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1. 发明授权

KR102335027B1 광 빔의 특성화를 위한 디바이스 및 방법 有权
公开(公告)号：KR102335027B1
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：KR1020177001210
申请日：2015-06-15
IPC分类号： G01J11/00 , G01J9/02
摘要： 본발명의일 양태는다음단계들을포함한광 빔의특성화를위한방법에관한것이다: - 상기광 빔을, 분리기광학계로제 1 서브-빔및 제 2 서브-빔으로분리시키는단계; - 제 1 광학계를통해상기제 1 서브-빔을전파하고, 제 2 광학계를통해상기제 2 서브-빔을전파하는단계 - 상기제 1 및제 2 광학계들각각은상기제 1 광학계에서빠져나가고 "기준빔"이라지칭되는제 1 서브-빔, 및상기제 2 광학계에서빠져나가고 "특성화빔"이라지칭되는제 2 서브-빔이시간지연 (τ)만큼분리되도록배치됨 -; - 상기기준빔 및상기특성화빔이공간적으로간섭되고 2-차원간섭패턴을형성하는방식으로, 재결합기광학계로상기기준빔 및상기특성화빔을재결합시키는단계 - 상기 2-차원간섭패턴은제 1 평면을따라연장됨 -; - 상기 2-차원간섭패턴의적어도일부의주파수스펙트럼을측정시스템으로측정하는단계; - 상기주파수스펙트럼의적어도하나의공간지점의시간도메인에서푸리에변환을계산하는단계 - 상기시간도메인에서의푸리에변환은시간중심피크및 제 1 및제 2 시간측면피크들을가짐 -; - 상기제 1 및제 2시간측면피크들중 하나에대해, 주파수도메인에서의푸리에변환을계산기로계산하는단계; - 스펙트럼진폭 (AR (ω)), 및공간-스펙트럼위상 (φR(x,y,ω))을상기주파수도메인에서의푸리에변환에대해, 계산하는단계.

2. 发明授权

KR102154649B1 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템 有权
公开(公告)号：KR102154649B1
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：KR1020180118096
申请日：2018-10-04
申请人： 고려대학교 산학협력단 , 기초과학연구원
发明人： 김문석 , 최원식 , 조용현 , 윤석찬
IPC分类号： G01N21/45 , G01J3/45 , G01J9/02

3. 发明授权

KR102144632B1 광위상배열기를 위한 내장형 원거리장 모니터링 시스템 有权
公开(公告)号：KR102144632B1
公开(公告)日：2020-08-13
申请号：KR1020190029731
申请日：2019-03-15
申请人： 한국과학기술원
发明人： 박효훈 , 심준섭 , 유종범 , 김민철
IPC分类号： G01J9/02

4. 发明授权

KR102096084B1 3X3 MMI 커플러 기반 집적형 광-마이크로파 위상 검출 장치 및 방법 有权
公开(公告)号：KR102096084B1
公开(公告)日：2020-04-01
申请号：KR1020190024404
申请日：2019-02-28
申请人： 한국과학기술원
发明人： 김정원 , 유경식 , 정영재 , 전찬기
IPC分类号： G01J9/02 , G01J11/00

5. 发明授权

KR102005267B1 광자쌍의 결맞음을 제어하는 간섭계 및 방법 有权
公开(公告)号：KR102005267B1
公开(公告)日：2019-10-01
申请号：KR1020120074217
申请日：2012-07-06
申请人： 셀렉스 이에스 에스.피.에이.
发明人： 미스터.파비오안토니오,보비노
IPC分类号： G01J3/45 , G01J9/02

6. 发明授权

KR101879038B1 광파장 측정기 有权
公开(公告)号：KR101879038B1
公开(公告)日：2018-07-16
申请号：KR1020160090852
申请日：2016-07-18
申请人： 김만식
发明人： 김만식
IPC分类号： G01J9/02 , G02B6/293 , H04J14/02
CPC分类号： G01J9/02 , G02B6/293 , H04J14/02
摘要： 본발명은광파장측정기에관한것으로더욱상세하게는파장분할다중화방식으로복수의광파장이먹싱(muxing)되는광통신망의광선로에서전송되는광파장을측정하는장치가개시된다. 개시된광파장측정기는복수의광파장을포함하는광신호가입력되며렌즈를이용하여상기광신호를평행광으로만들어출력하는광입력부, 상기광입력부에서출력되는광신호를필터링하는채널필터, 상기채널필터가부착되는회전판, 상기회전판을회전시키는모터, 상기채널필터를통과한광신호를전기신호로변환하여출력하는포토디텍터, 상기모터의회전각을제어하는제어부, 상기제어부를위한회전각도제어신호를생성하고, 상기회전각도와상기전기신호를바탕으로광파장값을추출하는신호처리부, 및상기신호처리회로부에서추출한광파장값을표시하는디스플레이부를포함할수 있다. 본발명에의하면, 수신한광신호파장의정밀한측정이가능하고, 또한광신호의출력측정이가능한바 파장다중방식광통신시스템에서광신호의파장값에대한정확한정보를제공함으로서광통신시스템의품질과신뢰성을점검할수 있으며광통신망의유지, 보수과정을용이하게할 수있다.

7. 发明公开

KR20180051694A 편광 빛살가르게를 이용한 자유공간 사냑 간섭계 审中-公开
公开(公告)号：KR20180051694A
公开(公告)日：2018-05-17
申请号：KR20160147522
申请日：2016-11-07
申请人： UNIV SOGANG RES FOUNDATION
发明人： CHO KYU MAN , YOON SEUNG HYUN , EANG SEANG HOR , PARK JUNE KYU , IM HYO SEOP
IPC分类号： G01J9/02 , G02B27/14
CPC分类号： G01J9/02 , G02B27/14
摘要： 본발명은개선된사냑간섭계에관한것이다. 상기사냑간섭계는, 광원; 상기광원으로부터입력된광을서로수직편광된제1 빔과제2 빔으로나누고, 상기제1 빔과제2 빔을하나의닫힌경로에서서로반대방향을따라이동시킨후 다시합쳐서출력하는감지부; 상기감지부로부터출력된제1 빔과제2 빔을간섭시켜이들사이에유도된위상변화를측정하는복조부;를구비한다. 상기감지부는, 상기광원으로부터입력된광을서로수직편광된제1 빔과제2 빔으로나누어서로다른출력포트로각각출력하는편광빛살가르게; 둘이상의거울을이용하여하나의닫힌경로를구성하며, 상기편광빛살가르게로부터출력된상기제1 빔과제2 빔의방향을전환시켜상기닫힌경로를따라이동시켜제1 빔은제2 빔의출력포트로입력시키고제2 빔은제1 빔의출력포트로입력시키는폐경로부;를구비하며, 상기폐경로부로부터출력된제1 빔과제2 빔은서로수직으로편광되어편광빛살가르게에서합쳐져동일한경로로출력되어상기복조부로제공한다. 상기사냑간섭계는제1 빔과제2 빔의위상차를이용하여회전각속도를검출하여제공한다.

8. 发明授权

KR101838245B1 간섭계를 구비한 모드잠금펄스와 잡음펄스의 선택적 펄스 생성장치 有权
公开(公告)号：KR101838245B1
公开(公告)日：2018-03-13
申请号：KR1020150154656
申请日：2015-11-04
申请人： 한국기계연구원
发明人： 김승만 , 신윤상 , 송준엽 , 하태호 , 이재학 , 김용진 , 이창우
IPC分类号： H01S3/11 , H01S3/067 , H01S3/08 , G01J1/42 , G01J9/02
摘要： 본기재의모드잠금펄스와잡음펄스의선택적펄스생성장치는, 광을출력하는레이저다이오드와, 펄스의편광을조절하여모드잠금펄스또는잡음펄스를생성하는편광조절부를포함하는공진기, 및상기공진기의출력단에광학적으로연결되고상기편광조절부에전기적으로연결되어, 상기공진기로부터출력되는광을분산시켜감지하고, 상기공진기로부터출력되는광을분할하여간섭시켜간섭신호발생여부를감지하여, 상기모드잠금펄스또는상기잡음펄스가생성됨이확인될때, 상기편광조절부의작동을정지시키도록제어신호를전달하는신호감지제어기를포함한다.

9. 发明授权

KR101720575B1 레이저 가공장치의 광학계 정렬 장치 및 광학계 정렬 방법 有权
标题翻译：光学系统对准装置和激光加工装置的光学系统对准方法
公开(公告)号：KR101720575B1
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：KR1020150146092
申请日：2015-10-20
申请人： 주식회사 이오테크닉스
发明人： 김병오 , 이동준
IPC分类号： B23K26/042 , B23K26/03 , B23K26/067 , G01J9/00 , G01J9/02
CPC分类号： B23K26/03 , B23K26/042 , B23K26/067 , G01J9/00 , G01J9/02
摘要： 레이저가공장치를구성하는레이저광학계를정렬하는장치및 방법이개시된다. 개시된레이저가공장치의광학계정렬장치는레이저빔이경유하는레이저광학계와, 상기레이저광학계로부터출사되는상기레이저빔의광파면(light wavefront)을측정하는샤크-하트만센서(shark-hartmann) 센서와, 상기샤크-하트만센서에의해검출된상기레이저빔의광파면을수식으로표현하여상기레이저광학계가오정렬(mis-alignment)됨으로써발생되는상기레이저광학계의편심값을계산하는연산부;를포함한다.
摘要翻译：公开了一种用于对齐构成激光加工设备的激光光学系统的设备和方法。激光加工装置的所公开的光学系统对准单元经由激光光束，从激光光学系统发射的激光束的光学波前（光的波阵面），用激光光学系统测量的鲨鱼 - 和哈特曼传感器（鲨 - 哈特曼）传感器和包括; - 鲨鱼到光学波前通过由式计算单元，用于计算所述激光光学系统的偏移值表示的哈特曼传感器检测的激光束的通过布置高（未对准）激光光学系统射出。

10. 发明授权

KR101386971B1 파장 동조 소스용 방법 및 장치 有权
标题翻译：波长调谐源的过程和设备
公开(公告)号：KR101386971B1
公开(公告)日：2014-04-18
申请号：KR1020057023416
申请日：2004-06-04
申请人： 더 제너럴 하스피탈 코포레이션
发明人： 보우마,브레트,이. , 윤석현 , 오,윌리엄 , 데보어,요한네스 , 테니,귈러모
IPC分类号： G02B27/48 , A61B5/00 , G01J9/02 , G01N21/47
CPC分类号： G01J3/10 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , G01B9/02004 , G01B9/02091 , G01J3/12 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B27/48 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S5/141 , H01S5/146 , H01S5/4087
摘要： 전자기 복사의 주파수에 기초하여 전자기 복사의 하나 이상의 성분을 물리적으로 분리하도록 구성된 적어도 하나의 스펙트럼 분리 배열을 포함할 수 있는 적어도 하나의 전자기 복사를 필터링하는 장치 및 그 소스 배열을 제공할 수 있다. 이러한 장치 및 배열은 또한 하나 이상의 성분과 관련된 적어도 하나의 신호를 수신하도록 구성된 적어도 하나의 연속 회전식 광학 배열도 구비할 수 있다. 또한, 이러한 장치 및 배열은 상기 신호를 수신하도록 구성된 적어도 하나의 빔 선택 배열을 포함할 수 있다.
전자기 복사, 주파수, 동조 속도, 필터링, 스펙트럼, 분리,

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