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    • 6. 发明专利
    • 顕微鏡装置
    • MICROSCOPE设备
    • JP2016057348A
    • 2016-04-21
    • JP2014181303
    • 2014-09-05
    • 住友電気工業株式会社
    • 奥野 拓也本村 麻子祖川 伊知郎菅沼 寛
    • G02B21/36G01J3/36G01N21/27G02B21/12
    • G01J3/14G01J3/51G01N21/27G02B21/06
    • 【課題】データ精度が高いハイパースペクトル画像を取得することができる顕微鏡装置を提供する。 【解決手段】顕微鏡装置1は、光源10、照明光学系20、結像光学系30、撮像部40、分光器51、ステージ60、駆動部61および制御部70を備える。照明光学系20は、光源10から出力された近赤外領域の波長帯域の照明光を集光して観察対象物90に照射する。結像光学系30は、観察対象物90への照明光の照射によって観察対象物90で生じた透過散乱光に基づいて像を形成する。照明光学系20が観察対象物90に照明光を照射する際の集光角度をθとしたときのsinθは、観察対象物90から透過散乱光を入力する対物レンズ31の開口数を超えない値に設定される。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供能够以高数据精度获取高光谱图像的显微镜装置。解决方案:显微镜装置1包括光源10,照明光学系统20,成像光学系统30,图像捕获单元40, 分光镜51,台60,驱动单元61和控制单元70.照明光学系统20会聚从光源10发射的近红外区域中的波长带的照明光,以在观察下照射物体90 与之。 成像光学系统30在照射照明光时,由被观察物体90产生的透射散射光形成图像。 当通过照明光学系统20照射观察对象物体90时的照明光的会聚角度θ被设定为使得sinθ的值不超过接收被发送的物体的物镜31的数值孔径 散射来自物体90的光,观察。选择图:图1
    • 10. 发明专利
    • 光学測定方法及び光学測定装置
    • 光学测量方法和光学测量装置
    • JP2017029533A
    • 2017-02-09
    • JP2015154382
    • 2015-08-04
    • 住友電気工業株式会社国立大学法人京都大学
    • 奥野 拓也菅沼 寛大石 直也鈴木 崇士福山 秀直
    • G01N21/359A61B10/00
    • 【課題】神経変性疾患に対して特異的なタンパク質に係る評価をより簡便に行うことを可能とする。 【解決手段】光学測定装置1を用いた光学測定方法では、近赤外光源10から近赤外光を照射することで、前記被検体5から出射される拡散反射光のスペクトル情報を取得し、前記スペクトル情報に基づいて、神経変性疾患に特異的なタンパク質の前記被検体の体表面における組成比を算出する。近赤外光のスペクトル情報の取得は非侵襲で実施することができるため、被検体における負担を大きく減らすことができ、簡便な評価が可能となる。 【選択図】図1
    • 被一个根据对神经变性疾病特异性蛋白更简单地执行的,以使评价。 在通过从近红外光源10照射近红外光用的光学测量装置1中,一种光学测量方法,我们得到的漫反射光的光谱信息被从被检体5射出 基于所述频谱信息,它计算在被检者的特定于神经变性疾病体表面蛋白的组成比。 这是可能得到的近红外光的光谱信息的非侵入性的进行,可以大大减轻患者的负担,一个简单的评价是可能的。 点域1