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1. 发明专利

JP2017029533A 光学測定方法及び光学測定装置审中-公开
标题翻译：光学测量方法和光学测量装置
公开(公告)号：JP2017029533A
公开(公告)日：2017-02-09
申请号：JP2015154382
申请日：2015-08-04
申请人：住友電気工業株式会社 , 国立大学法人京都大学
发明人：奥野拓也 , 菅沼寛 , 大石直也 , 鈴木崇士 , 福山秀直
IPC分类号： G01N21/359 , A61B10/00
摘要：【課題】神経変性疾患に対して特異的なタンパク質に係る評価をより簡便に行うことを可能とする。【解決手段】光学測定装置1を用いた光学測定方法では、近赤外光源10から近赤外光を照射することで、前記被検体5から出射される拡散反射光のスペクトル情報を取得し、前記スペクトル情報に基づいて、神経変性疾患に特異的なタンパク質の前記被検体の体表面における組成比を算出する。近赤外光のスペクトル情報の取得は非侵襲で実施することができるため、被検体における負担を大きく減らすことができ、簡便な評価が可能となる。【選択図】図1
摘要翻译：被一个根据对神经变性疾病特异性蛋白更简单地执行的，以使评价。在通过从近红外光源10照射近红外光用的光学测量装置1中，一种光学测量方法，我们得到的漫反射光的光谱信息被从被检体5射出基于所述频谱信息，它计算在被检者的特定于神经变性疾病体表面蛋白的组成比。这是可能得到的近红外光的光谱信息的非侵入性的进行，可以大大减轻患者的负担，一个简单的评价是可能的。点域1

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