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    • 3. 发明申请
    • HOCHAUFLÖSENDES MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR ZWEI- ODER DREIDIMENSIONALEN POSITIONSBESTIMMUNG VON OBJEKTEN
    • 高分辨率显微镜AND METHOD FOR TWO或三维定位对象
    • WO2011085766A1
    • 2011-07-21
    • PCT/EP2010/007595
    • 2010-12-14
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHKALKBRENNER, ThomasWOLLESCHENSKY, Ralf
    • KALKBRENNER, ThomasWOLLESCHENSKY, Ralf
    • G01N21/64
    • G01N21/6458G01N21/6428G02B21/16G02B21/361G02B21/367G02B27/58
    • Hochauflösendes Mikroskop - und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten, mit mindestens einem der folgenden Verfahrensschritte a) - o) : a) mittels anamorphotischen Optik, vorzugsweise einer Zylinderlinse in der Abbildung wird über die Orientierung und Form abgebildeter Teilchen oder Moleküle ihre vertikale (Z) Position ermittelt, b) im Detektionsstrahlengang erfolgt eine Aufspaltung in mindestens zwei Detektions-Teilstrahlengänge mit unterschiedlicher optischer Weglänge die auf einem Detektor versetzt detektiert werden, c) eine Aktivierung oder Umschaltung erfolgt durch einen Mehrphotonen-Anregungsprozeß, vorzugsweise eine Zweiphotonenanregung, d) es erfolgt eine punktscannende Aktivierung oder Umschaltung, e) es erfolgt eine linienscannende Aktivierung oder Umschaltung, f) die Anregung der Probe und Detektion des Probenlichtes erfolgt im Weitfeldmodus, g) manuell oder automatisch vorbestimmte Probenregionen werden aktiviert oder umgeschaltet, h) die Aktivierung oder Umschaltung erfolgt durch AOTF oder SLM oder DMD, i) über ein spektral aufspaltendes Element, vorzugsweise ein Gitter werden Laserpulse zum Aktivieren oder Schalten spektral aufgespaltet, j) ein SLM oder DMD im Strahlengang nach dem Gitter nimmt eine gesteuerte Auswahl aufgespalteter Laserpulsanteile vor k) die Laserweitfeldanregung wird durch SLM oder DMD geführt, l) es werden ROI durch SLM oder DMD selektiert, m) eine Mehrphotonenschaltung oder Aktivierung erfolgt über ein Mikrolinsenarray, vorzugsweise ein Zylinderlinsenarray, n) Schalten und/oder Anregung erfolgt durch einen Linienscanner o) eine Liniendetektion erfolgt über einen ortsaufgelösten Sensor, wobei über eine Spaltblendenstellung mit mindestens zwei Sensorreihen, jeweils aus mehreren Sensoren bestehend, mit Probenlicht beleuchtet werden.
    • 高分辨率显微镜 - 和方法,用于对象的二维或三维位置确定,用下列过程中的至少一个步骤a) - O):a)通过变形光学系统的方法,最好是在图中的柱面透镜是成像颗粒的取向和形状或分子其垂直 (Z)来确定在检测光束路径的位置,b)中,执行一个分割成具有不同光路长度的至少两个检测光束路径检测出的偏移至一个检测器,c)中的活化或切换由多光子激发过程发生,最好是双光子激发,D) 有一个点扫描激活或开关,E)存在下进行行扫描激活或开关,F)试样的光的样品和检测的激发在宽视野模式下被执行,克)手动或自动地预先确定的样本区域被激活或接通, h)上的激活或切换由AOTF或SLM或DMD,ⅰ)一个频谱分割元件,优选的光栅将被用于在光路激活或光谱切换,j)的一个SLM或DMD增大分裂激光脉冲光栅具有受控的选择之后向上spalteter ķ之前激光脉冲分量)由SLM或DMD,L)执行激光远场激励由SLM或DMD,米)多光子电路所选择的ROI或经由微透镜阵列,优选为柱面透镜阵列,n)的切换和/或激励激活由行扫描仪进行 O)A线检测上方空间分辨传感器进行,包括具有至少两行的传感器,每一个多个传感器中的由具有光样本被照射的缝隙位置。
    • 4. 发明申请
    • FLUORESCENCE MICROSCOPE COMPRISING A PHASE MASK
    • 与相位模板荧光显微镜
    • WO2010037486A3
    • 2010-11-04
    • PCT/EP2009006817
    • 2009-09-22
    • ZEISS CARL MICROIMAGING GMBHKEMPE MICHAELKRAMPERT GERHARDKLEPPE INGOWOLLESCHENSKY RALF
    • KEMPE MICHAELKRAMPERT GERHARDKLEPPE INGOWOLLESCHENSKY RALF
    • G01N21/64G01B21/16
    • G01N21/6428G01N21/6458G01N2021/6417G02B21/0076G02B21/16
    • Disclosed is an apparatus, especially a microscope, characterized by a diffraction-limited resolution volume, comprising multiple dye molecules (UF) that can be switched between different states, at least one of which is fluorescent. The fluorescence is focused using an objective (O) and is imaged onto a spatially resolving detector. In at least one portion of the sample, the UF have a distribution density that is greater than the inverse of the diffraction-limited resolution volume. Said apparatus further comprises one or more light sources for emitting a switching radiation in order to switch a first subset of the UF in the sample, and for emitting an excitation radiation in order to excite the first subset of UF. A phase mask which generates a light distribution (PSF) having an at least partially limited local minimum radiation on the detector plane is provided in the beam path, preferably in the detection beam path. Alternatively, an axicon is provided for generating a Bessel distribution (PSF) on the detector plane, a means for structuring the illumination distribution is provided in the illumination beam path, means for spectrally splitting the sample light are provided in the detection beam path, a receiver array composed of position-sensitive receivers (psd) is provided for detection purposes, means causing a color-dependent light distribution (PSF) on the detector plane are provided in the detection beam path, or an achromatic beam splitter is arranged in or near the pupil.
    • 是设备,特别是显微镜,其特征在于通过衍射限制的分辨率体积,具有多个可切换的之间不同状态染料分子(UF),所述至少一个条件是荧光的,收集到的荧光与目标(O),并与一个位置敏感探测器上的光学系统成像 其中,UF具有分布密度在比衍射极限分辨率体积的倒数越大,样品的至少一部分上; 用于发射的切换辐射来切换所述样品中的UF的第一子集和用于发送激发辐射来激发UF,其中一个相位掩模在光路设置的第一子集,最好是在检测光路,一个在检测器平面中的一个或多个光源 通过局部辐射最小至少部分地限定或用于生成贝塞尔分布(PSF)的旋转三棱镜产生的光分布(PSF)是在检测器平面内,或者是提供的照明光束的路径,以构建照度分布的手段,或者在检测光束路径装置,用于将样品的光的光谱分离设置,或用于 检测,位置敏感接收器的接收器阵列(PSD)被提供,或在检测光束路径设置装置,一颜色相关的光分布(PSF)诱导检测器平面,或消色差分束 R位于或瞳孔附近。
    • 5. 发明申请
    • VORRICHTUNG, INSBESONDERE EIN MIKROSKOP, ZUR UNTERSUCHUNG VON PROBEN
    • 装置,尤其是显微镜,调查样本
    • WO2010037486A2
    • 2010-04-08
    • PCT/EP2009/006817
    • 2009-09-22
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHKEMPE, MichaelKRAMPERT, GerhardKLEPPE, IngoWOLLESCHENSKY, Ralf
    • KEMPE, MichaelKRAMPERT, GerhardKLEPPE, IngoWOLLESCHENSKY, Ralf
    • G01N21/64G01B21/16
    • G01N21/6428G01N21/6458G01N2021/6417G02B21/0076G02B21/16
    • Vorrichtung, insbesondere ein Mikroskop, charakterisiert durch ein beugungsbegrenztes Auflösungsvolumen, mit mehreren zwischen unterschiedlichen Zuständen umschaltbaren Farbstoffmolekülen (UF), wobei mindestens ein Zustand fluoreszierend ist, die Fluoreszenz mit einem Objektiv (O) gesammelt und mit einem optischen System auf einen ortsauflösenden Detektor abgebildet wird, wobei die UF in mindestens einem Teil der Probe eine Verteilungsdichte aufweisen, die größer ist als das Inverse des beugungsbegrenzten Auflösungsvolumens; einer oder mehrere Lichtquellen zur Aussendung einer Umschaltstrahlung, um eine erste Untermenge der UF in der Probe umzuschalten und zur Aussendung einer Anregungsstrahlung, um die erste Untermenge der UF anzuregen, wobei im Strahlengang, vorzugsweise im Detektionsstrahhlengang eine Phasenmaske vorgesehen ist, die in der Detektorebene eine Lichtverteilung (PSF) mit zumindest teilweise begrenztem lokalen Strahlungsminimum erzeugt oder ein Axicon zur Erzeugung einer Besselverteilung (PSF) in der Detektorebene vorgesehen ist oder im Beleuchtungsstrahlengang ein Mittel zur Strukturierung der Beleuchtungsverteilung vorgesehen ist oder im Beleuchtungsstrahlengang ein Mittel zur Strukturierung der Beleuchtungsverteilung vorgesehen ist oder im Detektionsstrahlengang sind Mittel zur spektralen Aufspaltung des Probenlichtes vorgesehen sind oder zur Detektion ein Empfängerarray aus positionsempfindlichen Empfängern ( psd) vorgesehen ist oder Mittel im Detektionsstrahlengang vorgesehen sind, die eine farbabhängige Lichtverteilung (PSF) in der Detektorebene hervorrufen oder ein achromatischer Strahlteiler in oder in der Nähe der Pupille angeordnet ist.
    • 是设备,特别是显微镜,其特征在于通过衍射限制的分辨率体积,具有多个可切换的之间不同状态染料分子(UF),所述至少一个条件是荧光的,收集到的荧光与目标(O),并与一个位置敏感探测器上的光学系统成像 其中,UF具有分布密度在比衍射极限分辨率体积的倒数越大,样品的至少一部分上; 用于发射的切换辐射来切换所述样品中的UF的第一子集和用于发送的激发辐射来激发在检测器平面中的UF,其中一个相位掩模在光路中设置,优选地在Detektionsstrahhlengang,一个的第一子集的一个或多个光源 通过局部辐射最小至少部分地限定或用于生成贝塞尔分布(PSF)的旋转三棱镜产生的光分布(PSF)是在检测器平面内,或者是提供的照明光束的路径,以构建照度分布的手段,或者在照明光束路径中,装置被提供用于照明分布的结构或 检测光束的路径,用于将所述样品的光的光谱分离设置,或用于检测位置灵敏的接收器的接收器阵列(PSD)被提供,或在检测光束路径装置被提供,二 Ë导致检测器平面中的颜色相关的光分布(PSF),或消色差分束器被布置在或靠近瞳孔。
    • 10. 发明申请
    • MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR ERFASSUNG VON PROBENLICHT
    • 显微镜和检测方法的样本LIGHT
    • WO2011116901A2
    • 2011-09-29
    • PCT/EP2011/001320
    • 2011-03-17
    • Carl Zeiss MicroImaging GmbHKALKBRENNER, ThomasWOLLESCHENSKY, Ralf
    • KALKBRENNER, ThomasWOLLESCHENSKY, Ralf
    • G02B21/00
    • G02B21/0056G02B21/0032G02B21/0076G02B26/06
    • Mikroskop und Verfahren zur Erfassung von Probenlicht, mit mindestens einem Beleuchtungsstrahl, der entlang seines Querschnitts teilweise mit einer Modulationsfrequenz phasenmoduliert wird und einem Mikroskopobjektiv zur intensitätsmodulierten Fokussierung des Beleuchtungsstrahls in eine Probe sowie einem Detektionsstrahlengang mit mindestens einem Demodulator wobei vorteilhaft mindestens ein elektrooptischer Modulator (EOM) zur Phasenmodulation mindestens eines Teils, vorzugsweise der Hälfte des Beleuchtungsstrahls eingesetzt wird oder unterschiedliche Strahlabschnitte - oder hälften des Beleuchtungsstrahls durch gegenphasige Ansteuerung von Piezoelementen unterschiedlich, vorzugsweise gegenphasig, moduliert werden oder akustooptische Modulatoren zur Aufteilung in mehrere Teilstrahlengänge sowie optischen Elemente zur teilweisen Phasenmodulation des Anregungsstrahls vorgesehen sind sowie vorteilhaft Stellelemente zur Einstellung des Phasenunterschieds vorgesehen sind oder mindestens ein optischer Modulator, vorzugsweise ein akustooptischer Modulator (AOM), zur Demodulation in der Detektion eingesetzt wird oder eine Änderung der Betriebsweise der Detektoren zur Demodulation erfolgt oder bei einer Fokiverteilung, beispielsweise erzeugt durch eine rotierende Mikrolinsenscheibe oder einer Multispoterzeugung wird den Einzelfoki eine Intentsitätsmodulation aufgeprägt, entweder durch Anordnung einer Halbraumphasenmaske in einer Pupillenebene des Objektives oder durch Einzelbeeinflussung jedes Teilstrahles indem er entlang seines Querschnitts teilweise mit einer Modulationsfrequenz phasenmoduliert wird oder Beeinflussung eines Strahls indem er entlang seines Querschnitts teilweise mit einer Modulationsfrequenz phasenmoduliert wird und seiner nachfolgender Aufteilung.
    • 显微镜和方法,用于检测样品的光的,随着调制频率和显微镜物镜的照明光束的强度调制聚焦到样品,并用至少一个解调器检测光束路径的横截面具有至少一个照明光束,其是部分地调相的,其中,有利的是至少一个电光调制器(EOM) 相位调制的至少一部分,优选地,照明光束的一半被使用,或光束的不同部分 - 或照明光束半部的不同由压电元件的反相位驱动,优选地在相反的相位,对于划分成设置有多个光路和用于激发光束的局部相位调制的光学元件被调制或声光调制器 提供了用于调整相位差和有利地调节元件,或丝毫 NS,光调制器,优选一个声光调制器(AOM)用于解调在检测或存在检测器,用于解调或者Fokiverteilung的操作的改变,例如,通过旋转微透镜盘或一个多点生成单元生成在所述Einzelfoki一个Intentsitätsmodulation印迹 ,或者通过由被部分地相伴随的调制频率其横截面和它的随后的除法调制通过被部分地相伴随的调制频率或修改光束的横截面调制布置在透镜的光瞳平面或由每个部分光束的个体影响的半空间相位掩模。