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51. 发明公开

EP1328820A1 TESTING SYSTEM IN A CIRCUIT BOARDMANUFACTURING LINE FOR AUTOMATIC TESTING OF CIRCUIT BOARDS 有权
标题翻译：在电路板等生产线的自动电路板检测系统检查
公开(公告)号：EP1328820A1
公开(公告)日：2003-07-23
申请号：EP01969839.8
申请日：2001-09-21
申请人： PMJ Automec Oyj
发明人： SEPPÄLÄ, Hannu , KURPPA, Pekka , TEERI, Jarmo
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2808 , G01R31/2806 , Y10T29/53196
摘要： Testing system for automatic testing of circuit boards (1) in a circuit board manufacturing line. The system comprises a set of test modules (4) comprising a testing apparatus, each test module comprising a horizontal module conveyor (5) for moving a circuit board (1) into and out of the test module, which test modules are arranged into a superposed relation with respect to each other. A feed device (6) has been fitted to receive and arrange a number of circuit boards from a first line conveyor (3) into a superposed relation with respect to each other so that the circuit boards (1) lie at a distance from each other corresponding to the distance between the module conveyors (5) and to feed the circuit boards substantially simultaneously into the test modules (4).

52. 发明公开

EP1266234A1 VORRICHTUNG ZUM TESTEN VON LEITERPLATTEN 有权
标题翻译：设备技术，电路板检测
公开(公告)号：EP1266234A1
公开(公告)日：2002-12-18
申请号：EP00960608.8
申请日：2000-09-05
申请人： ATG TEST SYSTEMS GmbH & Co. KG
发明人： PROKOPP, Manfred
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/073
CPC分类号： G01R1/07335 , G01R31/2806 , G01R31/2808
摘要： A circuit board tester includes a contact array, contact fingers arranged for travelling in a plane parallel to the contact array, two contact fingers forming a probe pair as a component of a test current circuit, a controller for positioning the contact fingers on circuit board test points of a circuit board to be tested, the circuit boards being insertable into the tester simultaneously during a test procedure being tested, and two sets of contact fingers, one set being arranged for testing the front side and the other set for testing the rear side of a circuit board to be tested. Arranged between the two sets of contact fingers is a holder comprising portions for accommodating at least two circuit b to be tested, at least one of the circuit boards to be tested being insertable in the holder with its front side, and the other circuit board to be tested with its rear side, facing one of the two sets of contact fingers, and the controller is configured such that with both sets of contact fingers the circuit board test points on both the front and rear side of the circuit board to be tested can be contacted during a test procedure.

53. 发明公开

EP1245962A1 Improved connection interface system 审中-公开
标题翻译： Verbindungsschnittstellensystem系统
公开(公告)号：EP1245962A1
公开(公告)日：2002-10-02
申请号：EP02252151.2
申请日：2002-03-26
申请人： M.E.I.- Technologies Ltd
发明人： Edwards, Barry Vincent , Hurst, Roy Joseph
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R1/0416 , G01R31/2808 , H01R13/60 , H01R2201/20
摘要： A connection interface system for providing an interface between a unit under test and testing equipment, the system comprising a receiver 2 having a pair of channels 23,25, and a receiver connector module 12,14 having a pair of shoulders 30,32. In use the module 12,14 is releasably retained on the receiver 2 in a reverse mounted position by press-fitting the shoulder of the module 12,14 into the channels 23,25 of the receiver 2.
摘要翻译：一种用于在待测单元和测试设备之间提供接口的连接接口系统，该系统包括具有一对通道23,25的接收器2和具有一对肩部30,32的接收器连接器模块12,14。在使用中，模块12,14通过将模块12,14的肩部压配合到接收器2的通道23,25中而以反向安装的位置可释放地保持在接收器2上。

54. 发明公开

EP1122546A2 Scan test machine for densely spaced test sites 有权
标题翻译： Rustprüfmaschinefüreng beabstandetePrüfpunkte
公开(公告)号：EP1122546A2
公开(公告)日：2001-08-08
申请号：EP01250038.5
申请日：2001-02-02
申请人： Delaware Capital Formation, Inc.
发明人： Swart, Mark A.
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R1/06705 , G01R31/2806 , G01R31/2808 , G01R31/2887
摘要： A scan tester for printed circuit boards capable of testing densely spaced test locations on the circuit board including a desk top robot having a test head positioned over the circuit board and movable in a three-dimensional plane. The test head includes a non-contact energy source such as a source of plasma located at an end of the test head for energizing the test locations of the printed circuit board. The printed circuit board is mounted on a test fixture having a plurality of translator plates and translator pins for contacting a second surface of the printed circuit board to translate test signals to an electronic test analyzer.
摘要翻译：一种用于印刷电路板的扫描测试仪，其能够测试电路板上密集的测试位置，包括桌面机器人，其具有位于电路板上并可在三维平面中移动的测试头。测试头包括非接触能量源，例如位于测试头端部的等离子体源，用于激励印刷电路板的测试位置。印刷电路板安装在具有多个转换板和转换销的测试夹具上，用于接触印刷电路板的第二表面以将测试信号转换成电子测试分析仪。

55. 发明公开

EP1031839A2 Test fixture for matched impedance testing 审中-公开
标题翻译：赛程为是粘贴阻抗测试
公开(公告)号：EP1031839A2
公开(公告)日：2000-08-30
申请号：EP99302846.3
申请日：1999-04-13
申请人： Delaware Capital Formation, Inc.
发明人： Swart, Mark A.
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R31/2805 , G01R1/07328 , G01R31/2808
摘要： A test fixture for matched impedance testing of a printed circuit board having a top plate for supporting the printed circuit board having matched impedance circuit traces extending from test site locations on the printed circuit board requiring matched impedance testing. Spring probes extend through holes in the top plate for transmission of test signals from the test sites on the printed circuit board to the matched impedance circuit traces. A TDR meter is wired to the top plate by coaxial connectors attached to the circuit traces to read the test signals.

56. 发明公开

EP1018030A1 A METHOD OF CONTROLLING TEST PROBES IN A TESTING APPARATUS FOR ELECTRONIC PRINTED CIRCUIT BOARDS, AND AN APPARATUS FOR PERFORMING THE METHOD 有权
标题翻译： TESTFUHLER规则和程序™设备
公开(公告)号：EP1018030A1
公开(公告)日：2000-07-12
申请号：EP98942515.2
申请日：1998-09-14
申请人： TELLABS DENMARK A/S
发明人： HAUSCHULTZ, Mikael
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/073
CPC分类号： G01R31/2808 , G01R1/07328 , G01R1/07392
摘要： A method of controlling test probes (1, 2, 3, 4) in a testing apparatus for electronic printed circuit boards (5), wherein a test program is generated in dependence on information on print layout and a priority system according to which points are allocated to the individual test points (8, 9) in dependence on their accessibility from the probes. Use is made of probes of which at least some are longitudinally movable in respective disuniform spatial directions. The control is optimized with respect to probe selection so that a probe with the most expedient spatial direction of movement with respect to a given test point is selected.

57. 发明公开

EP0990912A2 Prüfsonde-Antriebsvorrichtung 有权
公开(公告)号：EP0990912A2
公开(公告)日：2000-04-05
申请号：EP99118797.2
申请日：1999-09-23
申请人： atg test systems GmbH
发明人： Prokopp, Manfred , Stoehr, Roland
IPC分类号： G01R1/067
CPC分类号： G01R1/06705 , G01R1/07357 , G01R31/2808
摘要： Die Erfindung betrifft eine Prüfsonde für einen Fingertester mit

einem Sondenelement zum elektrischen Kontaktieren einer Kontaktstelle einer zu prüfenden Leiterplatte,
einem ein Spulenelement und einen permanent vormagnetisierten Kern aufweisenden Aktuator, wobei das Spulenelement auf dem permanent vormagnetisierten Kern verschieblich angeordnet und mit dem Sondenelement mechanisch verbunden ist, so daß bei Stromschaltung des Spulenelementes das Spulenelement zusammen mit dem Sondenelement bewegt wird.

Da erfindungsgemäß der bewegliche Teil nicht mechanisch mit dem fixierten Teil verbunden ist, kann die Prüfsonde sehr schnell das Sondenelement mit einer Kontaktstelle einer zu prüfenden Leiterplatte in Kontakt bringen.
摘要翻译：探头具有具有固定的，永久的，预磁化的芯（17）和可动线圈（20）的致动器。线圈与探头机械连接，但没有机械连接到芯。当供电电流时，线圈与探头一起移动。线圈通过将电流保持在提升线圈的特定高度来控制，从而将探针线（27）拉入进给通道。为了启动探头，线圈以相对极性的电流供给保持电流。手指测试仪包括使用测试探头测试电路板的独立声明。

58. 发明公开

EP0902297A2 Adapteranordnungen zum Testen von Leiterplatten 审中-公开
公开(公告)号：EP0902297A2
公开(公告)日：1999-03-17
申请号：EP98116790.1
申请日：1998-09-05
申请人： Photo Print Electronic GmbH
发明人： Kersten, Peter, Dr.-Ing.
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/073 , G01R31/02
CPC分类号： H05K3/365 , G01R1/04 , G01R31/2808
摘要： Diese Adapteranordnungen (3, 6) sind zum Testen von auch großflächigen, Leiterplatten (1) geeignet, deren n Testpunkte (211 ... 281) nur einen Abstand von etwa 150 µm haben können. Eine einschichtige flexible Folie (30) aus Isoliermaterial hat n Kontaktbumps (311 ...381) mit einem Kontaktierungsteil (3111) und einer Längsachse (3112). Jeder Kontaktbump führt durch die Folie senkrecht hindurch, überragt die Vorderseite einstufig und sitzt derart in einer Bohrung, daß die Längsachse mit deren Mittelachse zusammenfällt. Während des Testens wird jeder Kontaktbump mit dem zugehörigen Testpunkt durch flächiges Andrücken der Folie (30) an die Leiterplatte (1) mechanisch in Berührung gebracht und dadurch elektrisch kontaktiert. Jeweils ein Leiterzug (411, 421, 481) verläuft auf der Rückseite der Folie von einem entsprechenden Kontaktbump zu einem zugehörigen Kontaktpunkt (511, 521, 581). Jeder Kontaktpunkt ist mit einer entsprechenden Kontaktnadel eines Eingangskontaktfelds des Testgeräts mittels dessen Andrückens an die Rückseite der Folie (30) unter Zwischenlage einer elektrisch isolierenden, elastisch federnden Zwischenfolie (34) elektrisch kontaktiert, die dort, wo eine Kontaktnadel einen Kontaktpunkt zu kontaktieren hat, eine elektrische Durchkontaktierung aufweist.
摘要翻译：适配器（3,6）具有间隔约150μm的n个测试点。绝缘材料的单层柔性膜（30）具有n个具有接触部分和线性轴的接触凸块（311,321,381）。每个接触凸起垂直穿过薄膜，在前侧上以单个台阶突出，并以这样的方式安置在孔中，线性轴线与中心轴线重合。在测试期间，随着PCB与机械接触以提供电接触，具有相关测试点的每个接触凸块被膜的表面压力压制。导体（411）沿着膜的后侧从相应的凸起延伸到相关联的接触点（511）。通过弹性弹性中间箔（34）的中间插入，每个接触点通过胶片后侧的压力与接触针的相应接触针电接触。

59. 发明公开

EP0571963A3 Method of connection testing electronic boards 失效
标题翻译：连接测试电子板的方法
公开(公告)号：EP0571963A3
公开(公告)日：1994-04-13
申请号：EP93108451.1
申请日：1993-05-25
申请人： SPEA S.r.l. Sistemi per l'Elettronica e l'Automazione
发明人： Bonaria, Luciano
IPC分类号： G01R31/04 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/046 , G01R31/2808
摘要： A method based on the observation that the clamping diodes (4, 8) between pins (2, 3) having similar functional characteristics form multicollector structures, which, when biased, supply comparable collector currents in the event of correct connection. The method therefore comprises stages consisting in grouping (30) the clamping diodes (4, 8) according to function or structure; biasing (32) the resulting multiterminal structures (10) so as to produce currents (I Ci ); measuring (33) the currents; comparing (35, 36) the measured currents; and detecting (36, 37) faulty connections on the basis of marked variations in the currents.
摘要翻译：基于观察到具有相似功能特征的引脚（2,3）之间的钳位二极管（4,8）形成多集电极结构的方法，所述多集电极结构在被偏置时在正确连接的情况下提供可比较的集电极电流。因此该方法包括根据功能或结构对钳位二极管（4,8）进行分组（30）的阶段; 偏置（32）所得到的多端结构（10）以产生电流（ICi）; 测量（33）电流; 比较（35,36）所测量的电流; 并根据电流的明显变化检测（36,37）故障连接。

60. 发明公开

EP0494436A3 Prüfvorrichtung 失效
标题翻译：测试设备
公开(公告)号：EP0494436A3
公开(公告)日：1993-05-12
申请号：EP91122136.4
申请日：1991-12-23
申请人： ATG ELECTRONIC GmbH
发明人： Prokopp, Manfred
IPC分类号： G01R31/318 , G06F11/26
CPC分类号： G01R31/31926 , G01R31/2808
摘要： Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung, insbesondere für einen Funktionstest oder In-Circuit-Test von elektronischen Schaltungen (Prüflingen), insbesondere bestückten Leiterplatten, mit einer Vielzahl von unterschiedliche Prüfspannungen beziehungsweise Prüfpotentiale aufweisenden Prüfkanälen, die mit Prüfpunkten des Prüflings über Schalteinrichtungen verbindbar sind, wobei die Schalteinrichtungen (3) Mikro-Relais (5) aufweisen, deren einzelne Schaltpole (4, 10) mit den Prüfkanälen (7) und deren jedem Prüfkanal (7) zugehörige, gemeinsame Schaltpole (6, 9) über integrierte Anschlußbahnen mit im Raster angeordneten Kontakten (P; pads) eines Grundkontaktfelds (20) verbunden sind.
摘要翻译：本发明涉及一种测试装置，特别是用于电子电路（被测器件）特别是组装电路板的功能测试或在线测试，具有表现出不同测试电压的多个测试通道，或分别是测试电位，测试电位可以通过开关装置连接到被测设备的测试点，开关装置（3）显示微型继电器（5），其各个开关端子（4,10）连接到测试通道（7）和属于每个测试通道（7）的公共开关端子（6,9）通过集成连接轨道连接到基极接触阵列（20）的光栅中的触点（P;焊盘）。

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