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1. 发明专利

KR102223026B1 KR102223026B1 - Digital melti-meter capable of multifarious measurement 有权
公开(公告)号：KR102223026B1
公开(公告)日：2021-03-08
申请号：KR1020190013363A
申请日：2019-02-01
申请人： 와이테크 주식회사
发明人： 김용만
IPC分类号： G01R15/12 , G01R1/067 , G01R13/02 , G08C17/02
CPC分类号： G01R15/125 , G01R1/067 , G01R1/06788 , G01R13/02 , G01R15/12 , G08C17/02
摘要： 본 발명은 전기,전자 제품에 인가된 전압, 전류, 위상 및 주파수 신호 등 다양한 종류의 전기값은 물론 전선 길이와 저항 등의 물리적 특성도 계측할 수 있는 디지털 멀티미터에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 계측하고자 하는 전기값의 종류와 전기,전자 제품의 종류 등에 맞춰서 작업자가 계측대상과 접하는 탐침 부분을 교체하면 멀티미터에 대한 별다른 조작 없이도 사용자가 원하는 계측대상의 전기값을 정확히 계측할 수 있는 다종 계측이 가능한 디지털 멀티미터에 관한 것으로, 계측대상과 접하며 전기신호를 수신하는 수집단과; 상기 수집단으로부터 전달된 전기신호가 계측 종류에 따라 지정된 채널 경로로 통전하여 출력되도록 배열된 연결단자를 갖춘 접속단;으로 된 헤드, 및 상기 접속단과 탈착 가능하게 결합하고, 상기 헤드의 종류에 따라 서로 다르게 배열된 연결단자 모두와 접속이 가능하도록 구성된 어댑터 단자를 갖추며, 상기 전기신호가 수신된 어댑터 단자에 대한 식별신호를 발신하는 커넥터와; 상기 커넥터에 수신된 전기신호의 유형을 인식하는 체크모듈과; 제어신호에 따라 상기 전기신호의 통전 채널을 스위칭하는 스위치와; 상기 스위치로부터 수신된 전기신호를 해당 통전 채널에 대응하는 전기값으로 계측하는 DMM(Digital Multi Meter)과; 상기 커넥터의 식별신호와 체크모듈이 인식한 전기 유형을 각각 확인해서 스위치에 제어신호를 발신하고, 상기 DMM에서 계측한 전기값을 수신해 출력시키는 컨트롤러;로 구성된 프로브를 포함한다.

2. 发明专利

JPWO2016088173A1 地域特性表示装置および地域特性表示装置の制御方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2016088173A1
公开(公告)日：2017-04-27
申请号：JP2016514178
申请日：2014-12-01
申请人：東京電力ホールディングス株式会社
发明人：保卯月 , 保卯月 , 進也飯島 , 進也飯島 , 康広木下 , 康広木下 , 充昭大原 , 充昭大原 , 透雄郡 , 透雄郡 , 大介山口 , 大介山口
IPC分类号： G08B21/18
CPC分类号： G06T11/206 , G01R13/02 , G01R31/085 , G01R31/088 , G05B17/00
摘要：この地域特性表示装置は、屋外に設置された設備の状態、および位置を認識可能な情報の入力を受け付ける入力部と、入力部に対して入力された状態および位置を認識可能な情報と、地域特性のデータとに基づいて、状態の分布を地域特性のデータと合わせて地図に重畳させて表示部に表示させる表示制御部と、を備える。

3. 发明专利

JP2016103820A データ・サンプル生成方法审中-公开
标题翻译：数据样本生成方法
公开(公告)号：JP2016103820A
公开(公告)日：2016-06-02
申请号：JP2015224158
申请日：2015-11-16
申请人：ケースレー・インスツルメンツ・インコーポレイテッド , Keithley Instruments,Inc.
发明人：ウェイン・シー・ゴーク , ブライアン・ピー・フラッケルトン , ベンジャミン・ジェイ・ユーリッチ
IPC分类号： H03M1/12
CPC分类号： H03M1/20 , G01R13/02 , H03M1/0634 , H03M1/0658 , H03M1/1245 , G01R13/0254 , G01R13/0272 , H03M1/12 , H03M1/121 , H03M1/1265
摘要：【課題】サンプル・データをもっと正確に生成する。【解決手段】サンプル・データを生成する方法、これは、要求されたサンプル処理期間が増加したときに、ADCの最大サンプル数が、そのサンプル期間に渡って等間隔となるようにして、各サンプルを増加させたADCサンプル数の平均とする。この方法は、サンプル処理期間が増加したときにサンプルされるデータの品質を更に向上させるために、解像度対速度の能力が異なる複数のADCから1つを選択する処理を含む。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：更准确地产生采样数据。解决方案：在生成采样数据的方法中，当所需的采样处理周期增加时，对于超过采样，以等间隔对准的ADC的最大采样数周期作为通过增加每个样本获得的ADC样本数的平均值。该方法包括从分辨率不同的多个ADC中选择速度的处理，以便在样本处理期间增加时进一步提高采样数据的质量。图1

4. 发明专利

JP5523394B2 Calibration method of oscilloscope 有权
公开(公告)号：JP5523394B2
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：JP2011119166
申请日：2011-05-27
申请人：テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc.
发明人：ジョン・ジェー・ピッカード , カン・タン
IPC分类号： G01R13/20 , G01R35/00
CPC分类号： G01R13/0272 , G01R13/02

5. 发明专利

JP2014035247A Waveform display device 有权
标题翻译：波形显示设备
公开(公告)号：JP2014035247A
公开(公告)日：2014-02-24
申请号：JP2012176081
申请日：2012-08-08
申请人： Yokogawa Electric Corp , 横河電機株式会社
发明人： IKETSUKI YUYA , YAMASHITA TAKASHI
IPC分类号： G01D7/00 , G01R13/20
CPC分类号： G06T11/206 , G01R13/02 , G01R13/029
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To intuitively grasp a correspondence relation between a waveform and a value without impairing operability in a waveform display device.SOLUTION: A waveform display device for displaying waveforms on a display unit displays a scale plate having calibrations corresponding to values of waveforms, in an area where waveforms are displayed, on the display unit with a movable time axis, and displays values of waveforms at intersection points between one side of the scale plate and waveforms on the display unit. The scale plate is preferably translucent so that waveforms overlapping with the scale plate are visible.
摘要翻译：要解决的问题：直观地掌握波形和值之间的对应关系而不损害波形显示装置中的可操作性。解决方案：用于在显示单元上显示波形的波形显示装置显示具有对应于波形值的校准的标尺在具有可移动时间轴的显示单元上显示波形的区域，并且在显示单元上显示刻度盘的一侧和波形之间的交点处的波形的值。刻度盘优选是半透明的，使得与刻度板重叠的波形是可见的。

6. 发明专利

JP2010096756A Method and test measurement instrument of switching of waveform display style 有权
标题翻译：波形显示方式切换的方法和测试测量仪器
公开(公告)号：JP2010096756A
公开(公告)日：2010-04-30
申请号：JP2009222919
申请日：2009-09-28
申请人： Tektronix Inc , テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc.
发明人： MARTIN GREGORY A , FARRELL DAVID D , DICKINSON EVAN A
IPC分类号： G01R13/20
CPC分类号： G01R13/02 , G01R13/0227 , G06T11/203 , G09G5/02
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To display in the best manner the display style of filtered waveform (waveform without noise) and display style of unfiltered waveform (waveform capable of catching glitches) on an oscilloscope.
SOLUTION: An electrical signal is brought in step 900. The peak detect data samples from the electrical signal are stored in one or more memory devices in step 910. Filtered data samples or unfiltered data from the electrical signal are stored in one or more memory devices in step 920. Automatic switching is implemented to a first waveform display style, having the peak detect data samples configured in a first mode in step 940 when the unfiltered data are selected in step 930. Automatic switching is implemented to a second waveform display style having the peak detect data samples configured in a second mode, when the filtered data samples are selected in step 930 and step 950.
COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：在示波器上以最佳方式显示滤波波形（无噪声波形）的显示风格和未滤波波形（波形能够捕捉毛刺）的显示风格。解决方案：在步骤900中引入电信号。在步骤910中将来自电信号的峰值检测数据样本存储在一个或多个存储器装置中。来自电信号的滤波数据样本或未滤波数据被存储在一个或多个在步骤920中更多的存储器设备。当在步骤930中选择未过滤的数据时，自动切换被实现为第一波形显示样式，其具有在步骤940中以第一模式配置的峰值检测数据样本。自动切换被实现到第二波形在步骤930和步骤950中选择滤波后的数据样本时，具有以第二模式配置的峰值检测数据样本的显示样式。（C）2010，JPO＆INPIT

9. 发明专利

JP2004514146A Processing web editor for data processing in the digital oscilloscope or similar equipment 有权
公开(公告)号：JP2004514146A
公开(公告)日：2004-05-13
申请号：JP2002542964
申请日：2001-11-16
申请人：レクロイコーポレイション
发明人：カンピシュ，ティエリー , ケイク，アンソニー , サラント，ローレンス　スティーヴン
IPC分类号： G01R13/20 , G01R13/02 , G01R13/34 , G01R19/25 , G05B15/02 , G06F9/445
CPC分类号： G06F9/44505 , G01R13/02 , G01R13/029 , G01R13/345 , G01R19/2506 , G05B15/02 , H04N21/47202 , H04N21/8173
摘要：機器の処理ウエッブのグラフィック表示を生成するための方法及び装置。方法は、処理ウエッブの第１の処理要素を決定するステップ並びに、第１の処理要素を、処理ウエッブにおける第１の処理要素の位置及び第１の処理要素への様々な入力と第１の処理要素からの様々な出力に少なくともある程度は基づく特定の位置に配するステップを含む。方法は、処理ウエッブの第２の処理要素を決定するステップ並びに、第２の処理要素を、処理ウエッブにおける第２の処理要素の位置、第２の処理要素への様々な入力と第２の処理要素からの様々な出力及び第２の処理要素と第１の処理要素との間の関係に少なくともある程度は基づく特定の位置に配するステップをさらに含む。第１の処理要素の少なくとも１つのピンが第２の処理要素の少なくとも１つのピンに接続される。

10. 发明专利

JP2018179993A 試験測定装置及び信号アクイジション方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018179993A
公开(公告)日：2018-11-15
申请号：JP2018078621
申请日：2018-04-16
申请人：テクトロニクス・インコーポレイテッド , TEKTRONIX,INC.
发明人：デイビッド・エイ・ホラデイ , ジョシュア・ジェイ・オブライエン
IPC分类号： G01R13/20
CPC分类号： G01R13/0254 , G01R13/02 , G01R13/0272 , G01R13/20 , G01R13/34 , G01R13/345 , G11C27/02 , G11C29/52 , G11C29/56
摘要：【課題】信号中の関心のある部分を効果的に取り込む。【解決手段】試験測定装置には、アナログ信号を受ける入力部と、アナログ信号に対応するデジタルサンプルXiを生成するサンプラと、サンプルの一部分を記憶するバッファと、バッファからのサンプルを記憶するアクイジション・メモリと、第1サンプルX 0 を使って垂直レンジX 0 +オフセット1又はX 0 −オフセット2を規定する複数の比較器とがあり、コントローラは、バッファ中の各サンプルXiがある期間中に垂直レンジの外へ遷移するかを判断する。もしサンプルX N が上記期間中に垂直レンジの外へ遷移すると、バッファされたサンプルX 0 、…、X N は、218でアクイジション・メモリへ移動する。もし違うなら、バッファされたサンプルは、208で破棄される。【選択図】図2

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