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1. 发明专利

JP2015232471A ピンホール検出装置审中-公开
标题翻译： PINHOLE检测装置
公开(公告)号：JP2015232471A
公开(公告)日：2015-12-24
申请号：JP2014119009
申请日：2014-06-09
申请人：株式会社FTS
发明人：築地優 , 磯村鎮司 , 岡本光彦
IPC分类号： G01M3/38 , G01N21/894
摘要：【課題】立体的な箱状の被測定物におけるピンホールの有無を、高い精度で検出できるようにする。【解決手段】ピンホール検出装置Pは、開口部34を有する箱形の二次成形品14(被測定物)を検出対象とし、二次成形品14におけるピンホールの有無を検出するものであり、開口部34を閉塞することで少なくとも二次成形品14の内部空間36を含む暗室43を構成する閉塞部材40と、閉塞部材40に形成され、二次成形品14の外面のうち開口部34を包囲する開口縁領域(フランジ部32の底面33)に対し当接又は接近して対向する第1遮光面24と、開口部34の内周面領域35に対し当接又は接近して対向する第2遮光面25と、暗室43内に臨むように設けられ、二次成形品14のピンホールを通過した光を検出する光検出素子41とを備えている。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：允许高精度地检测立体盒形测量对象中的针孔的存在或不存在。解决方案：针孔检测装置P限定了具有开口部34作为检测对象，检测二次成型品14中的针孔是否存在，针孔检测装置P包括：阻塞部件40，其配置暗室43，该暗室43至少包括第二侧的内部空间36 模制产品14通过阻挡开口部分34; 形成在阻塞部件40中的第一遮光面24，与第二成型体的外表面的开口部34相邻的开口边缘区域（凸缘部32的底面33）产品14面向开口边缘区域; 与开口部34的内周面区域35抵接并靠近面向内周面区域35的第二遮光面25; 以及被设置为面对暗室43的内部的光检测元件41，并检测通过二次成型品14的针孔的光。

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