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    • 1. 发明授权
    • 와이어를 이용한 공연 예술물의 저소음 구동장치
    • KR101776665B1
    • 2017-09-08
    • KR1020150127441
    • 2015-09-09
    • (주)지컴(주)이지위드
    • 민상현
    • A63J1/02A63J5/00B66D1/28B66D1/36
    • 본발명은공연무대등에사용하는와이어를이용한공연예술물의저소음구동장치에관한것으로서, 특히마찰소음이적은와이어를사용하여무대위의조형물을움직이게하는구동장치에관한것이다. 본발명은와이어의구동으로조형물을움직이는공연예술물의저소음구동장치에있어서, 상기와이어의구동방향과나란하게형성되어일 측면에제어용모터를고정시키고기준면으로부터소정의높이로직립되게배치된와이어지지부; 와이어지지부의타 측면에설치되어제어용모터의회전에의해와이어의감김과풀림을조절하는와이어풀리부; 및와이어풀리부의조절에따라움직이는와이어와조형물을연결하는와이어결합부;를포함하는공연예술물의저소음구동장치를제공한다. 본발명에따르면, 모터의고속회전에있어와이어를이용하기때문에동력전달부재의마찰로인한소음을감소시키고고정부재가구비된와이어풀리를이용하여고속구동시마찰력감소로인한와이어의슬립현상을방지하는이점이있다.
    • 2. 发明公开
    • 반도체 디바이스 테스트 장치
    • 半导体器件测试装置
    • KR1020140036065A
    • 2014-03-25
    • KR1020120101627
    • 2012-09-13
    • (주)지컴
    • 권현철민상현
    • G01R31/26
    • A device for testing a semiconductor device is disclosed. According to one aspect, a socket to which a semiconductor device is inserted and a socket cover unit are provided. As the socket and the socket cover unit are combined one-to-one, the electrical connection of the semiconductor device is maintained. According to another aspect, a plurality of sockets is arranged on a tester board. Each socket is able to test a semiconductor device when the semiconductor device is inserted and is at a connection position for electrical connection. Also an arrangement/pressurization structure for pressurizing part of or all semiconductor devices inserted into the sockets at the same time for placing the semiconductor devices at each connection position is included. By having the structure described above, the number of devices which can be tested at the same time is increased; the index time is reduced; and accordingly testing efficiency and productivity can be enhanced.
    • 公开了一种用于测试半导体器件的器件。 根据一个方面,提供了一种插入半导体器件的插座和插座盖单元。 当插座和插座盖单元一对一组合时,保持半导体器件的电连接。 根据另一方面,多个插座布置在测试器板上。 当插入半导体器件并且处于电连接的连接位置时,每个插座能够测试半导体器件。 还包括用于对插入到插座中的同时用于将半导体器件放置在每个连接位置的部分或全部半导体器件进行加压的布置/加压结构。 通过具有上述结构,可以同时测试的设备的数量增加; 索引时间缩短; 从而可以提高测试效率和生产率。
    • 3. 发明公开
    • 반도체 소자의 고온 테스트를 위한 챔버
    • 半导体器件高温测试室
    • KR1020130085138A
    • 2013-07-29
    • KR1020120006071
    • 2012-01-19
    • (주)지컴
    • 민상현
    • G01R31/26
    • PURPOSE: A chamber for high temperature test of a semiconductor device is provided to minimize production cost increase by minimizing temperature difference between sockets and making uniform temperature during the high temperature test. CONSTITUTION: A chamber (100) for high temperature test of a semiconductor device includes a local heating type docking plate (8) and a cooling controller (20). The local heating type docking plate enables local heating and exhaustion in a test socket by arranging a high temperature air feeding pipe (9). The local heating type docking plate uses an air heater as a heat source of the semiconductor device. The local heating type docking plate includes a discharge outlet (10) and a branch hole (11). The discharge outlet discharges high temperature air by an air heater (A) to the test socket for local heating or exhaustion. The branch hole is comprised at each socket, and makes the high temperature air flow away to the socket of the local heating type docking plate.
    • 目的:提供用于半导体器件的高温试验的室,以通过使插座之间的温差最小化并在高温试验期间使温度均匀化来最小化生产成本增加。 构成:用于半导体器件的高温测试的室(100)包括局部加热型对接板(8)和冷却控制器(20)。 局部加热型对接板通过布置高温空气供给管(9)可以在测试座中进行局部加热和排气。 本地加热型对接板使用空气加热器作为半导体器件的热源。 本地加热型对接板包括排出口(10)和分支孔(11)。 放电出口将空气加热器(A)的高温空气排放到测试插座上,用于局部加热或耗尽。 分支孔包括在每个插座处,并使高温空气流动到本地加热型对接板的插座。
    • 4. 发明授权
    • 핸들러의 검증을 위한 가상 테스트 시스템 및 그 방법
    • 虚拟测试系统和处理程序验证方法
    • KR101131961B1
    • 2012-08-30
    • KR1020100074601
    • 2010-08-02
    • (주)지컴
    • 신희성
    • G01R31/3167G06F9/455
    • 본 발명의 바람직한 일실시예의 핸들러의 검증을 위한 가상 테스트 시스템 및 그 방법에 따르면, 핸들러의 개발 단계에서 핸들러와 테스터간의 통신 상태의 오류를 점검할 수 있는 시스템을 제공할 수 있으며, 실제 테스터와 핸들러를 연결하지 않고도 모의 실험으로 실제로 테스터와 연결된 상태를 가정하여 미리 검증이 가능하도록 하여 개발 기간을 단축하고 개발 오류를 미연에 방지할 수 있다.
      본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 핸들러의 검증을 위한 가상 테스트 시스템은 반도체에 전기적 신호를 인가하여 양품과 불량품을 판별하는 테스터를 시뮬레이션하는 가상 테스터; 및 상기 가상 테스터로부터 양품과 불량품을 판별하는 신호를 인가받아 상기 가상 테스터에 사용된 가상 반도체를 양품과 불량품으로 분류해 내는 핸들러;를 포함한다.
    • 5. 发明公开
    • 메모리 모듈의 공급 전압 조절 장치 및 그 방법
    • 用于控制存储器模块的电源电压的装置及其方法
    • KR1020110026563A
    • 2011-03-16
    • KR1020090084272
    • 2009-09-08
    • (주)지컴
    • 민상현
    • G11C11/40G11C11/4074
    • G11C29/56G01R31/31721G11C11/40G11C29/04
    • PURPOSE: An apparatus for controlling the supply voltage of a memory module and a method thereof are provided to renew changed resistance by performing auto-calibration of a changed digital resistance value. CONSTITUTION: In an apparatus for controlling the supply voltage of a memory module and a method thereof, a controller(110) receives a voltage setting range command through which a resistance value is detected. The controller receives a resistance change command which controls the offset resistance value in the logic module of a test system(200). The resistance change command adjusts the resistance value fed back from an SDRAM module(220). The controller detects the resistance value corresponding to each voltage value. The controller receives a voltage outputted from the SDRAM module through an A/D converter(130). A digitally variable resistor(120) adjusts offset resistance value or the resistance value fed back from the SDRAM module. The A/D converter measures the supply voltage of SDRAM.
    • 目的:提供一种用于控制存储器模块的电源电压的装置及其方法,以通过对改变的数字电阻值的自动校准来更新改变的电阻。 构成:在用于控制存储器模块的电源电压的装置及其方法中,控制器(110)接收检测电阻值的电压设定范围命令。 控制器接收控制测试系统(200)的逻辑模块中的偏移电阻值的电阻变化指令。 电阻变化指令调整从SDRAM模块(220)反馈的电阻值。 控制器检测对应于每个电压值的电阻值。 控制器通过A / D转换器(130)接收从SDRAM模块输出的电压。 数字可变电阻(120)调整偏移电阻值或从SDRAM模块反馈的电阻值。 A / D转换器测量SDRAM的电源电压。
    • 6. 发明公开
    • 그래픽 DDR 메모리 컴포넌트 테스트 보드
    • 用于测试图形DDR存储器组件的板
    • KR1020100113667A
    • 2010-10-22
    • KR1020090032064
    • 2009-04-14
    • (주)지컴
    • 민상현
    • G01R31/26H01L21/66
    • G01R31/2884G01R31/2863G01R31/2887
    • PURPOSE: A test board for graphic double-data-rate(DDR) memory components is provided to perform a test operation with respect to a plurality of DDR memory components by simultaneously mounting the DDR memory components on the test board. CONSTITUTION: Electronic parts are mounted on the rear side of a circuit board(100). The electronic parts are used for simultaneously testing the performance of plurals of graphic DDR memory components. At least one rubber socket installation module(200) separately testing the plurals of graphic DDR memory components is mounted on the upper side of the circuit board.
    • 目的:提供用于图形双数据速率(DDR)存储器组件的测试板,以通过将DDR存储器组件同时安装在测试板上来执行关于多个DDR存储器组件的测试操作。 规定:电子部件安装在电路板(100)的背面。 电子部件用于同时测试多个图形DDR存储器组件的性能。 至少一个橡胶插座安装模块(200)分别测试多个图形DDR存储器组件,安装在电路板的上侧。
    • 7. 发明授权
    • 교정압연기를 구비한 필름 권취기
    • KR101810009B1
    • 2017-12-20
    • KR1020160091255
    • 2016-07-19
    • (주)지컴
    • 윤현식
    • B65H23/025B65H16/10B65H18/08
    • B65H23/025B65H16/10B65H18/08B65H2601/25
    • 본발명은이형필름에발생한주름의형성을교정하고이형필름의들뜸현상을막아가공성이우수한회로기판을제작가능한교정압연기를구비한필름권취기(1)에관한것으로, 필름지(F)를금형틀(50)로이송공급하는투입권취롤러(10); 상기투입권취롤러(10)로부터공급된필름지(F)를상기금형틀(50)로부터이송수급시키는투출권취롤러(20); 및상기투입권취롤러(10)로부터이송된필름지(F)가일정방향으로상기투출권취롤러(20)로이송되도록, 상기필름지(F)의상면에안착되어이송방향에대하여외측사선방향으로장력을전달하는아이론롤러(30)를포함하여이루어지는것을일 특징으로한다. 또한본 발명에따른교정압연기를구비한필름권취기(1)는, 원통형상의필름롤러샤프트(370)가형성되어, 필름지(F)를공급하는투입권취롤러(10); 상기필름지(F)의이송진행방향으로상기투입권취롤러(10)와이격되게배치되어, 상기필름지(F)를되감는투출권취롤러(20); 및상기필름지(F)의이송방향에대해양측단에배치되어상기이송방향과서로동일수직선상에위치하도록배열된아이론롤러(30)를포함하여이루어지는것을또 다른특징으로한다. 또한본 발명에따른교정압연기를구비한필름권취기(1)는, 필름지(F)를공급받아상기필름지(F)의이송방향에대해양측단외측방향으로배치되어이송방향으로평형병치되게위치되어, 필름지(F)를가압하는교정압연기(30)를포함하는, 교정압연기를구비한필름권취기를포함하여이루어지는것을또 다른특징으로한다.
    • 8. 发明公开
    • 와이어를 이용한 공연 예술물의 저소음 구동장치
    • 采用线材的低噪音驱动装置
    • KR1020170030203A
    • 2017-03-17
    • KR1020150127441
    • 2015-09-09
    • (주)지컴(주)이지위드
    • 민상현
    • A63J1/02A63J5/00B66D1/28B66D1/36
    • 본발명은공연무대등에사용하는와이어를이용한공연예술물의저소음구동장치에관한것으로서, 특히마찰소음이적은와이어를사용하여무대위의조형물을움직이게하는구동장치에관한것이다. 본발명은와이어의구동으로조형물을움직이는공연예술물의저소음구동장치에있어서, 상기와이어의구동방향과나란하게형성되어일 측면에제어용모터를고정시키고기준면으로부터소정의높이로직립되게배치된와이어지지부; 와이어지지부의타 측면에설치되어제어용모터의회전에의해와이어의감김과풀림을조절하는와이어풀리부; 및와이어풀리부의조절에따라움직이는와이어와조형물을연결하는와이어결합부;를포함하는공연예술물의저소음구동장치를제공한다. 본발명에따르면, 모터의고속회전에있어와이어를이용하기때문에동력전달부재의마찰로인한소음을감소시키고고정부재가구비된와이어풀리를이용하여고속구동시마찰력감소로인한와이어의슬립현상을방지하는이점이있다.
    • 本发明的使用,特别地,更小的摩擦噪音的电线使用水等,使用的驱动装置的钢丝的性能来移动雕塑的阶段涉及一种低噪声性能技术驱动装置。 本发明是设置在性能技术的低噪声驱动水朝着线的驱动的雕塑导线支座,形成在与所述焊丝驱动方向,以确保在一侧马达,和在参考表面上方的预定距离直立的控制并行; 导线滑轮部分,设置在导线支撑部分的另一侧上,以通过控制马达造型调节导线的缠绕和展开; 并且根据线轮部分的调整连接移动线和雕塑的线连接部分。 根据本发明,所造成的动力传递bujaeui摩擦噪声降低,因为在电动机并防止金属丝的滑动高速旋转的使用金属丝的因高速行驶时的减小的摩擦,使用线滑轮包括固定构件 有一个优点。