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    • 6. 发明专利
    • SiC単結晶の製造装置及び当該製造装置を用いるSiC単結晶の製造方法
    • 用于使用所述的制造装置和SiC单晶的制造装置制造的SiC单晶的制造方法
    • JPWO2014192573A1
    • 2017-02-23
    • JP2015519792
    • 2014-05-19
    • 新日鐵住金株式会社トヨタ自動車株式会社
    • 一人 亀井一彦 楠幹尚 加渡寛典 大黒秀光 坂元
    • C30B29/36
    • C30B17/00C30B15/00C30B29/36
    • 単結晶の質を向上させることができるSiC単結晶の製造装置及び当該製造装置を用いる製造方法を提供する。本発明の実施の形態によるSiC単結晶の製造装置(10)は、溶液成長法によるSiC単結晶の製造に用いられる。製造装置(10)は、坩堝(14)と、支持軸(24)とを備える。坩堝(14)には、Si−C溶液(15)が収容される。支持軸(24)は、坩堝(14)を支持する。支持軸(24)は、坩堝(14)の底部(14B)を抜熱する抜熱部を備える。抜熱部は、(a)底部(14B)の熱伝導率以上の熱伝導率を有し、且つ、底部(14B)の少なくとも一部に接触する接触部(34)と、(b)接触部(34)又は底部(14B)の少なくとも一部に接する空間部との何れかを含む。
    • 提供使用该制造装置和SiC单晶的制造装置,可以提高单晶的质量的制造方法。 用于制造根据本发明的一个实施例的SiC单晶的装置(10)用于通过溶液生长法的制造SiC单晶的。 制造装置(10)包括坩埚(14),支承轴和(24)。 坩埚(14),的Si-C溶液(15)被容纳。 支承轴(24)支撑该坩埚(14)。 支承轴(24)包括一个排热部以除去热坩埚(14)和(14B)的底部。 热提取单元中,(a)具有比(14B)的热导率的底部的热导率,和接触部的至少底部(14B)的一部分,并且(34)接触,(b)中的接触部分 包括接触(图14B)(34)的至少一部分或底部的空间部中的一个。
    • 7. 发明专利
    • SiC単結晶の製造方法
    • 一种制造SiC单晶的方法
    • JPWO2013065204A1
    • 2015-04-02
    • JP2013541584
    • 2011-12-09
    • トヨタ自動車株式会社新日鐵住金株式会社
    • 幹尚 加渡幹尚 加渡寛典 大黒寛典 大黒楠 一彦一彦 楠
    • C30B29/36
    • C30B15/22C30B15/02C30B19/04C30B29/36
    • 溶液法によりSiC単結晶を成長させる際に、均一な単結晶成長が持続できる平坦成長を維持しつつ、高い生産性を実現するために必要な成長速度の向上を達成できるSiC単結晶の製造方法を提供する。坩堝内でCのSi溶液からSiC単結晶を成長させる方法であって、成長しつつあるSiC単結晶とSi溶液との成長界面におけるSi溶液中のCの過飽和度を、平坦成長が維持できる上限の臨界値より高く維持して成長を進行させる高過飽和度成長期と、上記過飽和度を上記臨界値より低く維持して成長を進行させる低過飽和度成長期とを、交互に繰り返すことを特徴とするSiC単結晶の製造方法。
    • 当生长用溶液法的SiC单晶,同时保持平坦生长均匀的单晶生长能够持续,SiC单晶的制造方法,可以实现,以实现高生产率需要改善的生长速率 提供。 在坩埚中由C生长SiC单晶于Si溶液的方法,在SiC单晶和Si溶液之间的生长界面的Si溶液一个C过饱和生长,可维持扁平增长极限 高过饱和度增长期的推进上述重复过饱和度和低的过饱和度增长期提前生长的特征的临界值维持生长和保持低于临界值时,交替地 一种制造SiC单晶的方法是。