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    • 1. 发明申请
    • MIKROSKOP
    • 显微镜
    • WO2011036094A1
    • 2011-03-31
    • PCT/EP2010/063665
    • 2010-09-17
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHLIPPERT, HelmutWALD, MatthiasPOWER, ChristopherHAUSCHILD, Robert
    • LIPPERT, HelmutWALD, MatthiasPOWER, ChristopherHAUSCHILD, Robert
    • G02B21/02G02B21/24G02B21/06
    • G02B21/241G02B21/002G02B21/06
    • Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, umfassend eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, außerdem umfassend eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z) sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen, und wobei die Detektierungseinrichtung außerdem im Detektierungsstrahlengang ein Detektierungsobjektiv (2) umfaßt. Bei einem solchen Mikroskop umfaßt die Detektierungseinrichtung (1) außerdem ein von einer Frontlinse des Detektierungsobjektivs (2) räumlich getrennt angeordnetes und von dieser unabhängig verstellbares optisches Detektierungselement, mittels dessen die Größe eines Detektierungsbildfeldes stufenlos variierbar ist, und / oder mittels dessen eine Detektierungsfokusebene im Probenbereich (P) stufenlos verschiebbar ist.
    • 本发明涉及包含产生与光片以照明样本区域(P),一个照明装置(19)的显微镜,其在照明轴线(X)的照明光束路径的方向上和在横向轴线(Y)的方向横向于照明的轴线 (X),也大致平坦展开,其包括一个检测装置(1),与所述光,其沿着Detektierungsstrahlengangs的从样品区的Detektierungsachse(Z)(P)发射的检测,所述照明轴线(X)和Detektierungsachse( Z)和横向轴线(Y)和Detektierungsachse(Z)相互之间保持一个非零角度,并且其中,所述检测装置还包括在Detektierungsobjektiv Detektierungsstrahlengang(2)。 在这样的显微镜,所述检测装置(1)还包括所述Detektierungsobjektivs的前透镜(2)在空间上分开且光学从此独立可调的检测元件,借助于该一个Detektierungsbildfeldes的大小排列的一个无限可变,和/或借助于所述一个Detektierungsfokusebene样本区域的 (P)是连续移动的。
    • 3. 发明申请
    • MIKROSKOP
    • 显微镜
    • WO2011036097A1
    • 2011-03-31
    • PCT/EP2010/063668
    • 2010-09-17
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHLIPPERT, HelmutWALD, MatthiasGOELLES, MichaelHAUSCHILD, RobertBATHE, Wolfgang
    • LIPPERT, HelmutWALD, MatthiasGOELLES, MichaelHAUSCHILD, RobertBATHE, Wolfgang
    • G02B26/08G02B21/00G02B21/36
    • G02B21/0032G02B21/0036G02B21/006G02B21/0064G02B21/0076G02B21/367G02B26/0891
    • Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, umfassend eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z), sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen, die Detektierungseinrichtung (1 ) umfassend ein im Detektierungsstrahlengang angeordnetes Detektierungsobjektiv (2) sowie Aufteilungsmittel zur Aufteilung des Detektierungs-Strahlengangs in zwei Teilstrahlengänge (14, 15), wobei in den Teilstrahlengängen (14, 15) jeweils ein ortsauflösender Flächendetektor (4) bzw. (4') angeordnet ist, auf den das zu detektierende Licht abbildbar ist, und die Aufteilungsmittel umfassend mindestens einen dichroitischen Strahlteiler (13, 40). Bei einem solchen Mikroskop weist der dichroitische Strahlteiler (13) im Strahlengang im Nah-Unendlichen (12) bezüglich der ortsauflösenden Flächendetektoren (4, 4') angeordnet ist und eine Dicke von mindestens 3 mm auf. In jedem der beiden Teilstrahlengänge (14, 15) sind optische Abbildungselemente (5) bzw. (5') zur Abbildung des zu detektierenden Lichts auf den jeweiligen Flächendetektor (4) bzw. (4') angeordnet. Zudem ist in mindestens einem der beiden Teilstrahlengänge (14, 15) mindestens eine Wackelplatten zur Erzeugung eines Strahlversatzes entlang zweier zueinander orthogonalen Richtungen quer zur Detektierungsachse (Z) angeordnet, so daß automatisierte Überlagerungen von aus den beiden Flächendetektoren (4, 4') ausgelesenen Meßwerten vornehmbar sind.
    • 本发明涉及包含产生与光片以照明样本区域(P),一个照明装置(19)的显微镜,其在照明轴线(X)的照明光束路径的方向上和在横向轴线(Y)的方向横向于照明的轴线 (X)是大致平坦的延伸,一个检测装置(1),与所述光,其沿着Detektierungsstrahlengangs的从样品区的Detektierungsachse(Z)(P)发射的检测,所述照明轴线(X)和Detektierungsachse(Z) 和横向轴线(Y)和Detektierungsachse(Z)处于非零角度向对方,所述检测设备(1)包括设置在Detektierungsstrahlengang Detektierungsobjektiv一阀(2)和分割用于将Detektierungs光束路径分为两条部分光束路径(14,15)的装置 其中,在所述部分光束路径(14,15)每个都具有一个固定的溶解 布置方向区域检测器(4)或(4“),其上待检测的光可以被成像,并且分束装置包括至少一个二向色分束器(13,40)。 在这样的显微镜,在在近无穷大的光束路径中的二向色分束器(13)(12)相对于所述位置敏感区域检测器(4,4“)被布置成,厚度为至少3mm。 在所述两个部分光束路径(14,15)是光学成像元件“用于成像的光的各区域检测器(4)或(4上被检测(5)或(5)”)布置。 此外,在这两个部分光束路径中的至少一个(14,15)被布置在至少一个摇摆板,用于产生光束沿两个相互正交的方向横向于所述Detektierungsachse(Z)偏移,所以该自动叠加来自两个表面检测器(4,4“)中读出的测量值 是vornehmbar。
    • 4. 发明申请
    • MIKROSKOP
    • 显微镜
    • WO2011036095A1
    • 2011-03-31
    • PCT/EP2010/063666
    • 2010-09-17
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHLIPPERT, HelmutWALD, MatthiasGOELLES, MichaelHAUSCHILD, Robert
    • LIPPERT, HelmutWALD, MatthiasGOELLES, MichaelHAUSCHILD, Robert
    • G02B21/06G02B21/00
    • G02B21/06G02B21/0032G02B21/0076G02B21/16G02B26/08G02B27/0911
    • Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, umfassend eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, sowie eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z), sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen. Die Beleuchtungseinrichtung (19) umfaßt dabei erste Lichtblatterzeugungsmittel, diese wiederum umfassen Mittel zur Erzeugung eines rotationssymmetrischen Lichtstrahls und Abtastmittel zur lichtblattförmigen Abtastung des Probenbereichs (P) entlang der Querachse (Y) in einem vorgegebenen Zeitintervall. Bei einem solchen Mikroskop umfaßt die Beleuchtungseinrichtung (19) zweite Lichtblatterzeugungsmittel, diese wiederum umfassen ein erstes astigmatisch wirkendes optisches Element (27) mit mindestens einer astigmatischen Linse zur Erzeugung eines statischen Lichtblatts. Außerdem sind Auswahlmittel vorgesehen, mit denen zur Erzeugung des Lichtblattes entweder die ersten oder die zweiten Lichtblatterzeugungsmittel oder beide gemeinsam auswählbar sind.
    • 本发明涉及包含产生与光片以照明样本区域(P),一个照明装置(19)的显微镜,其在照明轴线(X)的照明光束路径的方向上和在横向轴线(Y)的方向横向于照明的轴线 (X)是大致平坦的延长,和一个检测装置(1),与所述光,该光沿着从样品区的Detektierungsstrahlengangs(P)的一个Detektierungsachse(Z)发射的检测,所述照明轴线(X)和Detektierungsachse(Z )和横向轴线(Y)和Detektierungsachse(Z)相互之间保持一个非零角度。 该照明装置(19),从而包括第一光片生成装置进而包括用于产生旋转对称的光束和扫描装置,以在预定的时间间隔沿横向轴线(Y)的样品区(P)的光的片状扫描。 在这样的显微镜,照明装置(19)包括第二光片生成装置依次包括第一散光作用在具有至少用于产生静态光片像散透镜的光学元件(27)。 此外,选择装置由产生光片,或者第一或第二光片生成装置或两者共同提供可选择的。
    • 6. 发明公开
    • MIKROSKOP
    • 显微镜
    • EP2480926A1
    • 2012-08-01
    • EP10754513.9
    • 2010-09-17
    • Carl Zeiss MicroImaging GmbH
    • LIPPERT, HelmutWALD, MatthiasGOELLES, MichaelHAUSCHILD, RobertBATHE, Wolfgang
    • G02B26/08G02B21/00G02B21/36
    • G02B21/0032G02B21/0036G02B21/006G02B21/0064G02B21/0076G02B21/367G02B26/0891
    • The invention relates to a microscope comprising an illumination device (19) which produces a sheet of light to illuminate a sample region (P), said sheet having an approximately planar extension in the direction of an illumination axis (X) of an illumination beam path and in the direction of a transverse axis (Y) lying at a right angle to the illumination axis (X). The microscope further comprises a detection device (1) used to detect light that is emitted by the sample region (P) along an axis of detection (Z) of a detection beam path, the illumination axis (X) and the axis of detection (Z) as well as the transverse axis (Y) and the axis of detection (Z) being oriented relative each other at an angle unequal zero. The detection device (1) comprises a detection lens system (2) arranged in the detection beam path and splitting means for splitting the detection beam path into two beam sub-paths (14, 15), spatially resolved surface detectors (4) or (4') being arranged in the respective beam sub-paths (14, 15) onto which surface detectors the light to be detected can be imaged, and the splitting means comprising at least one dichroic beam splitter (13, 40). The dichroic beam splitter (13) of the microscope according to the invention is arranged in the beam path in the close-up to infinity region (12) with respect to the spatially resolved surface detectors (4, 4') and has a thickness of at least 3 mm. Optical imaging elements (5) or (5') for imaging the light to be detected onto the respective surface detector (4) or (4') are arranged in every beam sub-path (14, 15). At least one wobble plate for producing a beam offset along two directions that are orthogonal to each other at a right angle to the detection axis (Z) is arranged in at least one of the two beam sub-paths (14, 15) so that measured values read out from the two surface detectors (4, 4') can be automatically superimposed.
    • 7. 发明公开
    • MIKROSKOP
    • EP2480923A1
    • 2012-08-01
    • EP10752843.2
    • 2010-09-17
    • Carl Zeiss MicroImaging GmbH
    • LIPPERT, HelmutWALD, MatthiasGOELLES, MichaelHAUSCHILD, Robert
    • G02B21/06G02B21/00
    • G02B21/06G02B21/0032G02B21/0076G02B21/16G02B26/08G02B27/0911
    • The invention relates to a microscope comprising an illumination device (19) which produces a sheet of light to illuminate a sample region (P), said sheet having an approximately planar extension in the direction of an illumination axis (X) of an illumination beam path and in the direction of a transverse axis (Y) lying at a right angle to the illumination axis (X). The microscope further comprises a detection device (1) used to detect light that is emitted by the sample region (P) along an axis of detection (Z) of a detection beam path, the illumination axis (X) and the axis of detection (Z) as well as the transverse axis (Y) and the axis of detection (Z) being oriented relative each other at an angle unequal zero. The illumination device (19) comprises first sheet of light producing means, which in turn have means for producing a rotationally symmetrical light beam and scanning means for scanning, in the manner of a sheet of light scanner, the sample region (P) along the transverse axis (Y) in a predetermined time interval. The illumination device (19) of the microscope according to the invention comprises second sheet of light producing means, which in turn have a first astigmatically active optical element (27) with at least one astigmatic lens for producing a static sheet of light. The microscope further has selection elements which can be used to select either the first or the second sheet of light producing means or both together to produce the sheet of light.
    • 本发明涉及一种显微镜,该显微镜包括照明装置(19),该照明装置(19)产生照射样本区域(P)的光片,所述片具有沿照明光束路径(X)的照射轴线 和在与照明轴线(X)成直角的横向轴线(Y)的方向上。 显微镜还包括用于检测由样品区域(P)沿着检测光束路径的检测轴(Z)发射的光的检测装置(1),照明轴(X)和检测轴( Z)以及横轴(Y)和检测轴(Z)相对于彼此以不等于零的角度取向。 照明装置(19)包括第一片光产生装置,其依次具有用于产生旋转对称光束的装置和用于以光学扫描仪的方式扫描样本区域(P)的样本区域(P)的扫描装置, 横轴(Y)以预定的时间间隔。 根据本发明的显微镜的照明装置(19)包括第二片光产生装置,其又具有第一散光有源光学元件(27),其具有至少一个散光透镜以产生静态光片。 该显微镜还具有选择元件,其可用于选择第一或第二片光产生装置或两者一起以产生光片。