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1. 发明公开

KR1020150114024A PCB 기판 가열 공급 장치 无效
标题翻译： PCB加热和供应设备
公开(公告)号：KR1020150114024A
公开(公告)日：2015-10-12
申请号：KR1020140037449
申请日：2014-03-31
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 전태을 , 남정현
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/28 , G01R31/2805 , G01R31/281
摘要： 본발명은 PCB 기판가열공급장치에관한것으로, PCB 기판에대한전기검사를고온에서수행할수 있도록 PCB 기판을가열하여 PCB 기판전기검사장치에공급하는장치로서, 다수개의히팅모듈을통해 PCB 기판을순차적으로가열함으로써, 전체가열공정상에서목표온도까지가열하는데소요되는시간을현저히감소시킬수 있어더욱신속하게가열공정을수행할수 있고, PCB 기판을가열하는히팅모듈및 PCB 기판을이송하는이송모듈의동작상태를사용자의필요에따라다양한방식으로변경함으로써, PCB 기판의가열과정에서 PCB 기판에대한열 손상등을방지할수 있고, 더욱신속하고안정적인가열공정을수행할수 있는 PCB 기판가열공급장치를제공한다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于加热和供应PCB的装置。用于加热和供应PCB的装置加热PCB并将PCB提供给PCB的电气检查装置，以能够在高温下进行PCB的电气检查。加热过程可以更快地进行，因为在整个加热过程中将PCB加热到目标温度所消耗的时间可以通过依次通过多个加热模块加热PCB而显着降低。可以通过改变用于加热印刷电路板的加热模块的操作状态和用于传送PCB的输送模块的操作状态来更快速和更稳定地进行PCB加热过程中对PCB的热损伤。需要一个用户。

2. 发明公开

KR1020140029236A 전기 검사용 테스트 지그의 청소장치 및 이를 갖는 전자부품의 검사장치 有权
标题翻译：用于测试电子元件的电气条件的测试装置和用于测试具有该电子部件的电子部件的装置的装置
公开(公告)号：KR1020140029236A
公开(公告)日：2014-03-10
申请号：KR1020130101251
申请日：2013-08-26
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 전태을 , 윤여운 , 박수정 , 홍준석
IPC分类号： B08B5/02 , B08B7/02
CPC分类号： B08B5/02 , G01R31/2808
摘要： The present invention relates to a cleaning device of a test jig for testing electrical conditions capable of effectively cleaning the test jig for testing electrical conditions which applies a current while being in contact with an electrode pattern of an electronic component for testing all kinds of electronic components; and a testing device of the electronic component having the same. The cleaning device of the test jig for testing electrical conditions includes an air injecting device which blows foreign materials on a plurality of jig pins by injecting air toward the jig pins; and a foreign material separation device for removing foreign materials on the surfaces of the jig pins. The foreign material separation device includes a foreign material separating member capable of separating foreign materials on the surfaces of the jig pins by rubbing the jig pins when the jig pins are dug into the surfaces; and a wiping sheet which is formed on the top of the foreign material separation device to enables the jig pins to be penetrated through and which closely adheres to the surfaces of the jig pins when the jig pins are dug into the foreign material separation member and taken out to the outside and wipes the surfaces of the jig pins.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试能够有效地清洁用于测试电气条件的电气条件的电气条件的测试夹具的清洁装置，该电气条件在与用于测试各种电子部件的电子部件的电极图案接触的同时施加电流 ; 以及具有该测试装置的电子部件的测试装置。用于测试电气条件的测试夹具的清洁装置包括：空气喷射装置，其通过向夹具销喷射空气将异物吹向多个夹具销; 以及用于去除夹具销的表面上的异物的异物分离装置。异物分离装置包括异物分离部件，其能够通过在夹具销被挖入表面时摩擦夹具销来分离夹具销的表面上的异物; 以及擦拭片，其形成在异物分离装置的顶部上，以使得夹具销能够穿过并且当夹具销被插入到异物分离部件中时紧紧地附着在夹具销的表面上到外面擦拭夹具销的表面。

3. 发明授权

KR100507918B1 웨이퍼 번인 시스템에서의 브이에스 케이블 단선 검출 장치 有权
标题翻译：在WAFER BURN-IN系统中检测VS线断裂的装置
公开(公告)号：KR100507918B1
公开(公告)日：2005-08-10
申请号：KR1020020066210
申请日：2002-10-29
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 전태을
IPC分类号： H01L21/66
摘要： 본 발명은 웨이퍼 번인 시스템에서 VS 케이블의 단선 여부를 자동으로 검출할 수 있는 웨이퍼 번인 시스템에서의 VS 케이블 단선 검출 장치에 관한 것으로, 본 발명에 따르면, 각 VS 보드는 2개의 출력 라인을 통해 테스트 전압을 성능측정 보드로 제공하며, 각 VS 보드에 설치되며, 각 출력 라인중 임의의 라인이 단선되는 경우에 자동으로 변화되는 전류의 방향에 대응하여 배치된 포토 커플러; 각 VS 보드에 설치되며, 포토 커플러의 구동을 감지하여 VS 보드에 연결된 출력라인의 단선을 검출하는 제어수단을 포함하여 구성되는 웨이퍼 번인 시스템에서의 VS 케이블 단선 검출 장치를 제공한다.
이러한 본 발명에 따르면, 웨이퍼 번인 시스템에서 VS 보드에 연결된 VS 케이블의 각 라인에 대한 단선 여부를 자동으로 검출할 수 있게 됨으로써, 단선된 VS 케이블의 검출 및 보수를 위한 시간과 비용을 최소화할 수 있는 효과가 있다.

4. 发明授权

KR100407284B1 웨이퍼 번인 시스템의 브이에스 파라미터 측정 장치 有权
标题翻译：晶片老化系统的VIS参数测量装置
公开(公告)号：KR100407284B1
公开(公告)日：2003-12-03
申请号：KR1020030041499
申请日：2003-06-25
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 우상경 , 전태을
IPC分类号： H01L21/66

5. 发明授权

KR101555330B1 PCB 기판 전기 검사용 니들 조립체 有权
标题翻译：用于电气检测PCB的针组件
公开(公告)号：KR101555330B1
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：KR1020140040550
申请日：2014-04-04
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 전태을 , 남정현 , 노창용
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/306 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/073 , G01R31/28 , G01R31/306
摘要： 본 발명은 PCB 기판 전기 검사용 니들 조립체에 관한 것으로, 니들 블록의 관통홀에 2개의 접촉 니들이 모듈화된 하나의 니들 모듈을 삽입하는 형태로 형성함으로써, 니들 블록의 유효 면적당 관통홀의 개수가 종래 기술에 비해 1/2로 감소되므로, 관통홀 사이 간격을 더욱 넓게 유지할 수 있고, 이에 따라 솔드볼의 간격이 더욱 미세하고 정밀하게 형성된 PCB 기판의 경우에도 충분히 적용할 수 있고 아울러 그 제작이 상대적으로 용이하고, 니들 블록에 삽입되는 니들 모듈을 접촉 가압력에 대해 탄성 변형 가능하도록 형성함으로써, 니들 모듈에 대한 수직 방향의 가압력이 작용하더라도 니들 모듈이 탄성 변형하며 가압력을 흡수하게 되므로, 가압력 및 이로 인한 충격이 완충되어 니들 모듈 및 솔드볼에 대한 손상을 방지할 수 있고, 이에 따라 더욱 안전하고 정확하게 PCB 기판에 대한 전기 검사를 수행할 수 있는 PCB 기판 전기 검사용 니들 조립체를 제공한다.
摘要翻译：本发明涉及用于PCB的电气检查的针组件。提供了用于电气检查PCB的针组件，其能够相对方便制造过程并且以焊球的精细和精确的间隔充分地应用于PCB，因为通孔之间的较宽间隔由于减小与现有技术相比，针块的每个有效面积的通孔数目通过使一个针模块通过插入到针块的通孔中的两个接触针模块化而成。该组件可以防止针模组和焊球的损坏，因为即使垂直压力施加到针组件上，由于压力和由于通过吸收压力缓冲的压力而引起的冲击，因为针模组弹性变形，相对于接触压力，插入针头的针模组弹性变形。因此，可以安全，准确地进行PCB上的电气检查。

6. 发明公开

KR1020140029185A 인쇄회로기판의 테스트 장치 有权
标题翻译： PCB测试装置
公开(公告)号：KR1020140029185A
公开(公告)日：2014-03-10
申请号：KR1020130096133
申请日：2013-08-13
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 윤여운 , 전태을 , 박수정 , 홍준석
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/316
摘要： The present invention relates to a testing apparatus for a printed circuit board (PCB) and, more specifically, to a testing apparatus for a PCB capable of determining all of electrical characteristic data of a faulty electrode pad as well as a normal electrode pad, and reducing the time required for the testing of a PCB by using a loading time of the PCB, continuing all of the electrical characteristic data of the electrode pads at once and providing the data to a test computer. [Reference numerals] (AA) Size; (BB) Test input signal; (CC) Time
摘要翻译：本发明涉及一种用于印刷电路板（PCB）的测试装置，更具体地，涉及一种用于确定故障电极焊盘和正常电极焊盘的所有电特性数据的PCB的测试装置，以及通过使用PCB的加载时间减少测试PCB所需的时间，一次连续电极焊盘的所有电气特性数据，并将数据提供给测试计算机。（附图标记）（AA）尺寸; （BB）测试输入信号; （CC）时间

7. 发明公开

KR1020090120077A 메모리 성능 파라미터의 측정 대기시간을 제어하는 장치 有权
标题翻译：用于控制存储器参数测量时间的装置
公开(公告)号：KR1020090120077A
公开(公告)日：2009-11-24
申请号：KR1020080045943
申请日：2008-05-19
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 전태을 , 윤여운 , 현병철
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2851 , G01R31/3183 , H01L22/30 , H03M1/12
摘要： PURPOSE: An apparatus for controlling the stand-by time is provided to measure the amplitude of a test result signal accurately by counting the stand-by time through a separate counter unit. CONSTITUTION: A computer(100) controls the overall test operation of a memory test system. A DC unit(400) is connected with a plurality of memories(700-1~700-n) tested through relays(500,600). According to the on/off control of the relays, a memory to be tested among memories is selected. The memory outputs a test result signal on the DC unit in response to the test signal. To measure the DC parameter of the memory, a current signal is applied to the memory. A voltage signal is outputted in response to the current signal.
摘要翻译：目的：提供一种用于控制待机时间的设备，通过对独立计数器单元的待机时间进行计数来准确测量测试结果信号的幅度。规定：计算机（100）控制内存测试系统的整体测试操作。 DC单元（400）与通过继电器（500,600）测试的多个存储器（700-1〜700-n）连接。根据继电器的开/关控制，选择要在存储器中测试的存储器。存储器响应于测试信号在DC单元上输出测试结果信号。要测量存储器的直流参数，将电流信号施加到存储器。响应于当前信号输出电压信号。

8. 发明授权

KR101541861B1 전도성 필름 전기 검사 장치 有权
标题翻译：电导体检查装置
公开(公告)号：KR101541861B1
公开(公告)日：2015-08-06
申请号：KR1020140040549
申请日：2014-04-04
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지 , 노창용
发明人： 전태을 , 남정현 , 노창용
IPC分类号： G01R1/073 , G06F3/041
CPC分类号： G01R1/073 , G06F3/041
摘要： 본발명은전도성필름전기검사장치에관한것으로, 전도성필름에대한전기검사를위해프로브핀이전도성필름에접촉하는과정에서전도성필름을평평하게고정가이드할수 있도록별도의가이드댐퍼를구비함으로써, 전도성필름에대한전기검사과정에서전도성필름의배치상태가평평하게유지되어프로브핀에의한관통또는손상이방지되고, 아울러, 모든프로브핀이전도성필름의전기패턴에안정적으로접촉할수 있어더욱정확한검사결과를얻을수 있는전도성필름전기검사장치를제공한다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于导电膜的电测试装置。本发明提供一种用于导电膜的电气测试装置，其能够防止由于探针引起的穿透或损坏，因为在导电膜的电测试过程中导电膜的布置状态保持平坦，并且还可以获得通过使所有探头针稳定地与导电膜的电气图案接触，通过包括单独的引导阻尼器来进行更准确的测试结果，该引导阻尼器可以固定以在探针接触导电膜的过程中平坦地引导导电膜，关于导电膜的电测试。

9. 发明授权

KR101452431B1 인쇄회로기판 테스트 장치용 테스트 핀의 검사 장치 有权
标题翻译：用于检测用于PCB测试仪的JIG引脚故障的装置
公开(公告)号：KR101452431B1
公开(公告)日：2014-10-23
申请号：KR1020130096135
申请日：2013-08-13
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 윤여운 , 전태을 , 박수정 , 홍준석
IPC分类号： G01R31/304 , G01R31/28 , G01R1/067
摘要： 본 발명은 인쇄회로기판용 테스트 핀의 검사 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 테스트 핀의 휨 상태를 1차 판단하고 휨 상태로 판단되는 타켓 테스트 핀의 확대 영상을 통해 최종 휨 상태를 판단할 수 있으며, 테스트 지그를 테스트 장치에서 분리하여 육안과 현미경을 통해 휨 상태를 판단하는 종래 테스트 핀의 검사 방법과 비교하여 인쇄회로기판의 테스트 중 정확하게 테스트 핀의 휨 상태를 판단할 수 있는 테스트 핀의 검사 장치에 관한 것이다.

10. 发明公开

KR1020040037641A 웨이퍼 번인 시스템에서의 브이에스 케이블 단선 검출 장치 有权
标题翻译： VS电缆断路检测装置的波形烧制系统
公开(公告)号：KR1020040037641A
公开(公告)日：2004-05-07
申请号：KR1020020066210
申请日：2002-10-29
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 전태을
IPC分类号： H01L21/66
摘要： PURPOSE: A VS(Voltage Supply) cable breaking detecting apparatus of a wafer burn-in system is provided to be capable of automatically checking the breaking of a cable for minimizing maintenance cost. CONSTITUTION: An apparatus is used for detecting the breaking of a VS cable, wherein the VS cable connects a plurality of VS boards(310) with a performance measuring board. At this time, a test voltage is supplied from each VS board to the performance measuring board through two output lines. The apparatus includes a photo coupler(312) located at each VS board corresponding to the direction of current, wherein the direction of current is automatically changed when an arbitrary line out of output lines is in a breaking state. The apparatus further includes a control part installed at each VS board for checking the breaking of the out line connected to the VS board by detecting the driving state of the photo coupler.
摘要翻译：目的：提供晶片老化系统的VS（Voltage Supply）电缆断线检测装置，以便能够自动检查电缆的断裂以最小化维护成本。构成：用于检测VS电缆的断裂的装置，其中VS电缆将多个VS板（310）与性能测量板连接。此时，通过两条输出线从每个VS板提供测试电压到性能测量板。该装置包括位于与电流方向对应的每个VS板处的光耦合器（312），其中当输出线的任意线处于断开状态时，电流方向自动改变。该装置还包括安装在每个VS板上的控制部分，用于通过检测光耦合器的驱动状态来检查连接到VS板的输出线的断开。

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