会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 71. 发明公开
    • 세포 정렬 기판을 이용한 시료 분석 장치 및 그 방법
    • 用于分析样品使用基片进行细胞分析的装置及其方法
    • KR1020150019264A
    • 2015-02-25
    • KR1020130095896
    • 2013-08-13
    • 포항공과대학교 산학협력단(주) 더바이오
    • 김현기도준상최종철김동성황지영서경덕최동휘
    • G01N21/01G01N33/483G01B9/04
    • G01N21/01G01B9/04G01N33/483
    • 세포 정렬 기판 및 이에 기반한 시료 분석 장치 및 방법이 개시된다. 시료 분석 장치는 광(Light)을 방출하는 광원, 시료에 포함된 세포가 정렬하도록 평판의 일면에 적어도 하나의 홈을 구비하는 세포 정렬 기판, 세포 정렬 기판 상에 놓인 시료에 제공된 광을 통하여 세포의 이미지를 획득하는 이미지 생성부, 획득한 세포의 이미지를 분석하여 세포에 대한 정보를 추출하는 이미지 처리부를 포함한다. 세포 정렬 기판과 시료 분석 장치 및 방법을 이용하여 인라인 홀로그램 분석에서 샘플의 밀도가 높아서 발생하는 영상복원 알고리즘 성능 저하 문제를 원천적으로 제거함으로써 시료의 분석대상이 되는 세포에 대한 정보를 용이하게 습득할 수 있다.
    • 公开了使用电池阵列基板分析试样的装置和方法。 使用电池阵列基板分析试样的装置包括:发光的光源; 所述电池阵列基板允许包含在所述试样中的电池排列在形成在所述平板的一侧上的至少一个槽中; 图像生成部件通过发射到单元阵列基板上的样本的光获得单元的图像; 以及图像处理部分,通过分析所获得的单元图像来提取关于单元格的信息。 使用单元阵列基板分析样本的装置和方法能够从根本上消除当在线全息图分析中样品的高密度产生问题时图像重建算法的性能劣化的问题 从而容易地获得关于细胞的信息作为样本的分析对象。
    • 74. 发明授权
    • 현미경 장치 및 이를 이용한 실리콘 잉곳 직경 측정 장치
    • 使用相同的微尺度和硅测量装置
    • KR101279407B1
    • 2013-07-02
    • KR1020110019302
    • 2011-03-04
    • 정해진
    • 정해진
    • G02B21/02G01B9/04G01B11/08
    • 광학수단을 사용하여 물체의 확대된 이미지를 제공하는 현미경 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 잉곳 캐스팅 퍼니스 내부에서 성장하는 실리콘 잉곳의 직경 측정 장치에 관하여 개시한다.
      본 발명은 잉곳 캐스팅 퍼니스의 사이트창 일측에 실리콘 잉곳의 직경 방향과 평행하게 고정되는 고정자와, 상기 고정자에서 슬라이딩 이동가능하게 결합되는 이동자와, 상기 이동자의 이동거리를 표시하는 표시기를 포함하는 디지털 마이크로 미터; 내부에 접안렌즈가 배열되는 접안렌즈 경통부와, 내부에 대물렌즈가 배열되는 대물렌즈 경통부와, 상기 접안렌즈 경통부와 상기 대물렌즈 경통부 사이에 배치되며 광경로상에 서로 직교하는 프리즘을 구비하여 광학이미지를 상하좌우로 반전시키는 몸통부를 포함하는 현미경; 및 상기 이동자에 형성되어, 상기 현미경의 대물렌즈 경통부를 고정하는 홀더;를 포함하는 실리콘 잉곳 직경 측정 장치를 제공한다.
    • 77. 发明公开
    • 현미경 장치 및 이를 이용한 실리콘 잉곳 직경 측정 장치
    • 使用相同的微尺度和硅测量装置
    • KR1020120100424A
    • 2012-09-12
    • KR1020110019302
    • 2011-03-04
    • 정해진
    • 정해진
    • G02B21/02G01B9/04G01B11/08
    • G02B21/0016G01B9/04G01B11/10G02B21/24
    • PURPOSE: A microscope and a silicon ingot diameter measuring apparatus using the same are provided to accurately measure the diameter of a silicon ingot by matching the outline of silicon ingot with the center of a microscope image. CONSTITUTION: A microscope(100) for silicon ingot diameter measurement comprises an ocular lens tube part(110), an object lens tube part(130), and a body part(120). An ocular lens is arranged inside the ocular lens tube part. An object lens is arranged inside the object lens tube part. The body part is arranged between the ocular lens tube part and the object lens tube part. The body part comprises prisms which are crossed on an optical path. The body part reverses an optical image to all directions.
    • 目的:提供一种显微镜和使用其的硅锭直径测量装置,以通过将硅锭的轮廓与显微镜图像的中心相匹配来精确测量硅锭的直径。 构成:用于硅锭直径测量的显微镜(100)包括眼透镜管部分(110),物镜管部分(130)和主体部分(120)。 目镜透镜配置在眼镜筒部内。 物镜配置在物镜管部内。 主体部分配置在目镜透镜管部和物镜筒部之间。 主体部分包括在光路上交叉的棱镜。 身体部分将光学图像反转到所有方向。
    • 78. 发明授权
    • 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법 및 시스템
    • 使用共焦显微镜获取对象图像的方法和系统
    • KR101103323B1
    • 2012-01-11
    • KR1020100032383
    • 2010-04-08
    • 에스엔유 프리시젼 주식회사
    • 김태욱
    • G02B21/06G01N21/39G01N21/17G01B9/04
    • G02B21/0052
    • 본 발명은 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법 및 시스템에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법은 측정대상물의 상부로부터 광을 생성하여 음향광학편향기를 이용하여 광을 스캔영역의 XY평면상에 순차적으로 편향시키면서 주사하여 영상을 획득하는 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법에 있어서, 현미경광원을 통해 광을 생성하고, 생성된 광이 상기 스캔영역 전체에 조사되도록 주사유닛의 광경로 상으로 입력하여 카메라로 상기 스캔영역의 전체영상을 획득 및 분석하여 각 스캔위치의 광의 강도정보를 획득하는 강도정보 획득단계; 획득된 각 스캔위치의 광의 강도정보를 각 스캔위치의 위치정보에 매핑하여 매핑정보로 설정하여 저장하는 정보설정단계; 제어신호에 따라 상기 정보설정단계에서 저장된 매핑정보를 로딩하는 로딩단계; 로딩된 매핑정보를 토대로 음향강도정보를 설정하여 음향광학편향기로 전송하는 전송단계; 상기 음향광학편향기로 입력되어 출력되는 광은 편향과 동시에 상기 음향강도정보에 따라 광의 강도가 조절되어 출력되고, 출력된 광은 주사유닛을 통해 각 스캔위치로 주사되고 반사된 후, 반사된 광이 상기 주사유닛으로 입력되는 주사단계; 상기 주사유닛으로 입력되는 각 스캔위치로부터 반사된 광을 광검출기로 검출하고, 검출된 광검출신호를 기록하는 기록단계; 상기 측정대상물과 상기 주사유닛의 이격거리를 Z축 방향으로 일정거리 변화시키고, 상기 전송단계, 상기 주사단계, 상기 기록단계를 순차적으로 수행하여 이격거리 변화에 따른 각 스캔위치의 광검출신호를 기록하되, 상기 이격거리변화에 따른 각 스캔위치의 광검출신호는 적어도 1회 수행하는 Z축스캔단계; 상기 Z축스캔단계를 통해 검출된 각 스캔위치의 복수의 광검출 신호로부터 어느 하나를 선택하여 상기 음향강도정보에 따른 각 스캔위치의 영상을 형성하여 상기 스캔영역의 전체영상을 획득하는 영상획득단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법에 의해 달성된다. 이에 의하여, 스캔영역의 각 스캔위치의 반사도, 거칠기 및 반사각도 등의 표면정보에 따라 달라지는 검출신호차이에 의한 영상의 밝기차이에 대응하도록 각 스캔위치로부터 검출되는 광의 강도에 따라 주사하는 광의 강도를 조절하여 영상을 획득함으로써 스캔영역의 측정정밀도를 향상시킬 수 있는 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법 및 시스템이 제공된다.
    • 79. 发明公开
    • 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법 및 시스템
    • 使用共焦显微镜获取对象图像的方法和系统
    • KR1020110113055A
    • 2011-10-14
    • KR1020100032383
    • 2010-04-08
    • 에스엔유 프리시젼 주식회사
    • 김태욱
    • G02B21/06G01N21/39G01N21/17G01B9/04
    • G02B21/0052G01N21/17G02B21/008G02B26/02
    • 본 발명은 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법 및 시스템에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법은 측정대상물의 상부로부터 광을 생성하여 음향광학편향기를 이용하여 광을 스캔영역의 XY평면상에 순차적으로 편향시키면서 주사하여 영상을 획득하는 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법에 있어서, 현미경광원을 통해 광을 생성하고, 생성된 광이 상기 스캔영역 전체에 조사되도록 주사유닛의 광경로 상으로 입력하여 카메라로 상기 스캔영역의 전체영상을 획득 및 분석하여 각 스캔위치의 광의 강도정보를 획득하는 강도정보 획득단계; 획득된 각 스캔위치의 광의 강도정보를 각 스캔위치의 위치정보에 매핑하여 매핑정보로 설정하여 저장하는 정보설정단계; 제어신호에 따라 상기 정보설정단계에서 저장된 매핑정보를 로딩하는 로딩단계; 로딩된 매핑정보를 토대로 음향강도정보를 설정하여 음향광학편향기로 전송하는 전송단계; 상기 음향광학편향기로 입력되어 출력되는 광은 편향과 동시에 상기 음향강도정보에 따라 광의 강도가 조절되어 출력되고, 출력된 광은 주사유닛을 통해 각 스캔위치로 주사되고 반사된 후, 반사된 광이 상기 주사유닛으로 입력되는 주사단계; 상기 주사유닛으로 입력되는 각 스캔위치로부터 반사된 광을 광검출기로 검출하고, 검출된 광검출신호를 기록하는 기록단계; 상기 측정대상물과 상기 주사유닛의 이격거리를 Z축 방향으로 일정거리 변화시키고, 상기 전송단계, 상기 주사단계, 상기 기록단계를 순차적으로 수행하여 이격거리 변화에 따른 각 스캔위치의 광검출신호를 기록하되, 상기 이격거리변화에 따른 각 스캔위치의 광검출신호는 적어도 1회 수행하는 Z축스캔단계; 상기 Z축스캔단계를 통해 검출된 각 스캔위치의 복수의 광검출 신호로부터 어느 하나를 선택하여 상기 음향강도정보에 따른 각 스캔위치의 영상을 형성하여 상기 스캔영역의 전체영상을 획득하는 영상획득단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법에 의해 달성된다. 이에 의하여, 스캔영역의 각 스캔위치의 반사도, 거칠기 및 반사각도 등의 표면정보에 따라 달라지는 검출신호차이에 의한 영상의 밝기차이에 대응하도록 각 스캔위치로부터 검출되는 광의 강도에 따라 주사하는 광의 강도를 조절하여 영상을 획득함으로써 스캔영역의 측정정밀도를 향상시킬 수 있는 공초점 현미경구조를 이용한 측정대상물의 영상획득방법 및 시스템이 제공된다.
    • 80. 发明授权
    • 초고분해능 주사 광학 측정 장치
    • 具有超分辨率的扫描光学测量装置
    • KR100978600B1
    • 2010-08-27
    • KR1020070106744
    • 2007-10-23
    • 연세대학교 산학협력단
    • 박승한김대근안홍규이응장
    • G01N13/00G01B9/04G02B21/00
    • G01Q60/22G01N13/00
    • 초고분해능 주사 광학 측정 장치가 개시된다.
      개시된 주사 광학 측정 장치는, 광원; 상기 광원으로부터 조사된 광을 집속시키는 제1 렌즈; 상기 제1 렌즈 다음에 배치되는 제1 핀홀; 상기 제1 핀홀을 통과한 광을 발산시키는 제2 렌즈; 상기 제2 렌즈를 통과한 광을 주사하기 위한 주사 유닛; 상기 제2 렌즈와 주사 유닛 사이에 배치된 제1 빔스프리터; 상기 주사 유닛으로부터 나온 광을 제1 경로상에 배치되는 것으로 피검체를 스캐닝하기 위한 스캐닝 유닛; 상기 스캐닝 유닛을 통과한 광을 피검체에 집속하기 위한 대물 렌즈; 상기 피검체가 놓여지는 슬라이드; 상기 광원에서 조사된 후 상기 피검체를 통과한 광을 반사시키는 광학 탐침; 상기 스캐닝 유닛과 대물 렌즈 사이에 배치된 제2 빔스프리터; 상기 피검체와 상기 광학 탐침에서 반사되어 상기 제1 빔스프리터를 경유한 광을 검출하기 위한 제1 광검출기; 상기 제1 빔스프리터와 제1 광검출기 사이에 배치된 제2 핀홀; 상기 피검체와 상기 광학 탐침에서 반사되어 상기 제2 빔스프리터를 경유한 광을 검출하기 위한 제2 광검출기;를 포함한다.