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    • 5. 发明专利
    • Semiconductor element for current control and control device using the same
    • 使用该电流控制和控制装置的半导体元件
    • JP2013026634A
    • 2013-02-04
    • JP2011156013
    • 2011-07-14
    • Hitachi Automotive Systems Ltd日立オートモティブシステムズ株式会社
    • HOSHINO KENICHIHIROTSU TEPPEIISHIDA RYOSUKE
    • H03K17/695H03K17/687H03M1/10
    • H02M3/157F02D2041/2024F02D2041/2058H03M1/0609H03M1/12
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor element for current control and a control device therewith which implement high accuracy current detection in a single chip IC by dynamically compensating for fluctuations in a gain a and an offset b.SOLUTION: The semiconductor element for current control has a transistor 4, a current-voltage conversion circuit 22 and an AD converter 23 on the same semiconductor chip. A reference current generation circuit 6, 6' superimposes a current pulse Ic on a current to a load 2 to cause a digital voltage value output by the AD converter to fluctuate. A gain/offset correction section 8 signal-processes fluctuations in the digital voltage value by the reference current generation circuit 6, 6', and dynamically determines a gain a, a' and an offset b, b' in a linear relational expression of the digital voltage value output by the AD converter 23 and a digital current value of the load. A digital current value computation section 12 uses the gain and offset determined by the gain/offset correction section 8 to correct the voltage value output by the AD converter.
    • 要解决的问题:提供一种用于电流控制的半导体元件及其控制装置,通过动态补偿增益a和偏移量b中的波动,在单芯片IC中实现高精度电流检测。 解决方案:用于电流控制的半导体元件在相同的半导体芯片上具有晶体管4,电流 - 电压转换电路22和AD转换器23。 参考电流产生电路6,6'将电流脉冲Ic叠加在负载2上,使得由AD转换器输出的数字电压值波动。 增益/偏移校正部分8通过参考电流产生电路6,6'信号处理数字电压值的波动,并且动态地确定线性关系表达式中的增益a,a'和偏移b,b' 由AD转换器23输出的数字电压值和负载的数字电流值。 数字电流值计算部分12使用由增益/偏移校正部分8确定的增益和偏移来校正由AD转换器输出的电压值。 版权所有(C)2013,JPO&INPIT
    • 8. 发明专利
    • アナログデジタル変換器
    • 模拟数字转换器
    • JPWO2014207870A1
    • 2017-02-23
    • JP2015523755
    • 2013-06-27
    • 株式会社日立製作所
    • 俊 大島
    • H03M1/10
    • H03M1/1038H03M1/002H03M1/0609H03M1/0612H03M1/12
    • アナログデジタル変換器における変換精度の向上を実現する。そこで、補正用信号の電圧とそれを減衰回路21による固定の減衰率で減衰させた電圧とを生成し、その各電圧をそれぞれアナログデジタル変換部23に入力する。補正ユニット20aは、アナログデジタル変換部23からのデジタル出力を受け、適応制御アルゴリズムにもとづいて、アナログデジタル変換部23の各ビットの補正係数Wiを探索し、探索した補正係数Wiを用いてアナログデジタル変換部23からのデジタル出力を補正する。
    • 为了实现在转换精度的模拟数字转换器的改进。 因此,为了生成通过衰减电路21其校正信号由电压和固定衰减率衰减的电压,并输入相应的电压施加到每个模拟 - 数字转换器23。 校正单元20A接收来自模数转换器23的基础上,自适应控制算法的数字输出使用搜索到的校正系数的无线模拟 - 数字转换器23无线,模拟的每个比特的一个校正系数,以搜寻到数字 校正来自转换器23的数字输出。
    • 10. 发明专利
    • 半導体装置
    • 半导体器件
    • JP2016012760A
    • 2016-01-21
    • JP2014132263
    • 2014-06-27
    • ルネサスエレクトロニクス株式会社
    • 山本 崇也中根 秀夫木村 圭助奥田 裕一大島 俊
    • H03M1/10
    • H03M1/002H03M1/0609H03M1/1009H03M1/1038H03M1/462H03M1/468H03M1/0639H03M1/124H03M1/145H03M1/38
    • 【課題】高精度のキャリブレーションを低電力、及び低面積で実現することができる半導体装置を提供する。 【解決手段】本実施形態に係る半導体装置は、AD変換部2Aと、AD変換部2Aの入力側に接続され、AD変換部2Aの2周期以上のホールド期間を有するホールド信号生成回路150を備えている。ホールド信号生成回路150が、AD変換部2Aの入力側に接続された入力バッファ101と、入力バッファ101の入力及び出力に接続されたフィードバックキャパシタ102、103と、を備えたSC積分器160と、AD変換部2Aから出力される複数ビットの出力信号が第1及び第2のしきい値とを比較し、比較結果に応じてSC積分器160の極性を制御する制御信号を出力する論理回路120と、を備えている。 【選択図】図13
    • 要解决的问题:提供能够通过低功率和小面积实现高精度校准的半导体器件。解决方案:根据本实施例的半导体器件包括:AD转换部分2A; 以及保持信号生成电路150,其连接到AD转换部分2A的输入侧,并且具有两个周期长度的保持周期和更多的AD转换部分2A。 保持信号生成电路150包括:连接到AD转换部分2A的输入侧的输入缓冲器101; SC积分器160包括分别连接到输入缓冲器101的输入端和输出端的反馈电容器102,103; 以及逻辑电路120,用于将从AD转换部分2A输出的多个比特的输出信号与第一和第二阈值进行比较,并根据比较结果输出用于控制SC积分器160的极性的控制信号。