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1. 发明专利

JP6777199B2 品質評価方法及び品質評価装置有权
公开(公告)号：JP6777199B2
公开(公告)日：2020-10-28
申请号：JP2019125249
申请日：2019-07-04
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：菅沼寛 , 杉山陽子 , 本村麻子
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/3577 , C12Q1/02 , G01N21/359

2. 发明专利

JP6776672B2 品質評価方法及び品質評価装置有权
公开(公告)号：JP6776672B2
公开(公告)日：2020-10-28
申请号：JP2016135943
申请日：2016-07-08
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：菅沼寛 , 五十嵐陽子 , 本村麻子
IPC分类号： G01N21/359 , C12Q1/04 , C12M1/34 , G01N21/35 , G01N21/27

3. 发明专利

JP2020094925A 品質評価方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020094925A
公开(公告)日：2020-06-18
申请号：JP2018233525
申请日：2018-12-13
申请人：住友電気工業株式会社 , 株式会社サイフューズ , 国立大学法人東海国立大学機構
发明人：本村麻子 , 杉山陽子 , 菅沼寛 , 木村彰紀 , 秋枝静香 , 宮崎雄大 , 加藤竜司 , 渋田真結 , 山本涼平
IPC分类号： C12Q1/04 , G01N21/17
摘要：【課題】細胞塊の発生の経緯によらず、細胞塊の品質をその場の細胞塊の状態に基づいて評価することが可能な品質評価方法を提供する。【解決手段】品質評価方法は、300〜2000nmに含まれる波長を有する測定光を細胞塊に照射して、当該細胞塊内における複数の測定位置のそれぞれに対応する複数の光強度情報を取得する工程と、取得された複数の光強度情報のばらつきを特徴量として生成する工程と、生成された特徴量を指標として細胞塊の品質を評価する工程と、を備える。【選択図】図1

4. 发明专利

JPWO2018221430A1 観察容器及び微小粒子計測装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2018221430A1
公开(公告)日：2020-04-09
申请号：JP2018020257
申请日：2018-05-28
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：木村彰紀 , 本村麻子 , 杉山陽子 , 菅沼寛
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/64 , G01B11/24 , G01N15/00 , G01N21/03
摘要：観察容器(10)は、撮像装置となる撮像部(30A),(30B)による撮像の対象となる微小粒子を含む試料としての液体試料Oが収容され、互いに交差する底壁(12A)(第1板部)と底壁(12B)(第2板部)により構成された底部を有し、微小粒子の観察に用いられる光の波長に対して透光性を有する領域を有する。

5. 发明专利

JP2018004594A 品質評価方法及び品質評価装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018004594A
公开(公告)日：2018-01-11
申请号：JP2016135943
申请日：2016-07-08
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：菅沼寛 , 五十嵐陽子 , 本村麻子
IPC分类号： G01N21/359 , C12Q1/04 , C12M1/34 , G01N21/35 , G01N21/27
CPC分类号： G01N21/359 , C12M41/36 , G01J3/2823 , G01N33/4833
摘要：【課題】細胞塊の品質を非破壊で評価することを可能とする。【解決手段】品質評価方法は、細胞塊に対して近赤外光を含む測定光を照射することにより、当該細胞塊における当該測定光に対する吸光度の分布に係る情報である光強度分布情報を取得する取得工程と、前記取得工程において取得された前記細胞塊の光強度分布情報に基づいて、前記細胞塊の品質を評価する評価工程と、を有する。【選択図】図1

6. 发明专利

JP2016057348A 顕微鏡装置审中-公开
标题翻译： MICROSCOPE设备
公开(公告)号：JP2016057348A
公开(公告)日：2016-04-21
申请号：JP2014181303
申请日：2014-09-05
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：奥野拓也 , 本村麻子 , 祖川伊知郎 , 菅沼寛
IPC分类号： G02B21/36 , G01J3/36 , G01N21/27 , G02B21/12
CPC分类号： G01J3/14 , G01J3/51 , G01N21/27 , G02B21/06
摘要：【課題】データ精度が高いハイパースペクトル画像を取得することができる顕微鏡装置を提供する。【解決手段】顕微鏡装置1は、光源10、照明光学系20、結像光学系30、撮像部40、分光器51、ステージ60、駆動部61および制御部70を備える。照明光学系20は、光源10から出力された近赤外領域の波長帯域の照明光を集光して観察対象物90に照射する。結像光学系30は、観察対象物90への照明光の照射によって観察対象物90で生じた透過散乱光に基づいて像を形成する。照明光学系20が観察対象物90に照明光を照射する際の集光角度をθとしたときのsinθは、観察対象物90から透過散乱光を入力する対物レンズ31の開口数を超えない値に設定される。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够以高数据精度获取高光谱图像的显微镜装置。解决方案：显微镜装置1包括光源10，照明光学系统20，成像光学系统30，图像捕获单元40，分光镜51，台60，驱动单元61和控制单元70.照明光学系统20会聚从光源10发射的近红外区域中的波长带的照明光，以在观察下照射物体90 与之。成像光学系统30在照射照明光时，由被观察物体90产生的透射散射光形成图像。当通过照明光学系统20照射观察对象物体90时的照明光的会聚角度θ被设定为使得sinθ的值不超过接收被发送的物体的物镜31的数值孔径散射来自物体90的光，观察。选择图：图1

7. 发明专利

JPWO2019181803A1 微小粒子計測装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2019181803A1
公开(公告)日：2021-04-08
申请号：JP2019010936
申请日：2019-03-15
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：木村彰紀 , 本村麻子 , 杉山陽子 , 菅沼寛
IPC分类号： G01N21/01 , G01N15/14
摘要：所定の方向に延びる溝(F)を有し、内部に微小粒子を含む液体試料が収容された長尺状の観察容器(10)を当該溝Fに収容することで、溝(F)の延材方向が観察容器(10)の長手方向となるように観察容器(10)を支持する支持台(20)と、支持台(20)に支持された観察容器(10)内の微小粒子を、前記支持台が視野に入らない位置で撮像する撮像部(40)と、を有する。

8. 发明专利

JPWO2016174963A1 顕微鏡装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2016174963A1
公开(公告)日：2018-02-22
申请号：JP2017515437
申请日：2016-03-22
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：菅沼寛 , 奥野拓也 , 翁由奈 , 本村麻子 , 杉山陽子
IPC分类号： G02B21/06 , G01N21/27
CPC分类号： G01N21/27 , G01J3/2823 , G02B21/0064 , G02B21/0096 , G02B21/086
摘要：本発明の顕微鏡装置は、(1)近赤外領域を含む波長帯域の照明光を出力する光源10と、(2)前記光源から出力された照明光を観察対象物90に照射する照明光学系30と、(3)前記観察対象物への照明光の照射によって前記観察対象物で生じた透過光もしくは散乱光を入力し分光する分光部を含み、分光された透過光もしくは散乱光に基づいて像を形成する結像光学系40と、(4)前記結像光学系により形成された像を取得する撮像部50Aと、を備える。前記観察対象物のうち前記照明光により照射される面積は、前記結像光学系40による視野面積より大きく該視野面積の10倍以下である。

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