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1. 发明申请

WO2008043459A2 ANORDNUNG ZUR AUFTEILUNG VON DETEKTIONSLICHT 审中-公开
标题翻译：探测灯分配安排
公开(公告)号：WO2008043459A2
公开(公告)日：2008-04-17
申请号：PCT/EP2007/008555
申请日：2007-10-02
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , WOLLESCHENSKY, Ralf , BATHE, Wolfgang , STEINERT, Jörg , HUHSE, Dieter
发明人： WOLLESCHENSKY, Ralf , BATHE, Wolfgang , STEINERT, Jörg , HUHSE, Dieter
CPC分类号： G02B21/0064 , G02B27/1013 , G02B27/145
摘要： Anordnung zur Aufteilung von Detektionslicht in einem Laser-Scanning-Mikroskop, wobei eine spektrale Separierung unterschiedlicher Spektralanteile in transmittierte und ausgeblendete Anteile erfolgt, wobei die Aufteilung durch mindestens einen in einem Winkel ungleich 90 und Null Grad zur optischen Achse verkippten beschichteten Filter erfolgt, wobei der Winkel zur optischen Achse weniger als 20 Grad, vorteilhaft weniger als 10 Grad von der optischen Achse abweicht.
摘要翻译：
用于在激光扫描显微镜中，检测光的分割装置，其中，不同的光谱分量的在发送和隐藏单元的光谱分离，由此，分割由至少一个以一定角度不等于90个零度到光学轴发生倾斜涂层过滤器，与光轴的夹角小于20度，最好距离光轴小于10度。

2. 发明申请

WO2011036097A1 MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：显微镜
公开(公告)号：WO2011036097A1
公开(公告)日：2011-03-31
申请号：PCT/EP2010/063668
申请日：2010-09-17
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , LIPPERT, Helmut , WALD, Matthias , GOELLES, Michael , HAUSCHILD, Robert , BATHE, Wolfgang
发明人： LIPPERT, Helmut , WALD, Matthias , GOELLES, Michael , HAUSCHILD, Robert , BATHE, Wolfgang
IPC分类号： G02B26/08 , G02B21/00 , G02B21/36
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0036 , G02B21/006 , G02B21/0064 , G02B21/0076 , G02B21/367 , G02B26/0891
摘要： Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, umfassend eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z), sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen, die Detektierungseinrichtung (1 ) umfassend ein im Detektierungsstrahlengang angeordnetes Detektierungsobjektiv (2) sowie Aufteilungsmittel zur Aufteilung des Detektierungs-Strahlengangs in zwei Teilstrahlengänge (14, 15), wobei in den Teilstrahlengängen (14, 15) jeweils ein ortsauflösender Flächendetektor (4) bzw. (4') angeordnet ist, auf den das zu detektierende Licht abbildbar ist, und die Aufteilungsmittel umfassend mindestens einen dichroitischen Strahlteiler (13, 40). Bei einem solchen Mikroskop weist der dichroitische Strahlteiler (13) im Strahlengang im Nah-Unendlichen (12) bezüglich der ortsauflösenden Flächendetektoren (4, 4') angeordnet ist und eine Dicke von mindestens 3 mm auf. In jedem der beiden Teilstrahlengänge (14, 15) sind optische Abbildungselemente (5) bzw. (5') zur Abbildung des zu detektierenden Lichts auf den jeweiligen Flächendetektor (4) bzw. (4') angeordnet. Zudem ist in mindestens einem der beiden Teilstrahlengänge (14, 15) mindestens eine Wackelplatten zur Erzeugung eines Strahlversatzes entlang zweier zueinander orthogonalen Richtungen quer zur Detektierungsachse (Z) angeordnet, so daß automatisierte Überlagerungen von aus den beiden Flächendetektoren (4, 4') ausgelesenen Meßwerten vornehmbar sind.
摘要翻译：本发明涉及包含产生与光片以照明样本区域（P），一个照明装置（19）的显微镜，其在照明轴线（X）的照明光束路径的方向上和在横向轴线（Y）的方向横向于照明的轴线（X）是大致平坦的延伸，一个检测装置（1），与所述光，其沿着Detektierungsstrahlengangs的从样品区的Detektierungsachse（Z）（P）发射的检测，所述照明轴线（X）和Detektierungsachse（Z）和横向轴线（Y）和Detektierungsachse（Z）处于非零角度向对方，所述检测设备（1）包括设置在Detektierungsstrahlengang Detektierungsobjektiv一阀（2）和分割用于将Detektierungs光束路径分为两条部分光束路径（14，15）的装置其中，在所述部分光束路径（14，15）每个都具有一个固定的溶解布置方向区域检测器（4）或（4“），其上待检测的光可以被成像，并且分束装置包括至少一个二向色分束器（13，40）。在这样的显微镜，在在近无穷大的光束路径中的二向色分束器（13）（12）相对于所述位置敏感区域检测器（4，4“）被布置成，厚度为至少3mm。在所述两个部分光束路径（14，15）是光学成像元件“用于成像的光的各区域检测器（4）或（4上被检测（5）或（5）”）布置。此外，在这两个部分光束路径中的至少一个（14，15）被布置在至少一个摇摆板，用于产生光束沿两个相互正交的方向横向于所述Detektierungsachse（Z）偏移，所以该自动叠加来自两个表面检测器（4，4“）中读出的测量值是vornehmbar。

3. 发明公开

EP2480926A1 MIKROSKOP 有权转让
标题翻译：显微镜
公开(公告)号：EP2480926A1
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：EP10754513.9
申请日：2010-09-17
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： LIPPERT, Helmut , WALD, Matthias , GOELLES, Michael , HAUSCHILD, Robert , BATHE, Wolfgang
IPC分类号： G02B26/08 , G02B21/00 , G02B21/36
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0036 , G02B21/006 , G02B21/0064 , G02B21/0076 , G02B21/367 , G02B26/0891
摘要： The invention relates to a microscope comprising an illumination device (19) which produces a sheet of light to illuminate a sample region (P), said sheet having an approximately planar extension in the direction of an illumination axis (X) of an illumination beam path and in the direction of a transverse axis (Y) lying at a right angle to the illumination axis (X). The microscope further comprises a detection device (1) used to detect light that is emitted by the sample region (P) along an axis of detection (Z) of a detection beam path, the illumination axis (X) and the axis of detection (Z) as well as the transverse axis (Y) and the axis of detection (Z) being oriented relative each other at an angle unequal zero. The detection device (1) comprises a detection lens system (2) arranged in the detection beam path and splitting means for splitting the detection beam path into two beam sub-paths (14, 15), spatially resolved surface detectors (4) or (4') being arranged in the respective beam sub-paths (14, 15) onto which surface detectors the light to be detected can be imaged, and the splitting means comprising at least one dichroic beam splitter (13, 40). The dichroic beam splitter (13) of the microscope according to the invention is arranged in the beam path in the close-up to infinity region (12) with respect to the spatially resolved surface detectors (4, 4') and has a thickness of at least 3 mm. Optical imaging elements (5) or (5') for imaging the light to be detected onto the respective surface detector (4) or (4') are arranged in every beam sub-path (14, 15). At least one wobble plate for producing a beam offset along two directions that are orthogonal to each other at a right angle to the detection axis (Z) is arranged in at least one of the two beam sub-paths (14, 15) so that measured values read out from the two surface detectors (4, 4') can be automatically superimposed.

4. 发明申请

WO2003069351A1 AUSSCHIEBEEINRICHTUNG FÜR EINEN KLIMASCHRANK, INSBESONDERE ZUR AUFNAHME VON MIKROTITERPLATTEN (MTP) 审中-公开
标题翻译： AUSSCHIEBEEINRICHTUNG FOR一个地窖，特别是用于取微板（MTP）
公开(公告)号：WO2003069351A1
公开(公告)日：2003-08-21
申请号：PCT/EP2003/001007
申请日：2003-02-01
申请人： CARL ZEISS JENA GMBH , HENKE, Uwe , BATHE, Wolfgang , MEISSNER, Jörg
发明人： HENKE, Uwe , BATHE, Wolfgang , MEISSNER, Jörg
IPC分类号： G01N35/04
CPC分类号： G01N35/028 , G01N35/04 , G01N2035/00346 , G01N2035/0425
摘要： Ausschiebeeinrichtung für einen Klimaschrank, insbesondere zur Aufnahme von Mikrotiterplatten (MTP), bestehend aus einem Schwenkarm (3) mit mindestens einem am Schwenkarm gelagerten Mitnehmer für die MTP (2), der eine obere Mitnehmerposition für die MTP und eine untere Position aufweist, in der der Schwenkarm (3) unter der MTP hindurch verschwenkt wird, wobei vorteilhaft die Lage des Mitnehmers durch einen Eingriff in eine vorzugsweise hakenförmige Wippe (5) in einer inneren Stellung des Schwenkarmes von der unteren in die obere Position verschwenkt wird und die Wippe drehbar gelagert ist und beim Eingriff des Schwenkarmes der untere Teil des Hakens gegen den Mitnehmer gelenkt wird und seine Verschwenkung in die obere Position bewirkt.
摘要翻译： Ausschiebeeinrichtung用于气候室，特别是用于接收微量滴定板（MTP），包括一个枢轴臂（3），安装用于在MTP（2）具有上驱动用于MTP位置所述臂载体和下部位置上的至少一个，其中枢转臂（3）的MTP其中的下枢转时，有利的是，从动件的位置通过接合一个优选钩形摇杆（5）在所述枢转臂的从下部的内侧位置枢轴转动到上部位置和摇杆可旋转地安装并且在摆动臂的接合，所述钩的下部是针对驾驶员并且使得其枢转进入上部位置。

5. 发明申请

WO2013020663A1 "LASER-SCANNING-MIKROSKOP MIT EINEM BELEUCHTUNGSARRAY" 审中-公开
标题翻译： “用轻阵列激光扫描显微镜”
公开(公告)号：WO2013020663A1
公开(公告)日：2013-02-14
申请号：PCT/EP2012/003254
申请日：2012-07-31
申请人： CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH , BATHE, Wolfgang
发明人： BATHE, Wolfgang
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/002 , G02B21/004
摘要： Laser- Scanning-Mikroskop (LSM) bestehend aus mindestens einer Lichtquelle, von der ein Beleuchtungsstrahlengang in Richtung einer Probe ausgeht, mindestens einem Detektionsstrahlengang zur Übertragung von Probenlicht vorzugsweise Fluoreszenzlicht, auf eine Detektoranordnung, einem Hauptfarbteiler zur Trennung von Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang, einem Mikrolinsenarray zur Erzeugung eines Lichtquellenrasters aus mindestens zwei Lichtquellen, einem Scanner zur Erzeugung einer Relativbewegung zwischen dem Beleuchtungslicht und der Probe in mindestens einer Richtung, und einem Mikroskopobjektiv wobei das Linsenarray in einem gemeinsamen Teil von Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang angeordnet ist.
摘要翻译：激光扫描显微镜（LSM）由从该照明光束路径中的样品的方向发出的至少一个光源的，用于传输样品光的至少一个检测光束路径是光优选荧光到检测器阵列，一个主色分离器，用于照明和探测光束路径的分离，微透镜阵列其中，所述透镜阵列被布置在用于产生的至少两个光源，用于产生照明光，并且在至少一个方向上的样品，和一个显微镜物镜之间的相对运动的扫描器的光源光栅的照明和检测光束路径的公共部分。

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