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1. 发明授权

EP1392929B2 HERZSTÜCK FÜR WEICHEN UND VERFAHREN ZU SEINER HERSTELLUNG 有权
标题翻译：心为制备软质和工艺
公开(公告)号：EP1392929B2
公开(公告)日：2012-06-06
申请号：EP02742790.5
申请日：2002-06-04
申请人： Josch Strahlschweisstechnik GmbH , pro-beam AG & Co. KGaA , DB Netz AG
发明人： SOBISCH, Götz , HEIM, Armin
IPC分类号： E01B7/10
CPC分类号： E01B7/10 , B23K15/0006 , B23K2201/26 , E01B2201/10
摘要： The invention relates to a frog for points, which are used in rail installations and are welded to the rail track of rail installations. The frog is configured as a rigid frog (1), consisting of two standard rail halves, which are connected in the vicinity of their heads (7, 8) and feet (4, 5) by means of weld seams (6, 6') produced by electron beam welding. An air gap is provided between the webs (11) of the standard rail halves (2, 3).

2. 发明公开

EP1382411A3 Verfahren zum Vermessen des Intensitätsprofils eines Elektronenstrahls, insbesondere eines Strahls eines Elektronenstrahlbearbeitungsgeräts, und/oder zum Vermessen einer Optik für einen Elektronenstrahl und/oder zum Justieren einer Optik für einen elektronenstrahl, Messstruktur für ein solches Verfahren und Elektronenstrahlbearbeitungsgerät 有权
标题翻译：测量的电子束的强度分布，特别是电子束加工装置的光束，和/或用于测量电子束的光学系统和/或用于调节光学系统，用于电子束，测量结构为这样的方法和电子束加工装置的方法
公开(公告)号：EP1382411A3
公开(公告)日：2004-02-11
申请号：EP03015282.1
申请日：2003-07-07
申请人： pro-beam AG & Co. KGaA
发明人： Löwer, Thorsten
IPC分类号： B23K15/00 , H01J37/304 , G01T1/28
CPC分类号： H01J37/315 , B23K15/00 , H01J37/304 , H01J2237/30433 , H01J2237/30455 , H01J2237/30477
摘要： Zur Messung des Intensitätsprofils eines Elektronenstrahls wird der Elektronenstrahl (10) auf eine Meßstruktur (16) geleitet, die Stellen (20, 22) mit unterschiedlichen Rückstreueigenschaften aufweist, und Rückstreuelektronen (24), die bei einer Abrasterung der Meßstruktur (16) durch den Elektronenstrahl (10) mittels einer Ablenkeinheit (14) entstehen, werden von einem Sensorring (26) gemessen. Die Meßstruktur (16) ist vorzugsweise in ein Elektronenstrahlschweißgerät ein- und ausbaubar und besteht aus einer Graphitplatte (18), von der eine Wolframnadel (22) senkrecht wegsteht.

3. 发明公开

EP1382411A2 Verfahren zum Vermessen des Intensitätsprofils eines Elektronenstrahls, insbesondere eines Strahls eines Elektronenstrahlbearbeitungsgeräts, und/oder zum Vermessen einer Optik für einen Elektronenstrahl und/oder zum Justieren einer Optik für einen elektronenstrahl, Messstruktur für ein solches Verfahren und Elektronenstrahlbearbeitungsgerät 有权
标题翻译：测量的电子束的强度分布，特别是电子束加工装置的光束，和/或用于测量电子束的光学系统和/或用于调节光学系统，用于电子束，测量结构为这样的方法和电子束加工装置的方法
公开(公告)号：EP1382411A2
公开(公告)日：2004-01-21
申请号：EP03015282.1
申请日：2003-07-07
申请人： pro-beam AG & Co. KGaA
发明人： Löwer, Thorsten
IPC分类号： B23K15/00 , H01J37/304 , G01T1/28
CPC分类号： H01J37/315 , B23K15/00 , H01J37/304 , H01J2237/30433 , H01J2237/30455 , H01J2237/30477
摘要： Zur Messung des Intensitätsprofils eines Elektronenstrahls wird der Elektronenstrahl (10) auf eine Meßstruktur (16) geleitet, die Stellen (20, 22) mit unterschiedlichen Rückstreueigenschaften aufweist, und Rückstreuelektronen (24), die bei einer Abrasterung der Meßstruktur (16) durch den Elektronenstrahl (10) mittels einer Ablenkeinheit (14) entstehen, werden von einem Sensorring (26) gemessen. Die Meßstruktur (16) ist vorzugsweise in ein Elektronenstrahlschweißgerät ein- und ausbaubar und besteht aus einer Graphitplatte (18), von der eine Wolframnadel (22) senkrecht wegsteht.
摘要翻译：用于测量电子束处理装置的电子束（10）的强度分布和/或在电子束测量透镜（15）和/或在电子束调节透镜，用于处理包含相对移动所述电子束在不同的位置（20，22）相对于一个测量结构中，具有不同后向散射特性的位置。电子流被测量从该结构中散射电子（24）依赖于电子束的相对运动和测量的结构的一个向后的方向进行测定。因此独立权利要求中包括了以下内容：用于补偿偏离误差（1）处理; （2）在使用过程中测得的结构; 和（3）电子束处理设备。

4. 发明授权

EP2314410B1 Thermisches Materialbearbeitungsverfahren durch Elektronstrahl mit Kompensierung geometrischer und magnetisch bedingter Abweichungen der Auftreffstellen des Elektronstrahles auf ein Werkstück 有权转让
标题翻译：通过电子束的热材料的加工方法与被加工物的电子束的撞击点几何和磁感应偏差的补偿
公开(公告)号：EP2314410B1
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：EP10013486.5
申请日：2010-10-09
申请人： pro-beam AG & Co. KGaA
发明人： Löwer, Thorsten , Fath, Jürgen
IPC分类号： B23K15/00 , B23K15/02 , G05B19/42 , H01J37/302
CPC分类号： B23K15/0053 , B23K15/0013 , B23K15/02 , H01J37/3005 , H01J37/3045 , H01J2237/3104

5. 发明公开

EP3119551A1 VERFAHREN ZUM ERZEUGEN KLEINER BOHRUNGEN IN WERKSTÜCKEN DURCH ÄNDERUNG EINES ARBEITSPARAMETERS INNERHALB EINES STRAHLIMPULSES 有权转让
标题翻译：方法用于在WORKPIECES小孔，通过修改工作参数中的一个喷吹脉冲
公开(公告)号：EP3119551A1
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：EP15716424.5
申请日：2015-03-19
申请人： pro-beam AG & Co. KGaA
发明人： HOFNER, Michael , JÜRGENS, Sven
IPC分类号： B23K15/00 , B23K15/02 , B23K15/08 , B23K15/10
CPC分类号： B23K15/085 , B23K15/0013 , B23K15/02 , B23K15/10
摘要： The invention relates to a method for producing in particular conical bore holes (48) in work pieces (22), wherein the contouring and cross-sectional form of the bore hole (48) can be influenced in that one or a plurality of operating parameters are changed, which parameters are selected from the following group: pulse length, beam diameter, beam current, acceleration voltage, beam focusing, deviation of the electron beam (12) from a beam axis, movement velocity of the electron beam (12) over the work piece (22).
摘要翻译：一种用于制造在工件的特殊锥形孔的孔，worin钻孔的轮廓和横截面形状方法可DASS一个被影响或操作参数的多元被改变，哪些参数是从以下组中选出：脉冲长度，光束直径，电子束电流，加速电压，束聚焦，从光束轴的电子束的偏离时，电子束在工件的移动速度。

6. 发明授权

EP2041770B1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BEARBEITUNG VON WERKSTÜCKEN 有权转让
标题翻译：方法和设备处理WORKPIECES
公开(公告)号：EP2041770B1
公开(公告)日：2011-10-12
申请号：EP07725671.7
申请日：2007-05-30
申请人： pro-beam AG & Co. KGaA
发明人： FRIEDBERGER, Alois , LÖWER, Thorsten , FRICKE, Sören , SCHMID, Ulrich
IPC分类号： H01J37/256 , H01J37/304 , H01J37/305 , G01N23/225 , B01J19/08 , H01L21/66
CPC分类号： H01J37/3056 , H01J37/244 , H01J37/256 , H01J37/3045 , H01J2237/2561 , H01J2237/2807 , H01J2237/30466
摘要： X-rays (8) are generated in a workpiece (3) by means of an electron beam (4), said x-rays emerging on the rear side (3b) of the workpiece in sufficiently thin areas of the workpiece (3) and being detected by means of an x-ray radiation sensor (5). The surface structure on both sides and the local material thickness can be determined by means of the x-ray intensity and the momentaneous irradiation of the electron beam (4). On the basis of such values, workpieces and/or workpiece machining devices can be adjusted, and the vertical material removal controlled in a material-removing workpiece-machining device.

7. 发明公开

EP2314410A1 Thermisches Materialbearbeitungsverfahren durch Elektronstrahl mit Kompensierung geometrischer und magnetisch bedingter Abweichungen der Auftreffstellen des Elektronstrahles auf ein Werkstück 有权转让
标题翻译：通过电子束的热材料的加工方法与被加工物的电子束的撞击点几何和磁感应偏差的补偿
公开(公告)号：EP2314410A1
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：EP10013486.5
申请日：2010-10-09
申请人： pro-beam AG & Co. KGaA
发明人： Löwer, Thorsten , Fath, Jürgen
IPC分类号： B23K15/00 , B23K15/02 , G05B19/42 , H01J37/302
CPC分类号： B23K15/0053 , B23K15/0013 , B23K15/02 , H01J37/3005 , H01J37/3045 , H01J2237/3104
摘要： Es wird ein thermisches Materialbearbeitungsverfahren beschrieben, bei dem in bekannter Weise zwischen dem Arbeitsfleck eines Elektronenstrahles und einem Werkstück eine Relativbewegung bewirkt wird. Vor der eigentlichen thermischen Behandlung wird eine effektive Bearbeitungskontur (14) ermittelt, indem der Arbeitsfleck des Elektronenstrahls (11) nach den gespeicherten Daten einer idealen Bearbeitungskontur (13) mit verminderter Energiedichte oder höherer Geschwindigkeit eine Relativbewegung gegenüber dem Werkstück ausführt und dieser Relativbewegung eine Scan-Bewegung überlagert wird, die quer zur idealen Bearbeitungskontur (13) gerichtet ist. Die Intensität des von dem Werkstück zurückgestreuten Elektronenstrahls wird in Abhängigkeit von der Auslenkung der Scan-Bewegung gemessen und hieraus eine bildhafte Darstellung der "abgewicklelten" effektiven Bearbeitungskontur (14) gewonnen. Auf diese Weise können, sowohl geometrische als auch magnetisch bedingte Abweichungen der Auftreffstellen des Elektronenstrahls auf das Werkstück kompensiert werden.
摘要翻译：热材料处理方法包括着眼于电子束在工件的表面上，影响电子束的工作点，并且其中的处理轮廓的工作点跟随所述工件之间的相对运动，并控制之间的相对运动工作点和工件gemäß控制参数并转移从一个存储的理想的加工轮廓的控制装置。一种有效的加工轮廓的确定的处理方法之前进行。热材料处理方法包括着眼于电子束在工件的表面上，影响电子束的工作点，并且其中的处理轮廓的工作点跟随所述工件之间的相对运动，并控制之间的相对运动工作点和工件gemäß控制参数并转移从一个存储的理想的加工轮廓的控制装置。一种有效的加工轮廓的确定是将电子束的工作点进行针对与用于热处理加工参数加工的理想轮廓的所存储的数据之后的工件的相对移动的处理方法之前进行。理想的加工轮廓在扫描运动（15,16）的点相对于相应的运动叠加没被引导横向于理想的加工轮廓。从工件反射的电子束的强度被以依赖于扫描运动的偏转测量。所发射的强度被调整为海誓山盟所以没有工件的表示出现其中的有效处理轮廓的偏差是从理想的加工轮廓施加的相对运动的进行中的处理轮廓的方向上的轴线和在第二轴线上。该处理是轮廓两个部件之间的接头与工件连接。有效处理轮廓被调整到相应的控制参数，以便做相对运动的朝向有效处理轮廓的进展过程中读出的电子束的工作点。电子束的工作点和工件之间的相对移动被执行放在适合于热处理的处理参数或通过工件和/或电子束源的移动被机械地开展。电子束的工作点和工件之间的相对运动被电通过电子束的偏转开展。扫描运动的方向垂直于在对应的理想的加工轮廓的点的切线。有效处理轮廓的受控电子束的判定之前，所述工件的图像被产生并且该信息被获得在协调系统内的位置，和该位置的偏差被机械或电通过在实际位置进行补偿。

8. 发明授权

EP3119551B1 VERFAHREN ZUM ERZEUGEN KLEINER BOHRUNGEN IN WERKSTÜCKEN DURCH ÄNDERUNG EINES ARBEITSPARAMETERS INNERHALB EINES STRAHLIMPULSES 有权转让
公开(公告)号：EP3119551B1
公开(公告)日：2019-08-28
申请号：EP15716424.5
申请日：2015-03-19
申请人： pro-beam AG & Co. KGaA
发明人： HOFNER, Michael , JÜRGENS, Sven
IPC分类号： B23K15/00 , B23K15/02 , B23K15/08 , B23K15/10

9. 发明授权

EP1382411B1 Verfahren zum Vermessen des Intensitätsprofils eines Elektronenstrahls, insbesondere eines Strahls eines Elektronenstrahlbearbeitungsgeräts, und/oder zum Vermessen einer Optik für einen Elektronenstrahl und/oder zum Justieren einer Optik für einen elektronenstrahl, Messstruktur für ein solches Verfahren und Elektronenstrahlbearbeitungsgerät 有权
标题翻译：测量的电子束的强度分布，特别是电子束加工装置的光束，和/或用于测量电子束的光学系统和/或用于调节光学系统，用于电子束，测量结构为这样的方法和电子束加工装置的方法
公开(公告)号：EP1382411B1
公开(公告)日：2011-10-05
申请号：EP03015282.1
申请日：2003-07-07
申请人： pro-beam AG & Co. KGaA
发明人： Löwer, Thorsten
IPC分类号： B23K15/00 , H01J37/304 , G01T1/28
CPC分类号： H01J37/315 , B23K15/00 , H01J37/304 , H01J2237/30433 , H01J2237/30455 , H01J2237/30477

10. 发明公开

EP2041770A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BEARBEITUNG VON WERKSTÜCKEN 有权转让
标题翻译：方法和设备处理WORKPIECES
公开(公告)号：EP2041770A1
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：EP07725671.7
申请日：2007-05-30
申请人： EADS Deutschland GmbH , pro-beam AG & Co. KGaA
发明人： FRIEDBERGER, Alois , LÖWER, Thorsten , FRICKE, Sören , SCHMID, Ulrich
IPC分类号： H01J37/256 , H01J37/304 , H01J37/305 , G01N23/225 , B01J19/08 , H01L21/66
CPC分类号： H01J37/3056 , H01J37/244 , H01J37/256 , H01J37/3045 , H01J2237/2561 , H01J2237/2807 , H01J2237/30466
摘要： X-rays (8) are generated in a workpiece (3) by means of an electron beam (4), said x-rays emerging on the rear side (3b) of the workpiece in sufficiently thin areas of the workpiece (3) and being detected by means of an x-ray radiation sensor (5). The surface structure on both sides and the local material thickness can be determined by means of the x-ray intensity and the momentaneous irradiation of the electron beam (4). On the basis of such values, workpieces and/or workpiece machining devices can be adjusted, and the vertical material removal controlled in a material-removing workpiece-machining device.

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