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1. 发明授权

KR101648974B1 병렬 샘플링 및 로크인 탐지 모드에서 동작하는 안과 웨이브프론트 센서 有权
标题翻译：眼科波前传感器工作在并行采样和锁定检测模式
公开(公告)号：KR101648974B1
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：KR1020147033640
申请日：2013-04-17
申请人： 클레러티 메디칼 시스템즈 인코포레이티드
发明人： 주얀 , 쉐아윌리엄 , 베이커필
IPC分类号： A61B3/10 , A61B3/103 , A61B3/13 , G01J9/00
CPC分类号： A61B3/1015 , A61B3/103 , A61B3/13 , G01J9/00
摘要： 본발명의일 실시예는눈의굴절상태의연속적인측정들을제공하기위해서안과현미경과함께사용하기위한안과웨이브프론트센서이다. 상기웨이브프론트센서는광원의펄싱을샘플링된서브-웨이브프론트들의중심위치를탐지하기위해서사용된다중개수의위치감지디바이스들/탐지기들과동기시킴으로써병렬샘플링모드및 로크인탐지모드둘 모두에서작동한다. 다른실시예들은웨이브프론트의선택된부분들을샘플링하기위한빔 스캐너그리고라이브이미지센서및 추적편향기를포함한다.

2. 发明公开

KR1020150122626A 광파면의 위상을 제어하기 위한 디바이스 审中-实审
标题翻译：用于控制光波形相位的装置
公开(公告)号：KR1020150122626A
公开(公告)日：2015-11-02
申请号：KR1020157016389
申请日：2013-11-29
申请人： 오네라 (오피스 내셔널 드뚜드데 에 드 르셰세 에어로스페시알르)
发明人： 레베스크쿠엔틴 , 부숑패트릭 , 리야드하이다 , 파흐두파브리스
IPC分类号： G02B27/00 , G02B5/18 , G01J9/00 , G02B27/28 , G02B5/00 , B82Y20/00
CPC分类号： G02B27/0087 , B82Y20/00 , G01J9/00 , G02B5/008 , G02B5/1809 , G02B27/58
摘要： 한양태에따라서, 본발명은주어진사용의스펙트럼띠에서구성된파장의입사광파면의위상을제어하기위한디바이스(20, 50)에관한것으로, 디바이스는, 상기스펙트럼띠에서적어도부분적으로투과성인기판(21)과, 상기기판의표면에대해실질적으로직각으로배열된한 세트의블레이드(22, 23, 24)들을포함하며: 상기세트의블레이드들은, 서브파장폭(w)의병치된금속-다중유전체-금속(MmultiDM) 구조(S)를형성하도록각각금속(22), 제1 유전체물질(23) 및제1 유전체물질과다른적어도하나의제2 유전체물질(24)로각각만들어진병치된블레이드들의교대를포함하며, 각구조는하나이상의전파모드를가지는캐비티를형성하며, - 제1 유전체물질및 제2 유전체물질(들)로만들어진블레이드들의각각의두께는파면위상에서국부적인변이(ΔΦ)를유도하도록각각의상기 MmultiDM 구조들에서조정되며, 국부적인위상변이는상기캐비티에서전파할수 있는모드(들)의유효지수에의존하는것을특징으로한다.
摘要翻译：根据一个方面，本发明涉及一种用于控制包括在给定用途的光谱带中的波长的入射光波阵面的相位的装置（20,50），其包括在所述第一和第二区域中至少部分透明的基底（21）光谱带和一组基本上垂直于基底表面布置的条带（22i，23i，24i），其特征在于：所述条带组包括分别由金属（22i）制成的并置带状的交替的第一电介质（23i）和不同于第一电介质的至少一个第二电介质（24i），以形成亚波长宽度（wi）的并置的金属/多电介质/金属（M多元）结构（M），每个结构形成空腔具有一个或多个传播模式 - 在每个所述多MDMDM结构中调整由第一电介质和第二电介质构成的带的相应厚度，以引起在相位中的局部偏移（＆Dgr;Φi）波前，局部相移取决于能够在所述空腔中传播的模式的有效指标。

3. 发明公开

KR1020150028956A 집적 광 반사계 审中-实审
标题翻译：集成光学反射计
公开(公告)号：KR1020150028956A
公开(公告)日：2015-03-17
申请号：KR1020147028822
申请日：2013-03-14
申请人： 악손옵틱스, 엘엘씨
发明人： 카우치필립알. , 머피켄트에이. , 건서마이클에프. , 가우스찰스비.
IPC分类号： H01S5/0687 , G01D5/353 , G01M11/00 , G01J9/00
CPC分类号： G01J9/00 , G01D5/35316 , G01D5/35354 , G01M11/3172 , H01S5/0687
摘要： 장치는 타깃 주파수에서 레이저 광을 출력하도록 구성된 레이저 소스; 및 현재의 시간대에서 상기 레이저 소스에 의해 출력된 실제 주파수 및 상기 레이저 소스의 타깃 주파수 간의 편차를 측정하도록 구성된 측정 유닛을 포함한다. 상기 장치는 상기 실제 주파수 및 타깃 주파수 간의 측정 편차에 기반하여, 상기 레이저 소스를 제어하여 상기 레이저 소스로부터 출력되는 레이저 주파수를 일정하게 유지함으로써 상기 레이저 소스로부터 전송되는 레이저 광 주파수가 상기 타깃 주파수로 조정되게 하도록 구성된 피드백 제어 유닛;을 포함한다. 상기 피드백 제어 유닛은 상기 레이저 소스를 제어하여 출력된 상기 레이저 소스의 레이저 광의 주파수에서의 선형 변화율을 유지하고, 주파수 측정용으로 이용되는 상기 측정 유닛의 특성들을 보상할 수 있다. 상기 레이저 소스의 피드백 제어를 수행하는 방법이 제공된다.

4. 发明授权

KR101348622B1 다단 파형 검출기 有权
标题翻译：多级波形检测器
公开(公告)号：KR101348622B1
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：KR1020087009973
申请日：2006-12-18
申请人： 디 인벤션 사이언스 펀드 원, 엘엘씨
发明人： 하이드로더릭에이 , 이시카와무리엘와이 , 정에드워드케이와이 , 테그린클라렌스티 , 우드로웰엘
IPC分类号： G01J1/42
CPC分类号： G01J1/4228 , G01J1/0448 , G01J3/02 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J9/00
摘要： 복수의 단을 포함하는 파형 검출기가 개시된다.

5. 发明公开

KR1020130020001A 광학 기기의 해상력 계측 방법 有权
标题翻译：一种用于测量光学器件分辨率的方法
公开(公告)号：KR1020130020001A
公开(公告)日：2013-02-27
申请号：KR1020110082341
申请日：2011-08-18
申请人： 한화테크윈 주식회사
发明人： 구보타히데토시
IPC分类号： G01J9/00 , G01M11/00
CPC分类号： G01J9/00 , G01J2009/004
摘要： PURPOSE: A method for measuring the resolution of an optical device is provided to improve measuring accuracy and to obtain robust properties with respect to a measurement environment. CONSTITUTION: A method for measuring the resolution of an optical device is as follows. An angle is detected from an arbitrary target area of a test chart desired to measure the resolution(210). The detected angle data is oversampled at an unequal space(220). The oversampled data is resampled while filtering the same so that an equal space data is obtained(230). A primary difference of the equal space data is obtained(240). The intensity and a phase of frequencies are obtained by performing Fourier transformation with respect to the obtained primary difference data(250). The obtained intensity data is standardized(270). [Reference numerals] (210) Detecting an angle; (220) Oversampling; (230) Resampling while filtering; (240) Primary difference; (260) Resampling while filtering; (270) Standardizing; (AA) Start; (BB) End
摘要翻译：目的：提供一种测量光学器件分辨率的方法，以提高测量精度并获得关于测量环境的鲁棒性能。构成：用于测量光学装置的分辨率的方法如下。从期望测量分辨率的测试图表的任意目标区域检测角度（210）。检测到的角度数据在不等的空间（220）被过采样。对过采样数据进行重新采样，同时对其进行滤波，以获得相等的空间数据（230）。获得相等空间数据的主要差异（240）。频率的强度和相位通过相对于获得的主差分数据执行傅里叶变换来获得（250）。获得的强度数据被标准化（270）。（附图标记）（210）检测角度; （220）过采样; （230）过滤时重采样; （240）主要差异; （260）过滤时重采样; （270）标准化; （AA）开始; （BB）结束

6. 发明公开

KR1020080108424A 파면 수차 및 거리 측정 위상 카메라 有权
标题翻译： WAVEFRONT ABRIATION和距离测量相位相机
公开(公告)号：KR1020080108424A
公开(公告)日：2008-12-15
申请号：KR1020087020371
申请日：2007-01-18
申请人： 유니버시다드 데 라 라구나
发明人： 로드리구에즈라모스,호세마누엘 , 로사곤잘레즈,페르난도 , 마리찰-헤르난데즈,호세길
IPC分类号： G01J1/52 , G01J1/02
CPC分类号： G01J9/00 , G01J2009/0238 , G01S11/12 , G02B26/06
摘要： A system consisting of a phase camera with microlenses placed in the focal point of a converging lens, wherein the camera data is processed using a combined Fourier ''Slice'' and Fast Fourier Transform edge detection technique providing both a three-dimensional wavefront map and a real scene depth map within a broad range of volumes. the invention is suitable for use in any field where wavefronts need to be determined, such as earth-based astronomical observation, ophthalmology, etc., as well as in fields requiring metrology, e.g. real scenes, CCD polishing, automobile mechanics, etc. The invention is particularly suitable for atmospheric tomography using ELTs (large-diameter telescopes: 50 or 100 metres). ® KIPO & WIPO 2009
摘要翻译：一种由放置在会聚透镜的焦点的具有微透镜的相位相机组成的系统，其中使用组合傅立叶“切片”和快速傅立叶变换边缘检测技术来处理相机数据，其提供三维波前图和在广泛的卷内的真实场景深度图。本发明适用于需要确定波前的任何领域，例如基于地球的天文观测，眼科学等，以及需要测量的领域，例如，实际场景，CCD抛光，汽车力学等。本发明特别适用于使用ELT（大直径望远镜：50或100米）的大气层析成像。 ®KIPO＆WIPO 2009

7. 发明公开

KR1020080100433A 순차 파면 센서 有权
标题翻译：顺序波形传感器
公开(公告)号：KR1020080100433A
公开(公告)日：2008-11-18
申请号：KR1020087020303
申请日：2006-12-21
申请人： 클레러티 메디칼 시스템즈 인코포레이티드
发明人： 쥬얀 , 짜오큉춘 , 웨이수 , 웨이수
IPC分类号： G01J9/00 , G01J3/06 , A61B3/12
CPC分类号： G01J9/00 , A61B3/1015 , A61B3/14 , G01J1/0414 , G01J1/0437
摘要： A sequential wavefront sensor comprises a light beam scanning module (212), a sub-wavef ront focusing lens (220), a detector (222) with more than one photosensitive area and a processor for calculating the sequentially obtained centroids of a number focused light spots from the sub-wavefront s to determine the aberration of the input wavefront. A sequential wavefront sensing method comprises the steps of ; sequentially projecting a number of sub-wavefronts onto a sub-wavefront focusing lens and a detector with more than one photosensitive areas, calculating the centroid of the focused light spot from each sub-wavefront, and processing the centroid information to determine the aberration of the wavefront. In particular, a method for auto-focusing and/or auto-astigmatism-correction comprises the steps of sequentially projecting a number of sub-wavef ronts around an annular ring of a wavefront to a sub-wavefront focusing lens and a detector, calculating the centroid of focused light spot from each sub-wavefront to figure out the centroid trace and hence the defocus and/or astigmatism, adjusting the focus and/or astigmatism of the optical imaging system before the wavefront sensor so that the measured defocus and/or astigmatism is minimized.
摘要翻译：顺序波前传感器包括光束扫描模块（212），子波聚焦透镜（220），具有多于一个感光区域的检测器（222）和用于计算顺序获得的聚焦光的重心的处理器来自子波前的点以确定输入波前的像差。顺序波前感测方法包括以下步骤：顺序地将多个子波前投影到子波前聚焦透镜和具有多于一个感光区域的检测器，计算来自每个子波前的聚焦光点的质心，以及处理质心信息以确定波前。特别地，一种用于自动聚焦和/或自动像散校正的方法包括以下步骤：将多个子波场围绕波前的环形环连续投影到子波前聚焦透镜和检测器，计算从每个子波前聚焦的光斑的重心，以计算出质心轨迹，从而计算散焦和/或散光，调整光学成像系统在波前传感器之前的焦点和/或散光，使得测量的散焦和/或散光被最小化。

8. 发明公开

KR1020080077603A 다단 파형 검출기 有权
标题翻译：多级波形检测器
公开(公告)号：KR1020080077603A
公开(公告)日：2008-08-25
申请号：KR1020087009973
申请日：2006-12-18
申请人： 디 인벤션 사이언스 펀드 원, 엘엘씨
发明人： 하이드로더릭에이 , 이시카와무리엘와이 , 정에드워드케이와이 , 테그린클라렌스티 , 우드로웰엘
IPC分类号： G01J1/42
CPC分类号： G01J1/4228 , G01J1/0448 , G01J3/02 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J9/00
摘要： A waveform detector may include multiple stages.
摘要翻译：波形检测器可以包括多个级。

9. 发明公开

KR1020060054202A 초단파장 초협대역폭 고전력 레이저의 광스펙트럼 출력의대역폭을 측정하는 방법 및 장치 有权
标题翻译：用于测量非常小的波长的非常窄带宽大功率激光器的光谱输出的带宽的方法和装置
公开(公告)号：KR1020060054202A
公开(公告)日：2006-05-22
申请号：KR1020057024686
申请日：2004-06-14
申请人： 사이머 엘엘씨
发明人： 라팍로버트제이.
IPC分类号： G01J1/42 , G01J3/28
CPC分类号： G01J3/02 , G01J1/4257 , G01J3/027 , G01J3/28 , G01J3/45 , G01J9/00 , H01S3/1305 , H01S3/225
摘要： An apparatus (10) and method for controlling a laser System (12) is disclosed with a spectrometer (24, 30) having an optical bandwidth measuring unit (24) such as an etalon. The optical bandwidth measuring unit (24) outputs a measured parameter (32) and a reported parameter (36) is calculated by: Reported Parameter (" RP") = A * (Measured Parameter ("MP")) + C where A and C are determined based upon calibration of the optical bandwidth measuring unit (24) MP response for light of known valued of RP.
摘要翻译：公开了一种用于控制激光系统（12）的装置（10）和方法，具有具有诸如标准具的光学带宽测量单元（24）的光谱仪（24,30）。光带宽测量单元（24）输出测量参数（32），报告参数（36）通过以下方式计算：报告参数（“RP”）= A *（测量参数（“MP”））+ C其中A和 C基于光学带宽测量单元（24）的校准确定了对已知值RP的光的MP响应。

10. 发明授权

KR101912671B1 광 측정 장치, 방법, 프로그램, 기록 매체 有权
公开(公告)号：KR101912671B1
公开(公告)日：2018-10-29
申请号：KR1020157003572
申请日：2013-08-22
申请人： 가부시키가이샤 아드반테스트
发明人： 하시모토마사이치 , 이리사와아키요시
IPC分类号： G01N21/3586
CPC分类号： G01N21/59 , G01J9/00 , G01N21/3586
摘要： 본발명에의한광측정장치는마스터레이저, 슬레이브레이저, 조사광펄스출력기및 피측정신호출력기를구비한다. 상기광측정장치에의하면, 마스터레이저가마스터레이저광 펄스를출력하고, 슬레이브레이저가상기마스터레이저광 펄스와는반복주파수또는위상이다른슬레이브레이저광 펄스를출력한다. 그리고, 조사광 펄스출력기가상기마스터레이저광 펄스를받고조사광 펄스를출력하고, 피측정신화출력기가상기조사광펄스를피측정물에조사해서얻어진피측정광 펄스를받고, 또한상기슬레이브레이저광 펄스를받은시점에서, 상기피측정광 펄스의파워에따른피측정신호를출력한다. 그리고, 상기피측정신화의측정오차를보정한다.

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