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31. 发明授权

KR101954917B1 카메라 모듈 제작용 양면 트레이를 이용한 카메라 모듈 양면 디스펜싱 시스템 有权
公开(公告)号：KR101954917B1
公开(公告)日：2019-03-06
申请号：KR1020180108694
申请日：2018-09-12
申请人： (주)에이피텍
发明人： 주재철
IPC分类号： B05C13/02 , B05C5/02 , B05C9/14 , B05D3/06 , H04N5/225

32. 发明授权

KR101342699B1 엘이디 패키지 테스트 핸들러 有权
标题翻译： LED包装测试工具
公开(公告)号：KR101342699B1
公开(公告)日：2013-12-20
申请号：KR1020120099920
申请日：2012-09-10
申请人： (주)에이피텍
发明人： 주재철 , 박춘용 , 권오철
IPC分类号： G01R31/26
摘要： The present invention relates to an LED package testing device comprising: a parts feeder (10) for accepting multiple LED packages therein and arranging the LED packages by vibration; a linear feeder (20) for linearly supplying the LED packages arranged in the parts feeder (10) to a disk table (40); the disk table (40) for settling the LED packages supplied from the linear feeder (20) and classifying the LED packages into grades while rotating the LED packages to a circumferential direction; a master table (30) for having a rotatable turn table structure positioned to be adjacent to the disk table (40) and progressing a testing process about the LED packages by a testing unit arranged in the external side of the turn table structure; a first discharging unit (60) for being attached to the external side of the disk table (40) and discharging an LED package which is determined to be suitable; a second discharging unit (70) for being attached to the external side of the disk table (40) to be adjacent to the first discharging unit and discharging an LED package which is determined to be out of grades; and a transferring unit (50) for being attached to the external side of the disk table (40) to be adjacent to the second discharging unit and transferring, to the parts feeder (10), some LED packages for which a test is completed. An LED package testing device of the present invention can check in real time whether an LED package is standard or not, effectively classify LED packages through a discharging unit of which a test is completed, and improving the quality of a test by recirculating some LED packages to a parts feeder.
摘要翻译： LED封装测试装置技术领域本发明涉及一种LED封装测试装置，包括：用于在其中容纳多个LED封装的部件馈送器（10），并通过振动来布置LED封装; 线性进给器（20），用于将布置在所述部件供给器（10）中的LED封装线性地供应到盘台（40）; 用于使从所述线性馈送器（20）供应的LED封装件的沉淀物并在将所述LED封装件旋转到圆周方向的同时将所述LED封装件分级成等级的盘台（40）主台（30），其具有可旋转的转台结构，定位成与所述盘台（40）相邻，并且通过布置在所述转台结构的外侧的测试单元进行关于所述LED封装的测试过程; 第一放电单元（60），用于附接到盘台（40）的外侧，并且排出被确定为合适的LED封装; 第二排出单元（70），用于附接到盘台（40）的与第一排出单元相邻的外侧，并且排出被确定为不同档次的LED封装; 以及用于附接到所述盘台（40）的与所述第二排出单元相邻的外侧的传送单元（50），并且向所述部件供给器（10）传送完成了测试的一些LED封装。本发明的LED封装测试装置可以实时检查LED封装是否标准，通过完成测试的放电单元有效地对LED封装进行分类，并通过再循环一些LED封装提高测试质量到零件进料器。

33. 发明公开

KR1020130023422A 엘이디 테스트 시스템 및 엘이디 테스트 방법 有权
标题翻译：用于测试LED的系统和方法
公开(公告)号：KR1020130023422A
公开(公告)日：2013-03-08
申请号：KR1020110086161
申请日：2011-08-29
申请人： (주)에이피텍
发明人： 주재철 , 박춘용 , 권오철
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , G01J1/00
摘要： PURPOSE: A system for testing an LED and a method thereof is provided to save time and cost for testing the LED. CONSTITUTION: A system for testing an LED comprises a heater(100) which changes the temperature of an LED; a temperature measuring part(200) which measures the temperature changes of the LED by the heater; and a quality testing part(300) which tests the quality of the LED.
摘要翻译：目的：提供一种用于测试LED的系统及其方法，以节省测试LED的时间和成本。构成：用于测试LED的系统包括改变LED的温度的加热器（100）; 温度测量部件（200），其通过加热器测量LED的温度变化; 以及测试LED质量的质量检测部件（300）。

34. 发明授权

KR101168853B1 발광 다이오드 포장장치 有权
标题翻译： LED胶带装置
公开(公告)号：KR101168853B1
公开(公告)日：2012-07-26
申请号：KR1020100008328
申请日：2010-01-29
申请人： (주)에이피텍
发明人： 주재철 , 박춘용 , 허영철 , 장종률
IPC分类号： G01R31/01 , G01R31/00
摘要： 본 발명은 장치를 정지하지 않고 연속적으로 발광 다이오드의 포장(taping)을 진행하는 발광 다이오드 포장장치에 관한 것으로, 장치의 정지 없이 불량품을 자동으로 배제하고 포장을 진행함으로써 포장의 효율성을 높일 수 있는 장치에 관한 것으로, 투입된 발광 다이오드를 정렬시키는 진동체를 포함하여 발광 다이오드가 하나씩 순차적으로 가이드 레일을 따라 이동되도록 하는 대략 반구 형상의 공급부와, 상기 가이드 레일을 따라 일렬로 공급되는 발광 다이오드가 진공흡입에 의해 하나씩 안착홈에 플레이싱하는 제1플레이싱수단과, 상기 안착홈에 플레이싱된 상기 발광 다이오드를 이송시키는 인덱스 레일과, 상기 인덱스 레일에 의해 이송된 발광 다이오드에 전기 신호를 인가함으로써 상기 발광 다이오드의 양호 또는 불량 상태 여부를 검사하는 검사기를 포함하는 전기검사부와, 상기 전기검사부에서 양호로 판단된 발광 다이오드 중 방향이 바뀐 것의 방향을 일정하게 전환해주는 반전부와, 상기 인덱스 레일에 의해 이송된 발광 다이오드에 이물질 부착여부 및 발광 다이오드의 손상여부 등 외관의 양호 또는 불량 상태 여부를 검사하는 비젼검사부와, 상기 전기검사부 또는 상기 비젼검사부에서 불량으로 판단된 발광 다이오드를 상기 인덱스 레일에서 취출하는 취출부 및 상기 취출부에서 취출되지 않은 양호한 발광 다이오드에 대해 포장(taping)을 실시하는 테이핑부를 포함하여 구성된다.
본 발명을 이용하면, 발광 다이오드를 포장하는 과정에서 불량품이 발견되거나 방향이 잘못된 경우에 자동으로 불량품을 취출하거나 발광 다이오드의 방향을 옳게 전환시켜주는 장치를 구비하여 테이핑 라인의 정지 없이 연속적으로 작업을 진행할 수 있다.

35. 发明公开

KR1020110088701A 발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치 有权
标题翻译： LED测试和贴片设备
公开(公告)号：KR1020110088701A
公开(公告)日：2011-08-04
申请号：KR1020100008324
申请日：2010-01-29
申请人： (주)에이피텍
发明人： 주재철 , 박춘용 , 허영철 , 권오철
IPC分类号： G01R31/01 , G01R31/00
CPC分类号： G01R31/2635 , G01R31/01 , G01R31/2893
摘要： PURPOSE: A light emitting diode inspection and integrated taping apparatus are provided to classify grades of light emitting diodes and perform taping with one apparatus, thereby reducing unit price with high efficiency. CONSTITUTION: An approximately hemisphere shaped supplying part(10) includes a vibrating body(11) arraying an inputted light emitting diode(1). The supplying part successively moves the light emitting diode along a guide rail(13). A first placing means places the light emitting diode supplied in a row through the guide rail one by one in a mounting groove(31) by vacuum suction. An index rail(30) transfers the placed light emitting diode in the mounting groove by the first placing means. A grade classification part(40) classifies a grade by determining a state of the light emitting diode by applying a electric signal to the transferred light emitting diode by the index rail. More than one taping part(50) performs taping separately for each grade with respect to the graded light emitting diode in the grade classification part. A residual exhausting part(60) discharges the light emitting diode which is not included in a graded range for the taping.
摘要翻译：目的：提供一种发光二极管检测和集成胶带装置，用于对发光二极管的等级进行分类，并使用一个装置进行胶带化，从而以高效率降低单价。构成：大致半球状的供给部（10）具有排列输入的发光二极管（1）的振动体（11）。供给部沿着导轨（13）依次移动发光二极管。第一放置装置通过真空抽吸将一个供应的发光二极管通过导轨一个接一个地放置在安装槽（31）中。索引轨道（30）通过第一放置装置将放置的发光二极管传送到安装槽中。等级分类部分（40）通过通过索引轨道向传送的发光二极管施加电信号来确定发光二极管的状态来对等级进行分类。对于等级分类部分中的分级发光二极管，多于一个胶带部件（50）对于每个等级分别进行胶带。剩余排气部分（60）将不包括在分级范围内的发光二极管放电以进行胶带化。

36. 发明授权

KR101020669B1 반도체 칩의 픽업 및 플레이스 장치 有权
标题翻译：用于拾取和放置半导体芯片的装置
公开(公告)号：KR101020669B1
公开(公告)日：2011-03-09
申请号：KR1020080076564
申请日：2008-08-05
申请人： (주)에이피텍
发明人： 박춘용 , 주재철 , 허영철
IPC分类号： H01L21/673 , H01L21/68
摘要： 본 발명은 반도체 칩의 픽업 및 플레이스 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 반도체 칩의 픽업 및 플레이스 장치는, 웨이퍼가 안착되는 웨이퍼 안착부; 상기 웨이퍼 상에 정렬된 반도체 칩을 일측에서 픽업함과 동시에 픽업된 상기 반도체 칩을 타측에서 트레이에 플레이싱하는 픽업부; 상기 픽업부에 의해서 반도체 칩이 플레이싱된 상기 트레이 및 빈 트레이가 순차적으로 수직 적층되는 트레이 적재부; 및 상기 트레이 적재부로 상기 빈 트레이를 공급하는 트레이 공급부;를 포함하며, 트레이에 칩의 공급 속도를 향상시킬 수 있는 장점이 있으며, 다수의 트레이가 카세트 내에 엘리베이팅 방식으로 적층됨에 따라 칩의 안착이 완료된 트레이의 패키징이 용이하게 수행될 수 있는 작용효과가 발휘된다.
픽업(pick-up), 플레이스(place), 아암(arm), 픽업툴, 모터, 웨이퍼, 트레이

37. 发明授权

KR100769860B1 이미지센서 패키지 검사 장치 및 방법 有权
标题翻译：用于测试图像传感器包装的装置和方法
公开(公告)号：KR100769860B1
公开(公告)日：2007-10-24
申请号：KR1020050121803
申请日：2005-12-12
申请人： 옵토팩 주식회사 , (주)에이피텍
发明人： 이환철 , 김영석 , 주재철
IPC分类号： G01R31/26 , H01L27/146
CPC分类号： G01R31/2601 , H01L27/146
摘要： An apparatus and a method for testing an image sensor package are provided to test the electricity and image of the image sensor package prior to assembly of a camera module. An image sensor package(100) is pictured by an aligning camera to recognize an orientation aligning state of the image sensor package. The image sensor package is loaded on a loading unit(200) to test the image sensor package. An inspection unit(300) has a lens and a light source on the image sensor package to test the electricity and image of the image sensor package. A controlling and processing unit(500) has a tester module for testing the electricity and image.
摘要翻译：提供用于测试图像传感器封装的装置和方法，以在组装相机模块之前测试图像传感器封装的电和图像。图像传感器封装（100）由对准照相机图像以识别图像传感器封装的取向对准状态。图像传感器封装装载在加载单元（200）上以测试图像传感器封装。检查单元（300）在图像传感器封装上具有透镜和光源，以测试图像传感器封装的电和图像。控制和处理单元（500）具有用于测试电和图像的测试器模块。

38. 发明授权

KR101998803B1 태양전지모듈 有权
公开(公告)号：KR101998803B1
公开(公告)日：2019-07-10
申请号：KR1020180102011
申请日：2018-08-29
申请人： (주)에이피텍
发明人： 주재철
IPC分类号： H01L31/054 , H01L31/0224 , H01L31/0216 , H01L31/042 , H01L31/18

39. 发明公开

KR1020180094627A 테스트 핀 및 이를 포함하는 테스트 장치 有权
公开(公告)号：KR1020180094627A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：KR1020170021004
申请日：2017-02-16
申请人： (주)에이피텍
发明人： 주재철
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073 , G01R31/28
摘要： 본발명에따른테스트핀은상하방향으로, 연장되는직선형태이며, 검사대상물의컨넥터단자와접촉가능한제 1 접촉부, 상하방향으로연장되는직선형태이며, 전기적신호를송수신하는계측기에접촉가능한제 2 접촉부및 제 1 접촉부와제 2 접촉부사이를연결하도록형성되며, 외력인가에의해신장및 수축이가능한변형부를포함하고, 제 1 접촉부는내부에상기컨넥터단자의삽입이가능한제 1 공간및 삽입된상기컨넥터단자의외주면과접촉가능하고, 상기제 1 공간을구획하는제 1 주변벽을포함한다. 따라서, 본발명의실시형태에의하면본 발명의실시형태에의하면, 제 1 접촉부와컨넥터단자간의접촉불량발생율이감소하고, 컨택저항이줄어들기때문에, 테스트신뢰성이향상되는효과가있다.

40. 实用新型

KR2020180002065U 카메라 렌즈 모듈 제작용 트레이 조립체 有权
公开(公告)号：KR2020180002065U
公开(公告)日：2018-07-06
申请号：KR2020160007622
申请日：2016-12-28
申请人： (주)에이피텍
发明人： 주재철
IPC分类号： G01N21/958
摘要： 본고안은카메라렌즈모듈제작용트레이조립체에관한것이다. 구체적으로는, 트레이조립체를상부트레이와하부트레이로구성하여, 하부트레이의안착부에카메라렌즈모듈을안착시키고상부트레이를결합한다. 결합된트레이조립체를반전시켜트레이를교체하는작업없이렌즈모듈인스펙션검사및 디스펜싱어태치공정작업을포함하는카메라렌즈모듈검사를양면으로할 수있는카메라렌즈모듈제작용트레이조립체에관한것이다.

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