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1. 发明专利

JP2016156777A 分光測定装置审中-公开
标题翻译：光谱测量装置
公开(公告)号：JP2016156777A
公开(公告)日：2016-09-01
申请号：JP2015036558
申请日：2015-02-26
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：石川弘樹 , 木村彰紀
IPC分类号： G01J3/36 , G01N21/27
摘要：【課題】アスペクト比を適切に調整したハイパースペクトル画像を取得可能な分光測定装置を提供する。【解決手段】分光測定装置100によれば、分析部30により、測定対象物3の搬送速度、ハイパースペクトルカメラにおける撮像部20のフレームレート、及び、撮像部20の視野幅の少なくとも1つを制御することで、視野幅方向分解能と搬送方向分解能とを一致させることができる。これにより、アスペクト比を適切に調整したハイパースペクトル画像を取得することができる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够以适当调整的纵横比获取高光谱图像的光谱测量装置。解决方案：使用光谱测量装置100，可以使视场宽度方向和输送方向上的分辨率一致通过在分析单元30中控制传送测量对象3的速度，高光谱相机的成像单元20的帧速率和成像单元20的视野宽度中的至少一个来实现。这允许采用适当调整的高宽比获取高光谱图像。选择图：图1

2. 发明专利

JP2020094925A 品質評価方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020094925A
公开(公告)日：2020-06-18
申请号：JP2018233525
申请日：2018-12-13
申请人：住友電気工業株式会社 , 株式会社サイフューズ , 国立大学法人東海国立大学機構
发明人：本村麻子 , 杉山陽子 , 菅沼寛 , 木村彰紀 , 秋枝静香 , 宮崎雄大 , 加藤竜司 , 渋田真結 , 山本涼平
IPC分类号： C12Q1/04 , G01N21/17
摘要：【課題】細胞塊の発生の経緯によらず、細胞塊の品質をその場の細胞塊の状態に基づいて評価することが可能な品質評価方法を提供する。【解決手段】品質評価方法は、300〜2000nmに含まれる波長を有する測定光を細胞塊に照射して、当該細胞塊内における複数の測定位置のそれぞれに対応する複数の光強度情報を取得する工程と、取得された複数の光強度情報のばらつきを特徴量として生成する工程と、生成された特徴量を指標として細胞塊の品質を評価する工程と、を備える。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2017219479A 微小粒子計測装置及び分析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017219479A
公开(公告)日：2017-12-14
申请号：JP2016115568
申请日：2016-06-09
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：奥野拓也 , 木村彰紀 , 祖川伊知郎 , 菅沼寛
IPC分类号： G01N21/27 , G01N33/48 , G01N15/14 , G01N21/49
CPC分类号： G01N15/14 , G01N21/27 , G01N21/49 , G01N33/48
摘要：【課題】微小粒子に係る分析をより高い精度で行うことが可能な微小粒子計測装置及び微小粒子の分析方法を提供する。【解決手段】微小粒子計測装置1によれば、送液管10内の液体試料Oの移動方向に対して直交する断面に沿って見たときに、送液管10に対して互いに異なる方向に配置された複数の撮像部30A,30Bにより、液体試料O中の微小粒子の透過像が撮像され、分析部40において、当該透過像に基づいて微小粒子に係る分析が行われる。【選択図】図1

4. 发明专利

JPWO2018221430A1 観察容器及び微小粒子計測装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2018221430A1
公开(公告)日：2020-04-09
申请号：JP2018020257
申请日：2018-05-28
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：木村彰紀 , 本村麻子 , 杉山陽子 , 菅沼寛
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/64 , G01B11/24 , G01N15/00 , G01N21/03
摘要：観察容器(10)は、撮像装置となる撮像部(30A),(30B)による撮像の対象となる微小粒子を含む試料としての液体試料Oが収容され、互いに交差する底壁(12A)(第1板部)と底壁(12B)(第2板部)により構成された底部を有し、微小粒子の観察に用いられる光の波長に対して透光性を有する領域を有する。

5. 发明专利

JP2017203637A 腫瘍細胞検出方法及び腫瘍細胞検出装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017203637A
公开(公告)日：2017-11-16
申请号：JP2016093841
申请日：2016-05-09
申请人：住友電気工業株式会社 , 公立大学法人和歌山県立医科大学
发明人：祖川伊知郎 , 木村彰紀 , 洪泰浩
IPC分类号： G01N21/359
CPC分类号： G01N21/359
摘要：【課題】試料に含まれる種々の細胞の中から腫瘍細胞を非接触的に検出することが可能な腫瘍細胞検出方法及び腫瘍細胞検出装置を提供する。【解決手段】腫瘍細胞検出装置1及び腫瘍細胞検出方法によれば、試料に含まれる細胞を測定することにより得られた当該細胞に係る分光スペクトルに基づいて、統計的手法、機械学習又はパターン認識により、当該細胞が腫瘍細胞であるか否かを判定する。したがって、試料に含まれる種類が未知の細胞の中から腫瘍細胞を非接触的に検出することが可能となる。【選択図】図1

6. 发明专利

JPWO2019181803A1 微小粒子計測装置审中-公开
公开(公告)号：JPWO2019181803A1
公开(公告)日：2021-04-08
申请号：JP2019010936
申请日：2019-03-15
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：木村彰紀 , 本村麻子 , 杉山陽子 , 菅沼寛
IPC分类号： G01N21/01 , G01N15/14
摘要：所定の方向に延びる溝(F)を有し、内部に微小粒子を含む液体試料が収容された長尺状の観察容器(10)を当該溝Fに収容することで、溝(F)の延材方向が観察容器(10)の長手方向となるように観察容器(10)を支持する支持台(20)と、支持台(20)に支持された観察容器(10)内の微小粒子を、前記支持台が視野に入らない位置で撮像する撮像部(40)と、を有する。

7. 发明专利

JP2016090476A 異物検出方法审中-公开
标题翻译：外部事件检测方法
公开(公告)号：JP2016090476A
公开(公告)日：2016-05-23
申请号：JP2014227186
申请日：2014-11-07
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：木村彰紀 , 石川弘樹 , 齋藤達彦 , 伊藤真澄
IPC分类号： B07C5/342 , G01N21/85
摘要：【課題】異物又は不良品の検出をより高い精度で行うことを可能とする。【解決手段】光学特性の異なる2つの背景として、系統色が互いに異なる2つの背景を用いて検査を行った場合、一方の背景を用いた場合には背景材料を撮像した画素であると判定されてしまうような異物を撮像した画素に関しても、他方の背景を用いた場合には検査対象物として撮像した画素として判定されるため、検査対象物を撮像した画素に関して確実に良品か否かの検査を行うことができることから、異物又は不良品の検出をより高い精度で行うことが可能となる。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：准确检测异物或有缺陷。解决方案：在使用不同系统颜色的两个背景进行检查的情况下，作为不同光学特性的两个背景，甚至通过成像异物获得的像素被确定为当使用一个背景时将背景材料成像获得的像素被确定为当使用其它背景时对检查对象进行成像而获得的像素。因此，关于通过对检查对象进行摄像而获得的像素，无论对象是否是无缺陷的都可以被确定地进行检查。因此，可以比常规技术更准确地检测异物或缺陷。选择图：图3

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