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2. 发明专利

JP4170918B2 Jitter tolerance diagnostic methods and jitter tolerance diagnostic equipment 有权
公开(公告)号：JP4170918B2
公开(公告)日：2008-10-22
申请号：JP2003566570
申请日：2002-02-06
申请人：富士通株式会社
发明人：学佐々木
IPC分类号： G01R31/30 , G01R31/00 , G01R31/28 , G01R31/317 , G01R31/3183 , H04L1/20
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R31/2882 , G01R31/31725 , H04L1/205

3. 发明专利

JPWO2016035131A1 遮断器特性監視装置有权
公开(公告)号：JPWO2016035131A1
公开(公告)日：2017-04-27
申请号：JP2015517300
申请日：2014-09-02
申请人：三菱電機株式会社
发明人：秀一谷垣 , 秀一谷垣 , 森　智仁 , 智仁森 , 綾山本 , 綾山本
IPC分类号： H01H33/00
CPC分类号： H01H71/04 , G01R31/2882 , G01R31/3277 , H01H1/0015 , H01H71/24 , H01H2071/044 , H01H2300/052
摘要：本発明は、遮断器の動作を監視して遮断器が備えている可動接触子(31)および固定接触子(32)の消耗量を推定する遮断器特性監視装置(1)であって、遮断器が閉極動作を開始してから閉極するまでの所要時間である閉極時間および遮断器が開極動作を開始してから開極するまでの所要時間である開極時間の少なくともいずれか一方を計測する動作時間計測部(11)と、動作時間計測部(11)における計測結果と、計測結果が得られた閉極動作または開極動作における可動接触子(31)の移動速度に基づいて、可動接触子(31)および固定接触子(32)の消耗量を推定する接触子消耗量推定部(12)と、を備える。

4. 发明专利

JP2016090572A 較正ボード及びタイミング較正方法有权
标题翻译：校准板和时序校准方法
公开(公告)号：JP2016090572A
公开(公告)日：2016-05-23
申请号：JP2015206281
申请日：2015-10-20
申请人：致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
发明人：陳厚君 , 林士聞 , 朱慶華 , 鄭柏凱
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66 , G01R31/28
CPC分类号： G01R35/005 , G01R31/2834 , G01R31/2882
摘要：【課題】試験されるべき半導体構成要素を試験する前に、機能ボードと試験されるべき半導体構成要素のピンとの間の信号遅延を較正する較正ボードとそのタイミング較正方法を提供すること。【解決手段】自動試験装置における試験チャネルの信号遅延を較正する較正ボードは、自動試験装置にプラグ着脱可能に配置され、較正グループ、第1の共通ノード、及び切替モジュール310を含む。各較正グループは、第2の共通ノード及び第2の共通ノードに電気的に接続される導電性パッドを含む。各導電性パッドは、選択的に一つの試験チャネルと電気的に接続される。切替モジュールは、第1の共通ノード及び各第2の共通ノードに電気的に接続される。第1の遅延較正手順が実行されると、第1の共通ノードと各第2の共通ノードとの間の接続が切断される。第2の較正手順が実行されると、第1の共通ノードと各第2の共通ノードの間で接続が構築される。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供校准板和定时校准方法，其在半导体构成要测试的元件之前校准功能板和半导体的引脚之间的信号延迟构成要测试的元件。解决方案：校准校准自动测试装置中的测试通道的信号延迟的板以能够附接/拆卸插头的方式布置在自动测试装置中，并且包括：校准组; 第一个公共节点; 和切换模块310.每个校准组包括：第二公共节点; 以及电连接到第二公共节点的导电焊盘。每个导电焊盘选择性地和电连接到一个测试通道。转换模块电连接到第一共模和第二共模。当执行第一延迟校准过程时，第一公共节点和每个第二公共节点之间的连接被切断。当执行第二校准过程时，建立第一公共节点和每个第二公共节点之间的连接。选择图：图2

5. 发明专利

JPWO2010150304A1 位相検出装置、試験装置および調整方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2010150304A1
公开(公告)日：2012-12-06
申请号：JP2010511845
申请日：2009-06-22
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：清隆一山 , 清隆一山
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/2882
摘要：信号間の位相差を検出する位相検出装置であって、第1入力信号に対して第2入力信号を設定値に応じて順次遅延させ、入力信号間の相対位相を変化させる毎に、第1入力信号および第2入力信号の位相を比較する位相比較部と、位相比較部における信号の遅延量を予め調整する遅延調整部とを備え、遅延調整部は、第1調整信号、および、第1調整信号の周期より設定値に応じた値だけ周期の小さい第2調整信号を生成し、第1調整信号を第1入力信号、第2調整信号を第2入力信号として位相比較部に入力する信号生成部と、第1調整信号および第2調整信号に対する位相比較部での位相比較結果に基づいて、位相比較部における位相の遅延量を調整する調整部とを有する位相検出装置を提供する。

6. 发明专利

JP4861717B2 Test equipment, and test method 有权
公开(公告)号：JP4861717B2
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：JP2006035588
申请日：2006-02-13
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：マニソーマ， , 隆弘山口 , 雅裕石田
IPC分类号： G01R31/30 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R31/2882 , G01R31/31716

7. 发明专利

JP4016034B2 Auto range setting function with pulse width measurement device 有权
公开(公告)号：JP4016034B2
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：JP2004570844
申请日：2003-04-10
申请人：富士通株式会社
发明人：聡松井
IPC分类号： G01R29/02 , G01R31/28 , G01R31/317 , G01R31/3193
CPC分类号： G01R29/02 , G01R31/2882 , G01R31/31725 , G01R31/31937

9. 发明专利

JP6192698B2 較正ボード及びタイミング較正方法有权
公开(公告)号：JP6192698B2
公开(公告)日：2017-09-06
申请号：JP2015206281
申请日：2015-10-20
申请人：致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
发明人：陳厚君 , 林士聞 , 朱慶華 , 鄭柏凱
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R35/005 , G01R31/2834 , G01R31/2882

10. 发明专利

JP2017517873A 集積回路の動的な経年変化除去审中-公开
公开(公告)号：JP2017517873A
公开(公告)日：2017-06-29
申请号：JP2016560003
申请日：2015-03-04
申请人：クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated , クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated
发明人：リウ、ジョナサン , イブラヒモビク、ジャスミン・スマイラ , ディフェンダーファー、ジャン・クリスチャン , アウヨン、カルロス
IPC分类号： H01L21/822 , H01L27/04 , H03K3/011
CPC分类号： G05B11/01 , G01R31/2882 , G01R31/31725 , H03K3/012 , H03K3/0315 , H03K5/01 , H03K19/00384 , H03K2005/00013 , Y10T307/852
摘要：集積回路は、経年変化センサで経年変化を測定することにより回路の経年変化に対して動的に補償する。経年変化センサは、経年変化した及び経年変化していない両方の条件において回路の速度を図るために同じ回路を使用する。例示的な経年変化センサは、2つのディレイラインを含む。ディレイラインは、静的な経年変化状態にあるように制御され、あるいは、ディレイラインは、経年変化によって周波数が遅くされた経年変化した状態において、又は経年変化によって周波数が遅くされない経年変化していない状態において、動作できるリングオッシレータを形成するために結合される。集積回路は、動的な電圧及び周波数調整のために経年変化の測定を使用する。動的な電圧及び周波数調整は、経年変化の測定に基づいて周期的に更新される動作周波数及び対応する電圧のテーブルを使用する。集積回路は、テーブルを更新するために、経年変化の測定と回路性能との間の関係についての情報を使用する。

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