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1. 发明授权

KR101448557B1 전자 소자의 테스트 장치 有权
标题翻译：电子设备检测装置
公开(公告)号：KR101448557B1
公开(公告)日：2014-10-13
申请号：KR1020130096134
申请日：2013-08-13
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 윤여운
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/28
摘要： 본 발명은 전자 소자의 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 전자 소자의 테스트 신호에 매핑된 가변 코드 데이터에 따라 프로그램된 증폭 이득으로 다양한 크기의 테스트 신호를 생성할 수 있는 저렴하며 소형화된 전자 소자의 테스트 장치에 관한 것이다.

2. 发明公开

KR1020140029236A 전기 검사용 테스트 지그의 청소장치 및 이를 갖는 전자부품의 검사장치 有权
标题翻译：用于测试电子元件的电气条件的测试装置和用于测试具有该电子部件的电子部件的装置的装置
公开(公告)号：KR1020140029236A
公开(公告)日：2014-03-10
申请号：KR1020130101251
申请日：2013-08-26
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 전태을 , 윤여운 , 박수정 , 홍준석
IPC分类号： B08B5/02 , B08B7/02
CPC分类号： B08B5/02 , G01R31/2808
摘要： The present invention relates to a cleaning device of a test jig for testing electrical conditions capable of effectively cleaning the test jig for testing electrical conditions which applies a current while being in contact with an electrode pattern of an electronic component for testing all kinds of electronic components; and a testing device of the electronic component having the same. The cleaning device of the test jig for testing electrical conditions includes an air injecting device which blows foreign materials on a plurality of jig pins by injecting air toward the jig pins; and a foreign material separation device for removing foreign materials on the surfaces of the jig pins. The foreign material separation device includes a foreign material separating member capable of separating foreign materials on the surfaces of the jig pins by rubbing the jig pins when the jig pins are dug into the surfaces; and a wiping sheet which is formed on the top of the foreign material separation device to enables the jig pins to be penetrated through and which closely adheres to the surfaces of the jig pins when the jig pins are dug into the foreign material separation member and taken out to the outside and wipes the surfaces of the jig pins.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试能够有效地清洁用于测试电气条件的电气条件的电气条件的测试夹具的清洁装置，该电气条件在与用于测试各种电子部件的电子部件的电极图案接触的同时施加电流 ; 以及具有该测试装置的电子部件的测试装置。用于测试电气条件的测试夹具的清洁装置包括：空气喷射装置，其通过向夹具销喷射空气将异物吹向多个夹具销; 以及用于去除夹具销的表面上的异物的异物分离装置。异物分离装置包括异物分离部件，其能够通过在夹具销被挖入表面时摩擦夹具销来分离夹具销的表面上的异物; 以及擦拭片，其形成在异物分离装置的顶部上，以使得夹具销能够穿过并且当夹具销被插入到异物分离部件中时紧紧地附着在夹具销的表面上到外面擦拭夹具销的表面。

3. 发明公开

KR1020090109700A 메모리 테스트 보드의 동기화 장치 有权
标题翻译：用于同步记忆测试板的设备
公开(公告)号：KR1020090109700A
公开(公告)日：2009-10-21
申请号：KR1020080035069
申请日：2008-04-16
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 윤여운 , 노동수 , 현병철
IPC分类号： G11C29/00 , G11C8/00
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/31903 , G01R31/31917
摘要： PURPOSE: An apparatus for synchronizing memory test board is provided to perform the synchronization of the test board. CONSTITUTION: The apparatus for synchronizing memory test board includes the first line, the second line and the comparison unit(120). The first line is connected to the output terminal of the test elements. The second line is connected to the output terminal of the test elements in parallel with the first line. The comparison unit is outputted from two test elements selected out of a plurality of the test elements. The comparison unit receives the test signal through the first line or the second line. The comparison unit compares the time delay difference of the inputted test signal.
摘要翻译：目的：提供同步存储器测试板的装置，以执行测试板的同步。构成：同步存储器测试板的装置包括第一行，第二行和比较单元（120）。第一行连接到测试元件的输出端。第二行与第一行并行连接到测试元件的输出端。比较单元从选自多个测试单元的两个测试单元输出。比较单元通过第一行或第二行接收测试信号。比较单元比较输入的测试信号的时间差。

4. 发明授权

KR100829548B1 웨이퍼 번인 시스템의 ＤＣ 아웃 릴레이의 자가 진단 장치 有权
标题翻译：用于自动诊断晶圆老化系统的DC输出继电器的装置
公开(公告)号：KR100829548B1
公开(公告)日：2008-05-15
申请号：KR1020060089221
申请日：2006-09-14
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 윤여운 , 허장욱 , 현병철
IPC分类号： H01L21/66 , G01R31/26
摘要： 본 발명은 웨이퍼 번인 시스템의 DC 아웃 릴레이를 자가 진단하는 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 다수의 DC 아웃 릴레이가 접속되어 있는 하나의 DC 입력 라인과 DC 센싱 라인 사이에 상기 DC 아웃 릴레이의 접속을 제어하는 접속 제어부를 배치하여 파손된 DC 아웃 릴레이를 쉽게 검색할 수 있는 DC 아웃 릴레이의 자가 진단 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 DC 아웃 릴레이의 자가 진단 장치는 DC 입력 라인과 DC 센싱 라인에 접속되어 있는 DC 아웃 릴레이 사이에 접속 제어부를 배치함으로써, 불량인 DC 아웃 릴레이를 쉽게 찾아낼 수 있다. 따라서 정상적으로 동작하지 않는 DC 아웃 릴레이가 존재하는 경우, 모든 DC 아웃 릴레이를 교체하는 대신 이상이 있는 DC 아웃 릴레이를 손쉽게 찾아 교체하여 시간과 비용을 줄일 수 있다.
웨이퍼 번인 시스템, DC 아웃 릴레이, 자가 진단

5. 发明授权

KR101452431B1 인쇄회로기판 테스트 장치용 테스트 핀의 검사 장치 有权
标题翻译：用于检测用于PCB测试仪的JIG引脚故障的装置
公开(公告)号：KR101452431B1
公开(公告)日：2014-10-23
申请号：KR1020130096135
申请日：2013-08-13
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 윤여운 , 전태을 , 박수정 , 홍준석
IPC分类号： G01R31/304 , G01R31/28 , G01R1/067
摘要： 본 발명은 인쇄회로기판용 테스트 핀의 검사 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 테스트 핀의 휨 상태를 1차 판단하고 휨 상태로 판단되는 타켓 테스트 핀의 확대 영상을 통해 최종 휨 상태를 판단할 수 있으며, 테스트 지그를 테스트 장치에서 분리하여 육안과 현미경을 통해 휨 상태를 판단하는 종래 테스트 핀의 검사 방법과 비교하여 인쇄회로기판의 테스트 중 정확하게 테스트 핀의 휨 상태를 판단할 수 있는 테스트 핀의 검사 장치에 관한 것이다.

6. 发明公开

KR1020080024735A 웨이퍼 번인 시스템의 ＤＣ 아웃 릴레이의 자가 진단 장치 有权
标题翻译：用于自动诊断WAFER BURN-IN系统直流输出继电器的设备
公开(公告)号：KR1020080024735A
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：KR1020060089221
申请日：2006-09-14
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 윤여운 , 허장욱 , 현병철
IPC分类号： H01L21/66 , G01R31/26
摘要： An apparatus for self-diagnosing a DC out relay of a wafer burn-in system is provided to search a broken DC out relay by positioning a connection controller between DC out relays connected with a DC input line and a DC sensing line. An apparatus for self-diagnosing a DC out relay of a wafer burn-in system comprises a plurality of PD unit parts(1 to n), a plurality of DC out relays(1-1 to 1-n), a DC unit, and a connection controller(20-1 to 20-n). The PD unit part outputs an self-diagnosing signal. The plurality of DC out relays is connected with the PD unit part, respectively, and is connected with each other using a DC input line(I) and a DC sensing line(S). The self-diagnosing signal is inputted to the DC unit through the DC out relay, and the DC unit measures a DC parameter of the self-diagnosing signal. The connection controller controls the connection of the DC out relay in the DC input line and the DC sensing line.
摘要翻译：提供了一种用于自诊断晶圆老化系统的DC输出继电器的装置，用于通过将连接控制器定位在与DC输入线连接的DC输出继电器和DC感测线之间来搜索断开的DC输出继电器。用于自诊断晶片老化系统的DC输出继电器的装置包括多个PD单元部分（1至n），多个DC输出继电器（1-1至1-n），DC单元，和连接控制器（20-1至20-n）。 PD单元部分输出自诊断信号。多个DC输出继电器分别与PD单元部分连接，并且使用DC输入线（I）和DC感测线路（S）彼此连接。自诊断信号通过DC输出继电器输入到DC单元，直流单元测量自诊断信号的直流参数。连接控制器控制直流输入线路和直流感测线路中的直流输出继电器的连接。

7. 发明公开

KR1020140029186A 전자 소자의 테스트 장치 有权
标题翻译：用于测试电子设备的装置
公开(公告)号：KR1020140029186A
公开(公告)日：2014-03-10
申请号：KR1020130096134
申请日：2013-08-13
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 윤여운
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/28
摘要： The present invention relates to a test device for an electronic element and, more specifically, to a test device for an electronic element capable of generating test signals of various sizes using programmed amplification gains according to the flexible code data mapped to the test signals for an electronic element while reducing the costs and size. [Reference numerals] (210) Code generation unit; (220) Variable code database; (231) Gain control unit; (233) Signal generation unit; (240) Reference signal generation unit; (250) Measurement unit; (260) Error detection unit; (AA) Test command
摘要翻译：本发明涉及一种用于电子元件的测试装置，更具体地说，涉及一种能够根据映射到测试信号的灵活编码数据使用编程放大增益产生各种尺寸的测试信号的电子元件测试装置电子元件同时降低成本和尺寸。（附图标记）（210）代码生成单元; （220）变量代码数据库; （231）增益控制单元; （233）信号发生单元; （240）参考信号生成单元; （250）测量单元; （260）错误检测单元; （AA）测试命令

8. 发明公开

KR1020140029185A 인쇄회로기판의 테스트 장치 有权
标题翻译： PCB测试装置
公开(公告)号：KR1020140029185A
公开(公告)日：2014-03-10
申请号：KR1020130096133
申请日：2013-08-13
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 윤여운 , 전태을 , 박수정 , 홍준석
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/316
摘要： The present invention relates to a testing apparatus for a printed circuit board (PCB) and, more specifically, to a testing apparatus for a PCB capable of determining all of electrical characteristic data of a faulty electrode pad as well as a normal electrode pad, and reducing the time required for the testing of a PCB by using a loading time of the PCB, continuing all of the electrical characteristic data of the electrode pads at once and providing the data to a test computer. [Reference numerals] (AA) Size; (BB) Test input signal; (CC) Time
摘要翻译：本发明涉及一种用于印刷电路板（PCB）的测试装置，更具体地，涉及一种用于确定故障电极焊盘和正常电极焊盘的所有电特性数据的PCB的测试装置，以及通过使用PCB的加载时间减少测试PCB所需的时间，一次连续电极焊盘的所有电气特性数据，并将数据提供给测试计算机。（附图标记）（AA）尺寸; （BB）测试输入信号; （CC）时间

9. 发明公开

KR1020090120077A 메모리 성능 파라미터의 측정 대기시간을 제어하는 장치 有权
标题翻译：用于控制存储器参数测量时间的装置
公开(公告)号：KR1020090120077A
公开(公告)日：2009-11-24
申请号：KR1020080045943
申请日：2008-05-19
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 전태을 , 윤여운 , 현병철
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2851 , G01R31/3183 , H01L22/30 , H03M1/12
摘要： PURPOSE: An apparatus for controlling the stand-by time is provided to measure the amplitude of a test result signal accurately by counting the stand-by time through a separate counter unit. CONSTITUTION: A computer(100) controls the overall test operation of a memory test system. A DC unit(400) is connected with a plurality of memories(700-1~700-n) tested through relays(500,600). According to the on/off control of the relays, a memory to be tested among memories is selected. The memory outputs a test result signal on the DC unit in response to the test signal. To measure the DC parameter of the memory, a current signal is applied to the memory. A voltage signal is outputted in response to the current signal.
摘要翻译：目的：提供一种用于控制待机时间的设备，通过对独立计数器单元的待机时间进行计数来准确测量测试结果信号的幅度。规定：计算机（100）控制内存测试系统的整体测试操作。 DC单元（400）与通过继电器（500,600）测试的多个存储器（700-1〜700-n）连接。根据继电器的开/关控制，选择要在存储器中测试的存储器。存储器响应于测试信号在DC单元上输出测试结果信号。要测量存储器的直流参数，将电流信号施加到存储器。响应于当前信号输出电压信号。

10. 发明授权

KR101527200B1 전기 검사용 테스트 지그의 청소장치 및 이를 갖는 전자부품의 검사장치 有权
标题翻译：用于测试电子部件的电气条件的测试夹具的装置和用于测试具有该电子部件的电子部件的装置
公开(公告)号：KR101527200B1
公开(公告)日：2015-06-09
申请号：KR1020130101251
申请日：2013-08-26
申请人： 주식회사 에이티테크놀러지
发明人： 전태을 , 윤여운 , 박수정 , 홍준석
IPC分类号： B08B5/02 , B08B7/02
摘要： 본발명은각종전자부품의전기검사를위해전자부품의전극패턴에접하여전류를인가하는전기검사용테스트지그핀을효과적으로청소할수 있는전기검사용테스트지그의청소장치및 이를갖는전자부품의검사장치에관한것이다. 본발명에의한전기검사용테스트지그의청소장치는, 복수의지그핀을향해에어를분사하여복수의지그핀에묻은이물질을불어내는에어분사기구와, 복수의지그핀 표면에끼인이물질을제거하기위한이물질박리기구를포함한다. 이물질박리기구는, 복수의지그핀이파고들때 복수의지그핀과의마찰에의해복수의지그핀 표면에끼인이물질을박리할수 있는이물질박리재와, 복수의지그핀이관통할수 있도록이물질박리재의상부에배치되고복수의지그핀이이물질박리재속으로파고들었다가외부로빠져나갈때 복수의지그핀의표면에밀착되어복수의지그핀의표면을닦아내는와이핑시트를갖는다.

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