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    • 1. 发明公开
      EP3280054A2 ANALOG-TO-DIGITAL CONVERSION WITH LINEARITY CALIBRATION 审中-公开
    • ANALOG-TO-DIGITAL CONVERSION WITH LINEARITY CALIBRATION
    • 线性校准的模拟 - 数字转换
    • EP3280054A2
    • 2018-02-07
    • EP17163286.2
    • 2017-03-28
    • NXP USA, Inc.
    • Kunnen, George Rogers , Lancaster, Mark Allen
    • H03M1/06 , H03M1/10 , H03M1/12
    • H03M1/1042 , H03M1/0678 , H03M1/1004 , H03M1/12 , H03M1/121 , H03M1/123 , H03M1/60
    • The embodiments described herein provide analog-to-digital converters (ADCs) and systems and methods for calibrating ADCs, including ADCs with poorly characterized nonlinearities that cannot be effectively calibrated with traditional calibration techniques. In general, the embodiments described herein calibrate by measuring output values from an ADC with a known calibration input values being applied. The measured output values are used to determine localized polynomial interpolants. Each of the determined localized polynomial interpolants is then evaluated at an uncorrected output value, and the evaluated localized polynomial interpolants are then used to generate correction values. These correction values can then be used to calibrate the ADC during later operation. Such a calibration technique can provide effective calibration for a variety of ADCs, including ADCs that use inverter-based voltage-to-current (VI) converters and current-controlled ring oscillators.
    • 本文描述的实施例提供模数转换器（ADC）以及用于校准ADC的系统和方法，包括具有不能用传统校准技术有效校准的具有较差表征的非线性度的ADC。 通常，这里描述的实施例通过测量来自具有已知校准输入值的ADC的输出值来校准。 测量的输出值用于确定局部多项式插值。 然后在未校正的输出值处评估所确定的局部化多项式内插值中的每一个，然后将评估后的局部化多项式内插值用于生成校正值。 然后这些校正值可用于在以后的操作中校准ADC。 这种校准技术可以为各种ADC提供有效的校准，包括使用基于逆变器的电压至电流（VI）转换器和电流控制环形振荡器的ADC。
    • 基本信息 添加关注 加入工作空间 PDF全文 PDF下载 全文下载 相似专利 双屏查看 权利要求书 说明书全文 Global Dossier Espacenet 法律信息 同族专利 专利引用
    • 3. 发明公开
      EP3070849A1 SUCCESSIVE APROXIMATION REGISTER ANALOG TO DIGITAL CONVERTERS 审中-公开
    • SUCCESSIVE APROXIMATION REGISTER ANALOG TO DIGITAL CONVERTERS
    • 模拟数字服务器麻省理工学院NÄHERUNGSREGISTER
    • EP3070849A1
    • 2016-09-21
    • EP15170086.1
    • 2015-06-01
    • MediaTek, Inc
    • Lee, Zwei-Mei , Liu, Chun-Cheng
    • H03M1/46 , H03M1/10 , H03M1/06
    • H03M1/468 , H03M1/0641 , H03M1/1004 , H03M1/1009 , H03M1/38 , H03M1/40 , H03M1/403
    • A successive approximation register,SAR, analog to digital converter, ADC, circuit receiving an analog input signal (Vin) and operating in a sample phase and a conversion phase following the sample phase to generate a digital output signal (D 0 ) , comprising:
      a plurality of capacitors(C 0 , ..., C N-1 ) coupled to a summing node (N20), wherein before the conversion phase, a target capacitor (C j ) among the plurality of capacitors is coupled to a direct current voltage (q*VR) and the other capacitors among the plurality of capacitors are coupled to the analog input signal;
      a comparator (20) having an input terminal coupled to the summing node, wherein in the conversion phase, the comparator performs a comparison operation to a summing voltage at the summing node; and
      a logic unit (21) having a plurality of weighting values corresponding to the plurality of capacitors respectively and generating the digital output signal according to the weighting values and a comparison result of the comparison operation,
      wherein the DC voltage has a first voltage level or a second voltage level different from the first voltage level according to a random sequence (q),
      an extraction and compensation unit (11,110) receiving the digital output signal,
      wherein the extraction and compensation unit performs a correlation operation (40) to the digital output signal with the random sequence and further performs a low-pass-filtering operation(41) to the digital output signal to generate a calibrated weighting value (Wj), and
      wherein the extraction and compensation unit corrects the digital output signal based on the weighting value of the target capacitor and
      wherein the weighting value of the target capacitor is calibrated according to the digital output signal and the random sequence.
    • 一个逐次逼近寄存器SAR，模数转换器，ADC，接收模拟输入信号（Vin）的电路，并在采样相位后跟在采样相位之后的转换阶段工作以产生数字输出信号（D 0），包括： 耦合到求和节点（N20）的多个电容器（C 0，...，C N-1），其中在转换阶段之前，多个电容器中的目标电容器（C j）被耦合到直流电 多个电容器中的电压（q * VR）和其他电容器耦合到模拟输入信号; 比较器（20），其具有耦合到所述求和节点的输入端，其中在所述转换阶段中，所述比较器对所述求和节点的求和电压进行比较运算; 和具有与多个电容器对应的多个加权值的逻辑单元（21），并且根据加权值和比较运算的比较结果产生数字输出信号，其中直流电压具有第一电压电平或 根据随机序列（q）与第一电压电平不同的第二电压电平，接收数字输出信号的提取和补偿单元（11,110），其中提取和补偿单元对数字输出执行相关操作（40） 信号，并且进一步对数字输出信号执行低通滤波操作（41）以产生校准加权值（Wj），并且其中提取和补偿单元根据加权值对数字输出信号进行校正 的目标电容器，并且其中根据数字输出信号和th校准目标电容器的加权值 e随机序列。
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    • 4. 发明公开
      EP2856649A1 ANALOGSIGNAL-EINGANGSSCHALTUNG MIT EINER ANZAHL VON ANALOGSIGNAL-ERFASSUNGSKANÄLEN 有权
    • ANALOGSIGNAL-EINGANGSSCHALTUNG MIT EINER ANZAHL VON ANALOGSIGNAL-ERFASSUNGSKANÄLEN
    • EP2856649A1
    • 2015-04-08
    • EP13724166.7
    • 2013-05-16
    • Phoenix Contact GmbH & Co. KG
    • OSTER, Viktor , LOHRE, Hubertus
    • H03M1/10 , H03M1/12
    • G01R31/02 , H03M1/1004 , H03M1/12
    • The invention relates to an analogue signal input circuit comprising a first number of analogue signal detection conduits (100) and at least one diagnostics circuit (130), each analogue signal detection conduit accommodating a respective third number of analogue signal detection circuits (110, 120) and at least one first connection selection device (115, 125), and each analogue signal detection circuit accommodating a first connection device and a second connection device. For each analogue signal detection conduit, in order to detect analogue input signals that are present at analogue signal inputs of a second number of analogue signal inputs and in order to generate output signals in response to the detected analogue input signals, a respective analogue signal detection circuit is selected alternately for a given time period not to be connected by the first connection device thereof to an analogue signal input for detecting an analogue input signal, but instead to be used for testing and/or diagnostics purposes, and all of the accommodated analogue signal detection circuits, except for the aforementioned circuit, are selected to be connected by their first connection devices to determined analogue signal inputs for said time period in order to detect analogue input signals, and to generate the output signals of the analogue signal detection conduit as output signals in response to detected analogue input signals at their second connection devices.
    • 本发明涉及具有第一数量的模拟信号检测通道（100）和至少一个诊断电路（130）的模拟信号输入电路，每个模拟信号检测通道分别包括第三数量的模拟信号检测电路（110， 120）和至少一个第一连接选择装置（115,125），并且每个模拟信号检测电路包括第一连接装置和第二连接装置。 对于每个模拟信号检测通道，用于检测在来自第二数量的模拟信号输入的模拟信号输入处施加的模拟输入信号，并且为了分别发出用于所检测的模拟输入信号的输出信号，分别交替地选择一个模拟信号检测电路 在一段时间内没有连接到其第一连接装置，其包括用于检测模拟输入信号的模拟信号输入，但是用于测试和/或诊断目的，除此之外，所有模拟信号检测电路都被选择用于 该特定时间段，第一连接装置可以连接到某些用于检测模拟输入信号的模拟信号输入，并且根据检测到的模拟输入信号，模拟信号检测通道的输出信号在其第二连接装置 作为输出信号。
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