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热词
    • 24. 发明授权
    • 무기고체층을 포함하는 플렉서블 장치 및 그 제조 방법
    • 具有无机固体层的柔性装置及其制造方法
    • KR101093133B1
    • 2011-12-12
    • KR1020110044690
    • 2011-05-12
    • 한국기계연구원
    • 김재현이학주최현주장봉균최병익김준동김광섭김경식
    • H01L29/786H01L31/04
    • Y02E10/50H01L27/1266
    • PURPOSE: A flexible apparatus and a manufacturing method capable of omitting a photo lithography process are provided to reduce time and costs for manufacturing the flexible apparatus by manufacturing the flexible apparatus with inline in a state in which an inorganic solid layer is supported in a motherboard. CONSTITUTION: A sacrificial layer is formed on a motherboard(S100). An inorganic solid layer is formed on the sacrificial layer(S200). One and more sacrifice supporting parts are formed by eliminating a part of the sacrificial layer(S300). The inorganic solid layer is separated from the sacrifice supporting part(S400). The inorganic solid layer is attached to a flexible printed circuit board(S500). The flexible printed circuit board includes resin. The motherboard comprises one and more penetration holes which pass through the motherboard. Etching solution is touched to the sacrificial layer through the penetration hole.
    • 目的:提供一种能够省略光刻工艺的柔性装置和制造方法,以通过在无机固体层被支撑在母板中的状态下以线内制造柔性装置来减少制造柔性装置的时间和成本。 构成:在母板上形成牺牲层(S100)。 在牺牲层上形成无机固体层(S200)。 通过消除牺牲层的一部分来形成牺牲支撑部分的一个以上(S300)。 无机固体层与牺牲支撑部分分离(S400)。 无机固体层附着在柔性印刷电路板上(S500)。 柔性印刷电路板包括树脂。 主板包括穿过主板的一个和多个穿透孔。 蚀刻溶液通过穿透孔与牺牲层接触。
    • 26. 发明授权
    • 자유지지 박막 시험기
    • 独立式薄膜测试仪
    • KR100670233B1
    • 2007-01-17
    • KR1020050033209
    • 2005-04-21
    • 한국기계연구원
    • 김재현이학주조기호한승우김정엽최병익
    • G01N3/08G01N3/02B82Y15/00
    • 본 발명은 자유지지 박막 시험기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 고정판에 미세기계전자시스템 및 나노기술에 사용되는 마이크로 또는 나노 스케일의 크기를 갖는 자유지지 박막 시편을 고정한 후 자유지지 박막 시편의 위치를 정렬하여 기계적 물성값을 측정하기 위한 자유지지 박막 시험기에 관한 것이다.
      본 발명에 따른 자유지지 박막 시험기는 내부에는 상부가 개방된 중공부가 구비된 본체와; 상기 중공부의 상부 둘레에 구비되어 외부의 조작을 통해 자유지지 박막 시편을 정렬하는 중공부가 포함된 시편 다축정렬수단과; 상기 시편 다축정렬수단의 중공부 상부에 상기 자유지지 박막 시편의 물성값을 측정할 수 있도록 자유지지 박막 시편을 고정하는 고정판과; 상기 본체를 구성하는 중공부의 일측에 구비되어 상기 자유지지 박막 시편을 눌러 주는 시험수단으로 구성됨을 특징으로 한다.
      자유지지 박막 시험기, 자유지지 박막, 기계적 물성, 시험수단, 유리판
    • 27. 发明授权
    • 자동차용 서브프레임 모듈
    • 汽车子框架模块
    • KR100536003B1
    • 2005-12-12
    • KR1020030034742
    • 2003-05-30
    • 한국기계연구원쌍용자동차 주식회사
    • 최병익김완두이학주강재윤김정엽김주성임상옥배성진김기주
    • B62D21/00
    • 대형 승용차나 지프형 자동차에 있어서 엔진이나 변속기 등을 조립한 상태에서 차체와의 조립을 행하므로 조립작업을 간단하고 용이하게 행함은 물론 생산성의 향상과 중량의 감소를 이룰수 있으며 충격에 대한 안전성도 확보할 수 있도록, 차체 길이의 대략 반정도의 길이로 형성되고 차체의 폭에 대응하는 간격을 두고 배치되며 뒤쪽 끝부분은 각각 바깥쪽으로 굽어지는 형상으로 형성되고 뒤쪽 끝부분에는 차체에 장착하기 위한 차체장착부가 설치되는 한쌍의 세로프레임과, 한쌍의 세로프레임의 앞쪽 끝부분을 가로질러 배치되고 양쪽 끝부분에는 차체에 장착하기 위한 차체장착부가 설치되는 제1가로프레임과, 제1가로프레임으로부터 소정의 간격을 두고 세로프레임의 중간부분을 가로질러 배치되고 양쪽 끝부분에는 차체에 장착하기 위한 차체� ��착부가 설치되는 제2가로프레임과, 제2가로프레임으로부터 소정의 간격을 두고 배치되고 세로프레임의 바깥쪽으로 굽어지기 전의 부분을 서로 연결하는 연결프레임을 포함하는 자동차용 서브프레임 모듈을 제공한다.
    • 28. 发明公开
    • 압입시험을 통한 나노박막의 두께측정방법
    • 测量纳米尺寸薄膜厚度的方法仅使用不需要复杂测试样品制备工艺的印度测试,使用印度测试来测量薄膜厚度
    • KR1020050002464A
    • 2005-01-07
    • KR1020030043842
    • 2003-06-30
    • 한국기계연구원
    • 이학주허신고순규김재현한승우최병익
    • G01B5/06B82Y35/00
    • PURPOSE: A method for measuring the thickness of nano-meter sized thin films using an indentation test is provided to measure the thickness of a thin film only through an indentation test without a complex test sample preparing process. CONSTITUTION: An indentation test is performed in a sufficiently deeper place than the thickness of a thin film with respect to a sample including the thin film and a substrate. A graph is drawn according to the indentation test result. If the graph is obtained between P/A and an indentation depth through the indentation test for a sample having a thin film/a substrate, a curve is fit. Three thin film samples having the same materials are manufactured and the thickness of the thin films is measured through a thickness measuring unit. The degree of the thin films and the indentation depth are measured by using a nano indentor. Data having at least the ratio of 1.2 as the ratio of the indentation depth to the thickness of the thin film are removed.
    • 目的:提供使用压痕试验测量纳米尺寸薄膜的厚度的方法,仅通过压痕测试来测量薄膜的厚度,而无需复杂的测试样品制备过程。 构成:相对于包括薄膜和基底的样品,在比薄膜厚度更深的位置进行压痕测试。 根据缩进测试结果绘制图形。 如果通过对具有薄膜/衬底的样品的压痕测试在P / A和压痕深度之间获得曲线图,则拟合曲线。 制造具有相同材料的三个薄膜样品,并且通过厚度测量单元测量薄膜的厚度。 通过使用纳米压痕来测量薄膜的程度和压痕深度。 去除了至少具有1.2的压缩深度与薄膜厚度之比的数据。
    • 29. 发明授权
    • 고온용 미케니컬 페이스 씰 구조
    • 고온용미케니컬페이스씰구조
    • KR100444408B1
    • 2004-08-16
    • KR1020010089248
    • 2001-12-31
    • 한국씰마스타주식회사한국기계연구원
    • 최병익김정엽김준호전상현
    • F16J15/00
    • PURPOSE: A mechanical face seal is provided to maintain the excellent oblateness at a high pressure and to uniformly distribute the contact force to a seal ring and a face ring by adding a taper cut and an inner cut. CONSTITUTION: A taper cut(22a) to be faced to a face ring(21) at a certain angle is formed in the inner face of a seal ring(22) in a stator. The seal ring is faced to the face ring. An inner cut(22b) is formed inside the seal ring to maintain the oblateness of a sealed face at a high pressure by reducing the force to the face ring through the seal ring and reducing the thermal transformation at the high pressure. Thereby, the sealing is performed effectively.
    • 用途:提供机械面部密封,以保持高压下优异的扁平度,并通过添加锥形切口和内部切口,将接触力均匀分布到密封圈和面圈。 组成:在定子中的密封环(22)的内表面上形成以特定角度面向面环(21)的锥形切口(22a)。 密封环面对面环。 内部切口(22b)形成在密封环内部,以通过减小通过密封环到面环的力并在高压下减少热变形而将密封面的扁平度保持在高压下。 从而有效地进行密封。