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热词
    • 61. 发明授权
    • 무기고체층을 포함하는 플렉서블 장치 및 그 제조 방법
    • 具有无机固体层的柔性装置及其制造方法
    • KR101093133B1
    • 2011-12-12
    • KR1020110044690
    • 2011-05-12
    • 한국기계연구원
    • 김재현이학주최현주장봉균최병익김준동김광섭김경식
    • H01L29/786H01L31/04
    • Y02E10/50H01L27/1266
    • PURPOSE: A flexible apparatus and a manufacturing method capable of omitting a photo lithography process are provided to reduce time and costs for manufacturing the flexible apparatus by manufacturing the flexible apparatus with inline in a state in which an inorganic solid layer is supported in a motherboard. CONSTITUTION: A sacrificial layer is formed on a motherboard(S100). An inorganic solid layer is formed on the sacrificial layer(S200). One and more sacrifice supporting parts are formed by eliminating a part of the sacrificial layer(S300). The inorganic solid layer is separated from the sacrifice supporting part(S400). The inorganic solid layer is attached to a flexible printed circuit board(S500). The flexible printed circuit board includes resin. The motherboard comprises one and more penetration holes which pass through the motherboard. Etching solution is touched to the sacrificial layer through the penetration hole.
    • 目的:提供一种能够省略光刻工艺的柔性装置和制造方法,以通过在无机固体层被支撑在母板中的状态下以线内制造柔性装置来减少制造柔性装置的时间和成本。 构成:在母板上形成牺牲层(S100)。 在牺牲层上形成无机固体层(S200)。 通过消除牺牲层的一部分来形成牺牲支撑部分的一个以上(S300)。 无机固体层与牺牲支撑部分分离(S400)。 无机固体层附着在柔性印刷电路板上(S500)。 柔性印刷电路板包括树脂。 主板包括穿过主板的一个和多个穿透孔。 蚀刻溶液通过穿透孔与牺牲层接触。
    • 62. 发明授权
    • 세포 또는 조직 인장 자극기
    • 细胞或组织拉伸刺激物
    • KR101085193B1
    • 2011-11-21
    • KR1020100131832
    • 2010-12-21
    • 한국기계연구원
    • 이대훈김재현
    • C12M1/42C12M3/00C12N13/00
    • C12M35/02
    • PURPOSE: A cell or tissue tensile stimulator is provided to apply electric stimulation to cells or tissues and to implement transdifferntiation into specific cells. CONSTITUTION: A cell or tissue tensile stimulator comprises: a culture machine(1) for containing a culture medium for cells or tissues; first and second electrodes(21,22) mounted at the culture machine to apply electric stimulation to the culture medium; and a tensile force generator(3) which modifies the culture machine by applying tensile force in at least one direction by adhering the culture machine. The tensile force generator comprises: a transport block(32) which are attached to an extension part; a transfer screw(33) having a left screw at one side and a right screw at the other side; and a support(34) for supporting the transport block.
    • 目的:提供细胞或组织拉伸刺激器,以对细胞或组织施加电刺激,并实施特异性细胞的转导。 构成:细胞或组织拉伸刺激器包括:用于容纳细胞或组织的培养基的培养机(1); 第一和第二电极(21,22),安装在培养机上以对培养基施加电刺激; 以及张力生成器(3),其通过使培养机粘附而通过施加至少一个方向的张力来修饰培养机。 张力发生器包括:附接到延伸部分的传送块(32); 一侧具有左螺钉的转接螺钉(33)和另一侧的右螺钉; 以及用于支撑输送块的支撑件(34)。
    • 64. 发明授权
    • 발광소자 시편 시험장치
    • 测试装置用于轻型排放试验
    • KR100969292B1
    • 2010-07-09
    • KR1020070122296
    • 2007-11-28
    • 한국기계연구원
    • 이학주현승민김재현이상주이응숙
    • G01R1/02
    • 본 발명은 박막 디스플레이 시편의 기계적 변형에 따른 광학적, 전기적 특성을 시험하기 위한 발광소자 시편의 특성 시험장치에 관한 것으로, 이를 위해 상기 시편의 양측을 클램핑하여 액츄에이터의 작동에 의해 시편에 반복적으로 연신, 피로하중 또는 굽힘과 같은 기계적 변형을 가하는 시험기와, 상기 시험기에 클램핑된 시편에 다양한 세기를 갖는 전류 또는 전압을 가하고, 기계적 변형에 따른 발광소자의 단락 여부 및 전기적 저항과, 전류의 통전량을 측정하기 위한 전기적 소스-측정기와, 상기 시편의 발광소자에서 조사되는 광을 수광하여 시편의 기계적 변형과 전기적 저항, 전류의 통전량에 따른 광학적 특성을 측정하는 광측정기와, 상기 시험기의 광 특성 측정기와 전기적으로 연결되는 제어박스를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
      박막, 광측정기, 플렉시블, 디스플레이, 시험, 시편, 발광소자
    • 66. 发明公开
    • 마이크로/나노 스케일에서 변위/변형률 측정을 위한 VIT시스템
    • 用于微米/纳米尺度的现场应变/位移测量的可视图像跟踪系统和用于测量现场应变/位移和使用相同比例的方法
    • KR1020080074625A
    • 2008-08-13
    • KR1020070013990
    • 2007-02-09
    • 한국기계연구원
    • 이학주한승우김재현이상주
    • G01B11/00G01N21/00B82Y35/00
    • A VIT(Visual Image Tracing) system for measuring in-situ strain/displacement at micro/nano scale is provided to measure the axial strain and the transverse strain in real time to immediately calculate poisson's ratio. A VIT system(10) includes a main shaft(50) and a movable table(60). The main shaft is adjustable on a bed having a driving unit and a load measuring unit in an XY axis. The movable table is movable in a Z axis at one side of the main shaft. The movable table includes a zoom lens(61) and a tube lens(62). An image measured by the zoom lens is formed on the tube lens. The image is split in vertical and horizontal directions by a beam splitter(63).
    • 提供用于测量微/纳尺度的原位应变/位移的VIT(视觉图像追踪)系统,以实时测量轴向应变和横向应变,以立即计算泊松比。 VIT系统(10)包括主轴(50)和可动台(60)。 主轴在具有XY轴上的驱动单元和负载测量单元的床上是可调节的。 活动台可在主轴一侧的Z轴上移动。 可移动台包括变焦透镜(61)和管透镜(62)。 在透镜上形成由变焦透镜测量的图像。 通过分束器(63)在垂直和水平方向上分割图像。
    • 68. 发明授权
    • 자유지지 박막 시험기
    • 独立式薄膜测试仪
    • KR100670233B1
    • 2007-01-17
    • KR1020050033209
    • 2005-04-21
    • 한국기계연구원
    • 김재현이학주조기호한승우김정엽최병익
    • G01N3/08G01N3/02B82Y15/00
    • 본 발명은 자유지지 박막 시험기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 고정판에 미세기계전자시스템 및 나노기술에 사용되는 마이크로 또는 나노 스케일의 크기를 갖는 자유지지 박막 시편을 고정한 후 자유지지 박막 시편의 위치를 정렬하여 기계적 물성값을 측정하기 위한 자유지지 박막 시험기에 관한 것이다.
      본 발명에 따른 자유지지 박막 시험기는 내부에는 상부가 개방된 중공부가 구비된 본체와; 상기 중공부의 상부 둘레에 구비되어 외부의 조작을 통해 자유지지 박막 시편을 정렬하는 중공부가 포함된 시편 다축정렬수단과; 상기 시편 다축정렬수단의 중공부 상부에 상기 자유지지 박막 시편의 물성값을 측정할 수 있도록 자유지지 박막 시편을 고정하는 고정판과; 상기 본체를 구성하는 중공부의 일측에 구비되어 상기 자유지지 박막 시편을 눌러 주는 시험수단으로 구성됨을 특징으로 한다.
      자유지지 박막 시험기, 자유지지 박막, 기계적 물성, 시험수단, 유리판
    • 69. 发明公开
    • 압입시험을 통한 나노박막의 두께측정방법
    • 测量纳米尺寸薄膜厚度的方法仅使用不需要复杂测试样品制备工艺的印度测试,使用印度测试来测量薄膜厚度
    • KR1020050002464A
    • 2005-01-07
    • KR1020030043842
    • 2003-06-30
    • 한국기계연구원
    • 이학주허신고순규김재현한승우최병익
    • G01B5/06B82Y35/00
    • PURPOSE: A method for measuring the thickness of nano-meter sized thin films using an indentation test is provided to measure the thickness of a thin film only through an indentation test without a complex test sample preparing process. CONSTITUTION: An indentation test is performed in a sufficiently deeper place than the thickness of a thin film with respect to a sample including the thin film and a substrate. A graph is drawn according to the indentation test result. If the graph is obtained between P/A and an indentation depth through the indentation test for a sample having a thin film/a substrate, a curve is fit. Three thin film samples having the same materials are manufactured and the thickness of the thin films is measured through a thickness measuring unit. The degree of the thin films and the indentation depth are measured by using a nano indentor. Data having at least the ratio of 1.2 as the ratio of the indentation depth to the thickness of the thin film are removed.
    • 目的:提供使用压痕试验测量纳米尺寸薄膜的厚度的方法,仅通过压痕测试来测量薄膜的厚度,而无需复杂的测试样品制备过程。 构成:相对于包括薄膜和基底的样品,在比薄膜厚度更深的位置进行压痕测试。 根据缩进测试结果绘制图形。 如果通过对具有薄膜/衬底的样品的压痕测试在P / A和压痕深度之间获得曲线图,则拟合曲线。 制造具有相同材料的三个薄膜样品,并且通过厚度测量单元测量薄膜的厚度。 通过使用纳米压痕来测量薄膜的程度和压痕深度。 去除了至少具有1.2的压缩深度与薄膜厚度之比的数据。