专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP2014229911A アイソレーションＤＣ・ＤＣスイッチング電源审中-公开
标题翻译：隔离DC / DC开关电源
公开(公告)号：JP2014229911A
公开(公告)日：2014-12-08
申请号：JP2014108347
申请日：2014-05-26
申请人：ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc. , Keithley Instruments Inc , ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc.
发明人： WAYNE C GOEKE , JOHN C GIBBONS
IPC分类号： H01F27/36 , H01B11/18 , H01F27/28 , H01F27/34 , H01F30/00 , H02M3/28
CPC分类号： H01F27/362 , H01F27/288 , H01F2027/2833
摘要：【課題】アイソレーションDC・DCスイッチング電源のノイズを低減する。【解決手段】アイソレーションDC・DCスイッチング電源がアイソレーション・トランスを含み、これは、磁気コアと、磁気コアの周りの第1巻線と、磁気コアの周りの第1巻線シールドと、第1巻線シールド内の第2巻線シールドと、第2巻線シールド内の第2巻線とを含んでいる。第2巻線が第2巻線シールド内に包含され、第2巻線シールドは上記第1巻線シールド内に包含されるので、第1巻線と第2巻線との間に直接に結合がない。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：减少隔离DC / DC开关电源的噪声。解决方案：隔离DC / DC开关电源包括隔离变压器，包括磁芯，围绕磁芯的第一绕组，围绕磁芯的第一绕组屏蔽磁芯，第一绕组屏蔽中的第二绕组屏蔽和第二绕组屏蔽中的第二绕组。由于第二绕组包括在第二绕组屏蔽中，并且第二绕组屏蔽包括在第一绕组屏蔽中，所以在第一绕组和第二绕组之间不存在直接耦合。

2. 发明专利

JP2014236513A 測定装置审中-公开
标题翻译：测量工具
公开(公告)号：JP2014236513A
公开(公告)日：2014-12-15
申请号：JP2014112798
申请日：2014-05-30
申请人：ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc. , Keithley Instruments Inc , ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc.
发明人： WAYNE C GOEKE
IPC分类号： H03F3/34
CPC分类号： H03F3/45 , H03F1/303 , H03F3/38 , H03F3/45475
摘要：【課題】演算増幅器及び減衰回路のオフセット電圧VOSと、熱電圧VT1を相殺し、ノイズを低減する。【解決手段】演算増幅器Aには、第1入力端子(+)、第2入力端子(−)、出力電圧VOUTを供給する出力端子がある。演算増幅器Aの出力端子とグラウンドの間には、直列の第1及び第2抵抗器R1及びR2がある。スイッチ302〜306は、正フェーズと負フェーズの間で増幅回路を切り換える。スイッチ302〜306を切り換えると、入力電圧VINが反転し、これが抵抗器R1に印加される一方で、VOS及びVT1は反転しない。両フェーズそれぞれの出力電圧を測定回路で測定し、これら第1及び第2測定値の差を平均することで、出力電圧を定める。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：通过消除运算放大器和衰减电路的偏移电压Vand热电压V来降低噪声。解决方案：运算放大器A具有第一输入端（+），第二输入端（ - ）和输出端子提供输出电压V.在运算放大器A的输出端和地之间，存在第一和第二电阻器Rand R的串联连接。开关302-306在正相和负相之间切换放大器电路。当开关302-306切换时，输入电压Vis反相并施加到电阻R，但Vand Vare不反转。通过测量电路测量两相的输出电压，通过对这些第一和第二测量值之间的差进行平均来确定输出电压。

3. 发明专利

JP2015005751A 印刷回路基板アイランド及びその設置方法审中-公开
标题翻译：印刷电路板岛及其安装方法
公开(公告)号：JP2015005751A
公开(公告)日：2015-01-08
申请号：JP2014126444
申请日：2014-06-19
申请人：ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc. , Keithley Instruments Inc , ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc.
发明人： JAMES A NIEMANN , GREGORY SOBOLEWSKI , MARTIN J RICE , WAYNE GOEKE
IPC分类号： H05K1/02
CPC分类号： H05K1/0213 , H05K1/0225 , H05K1/0256 , H05K1/142 , H05K1/145 , H05K3/306 , H05K3/4038 , H05K3/4697 , H05K2201/0792 , H05K2201/09063 , H05K2201/093 , H05K2201/09618 , H05K2201/0969 , H05K2201/09981 , Y10T29/49139
摘要：【課題】回路基板アイランドの誘電吸収を少なくする。【解決手段】PCB300上にコンポーネント接続領域(アイランド)302と、これをほぼ囲む開口304と、開口304を横断してコンポーネント接続領域302をPCB300へ接続する低漏洩コンポーネント306及び308と、ガード314とを含む。コンポーネント接続領域302には、その上面を覆う第1導体310と、その底面を覆う第2導体を含む。ガードは、PCBの上面で開口を囲む第3導体と、PCBの底面上で開口を囲む第4導体とから構成される。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：为了减少电路板岛的电介质吸收。解决方案：印刷电路板岛包括：部件连接区域（岛）302; 基本上包围部件连接区域302的开口304; 穿过开口304并将部件连接区域302与印刷电路板300连接的低泄漏部件306和308; 以及印刷电路板300上的引导件314.部件连接区域302包括：覆盖部件连接区域302的上表面的第一导体310; 以及覆盖部件连接区域302的底表面的第二导体。防护件包括：在印刷电路板的上表面上包围开口的第三导体; 以及在印刷电路板的底表面上包围开口的第四导体。

4. 发明专利

JP2014207856A 電圧供給システム审中-公开
标题翻译：电压供应系统
公开(公告)号：JP2014207856A
公开(公告)日：2014-10-30
申请号：JP2014082733
申请日：2014-04-14
申请人：ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc. , Keithley Instruments Inc , ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc.
发明人： KEVIN CAWLEY , WAYNE GOEKE , GREGORY SOBOLEWSKI
IPC分类号： H02J1/00 , G05F1/10
CPC分类号： G05F1/575 , G01R31/31721 , H04M1/24
摘要：【課題】DUTに接続されるケーブルのインダクタンスに影響されずに、DUTに電力を供給できるようにする。【解決手段】DUT202には、DUT電圧VDUTが生じる。DUT202にはケーブルが接続され、このケーブルには、ケーブル・インダクタンス204がある。電力供給装置は、DUT202に供給される広帯域幅の電圧を供給する電圧制御電流源206として構成される。差動増幅器208は、DUT電圧VDUTを検出し、設定電圧VSETと合算されて、電圧制御電流源206の制御電圧VERRを生成する。これによれば、DUT電圧VDUTは、ケーブル・インダクタンス204に依存しないようになる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：独立于连接到DUT的电缆的电感为DUT提供电源。解决方案：DUT 202具有DUT电压V.电缆连接到DUT 202，电缆具有电缆电感204 电源被配置为用于提供提供给DUT 202的宽带宽电压的电压控制电流源206.差分放大器208检测DUT电压V，其被添加到设定电压V以产生控制电压V 电压控制电流源206.因此DUT电压Vis独立于电缆电感204。

5. 发明专利

JP2016070932A 試験システム及び方法审中-公开
标题翻译：测试系统和方法
公开(公告)号：JP2016070932A
公开(公告)日：2016-05-09
申请号：JP2015186548
申请日：2015-09-24
申请人：ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッド , Keithley Instruments,Inc.
发明人：ウェイン・シー・ゲーク , グレゴリー・ソボルースキ
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/0416 , G01R27/28 , G01R31/24 , G01R31/2822 , G01R31/2889 , G01R31/06 , G01R31/18 , G01R31/2607
摘要：【課題】試験機器及びDUTの間の2ケーブル相互接続システムを改善する。【解決手段】1対の等しい長さの3軸ケーブル110及び120の各々は、所望の特性インピーダンスを有する。各ケーブルは、中心コネクタ、中間導体及び外側導体を有する。各ケーブルの近い端部は、試験機器100に接続され、遠い端部は、DUT130に配置される。遠い端部にて、中心導体がDUT130に接続され、中間導体がフロート可能となり、外側導体が互いに接続される。実行する試験用に適する接続を用いて、各ケーブルの近い端部を機器100に接続する。これにより、試験機器100は、DUT130への接続を変更することなく、異なる形式の試験を実行できる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于将测试仪器连接到DUT的改进的双电缆连接系统。解决方案：一对等长三轴电缆110,120各自具有期望的特性阻抗。每个电缆都有一个中心连接器，中间导体和外部导体。每个电缆的近端连接到测试仪器100，其远端位于DUT 130处。在远端处，中心导体连接到DUT 130，允许中间导体浮动，并且外导体彼此连接。每个电缆的近端使用适当的连接连接到测试仪器100以进行测试。这允许测试仪器100执行不同类型的测试，而不改变与DUT 130的连接。选择的图示：图1

6. 发明专利

JP2014145758A Impedance source circuit and impedance source circuit providing method 审中-公开
标题翻译：阻抗源电路和阻抗源电路提供方法
公开(公告)号：JP2014145758A
公开(公告)日：2014-08-14
申请号：JP2013220135
申请日：2013-10-23
申请人： Keithley Instruments Inc , ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc.
发明人： JAMES A NIEMANN
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2839 , G01R1/203 , G01R15/12
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To change SMU(Source Measurement Unit) source impedance so as to ensure coincidence with variation DUT impedance.SOLUTION: The impedance source circuit of an SMU 70 includes a voltage source 72. Electrically controlled variable resistance having a control input is configured to adjust variable resistance connected to a DUT. A loop gain control unit is connected to the control input of the electrically controlled variable resistance. The loop gain control unit is configured to drive the control input of the electrically controlled variable resistance, and to adjust the variable resistance so as to ensure approximate coincidence with the impedance of the DUT. The impedance source circuit may include a voltage detector configured to detect both-end voltages of the DUT and a voltage reference. The loop gain control unit may be configured to drive the control input of the electrically controlled variable resistance on the basis of the voltages detected at both ends of the DUT and the voltage reference.
摘要翻译：要解决的问题：改变SMU（源测量单元）源阻抗，以确保与变形DUT阻抗一致。解决方案：SMU 70的阻抗源电路包括电压源72.具有控制输入的电控可变电阻为配置为调整连接到DUT的可变电阻。环路增益控制单元连接到电控可变电阻的控制输入端。环路增益控制单元被配置为驱动电控可变电阻的控制输入，并且调整可变电阻以确保与DUT的阻抗近似一致。阻抗源电路可以包括被配置为检测DUT的两端电压和电压基准的电压检测器。环路增益控制单元可以被配置为基于在DUT的两端检测的电压和电压基准来驱动电控可变电阻的控制输入。

7. 发明专利

JP2018007258A 電流電圧変換回路审中-公开
公开(公告)号：JP2018007258A
公开(公告)日：2018-01-11
申请号：JP2017129760
申请日：2017-06-30
申请人：ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッド , Keithley Instruments,Inc.
发明人：ウェイン・シー・ゴーク
IPC分类号： H03F1/56 , H03F3/68 , H03F1/34 , H03F1/42
CPC分类号： G01R15/146 , G01R1/203 , G01R19/0023 , G01R19/0092 , H03F3/45475 , H03F2200/261 , H03F2203/45138
摘要：【課題】より小さな入力シンピーダンスを実現する。【解決手段】アクティブ・シャント型電流電圧変換回路404が、別のアクティブ・シャント型電流電圧変換回路402を、そのフィードバック抵抗として利用する。もし回路402及び404の夫々のループ利得が100なら、回路402中の電流検出抵抗R S は、入力信号に対して、R S /(100×100)であるように見え、入力インピーダンスZ in が非常に小さくなる。【選択図】図4

8. 发明专利

JP2016148663A 接続インタフェース、試験測定システム及び接続指示方法审中-公开
标题翻译：连接接口，测试测量系统和连接指导方法
公开(公告)号：JP2016148663A
公开(公告)日：2016-08-18
申请号：JP2016023991
申请日：2016-02-10
申请人：ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッド , Keithley Instruments,Inc.
发明人：マイケル・ディ・レイマン , グレゴリー・ソボレウスキ
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/025 , G01R1/0416 , G01R31/2844 , G01R31/31926
摘要：【課題】試験測定装置とDUTが離れていても、これらの間の接続を適切に行えるようにする。【解決手段】接続インタフェース100には、試験測定装置に接続される装置コネクタ130と、DUTと接続されるDUTコネクタ140とがあり、信号ルーティング回路150を介して、装置コネクタ130とDUTコネクタ140との間に電気的パスが形成される。表示装置110の第1領域は、DUTコネクタ140と視覚的に関連づけされ、DUT上の特定接続ポイントに関する情報を表示する。表示装置110の第2領域は、装置コネクタ130と視覚的に関連づけされ、ホスト試験測定装置に関する情報や、DUTに実施される測定の名前に関する情報を表示する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：即使当两个组件彼此分离时，也可以适当地连接测试测量装置和DUT。解决方案：连接接口100包括连接到测试测量装置的设备连接器130和连接到DUT的DUT连接器140，以及经由信号路由电路150在设备连接器130和DUT连接器140之间形成电路径。显示设备110包括与DUT连接器可视地相关联的第一区域 140，并显示DUT上的特定连接点的信息。显示装置110包括与设备连接器130可视地相关联的第二区域，并且显示关于主机测试测量设备的信息以及关于在DUT上执行的测量名称的信息。图1

9. 发明专利

JP2016103820A データ・サンプル生成方法审中-公开
标题翻译：数据样本生成方法
公开(公告)号：JP2016103820A
公开(公告)日：2016-06-02
申请号：JP2015224158
申请日：2015-11-16
申请人：ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッド , Keithley Instruments,Inc.
发明人：ウェイン・シー・ゴーク , ブライアン・ピー・フラッケルトン , ベンジャミン・ジェイ・ユーリッチ
IPC分类号： H03M1/12
CPC分类号： H03M1/20 , G01R13/02 , H03M1/0634 , H03M1/0658 , H03M1/1245 , G01R13/0254 , G01R13/0272 , H03M1/12 , H03M1/121 , H03M1/1265
摘要：【課題】サンプル・データをもっと正確に生成する。【解決手段】サンプル・データを生成する方法、これは、要求されたサンプル処理期間が増加したときに、ADCの最大サンプル数が、そのサンプル期間に渡って等間隔となるようにして、各サンプルを増加させたADCサンプル数の平均とする。この方法は、サンプル処理期間が増加したときにサンプルされるデータの品質を更に向上させるために、解像度対速度の能力が異なる複数のADCから1つを選択する処理を含む。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：更准确地产生采样数据。解决方案：在生成采样数据的方法中，当所需的采样处理周期增加时，对于超过采样，以等间隔对准的ADC的最大采样数周期作为通过增加每个样本获得的ADC样本数的平均值。该方法包括从分辨率不同的多个ADC中选择速度的处理，以便在样本处理期间增加时进一步提高采样数据的质量。图1

10. 发明专利

JP2013096998A Dc-ac probe card 有权
标题翻译：直流交流探头卡
公开(公告)号：JP2013096998A
公开(公告)日：2013-05-20
申请号：JP2012242704
申请日：2012-11-02
申请人： Keithley Instruments Inc , ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッドKeithley Instruments,Inc.
发明人： WAYNE C GOEKE , WILLIAM KNAUER
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/06766 , G01R1/00 , G01R1/073 , G01R1/18 , G01R3/00 , G01R31/31926
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a loss and reflection of an AC signal to be measured.SOLUTION: A DC-AC probe card 20 has probe needles 26 and 31, and the probe needles respectively have a terminal in contact with a DUT. Connection paths 24 and 30 can be used to connect test instrumentations 22 and 28 to the probe needles 26 and 31. The connection paths 24 and 30 respectively provide both a desired characteristic impedance suitable for AC measurement and a guarded path suitable for DC measurement between respective corresponding test instrumentations 22 and 28, and the probe needles 26 and 31.

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式