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1. 发明专利

JP6417723B2 検査装置审中-公开
公开(公告)号：JP6417723B2
公开(公告)日：2018-11-07
申请号：JP2014117487
申请日：2014-06-06
申请人：株式会社リコー
发明人：津田敬二
IPC分类号： H01L33/00 , G01M11/00 , G01J1/00 , G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2635 , G01J1/0271 , G01J1/42 , G01J2001/4252

2. 发明专利

JP2017531790A リフティングシステム、電気的な検査のための方法、振動減衰器及び機械アセンブリ有权
公开(公告)号：JP2017531790A
公开(公告)日：2017-10-26
申请号：JP2017516385
申请日：2015-09-11
申请人：シーメンスアクチエンゲゼルシヤフトSiemens Aktiengesellschaft , シーメンスアクチエンゲゼルシヤフトSiemens Aktiengesellschaft
发明人：バッハマイアーゲオルク , バッハマイアーゲオルク , ゲデッケアンドレアス , ゲデッケアンドレアス , フォンツトーマス , フォンツトーマス , ツェルスヴォルフガング , ツェルスヴォルフガング , フォンガーセンハンス−ゲオアク , フォンガーセンハンス−ゲオアク
IPC分类号： G01R31/26 , F16F15/023 , F16F15/03 , H02K7/00
CPC分类号： H02N2/043 , F16F15/005 , G01R31/26 , G01R31/2635 , G01R31/286
摘要：本発明のリフティングシステムは、圧電調節器(5)と、載置台(15)と、入力側及び出力側を備えた液圧式変位量変換器(10)とを有しており、この液圧式変位量変換器は、その入力側が圧電調節器(5)に結合されており、その出力側が載置台に結合されている。電子コンポーネントを電気的に検査する本発明の方法では、上記のようなリフティングシステムの載置台(15)に複数のコンポーネントを載置して、位置決めのために検査コンタクトに対して上昇させる。本発明の振動減衰器は、上記のようなリフティングシステムを有する。本発明の機械アセンブリは、機械及び上記のような振動減衰器を有する。

3. 发明专利

JPWO2015133150A1 紫外線発光装置の製造方法有权
公开(公告)号：JPWO2015133150A1
公开(公告)日：2017-04-06
申请号：JP2016506148
申请日：2015-03-06
申请人：パナソニックIpマネジメント株式会社
发明人：村井　章彦 , 章彦村井 , 真太郎林 , 真太郎林
IPC分类号： H01L33/48
CPC分类号： H01L25/0753 , G01R31/2635 , H01L33/0095 , H01L2224/14 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/45124 , H01L2224/45139 , H01L2224/45144 , H01L2224/45147 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
摘要：紫外線発光装置の製造方法は、複数個の紫外線発光素子の駆動電圧と光出力とをそれぞれ測定して、複数の駆動電圧範囲と複数の光出力範囲とに従って複数の分類領域に分類した分類マトリックスに分類すること、分類マトリックスの第1の分類領域に属する紫外線発光素子と、分類マトリックスの第2の分類領域に属する紫外線発光素子と、のみから複数個の紫外線発光素子を選択して、実装基板に実装することを含む。第1の分類領域は、複数の駆動電圧範囲における所定の1つの駆動電圧範囲と、複数の光出力範囲における中心の光出力範囲を基準として対称の位置にある2つの光出力範囲のうち光出力の低い光出力範囲と、で規定されている。第2の分類領域は、所定の1つの駆動電圧範囲と、2つの光出力範囲のうち光出力の高い光出力範囲と、で規定されている。

4. 发明专利

JPWO2015080250A1 有機ＥＬ素子の寿命推定方法、寿命推定装置及び製造方法、並びに発光装置有权
公开(公告)号：JPWO2015080250A1
公开(公告)日：2017-03-16
申请号：JP2015542497
申请日：2014-11-28
申请人：次世代化学材料評価技術研究組合
发明人：筒井　哲夫 , 哲夫筒井 , 杉本　和則 , 和則杉本 , 吉岡　俊博 , 俊博吉岡 , 宮口　敏 , 敏宮口
IPC分类号： H05B33/10 , H01L51/50
CPC分类号： G01R31/2642 , G01K7/00 , G01R31/2635 , G09G3/006 , G09G3/3208 , G09G2320/041 , G09G2320/048 , H01L51/0031 , H01L51/52 , H01L51/56
摘要：本発明は、一対の電極と、該一対の電極間に配置された有機層と、を備える有機EL素子の寿命推定方法であって、有機EL素子への印加電流密度及び/又は有機EL素子の雰囲気温度を変化させた際の、有機EL素子の素子特性の経時変化データを取得するデータ取得ステップと、経時変化データのフィッティング関数を求め、該フィッティング関数から印加電流密度及び/又は雰囲気温度における素子特性の経時変化を特徴づける経時変化パラメータを抽出するパラメータ抽出ステップと、印加電流密度及び/又は雰囲気温度における有機層の発光時の温度上昇値を用いて経時変化パラメータの温度依存性を算出し、有機EL素子の寿命推定式を設定する推定式設定ステップと、寿命推定式を用いて有機EL素子の寿命を推定する寿命推定ステップと、を備える、有機EL素子の寿命推定方法を提供する。

5. 发明专利

JPWO2014103598A1 電子機器有权
标题翻译：电子设备
公开(公告)号：JPWO2014103598A1
公开(公告)日：2017-01-12
申请号：JP2014554262
申请日：2013-11-27
申请人：シャープ株式会社
发明人：祐太井川 , 祐太井川 , 隅谷　憲 , 憲隅谷 , 剛史小野 , 剛史小野
IPC分类号： H05B37/02 , H01L33/00
CPC分类号： G01R31/44 , G01R31/2635 , H05B33/0815 , H05B33/0827 , H05B33/0893
摘要：簡易な構成で素子の異常を検出することが可能な電子機器を提供する。電子機器1は、少なくとも1つの素子が直列接続されて成る素子列211〜21mが少なくとも1つ並列接続されて成る第1素子列群21と、素子列221〜22nが少なくとも1つ並列接続されて成る第2素子列群22と、第1素子列群21を成す素子列211〜21mを流れる電流の合計である第1電流I21と、第2素子列群22を成す素子列221〜22nを流れる電流の合計である第2電流I22と、が所定の関係を満たすか否かに基づいて、第1素子列群21及び第2素子列群22の少なくともいずれか一方を成す素子列211〜21m,221〜22nの異常を検出する異常検出部4と、を備える。
摘要翻译：为了提供能够检测装置的异常以简单的结构的电子设备。该电子设备1包括第一元件阵列组21元件阵列211〜包含至少一个元件串联连接21米通过至少一个并联连接形成，元件阵列221〜22N中的至少一种并联连接通过元件的行中流动，其包括第一电流I21的第二元件阵列组22中流动的电流的总和211〜21米形成第一元件阵列组21中，元件阵列221〜22N上形成第二元件阵列组22 第二电流I22是电流的总和，但基于是否一预定的关系，所述元件阵列形成第一元件阵列组21中的至少一个和所述第二元件阵列组22 211〜21M，它包括一个异常检测部4，用于检测221的异常至22N中，。

6. 发明专利

JP2015191845A 有機ELデバイスの検査装置、検査方法及び製造方法审中-公开
标题翻译：用于检查有机EL器件的器件和方法，以及制造有机EL器件的方法
公开(公告)号：JP2015191845A
公开(公告)日：2015-11-02
申请号：JP2014069595
申请日：2014-03-28
申请人：日東電工株式会社
发明人：丹野嘉之 , 長瀬純一 , 木樽智也
IPC分类号： H05B33/10 , H01L51/50 , H05B33/02 , H05B33/12
CPC分类号： H01L51/50 , G01R31/2635 , H01L51/56
摘要：【課題】可撓性を有する帯状の基材上に形成された複数の有機EL素子の発光状態を、効率良く検査し得る有機ELデバイスの検査装置等を提供する。【解決手段】少なくとも1つの有機EL素子19の通電領域と接触しながら基材21を掴み、有機EL素子を下流側に送るように移動し、掴んだ基材を離し、上流側の有機EL素子の通電領域と接触しながら基材を掴むことができるように上流側に移動することが可能であり、且つ、基材を掴んだ状態で通電領域に通電させて有機EL素子を発光させることが可能な通電部43と、発光させた有機EL素子の発光状態を検査する検査部47とを備えた有機ELデバイス20の検査装置1。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：提供一种有机EL器件的检查装置等，能够有效地检测形成在具有柔性的带状基板上的多个有机EL元件的发光状态。解决方案：检查装置图1所示的有机EL器件20包括：连通部43，其与至少一个有机EL元件19的导电区域接触而夹持基板21，该有机EL元件19移动以将有机EL元件发送到下游侧其分离夹持的基板，其可以移动到上游侧，使得可以在与上游侧的有机EL元件的导电区域接触的同时夹持基板，并且可以使有机EL元件通过使得导电区域在被夹持基板的状态下通电; 以及检查部件47，其检查使发光的有机EL元件的发光状态。

7. 发明专利

JP2015501772A ソーティング装置及びコンポーネントを振り分ける方法审中-公开
标题翻译：如何分发，分拣装置和组件
公开(公告)号：JP2015501772A
公开(公告)日：2015-01-19
申请号：JP2014545902
申请日：2012-10-18
申请人：エレクトロサイエンティフィックインダストリーズインコーポレーテッド , エレクトロサイエンティフィックインダストリーズインコーポレーテッド
发明人：ペダーセン，ノーマン，メリル , ガルシア，ダグ，ジェイ
IPC分类号： B65G47/46 , B07C5/36
CPC分类号： G01R31/2635 , B07C5/342 , B07C5/344 , B07C5/38 , G01R31/2893
摘要：ソーティング装置は、移送経路に沿ってコンポーネントを搬送するように構成されたコンポーネントキャリアと、第1のソートビンと、第2のソートビンと、移送経路に沿った第1の搬送位置でコンポーネントキャリアから第1のソートビンにコンポーネントを搬送するように構成された第1の搬送テーションと、移送経路に沿った第2の搬送位置でコンポーネントキャリアから第2のソートビンにコンポーネントを搬送するように構成された第2の搬送ステーションとを含み得る。この実施形態において、第1の搬送位置から第2の搬送位置までの距離は、第1のソートビンと第2のソートビンの少なくとも一方の幅よりも短くなり得る。
摘要翻译：在沿着传送路径的第一传输位置分选装置，其被配置为传送沿传送路径的成分，第一分类纸盒和第二分类纸盒的分量载波，首先从分量载波在沿着传送路径的第二转印位置构造成输送部件箱，从所述分量载波的第一输送台的第二配置为将所述部件传送到所述第二分类纸盒它可以包括一个传送站。在本实施例中，从第一输送位置到二次转印位置的距离可以比所述第一分类纸盒短和第二分类纸盒的宽度中的至少一个。

8. 发明专利

JP2014149206A Method for inspecting semiconductor light-emitting element and method for manufacturing semiconductor light-emitting element 有权
标题翻译：用于检查半导体发光元件的方法和制造半导体发光元件的方法
公开(公告)号：JP2014149206A
公开(公告)日：2014-08-21
申请号：JP2013017586
申请日：2013-01-31
申请人： Nichia Chem Ind Ltd , 日亜化学工業株式会社
发明人： ABE MASATOSHI
IPC分类号： G01N21/88 , G01M11/00 , G01N21/64
CPC分类号： G01R31/2635 , G01N21/6489 , G01R31/2656 , H01L33/005
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for inspecting a semiconductor light-emitting element which analyzes an image of fluorescence emitted from a semiconductor light-emitting element excited by light irradiation, and appropriately detects a defective product.SOLUTION: A method for inspecting a semiconductor light-emitting element includes: a photographing step S11 of exciting an active layer by irradiating a semiconductor light-emitting element with light, and photographing an image of fluorescence emitted from the active layer; an inspection region extraction step S12 of extracting an inspection region from the photographed image; a luminance average determination step S13 of determining that an inspection region is defective when a luminance average is smaller than a predetermined threshold; a luminance dispersion determination step S14 of determining that the inspection region is defective when a luminance dispersion is larger than a predetermined threshold; and a comprehensive determination step S15 of comprehensively determining that the semiconductor light-emitting element is defective when at least one of the two determination results is defective.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种检测半导体发光元件的方法，该半导体发光元件分析由通过光照射激发的半导体发光元件发射的荧光的图像，并适当地检测不良品。解决方案：一种检查半导体发光元件包括：通过用光照射半导体发光元件来激发有源层并拍摄从有源层发射的荧光图像的拍摄步骤S11; 从拍摄图像提取检查区域的检查区域提取步骤S12; 当亮度平均值小于预定阈值时确定检查区域有缺陷的亮度平均确定步骤S13; 当亮度色散大于预定阈值时，确定检查区域有缺陷的亮度色散确定步骤S14; 以及综合确定步骤S15，当两个确定结果中的至少一个有缺陷时，全面地确定半导体发光元件有缺陷。

9. 发明专利

JP2014505997A Systems and processes characterizing the laser 审中-公开
公开(公告)号：JP2014505997A
公开(公告)日：2014-03-06
申请号：JP2013542159
申请日：2011-12-01
申请人：コーニングインコーポレイテッド
发明人：ワン，イン , ピーヴィソツキー，ジェラルド , シエ，フォン , ザァ，チュン−エン
IPC分类号： H01S5/00 , G01R31/26 , H01S5/14
CPC分类号： H01S5/0042 , B82Y20/00 , G01J1/0403 , G01J1/0407 , G01J1/0414 , G01J3/021 , G01J3/1804 , G01J2001/4247 , G01R31/2635 , H01S5/141 , H01S5/3401
摘要：半導体ウェハから分離される半導体レーザバーの複数の外部キャビティ半導体レーザチップを自動的に特徴付けるシステム及びプロセスである。前記システムは、回折格子をグレーティング角度範囲に亘って変化させながら回転させる回転ステージに取り付けられる回折格子と；前記回転ステージに取り付けられ、かつ前記回折格子の表面に直角に配向するステアリングミラーと；そしてレーザアナライザーと、そしてレーザバー位置決めステージと、を含む。前記位置決めステージを自動的に移動させて、前記ステージ上のレーザバーの各レーザチップを１回に１チップの割合で、前記回折格子に位置合わせすることにより、レーザバーのレーザチップから放出されるレーザビームの一部を、前記格子の１次回折により、同じレーザチップに戻るように反射して、レーザ発振波長をロックし、そして前記ステアリングミラーにより反射される前記レーザビームの残りの部分を前記レーザアナライザーが受光し、そして特徴付ける。各レーザチップに関して、前記回転ステージを自動的に回転させて前記回折格子を、前記レーザチップから放出される前記レーザビームに対して回折角度範囲に亘って変化させながら回転させ、そして前記レーザアナライザーは、各回折角度におけるスペクトルモード、パワーモード、または空間モードのようなレーザ光学特性を自動的に特徴付ける。

10. 发明专利

JP5428485B2 Burn-in method and program of the surface-emitting type semiconductor laser element 有权
公开(公告)号：JP5428485B2
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：JP2009103549
申请日：2009-04-22
申请人：富士ゼロックス株式会社
发明人：誠也大森
IPC分类号： H01S5/183 , H01L21/66
CPC分类号： H01S5/0021 , G01R31/2635 , G01R31/2855 , H01S5/0425 , H01S5/18311 , H01S5/18391

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