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91. 发明公开

KR1020110087366A 조명의 균일도가 향상되는 광학 진단장치 및 이의 광 조사방법 有权
标题翻译：使用均匀照明和SMAE照射方法对皮肤病进行照片诊断的装置
公开(公告)号：KR1020110087366A
公开(公告)日：2011-08-03
申请号：KR1020100006739
申请日：2010-01-26
申请人： 한국전기연구원
发明人： 배수진 , 강욱 , 김광훈 , 이승엽
IPC分类号： G01N21/64 , A61B5/00 , G01N33/483 , G01N21/01
摘要： PURPOSE: An optical diagnosis apparatus with improved light uniformity and a light irradiation method thereof are provided to optimize the uniformity of light by easily adjusting the irradiation angle of light emitting diodes. CONSTITUTION: An optical diagnosis apparatus with improved light uniformity is composed as follows. The light irradiation angles of parts of Light Emitting Diodes among multiple LEDs are set so that the parts of the LEDs can be arranged on the diagnosis part of a skin in an oval shape. The light irradiation angles of the other parts of LEDs are set so that the other parts of LEDs can irradiate light to the corners of the oval arrangement.
摘要翻译：目的：提供一种具有改善的光均匀性的光学诊断装置及其光照射方法，以通过容易地调节发光二极管的照射角来优化光的均匀性。构成：具有改善的光均匀性的光诊断装置组成如下。多个LED中的发光二极管的部分的光照射角度被设定为使得LED的部分可以布置在椭圆形的皮肤的诊断部分上。 LED的其他部分的光照射角度被设定为使得其他部分的LED能够将光照射到椭圆形布置的角部。

92. 发明授权

KR101049450B1 광학 장치 및 그 보정 방법 失效
标题翻译：光学装置及其修正方法
公开(公告)号：KR101049450B1
公开(公告)日：2011-07-15
申请号：KR1020100034207
申请日：2010-04-14
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 김승관 , 박승남 , 이동훈 , 유재근
IPC分类号： H02S50/10 , G01N21/01 , G01N21/27 , G01J3/10 , G01M11/00
CPC分类号： H02S50/15 , G01N21/01
摘要： PURPOSE: An optical device and a compensating method thereof for measuring quantum efficiency homogeneity are provided to enhance reliability of a solar cell, a solar cell module or a solar cell panel. CONSTITUTION: Light is projected to a region of interest in the first plane in which a predetermined source region of an image device is selected(S1100). Illuminance is measured through an illuminance meter arranged in the region of interest of the first plane(S1110). Each pixel of the image device is compensated and the illuminance within the region of interest of the first plane is regulated(S1120). A solar cell, a solar cell module, and a solar cell panel are arranged to the first plane(S1130). The light is projected to the target zone of the first plane(S1140).
摘要翻译：目的：提供一种用于测量量子效率均匀性的光学器件及其补偿方法，以增强太阳能电池，太阳能电池模块或太阳能电池板的可靠性。构成：将光投影到选择图像装置的预定源区域的第一平面中的感兴趣区域（S1100）。通过布置在第一平面的感兴趣区域中的照度计来测量照度（S1110）。对图像装置的每个像素进行补偿，并且调节第一平面的感兴趣区域内的照度（S1120）。太阳能电池，太阳能电池模块和太阳能电池板布置在第一平面上（S1130）。光投射到第一平面的目标区域（S1140）。

93. 发明公开

KR1020110066503A 광전도 안테나에 볼렌즈를 형성하는 테라헤르츠파 송수신 모듈 제조 방법 有权
标题翻译：具有光电天线装置形成的球镜的TERAHERTZ收发模块的制造方法
公开(公告)号：KR1020110066503A
公开(公告)日：2011-06-17
申请号：KR1020090123187
申请日：2009-12-11
申请人： 한국전자통신연구원
发明人： 최상국
IPC分类号： G01N21/01 , H01Q19/06
摘要： PURPOSE: A tera-hertz wave transmitting/receiving module manufacturing method forming the ball lens in the photoconductive antenna is provided to generate and measure the tera-hertz wave easily, and to reduce the time and cost required to the construction of the system for measuring and tera-hertz wave drastically. CONSTITUTION: The tera-hertz wave transmitting/receiving module manufacturing method forming the ball lens in the photoconductive antenna includes: forming photoconductive antenna(100) in the other one side of the substrate(110) in which wafer is prepared in one side; and a forming the ball lens of the hemi spherical grain by polishing the wafer. The wafer includes semi-insulated gallium arsenide or the low-temperature growth gallium arsenide. The substrate includes semi-insulated gallium arsenide or the low-temperature growth gallium arsenide. The photoconductive antenna is formed into the array aligning structure. The whole structure is cut in the fixed level so that one photoconductive antenna locates in the part of cut substrate. The signal wire for the electrical connectswith the outside element is interlinked to the photoconductive antenna.
摘要翻译：目的：提供一种在光电导天线中形成球透镜的天线波发射/接收模块制造方法，以便容易地产生和测量泰勒波，并减少建立测量系统所需的时间和成本和泰勒赫兹波。构成：在光电导天线中形成球透镜的天线波发射/接收模块制造方法包括：在单面制备晶片的基板（110）的另一侧形成光电导天线（100）; 以及通过抛光晶片来形成半球形颗粒的球透镜。该晶片包括半绝缘砷化镓或低温生长砷化镓。衬底包括半绝缘砷化镓或低温生长砷化镓。光导天线形成阵列对准结构。整个结构被切割成固定水平，使得一个光电导天线位于切割基板的一部分中。用于与外部元件的电连接的信号线与光电导天线相互连接。

94. 发明授权

KR100978397B1 플라즈마 밀도 분석 시스템 有权
标题翻译：分析等离子体密度的系统
公开(公告)号：KR100978397B1
公开(公告)日：2010-08-26
申请号：KR1020080058663
申请日：2008-06-20
申请人： 한국기초과학지원연구원
发明人： 남용운 , 이종하
IPC分类号： G01N21/01 , G01N21/00
摘要： 본 발명은 플라즈마 밀도 분석 시스템을 제공한다. 상기 플라즈마 밀도 분석 시스템은 광원부와, 상기 출사되는 레이저 빔을 플라즈마 형성 공간에 포함되도록 순차적으로 일정 폭 증폭시키는 빔 증폭부와, 상기 플라즈마 형성 공간을 통과하여 플라즈마 밀도 정보를 갖는 레이저 빔을 반사 또는 투과시키는 광 경로 안내부와, 상기 반사되는 레이저 빔의 간섭 정보와 상기 투과되는 레이저 빔의 빔 세기 정보를 취득하여 상기 플라즈마 밀도 분포를 산출하는 플라즈마 밀도 분포 분석부를 구비한다. 따라서, 본 발명은 레이저 빔을 플라즈마를 지나도록 하여, 이 레이저 빔으로부터 간섭 무늬를 도출함으로써 플라즈마의 밀도 분포를 분석할 수 있다.

95. 发明授权

KR100955815B1 에이오아이（ＡＯＩ） 장치 有权
标题翻译：自动光学检测仪器
公开(公告)号：KR100955815B1
公开(公告)日：2010-05-06
申请号：KR1020080042563
申请日：2008-05-07
申请人： 주식회사 고영테크놀러지
发明人： 전문영 , 김홍민 , 허정 , 윤상규
IPC分类号： G01N21/00 , G01N21/01
摘要： 본 발명은 검사대상물을 다수의 방향에서 2차원과 3차원으로 촬영하여 검사하는 AOI 장치에 관한 것으로, 본 발명의 AOI 장치는 XY 스테이지(1)와, 다수개의 제1조명부(2)와, 한 쌍의 제1반사거울(11)과, 한 쌍의 제2반사거울(12)과, 한 쌍의 제1격자투영부(21)와, 한 쌍의 제2격자투영부(22)와, 다수개의 제1조명부(2)의 상측에 설치되어 검사대상물(P)에서 조사되는 조명이미지나 격자이미지를 촬영하는 제1결상부(30)와, 다수개의 제1조명부(2)와 한 쌍의 제1격자투영부(21)와 한 쌍의 제2격자투영부(22)를 각각 선택적으로 제어하여 검사대상물(P)로 2차원조명이나 격자조명을 조사한 후 반사되는 조명이미지나 격자이미지를 제1결상부(30)로부터 전송받아 검사대상물(P)을 검사하는 제어부(60)로 구성되며, 제1결상부(30)는 다수개의 제1조명부(2)의 상측에 설치되는 빔스플릿터(31)와, 빔스플릿터(31)의 상측에 설치되어 빔스플릿터(31)를 투과하는 조명이미지나 격자이미지를 촬영하는 제1카메라부(32)와, 빔스플릿터(31)의 일측에 설치되어 빔스플릿터(31)에서 반사되는 조명이미지나 격자이미지를 촬영하는 제2카메라부(33)로 이루어짐을 특징으로 한다.
자동광학검사, AOI, 결상, 조명, 카메라, 격자

96. 发明公开

KR1020100017098A 자동 분석 장치 无效
标题翻译：自动分析仪
公开(公告)号：KR1020100017098A
公开(公告)日：2010-02-16
申请号：KR1020097023233
申请日：2008-04-24
申请人： 베크만 컬터, 인코포레이티드
发明人： 오가와,유지
IPC分类号： G01N21/01 , G01N35/04 , G01N21/78
CPC分类号： G01N21/255 , G01N21/31 , G01N2201/06153 , G01N2201/0627
摘要： Provided is an automated analyzer having a light source device by which light having a prescribed wavelength can be obtained even when an LED is used as a light source. The automated analyzer for measuring optical characteristics of a liquid stored in a container is provided with a light source device (12). The light source device is provided with a plurality of light sources (12a, 12b), which output light having different peak wavelengths, respectively, and each light source permit the peak wavelength of light outputted from the other light source to exist in the wavelength region of the outputted light. The light source device is also provided with a lens (12c) or a half mirror which mixes a plurality of beams of light outputted from the light sources, respectively, and outputs light having a desired mixed peak wavelength different from each peak wavelength.
摘要翻译：提供了一种具有光源装置的自动分析装置，即使在使用LED作为光源的情况下，也可以获得具有规定波长的光。用于测量储存在容器中的液体的光学特性的自动分析器设置有光源装置（12）。光源装置设置有分别输出具有不同峰值波长的光的多个光源（12a，12b），并且每个光源允许从另一个光源输出的光的峰值波长存在于波长区域的输出光。光源装置还设置有分别混合从光源输出的多个光束的透镜（12c）或半反射镜，并输出具有与每个峰值波长不同的期望的混合峰值波长的光。

97. 发明公开

KR1020090116554A 에이오아이（ＡＯＩ） 장치 有权
标题翻译：自动光学检测装置
公开(公告)号：KR1020090116554A
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：KR1020080042563
申请日：2008-05-07
申请人： 주식회사 고영테크놀러지
发明人： 전문영 , 김홍민 , 허정 , 윤상규
IPC分类号： G01N21/00 , G01N21/01
摘要： PURPOSE: An AOI(Automatic Optical Inspection) apparatus is provided to improve inspection efficiency by imaging a target object in different directions. CONSTITUTION: An AOI apparatus includes an X-Y stage(1), first illuminating units(2) which irradiate two-dimensional light to a target object in multiple directions, first and second mirror pairs(11,12) which reflect lattice light to the target object, a pair of first lattice projectors(21) which irradiate lattice light to the first mirrors, a pair of second lattice projectors which irradiate lattice light to the second mirrors, a first imaging unit(30) which captures the images reflected off the target images, and a controller(60) which inspects the target object based on the images from the first imaging unit.
摘要翻译：目的：提供AOI（自动光学检测）设备，通过在不同方向对目标物体进行成像，提高检测效率。构成：AOI装置包括XY台（1），向多个方向对目标物体照射二维光的第一照明单元（2），将格子光反射到目标物的第一和第二镜对（11,12）物体，一对向第一反射镜照射格子光的第一格子投射器（21），一对第二格子投射器，其将格子光照射到第二反射镜;第一成像单元（30），捕获从目标反射的图像图像以及基于来自第一成像单元的图像检查目标对象的控制器（60）。

98. 发明公开

KR1020050016916A 평가 시스템과 그 구성요소 无效
标题翻译：改进的测试系统和组件
公开(公告)号：KR1020050016916A
公开(公告)日：2005-02-21
申请号：KR1020047021381
申请日：2003-06-20
申请人： 바이오베리스 코포레이션
发明人： 데이비스챨스켄틴 , 쿡리챠드에이.
IPC分类号： G01N21/00 , G01N21/01
摘要： 평가 시스템은 ⅰ)평가판을 지지/위치설정하는 장치와, ⅱ)평가판의 적절한 정렬을 검출하는 장치와, ⅲ)시약 및/또는 하나이상의 샘플을 위치시키고 흡인하기 위해 탐침을 처리하는 장치와, ⅳ)시약을 흡인하는 유체 처리 장치와, ⅴ)유체 처리 매니폴드를 포함하는 시약의 존재/비존재를 검출하는 장치와, 상기 매니폴드는 투명한 광로와 이에 형성된 유체 도관을 포함하며, ⅵ)바이패스 수단과, 클린아웃 수단과 및/도는 가스 및 침전물 제거수단들중 하나이상을 포함하도록 개량된 펌프 챔버를 구비한 포지티브 변위 펌프를 포함한다.

99. 发明公开

KR1020010104607A 반도체 디바이스의 외관 검사장치 및 그 검사방법 无效
标题翻译：用于检查半导体器件表面的器件和方法
公开(公告)号：KR1020010104607A
公开(公告)日：2001-11-26
申请号：KR1020000059820
申请日：2000-10-11
申请人： 주식회사 큐빅비젼
发明人： 강호달
IPC分类号： G01N21/01
CPC分类号： H01L22/30 , G01B11/06 , G01N21/01 , G01N21/8806 , G01N21/9501 , G01N2201/068
摘要： 본 발명은 피검사물인 반도체 디바이스에 수직으로 조사되는 광 빔에 의하여 피검사물의 높이변화에 따라 다른 양으로 반사되는 광을 3차원 센서로 촬상하고 이 촬상 이미지의 그레이 레벨을 이용하여 피검사물의 높이를 환산하여 피검사물의 3차원적인 외형을 검사하는 반도체 디바이스의 외관 검사장치 및 그 검사방법에 관한 것이다. 본 발명의 검사장치는 피검사물인 반도체 디바이스의 상측에서 수직하게 광을 조사하는 조명수단과, 상기 반도체 디바이스의 상측에 배치되어 상기 반도체 디바이스에서 반사된 광을 촬상하는 촬상수단과, 상기 촬상수단에 의하여 촬상된 이미지를 저장하는 이미지저장수단과, 상기 이미지저장수단에 저장된 이미지의 그레이 레벨에 근거하여 상기 반도체 디바이스의 소정 부위의 높이를 산출하는 산출수단과, 상기 이미지저장수단에 저장된 이미지와 상기 산출수단에 의하여 산출된 결과데이터를 출력하는 출력수단과, 상기 각 수단을 제어하는 제어수단을 포함하여 구성된다.

100. 发明公开

KR1019970707433A 공동내 레이저 분광학을 통하여 가스를 검출하기 위한 다이오드 레이저 펌핑 및 선형 공동 시스템 失效
标题翻译：二极管激光泵浦和线腔系统用于通过腔内激光光谱检测气体
公开(公告)号：KR1019970707433A
公开(公告)日：1997-12-01
申请号：KR1019970702883
申请日：1996-08-29
申请人： 이노베티브 레이저스 코포레이션
发明人： 앳킨슨죠지에이치 , 메디자드이스마일 , 칼리스키예오셔 , 장져민 , 하인먼맥스 , 월퍼딘저마커스
IPC分类号： G01N21/3504 , G01N21/39 , G01N21/01

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