既定圖案,其特徵在於,具備:光源裝置,射出該雷射光;複數個描繪單元,為了使該雷射光射入而產生該掃描點,包含使該雷射光掃描之光掃描構件與光學透鏡系,設置成使該掃描點在該被照射體上之不同區域掃描;以及複數個選擇用光學元件,為了切換是否使來自該光源裝置之該雷射光射入該複數個描繪單元中已選擇之該描繪單元,沿著來自該光源裝置之該雷射光之行進方向直列配置。
    • 图案描绘设备,系借由激光光之扫描点在被照射体上描绘既定图案,其特征在于,具备:光源设备,射出该激光光;复数个描绘单元,为了使该激光光射入而产生该扫描点,包含使该激光光扫描之光扫描构件与光学透镜系,设置成使该扫描点在该被照射体上之不同区域扫描;以及复数个选择用光学组件,为了切换是否使来自该光源设备之该激光光射入该复数个描绘单元中已选择之该描绘单元,沿着来自该光源设备之该激光光之行进方向直列配置。
    • 99. 发明专利
    • 曝光方法
    • TW201809916A
    • 2018-03-16
    • TW106133163
    • 2014-06-06
    • 尼康股份有限公司NIKON CORPORATION
    • 加藤正紀KATO, MASAKI
    • G03F7/24
    • G03F7/24
    • 提供能以高生產性生產高品質之基板之基板處理裝置及元件製造方法。基板處理裝置及元件製造方法,具備:第1支承構件,係以在照明區域與投影區域中之一方區域中沿著以既定曲率彎曲成圓筒面狀之第1面之方式支承光罩與基板中之一方;第2支承構件,係以在照明區域與投影區域中之另一方區域中沿著既定之第2面之方式支承光罩與基板中之另一方;以及移動機構,使第1支承構件旋轉,使該第1支承構件所支承之光罩與基板中之任一方移動於掃描曝光方向。投影光學系,係在基板之曝光面,將於掃描曝光方向包含兩處最佳聚焦位置之光束投射於投影區域。
    • 提供能以高生产性生产高品质之基板之基板处理设备及组件制造方法。基板处理设备及组件制造方法,具备:第1支承构件,系以在照明区域与投影区域中之一方区域中沿着以既定曲率弯曲成圆筒面状之第1面之方式支承光罩与基板中之一方;第2支承构件,系以在照明区域与投影区域中之另一方区域中沿着既定之第2面之方式支承光罩与基板中之另一方;以及移动机构,使第1支承构件旋转,使该第1支承构件所支承之光罩与基板中之任一方移动于扫描曝光方向。投影光学系,系在基板之曝光面,将于扫描曝光方向包含两处最佳聚焦位置之光束投射于投影区域。
    • 100. 发明专利
    • 圓筒光罩
    • 圆筒光罩
    • TW201809909A
    • 2018-03-16
    • TW106134178
    • 2014-04-07
    • 尼康股份有限公司NIKON CORPORATION
    • 加藤正紀KATO, MASAKI
    • G03F7/20G03F1/42
    • G03F7/24
    • 提供一種能以高生產性生產高品質基板之基板處理裝置、元件製造方法及光罩。本發明之基板處理裝置,具備於該照明區域以沿著以既定曲率彎曲成圓筒面狀之第1面之方式支承該光罩之圖案的光罩支承構件、於該投影區域以沿著既定第2面之方式支承該基板的基板支承構件、以及以該光罩之圖案移動於既定掃描曝光方向之方式使該光罩支承構件旋轉且以該基板移動於該掃描曝光方向之方式使該基板支承構件移動的驅動機構,該光罩支承構件,在設該第1面之直徑為φ、該第1面在與該掃描曝光方向正交之方向之長度為L時,滿足1.3≦L/φ≦3.8。
    • 提供一种能以高生产性生产高品质基板之基板处理设备、组件制造方法及光罩。本发明之基板处理设备,具备于该照明区域以沿着以既定曲率弯曲成圆筒面状之第1面之方式支承该光罩之图案的光罩支承构件、于该投影区域以沿着既定第2面之方式支承该基板的基板支承构件、以及以该光罩之图案移动于既定扫描曝光方向之方式使该光罩支承构件旋转且以该基板移动于该扫描曝光方向之方式使该基板支承构件移动的驱动机构,该光罩支承构件,在设该第1面之直径为φ、该第1面在与该扫描曝光方向正交之方向之长度为L时,满足1.3≦L/φ≦3.8。