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    • 5. 发明公开
    • 투명 유전체 페이스트 조성물, 투명 유전막의 형성방법, 투명 유전막 및 물품
    • 透明电介质组合物,形成透明介质层的方法,透明电介质层和包括层的文章
    • KR1020120078844A
    • 2012-07-11
    • KR1020110000119
    • 2011-01-03
    • 삼성전자주식회사
    • 배민종박상현정태원
    • H01B3/30C08L69/00C08L29/04H01B17/62
    • C08K5/109C08L5/00C08L1/08C08L29/04
    • PURPOSE: A transparent dielectric paste composition is provided to have high dielectric constant, low leakage current, and low dielectric loss, and to have high voltage characteristic, and high breakdown voltage. CONSTITUTION: A transparent dielectric paste comprises a cyano based resin, and a propylene carbonate. The cyano based resin comprises at least one kind selected from a group consisting of cyanoethyl pullulan, cyanoethyl poly(vinyl alcohol), a copolymer of cyanoethyl pullulan and cyanoethyl polyvinyl alcohol, and cyanoethyl sucrose. The content ratio of propylene carbonate to the cyano based resin is 95:5-60:40 based on weight. At least a part of the cyano based resin is dissolved into propylene carbonate or solution thereof. The transparent dielectric paste composition additionally comprises halogenated hydrocarbon. The content of the halogenated hydrocarbon is 0.01-15 parts by weight based on 100 parts by weight of the transparent dielectric paste composition.
    • 目的:提供一种透明电介质糊剂组合物,具有高介电常数,低漏电流和低介电损耗,并具有高电压特性和高击穿电压。 构成:透明电介质浆料包含氰基树脂和碳酸丙烯酯。 氰基树脂包括选自氰基乙基支链淀粉,氰乙基聚(乙烯醇),氰基乙基支链淀粉和氰乙基聚乙烯醇的共聚物和氰基乙基蔗糖中的至少一种。 基于重量,碳酸丙烯酯与氰基树脂的含量比为95:5-60:40。 氰基树脂的至少一部分溶解在碳酸亚丙酯或其溶液中。 透明电介质糊料组合物另外包含卤代烃。 基于100重量份的透明电介质浆料组合物,卤代烃的含量为0.01-15重量份。
    • 10. 发明公开
    • 반도체 메모리에서의 테스트 회로 및 테스트 방법
    • 用于半导体存储器的测试电路及其测试方法
    • KR1020050112204A
    • 2005-11-30
    • KR1020040037122
    • 2004-05-25
    • 삼성전자주식회사
    • 정태원
    • G11C29/00
    • 본 발명은 반도체 메모리에서의 불량을 테스트하기 위한 테스트 회로 및 테스트 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 테스트 회로는, 복수개의 메모리 셀들로 구성되는 적어도 하나이상의 메모리 뱅크와, 상기 메모리 셀들에 라이트 되어 있는 제1논리 상태의 데이터를 감지 증폭하는 적어도 하나 이상의 비트라인 센스앰프와, 상기 비트라인 센스앰프의 각각의 출력을 오픈 드레인 구조의 게이트 입력에 연결시켜 입출력라인에 전달하는 적어도 하나 이상의 다이렉트 센스 앰프와, 상기 다이렉트 센스앰프의 인에이블과 동시에 상기 메모리 뱅크의 모든 리드 컬럼선택라인을 인에이블시키고, 상기 입출력라인의 출력의 논리 상태의 변화를 토대로 불량여부를 판단하는 제어회로를 구비한다. 본 발명에 따르면, 테스트 시간이 단축되고 고용량 메모리의 테스트에 적합한 효과가 있다.