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    • 4. 发明申请
    • OPTICAL SYSTEM OF A MICROLITHOGRAPHIC EXPOSURE SYSTEM
    • 微波曝光系统的光学系统
    • WO2007031544A1
    • 2007-03-22
    • PCT/EP2006/066332
    • 2006-09-13
    • CARL ZEISS SMT AGTOTZECK, MichaelBEDER, SusanneCLAUSS, WilfriedFELDMANN, HeikoKRÄHMER, DanielDODOC, Aurelian
    • TOTZECK, MichaelBEDER, SusanneCLAUSS, WilfriedFELDMANN, HeikoKRÄHMER, DanielDODOC, Aurelian
    • G03F7/20
    • G02B5/3083G02B27/286G03F7/70566G03F7/70966
    • An optical system, in particular an illumination system or a projection lens of a microlithographic exposure system, according to one aspect of the present invention has an optical system axis (OA) and at least one element group (200) consisting of three birefringent elements (211 ,212,213) each of which being made of optically uniaxial material and having an aspheric surface, wherein a first birefringent element (211 ) of said group has a first orientation of its optical crystal axis, a second birefringent element (212) of said group has a second orientation of its optical crystal axis, wherein said second orientation can be described as emerging from a rotation of said first orientation, said rotation not corresponding to a rotation around the optical system axis by an angle of 90° or an integer multiple thereof, and a third birefringent element (213) of said group has a third orientation of its optical crystal axis, wherein said third orientation can be described as emerging from a rotation of said second orientation said rotation not corresponding to a rotation around the optical system axis by an angle of 90° or an integer multiple thereof.
    • 根据本发明的一个方面的光学系统,特别是微光刻曝光系统的照明系统或投影透镜,具有光学系统轴(OA)和由三个双折射元件(200)组成的至少一个元件组(200) 211,212,213),其由光学单轴材料制成并具有非球面,其中所述组的第一双折射元件(211)具有其光学晶轴的第一取向,所述组的第二双折射元件(212) 具有其光学晶轴的第二取向,其中所述第二取向可以被描述为从所述第一取向的旋转出来,所述旋转不对应于围绕光学系统轴的旋转90°的角度或其整数倍 ,并且所述组的第三双折射元件(213)具有其光学晶轴的第三取向,其中所述第三取向可以被描述为从 所述第二方向的旋转,所述旋转不对应于围绕光学系统轴的旋转90°的角度或其整数倍。
    • 5. 发明申请
    • ABBILDUNGSSYSTEM FÜR EINE MIKROLITHOGRAPHISCHE PROJEKTIONSBELICHTUNGSANLAGE
    • PICTURE SYSTEM FOR A微光刻投射曝光设备
    • WO2005081068A2
    • 2005-09-01
    • PCT/EP2005/000277
    • 2005-01-13
    • CARL ZEISS SMT AGGRUNER, ToralfEPPLE, AlexanderKNEER, BernhardWABRA, NorbertBEDER, SusanneDORSEL, Andreas
    • GRUNER, ToralfEPPLE, AlexanderKNEER, BernhardWABRA, NorbertBEDER, SusanneDORSEL, Andreas
    • G03F7/20
    • G03F7/70225G03F7/70241G03F7/70341G03F7/70958G03F7/70966
    • Abbildungssystem einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, mit einem Projektionsobjektiv (200, 300, 500, 600) zur Abbildung einer in einer Objektebene positionierbaren Maske auf eine in einer Bildebene positionierbare lichtempfindliche Schicht; und einer Flüssigkeitszufuhr (205) zum Füllen eines Zwischenraums zwischen der Bildebene und einem bildebenenseitig letzten optischen Element (201, 309, 506) des Projektionsobjektivs mit Immersionsflüssigkeit (202, 310, 507, 601); wobei das bildebenenseitig letzte optische Element des Projektionsobjektivs in Schwerkraftrichtung nachfolgend zur Bildebene angeordnet ist; und wobei das Projektionsobjektiv derart ausgelegt ist, dass im Immersionsbetrieb die Immersionsflüssigkeit in zur Bildebene abgewandter Richtung wenigstens bereichsweise konvex gekrümmt ist. Es wird auch vorgesehen, dass das bildebenenseitig letzte optische Element (201, 309, 506) des Projektionsobjektivs unter der Bildebene derart angeordnet ist, dass die Immersionsflüssigkeit (202, 310, 507, 601) zumindest teilweise in einem im wesentlichen wannenförmigen Bereich auf dem bildebenenseitig letzten optischen Element angeordnet wird. Auch kann ein Rotator zum Drehen eines die lichtempfindliche Schicht (401) aufweisenden Substrats zwischen einer Transportorientierung, in der die lichtempfindliche Schicht auf einer entgegengesetzt zur Schwerkraftrichtung liegenden Substratoberfläche angeordnet ist, und einer Belichtungsorientierung, in welcher die lichtempfindliche Schicht (401) auf einer in Schwerkraftrichtung liegenden Substratoberfläche angeordnet ist, vorgesehen sein.
    • 具有用于在光敏感层的图像平面上的定位在物平面掩模成像可定位的投影透镜(200,300,500,600)的微光刻投射曝光设备的成像系统; 和用于填充所述投射物镜的像平面和图像平面侧最后的光学元件(201,309,506)之间的间隙与浸没液体(202,310,507,601)的液体供给(205); 其中所述投射物镜的像面侧最后光学元件被布置在图像平面下方的重力方向; 并且其中,所述投射物镜被设计成使得在浸液操作中,浸没液体在背离图像面方向至少部分地凸形弯曲远离。 还可以预期的是,投影透镜的像面侧最后的光学元件(201,309,506)设置在图像平面下方,使得浸没液体(202,310,507,601)至少部分地基于所述像面侧的大致槽形区域部分地 最后的光学元件被布置。 用于旋转具有输送方向之间的衬底的感光层(401)旋转器罐,被布置在位于一个相对的衬底表面的重力方向上的感光层,和一个曝光取向,其中在重力的方向上的感光层(401) 布置,可以提供下面的基底表面。
    • 10. 发明申请
    • METHOD OF MANUFACTURING AN OPTICAL ELEMENT
    • 制造光学元件的方法
    • WO2005114101A1
    • 2005-12-01
    • PCT/EP2004/005194
    • 2004-05-14
    • CARL ZEISS SMT AGARNOLD, RalfDÖRBAND, BerndSCHILLKE, FrankBEDER, Susanne
    • ARNOLD, RalfDÖRBAND, BerndSCHILLKE, FrankBEDER, Susanne
    • G01B11/24
    • G01B11/2441
    • A method of manufacturing an optical element (5) includes testing the optical element (5) by using an interferometer optics (1) generating a beam (13) of measuring light illuminating only a sub-aperture of the tested optical element (5). The interferometer optics (1) comprises a hologram. Results of the sub-aperture measurement are stitched together to obtain a measuring result with respect to the full surface of the optical element (5). Further, a method of calibrating the interferometer optics (1) includes performing an interferometric measurement using a calibrating optics having a hologram covering only a sub-aperture of the full cross section of the beam (13) of measuring light generated by the interferometer optics (1) and stitching together the sub-aperture measurements to obtain a result indicative for the full cross section of the interferometer optics (1).
    • 制造光学元件(5)的方法包括通过使用产生仅照射被测光学元件(5)的子孔径的光的光束(13)的干涉仪光学元件(1)来测试光学元件(5)。 干涉仪光学器件(1)包括全息图。 将子孔径测量的结果缝合在一起以获得关于光学元件(5)的整个表面的测量结果。 此外,校准干涉仪光学器件(1)的方法包括使用校准光学器件执行干涉测量,所述校准光学器件具有仅覆盖光束(13)的全横截面的子孔径的测量由干涉仪光学器件产生的光的全息图( 1)并且将子孔径测量结合在一起以获得指示干涉仪光学器件(1)的全部横截面的结果。