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1. 发明专利

JP6639277B2 バリア基材の透過性評価方法有权
公开(公告)号：JP6639277B2
公开(公告)日：2020-02-05
申请号：JP2016047578
申请日：2016-03-10
申请人：株式会社カネカ
发明人：大内克哉
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/894

2. 发明专利

JP2018187639A プレス成形品の検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018187639A
公开(公告)日：2018-11-29
申请号：JP2017090976
申请日：2017-05-01
申请人：トヨタ自動車株式会社
发明人：金原宏 , 岩本全弘
IPC分类号： G01N21/894 , G01N21/84 , B30B15/00
摘要：【課題】プレス成形品における割れやピンホール等の検出精度の向上と機器調整の簡略化とをもたらし得る検査手法を提供する。【解決手段】向かい合う一対の金型により賦形されたプレス成形品の検査装置は、プレス成形品に向けて光を照射する光照射部と、該光照射部とプレス成形品を挟んで対向し、光照射部が照射した光を受光する受光部とを備える。そして、光照射部と受光部の少なくとも一方は、一対の金型の一方の金型の金型面の面形状に倣った形状とされて、プレス成形品の載置を受ける。【選択図】図4

3. 发明专利

JP2018163154A 長尺物の外観欠陥自動検査方法およびその記録媒体を有する長尺物の巻体审中-公开
公开(公告)号：JP2018163154A
公开(公告)日：2018-10-18
申请号：JP2018056098
申请日：2018-03-23
申请人：三菱ケミカル株式会社
发明人：中村誠 , 太田究
IPC分类号： G01N21/894 , G01N21/892
摘要：【課題】長尺物の連続移送時において、多種類の外観欠陥を高精度で且つ効率的に自動的に連続検査が可能な外観欠陥の自動検査方法とその検査結果及び欠陥位置を直ちに確定できる長尺物の巻体を提供する。【解決手段】多孔質炭素電極基材の少なくとも一方の面上に、導電材料からなるコーティング層が連続的に形成された長尺物の外観欠陥自動検査方法であって、前記長尺物のコーティング層の表面に検査光を照射し、散乱反射光を受光し、受光した散乱反射光より表面凹凸の情報を取得・解析し、その結果から欠陥の存在位置、大きさおよびの種類を記録媒体に記録しつつ連続して巻き取ることを含んでなる長尺物の外観欠陥自動検査方法。【選択図】図1

4. 发明专利

JP6330284B2 蒸着マスクの検査方法および蒸着マスクの検査治具有权
公开(公告)号：JP6330284B2
公开(公告)日：2018-05-30
申请号：JP2013205372
申请日：2013-09-30
申请人：大日本印刷株式会社
发明人：太田貴之 , 南原克彦 , 堀内雅博 , 冨木康彦
IPC分类号： C23C14/04 , G01N21/894

5. 发明专利

JP6209493B2 塗装膜の良否判定方法および塗装膜の耐衝撃性能判定方法有权
公开(公告)号：JP6209493B2
公开(公告)日：2017-10-04
申请号：JP2014121206
申请日：2014-06-12
申请人：東日本電信電話株式会社
发明人：赤毛勇一 , 半田隆夫 , 高谷雅昭
IPC分类号： G01N21/84 , G01N21/894 , G01N19/04 , G01N19/00

6. 发明专利

JP2017161418A バリア基材の透過性評価方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017161418A
公开(公告)日：2017-09-14
申请号：JP2016047578
申请日：2016-03-10
申请人：株式会社カネカ
发明人：大内克哉
IPC分类号： B32B7/02 , G01N21/17 , G01N21/894
摘要：【課題】簡易で汎用性があり、全体の透過率とは別に、ピンホール等の特定の透過部位の有無を評価できる評価方法を提供することである。【解決手段】バリア基材の透過性の評価方法であって、順に、バリア対象成分を固定化可能な固定化物質を含有し、該固定化の前後で、その性状が変化する評価用膜材料を準備する工程、該バリア基材の一主面に、該評価用膜材料の層を該バリア基材と直接密着するように形成する工程、該積層体を、該バリア対象成分を含む雰囲気中で保管する工程、及び該性状の変化を観察し透過性を評価する工程を含み、少なくとも、該バリア基材における、特定の透過性が高い部位の存在の有無評価を含む、バリア基材透過性評価方法である。【選択図】図10

7. 发明专利

JP2015232471A ピンホール検出装置审中-公开
标题翻译： PINHOLE检测装置
公开(公告)号：JP2015232471A
公开(公告)日：2015-12-24
申请号：JP2014119009
申请日：2014-06-09
申请人：株式会社FTS
发明人：築地優 , 磯村鎮司 , 岡本光彦
IPC分类号： G01M3/38 , G01N21/894
摘要：【課題】立体的な箱状の被測定物におけるピンホールの有無を、高い精度で検出できるようにする。【解決手段】ピンホール検出装置Pは、開口部34を有する箱形の二次成形品14(被測定物)を検出対象とし、二次成形品14におけるピンホールの有無を検出するものであり、開口部34を閉塞することで少なくとも二次成形品14の内部空間36を含む暗室43を構成する閉塞部材40と、閉塞部材40に形成され、二次成形品14の外面のうち開口部34を包囲する開口縁領域(フランジ部32の底面33)に対し当接又は接近して対向する第1遮光面24と、開口部34の内周面領域35に対し当接又は接近して対向する第2遮光面25と、暗室43内に臨むように設けられ、二次成形品14のピンホールを通過した光を検出する光検出素子41とを備えている。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：允许高精度地检测立体盒形测量对象中的针孔的存在或不存在。解决方案：针孔检测装置P限定了具有开口部34作为检测对象，检测二次成型品14中的针孔是否存在，针孔检测装置P包括：阻塞部件40，其配置暗室43，该暗室43至少包括第二侧的内部空间36 模制产品14通过阻挡开口部分34; 形成在阻塞部件40中的第一遮光面24，与第二成型体的外表面的开口部34相邻的开口边缘区域（凸缘部32的底面33）产品14面向开口边缘区域; 与开口部34的内周面区域35抵接并靠近面向内周面区域35的第二遮光面25; 以及被设置为面对暗室43的内部的光检测元件41，并检测通过二次成型品14的针孔的光。

8. 发明专利

JP5815909B1 セパレータ原反の製造方法、セパレータの製造方法、セパレータ原反、及びセパレータ原反製造装置有权
标题翻译：一种制造分离器原料，制造分离器，分离器原料的方法的方法中，分离器和原料制造装置
公开(公告)号：JP5815909B1
公开(公告)日：2015-11-17
申请号：JP2015506030
申请日：2015-01-30
申请人：住友化学株式会社
发明人：渡辺耕一郎 , 片岡達哉 , 加集功士
IPC分类号： G01N21/894 , G01N21/892
CPC分类号： H01M2/145 , B26D1/035 , B26D7/14 , B26D7/2614 , B65H16/10 , B65H18/08 , B65H26/02 , B65H2557/62 , G01N21/892 , G01N21/894 , G03B1/04 , G03B1/42 , G03B1/56 , G03B17/00 , G03B17/30 , G03B17/425 , G03B21/00 , G03B21/328 , G03B2217/243 , H01M2/1653 , H01M2/166 , H01M2/1686 , H01M10/0525
摘要：セパレータの欠陥位置を容易に特定する。セパレータ原反(12b)の製造方法は、セパレータ原反(12c)に耐熱層を塗工したセパレータ原反(12b)を形成する形成工程と、前記形成工程により形成したセパレータ原反(12b)に存在する欠陥(D)を検出する欠陥検出工程と、前記セパレータ原反(12b)の幅方向における欠陥(D)の位置情報を含む欠陥情報を記録する欠陥情報記録工程とを包含する。
摘要翻译：容易地识别分离器的缺陷位置。用于生产粗分离器方法（12B）包括：形成分离器原料施加在分离器原料（12c）的一耐热层的步骤（12B），所述隔板形成原料（12B）由所述形成步骤包括在分离器的宽度方向上的缺陷检测装置，用于检测缺陷（D）步骤，其存在，并记录该缺陷信息包括缺陷（D）的位置信息的缺陷信息记录处理原始（12B）。

9. 发明专利

JP2015194490A 画像検査装置、画像形成システム、画像検査方法及び画像検査プログラム有权
标题翻译：图像检查装置，图像形成系统，图像检查方法和图像检查程序
公开(公告)号：JP2015194490A
公开(公告)日：2015-11-05
申请号：JP2015053732
申请日：2015-03-17
申请人：株式会社リコー
发明人：曽根拓郎 , 日野真 , 程島隆 , 船橋一樹 , 木原秀幸 , 橘弘人
IPC分类号： G01N21/894
摘要：【課題】画像の光沢の変化に基づく欠陥の検知において、元の画像の明るさに応じた視覚への影響を加味すること。【解決手段】記録媒体上に画像形成出力された画像を正反射光により読み取った正反射読取画像を取得し、正反射読取画像と比較するための基準正反射画像を構成する画素と正反射読取画像を構成する画素との差分値によって構成される正反射差分画像を取得し、記録媒体上に画像形成出力された画像を構成する画素の明るさを示す明度情報に基づいて正反射差分画像を補正し、補正された正反射差分画像に基づいて正反射読取画像の欠陥を判定することを特徴とする。【選択図】図8
摘要翻译：要解决的问题：在基于图像的光泽度变化的缺陷检测中增加根据原始图像的亮度对视觉的影响。解决方案：图像检查方法包括以下步骤：获取正则反射通过用规则的反射光读取在记录介质上形成和输出的图像而获得的读取图像; 获取由构成用于与正常反射读取图像和构成正反射读取图像的像素进行比较的参考正常反射图像的像素的差值构成的规则反射差分图像; 基于指示构成在记录介质上形成和输出的图像的像素的亮度的亮度信息校正正反射差分图像; 以及基于校正的正反射差分图像确定正反射读取图像的缺陷。

10. 发明专利

JP2015068787A 蒸着マスクの検査方法および蒸着マスクの検査治具有权
标题翻译：蒸发屏蔽检测方法和蒸发掩膜检查
公开(公告)号：JP2015068787A
公开(公告)日：2015-04-13
申请号：JP2013205372
申请日：2013-09-30
申请人：大日本印刷株式会社
发明人：太田貴之 , 南原克彦 , 堀内雅博 , 冨木康彦
IPC分类号： C23C14/04 , H01L51/50 , H05B33/10 , G01N21/894
摘要：【課題】貫通孔の検査精度を向上させることができる蒸着マスクの検査方法を提供する。【解決手段】本発明による蒸着マスクの検査方法においては、まず、治具開口部52を有する検査治具50を準備する。続いて、検査治具70上に、有効領域22が治具開口部72上に配置されるように蒸着マスク20が載置される。次に、蒸着マスク20が載置された検査治具70が搬送される。搬送された検査治具70の治具開口部72上に配置された蒸着マスク20の有効領域22が撮像されて画像が取得される。取得された画像に基づいて、蒸着マスク20の有効領域22における貫通孔25の欠陥の有無が判定される。【選択図】図11
摘要翻译：要解决的问题：提供可以提高通孔的检查精度的蒸发掩模检查方法。解决方案：在根据本发明的蒸发掩模检查方法中，首先准备具有夹具孔72的检查夹具70。然后，将蒸发掩模20放置在检查夹具70上，使得有效区域22布置在夹具孔72上。之后，传送具有放置蒸发掩模20的检查夹具70。布置在所输送的检查夹具70的夹具孔72上的蒸发掩模20的有效区域22成像，然后获取图像。基于获取的图像，确定蒸发掩模20的有效区域22中的通孔25是否有缺陷。

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