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    • 7. 发明专利
    • 傾き検出方法、傾き検出装置、および、傾き検出用機材
    • 内插检测方法,内插检测装置和用于内插检测的材料
    • JP2016183919A
    • 2016-10-20
    • JP2015064575
    • 2015-03-26
    • 株式会社日立製作所
    • 石川 忠明
    • G05D1/02G01B11/26G01C9/06
    • B60G17/01908G01C9/06G05D1/0236G05D1/0891G01C2009/066G05D2201/0216
    • 【課題】移動体の経路変更にも柔軟に対応できるように、移動体の傾きを検知すること。 【解決手段】傾き検出装置の記憶手段には、互いに傾きが異なる3本のマーカ棒Sa〜Sc上の相対的な位置情報が格納されており、傾き検出装置の演算手段が、各マーカ棒Sa〜Scに対してLRF21から照射されるレーザビーム22の反射点Pa〜Pcの位置情報の入力を受け付け、受け付けた各反射点間の位置関係を、各マーカ棒Sa〜Sc上の相対的な位置に適合させることで、各反射点Pa〜Pcのマーカ棒Sa〜Sc上の相対的な位置を求め、求めた各反射点Pa〜Pcの相対的な位置を含む傾き平面を、LRF21を備える搬送車2の傾きとして検出する。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:检测移动实体的倾斜度,使得可以灵活地响应移动实体的路由的改变。解决方案:在倾斜检测装置的存储装置中,将相对位置信息存储在三个标记条Sa- Sc倾向相互不同。 倾斜检测装置的算术装置接受与LRF 21辐射到每个标记条Sa-Sc上的激光束22的反射点Pa-Pc相关的位置信息的输入,并且使得每个被接受的 反射点与每个标记条Sa-Sc上的相对位置匹配,从而找到每个反射点Pa-Pc的标记条Sa-Sc上的相对位置,并且检测包括相对位置的相对位置 每个反射点Pa-Pc作为配备有LRF 21的导向车辆2的倾斜。选择的图示:图1
    • 9. 发明专利
    • 電子レベル
    • 电子级
    • JP2015034726A
    • 2015-02-19
    • JP2013165038
    • 2013-08-08
    • 株式会社トプコンTopcon Corp
    • FUJIOKA TAKAYUKI
    • G01C5/00
    • G01C9/06G01C5/00G01C15/00G01C2009/066
    • 【課題】測定可能な範囲を確認可能とした電子レベルを提供する。【解決手段】標尺に刻印されたパターンからの反射光を受光し、視準位置の高さ及び標尺迄の距離を求める電子レベル1であって、電子レベル1は電子レベル本体2と、電子レベル本体2に収納され標尺を視準する視準光学系と、電子レベル本体2の上面に設けられた照準器3とを具備し、照準器3は少なくとも2方向を照準可能であり、2方向が成す角度は視準光学系の画角と一致又は略一致する。【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供能够确认可测量的范围的电子水平。解决方案:用于从标记在杆上的图案接收反射率并确定准直位置的高度和与杆的距离的电子等级1包括: 电子水平体2; 准直光学系统,存储在电子水平体2中并用于准直杆; 以及设置在电子水平体2的上表面上的准直仪3.准直仪3可以对至少两个方向进行准直,并且由两个方向形成的角度与准直光学系统的场角匹配或几乎匹配。