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1. 发明申请

WO2011036097A1 MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：显微镜
公开(公告)号：WO2011036097A1
公开(公告)日：2011-03-31
申请号：PCT/EP2010/063668
申请日：2010-09-17
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , LIPPERT, Helmut , WALD, Matthias , GOELLES, Michael , HAUSCHILD, Robert , BATHE, Wolfgang
发明人： LIPPERT, Helmut , WALD, Matthias , GOELLES, Michael , HAUSCHILD, Robert , BATHE, Wolfgang
IPC分类号： G02B26/08 , G02B21/00 , G02B21/36
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/0036 , G02B21/006 , G02B21/0064 , G02B21/0076 , G02B21/367 , G02B26/0891
摘要： Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, umfassend eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z), sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen, die Detektierungseinrichtung (1 ) umfassend ein im Detektierungsstrahlengang angeordnetes Detektierungsobjektiv (2) sowie Aufteilungsmittel zur Aufteilung des Detektierungs-Strahlengangs in zwei Teilstrahlengänge (14, 15), wobei in den Teilstrahlengängen (14, 15) jeweils ein ortsauflösender Flächendetektor (4) bzw. (4') angeordnet ist, auf den das zu detektierende Licht abbildbar ist, und die Aufteilungsmittel umfassend mindestens einen dichroitischen Strahlteiler (13, 40). Bei einem solchen Mikroskop weist der dichroitische Strahlteiler (13) im Strahlengang im Nah-Unendlichen (12) bezüglich der ortsauflösenden Flächendetektoren (4, 4') angeordnet ist und eine Dicke von mindestens 3 mm auf. In jedem der beiden Teilstrahlengänge (14, 15) sind optische Abbildungselemente (5) bzw. (5') zur Abbildung des zu detektierenden Lichts auf den jeweiligen Flächendetektor (4) bzw. (4') angeordnet. Zudem ist in mindestens einem der beiden Teilstrahlengänge (14, 15) mindestens eine Wackelplatten zur Erzeugung eines Strahlversatzes entlang zweier zueinander orthogonalen Richtungen quer zur Detektierungsachse (Z) angeordnet, so daß automatisierte Überlagerungen von aus den beiden Flächendetektoren (4, 4') ausgelesenen Meßwerten vornehmbar sind.
摘要翻译：本发明涉及包含产生与光片以照明样本区域（P），一个照明装置（19）的显微镜，其在照明轴线（X）的照明光束路径的方向上和在横向轴线（Y）的方向横向于照明的轴线（X）是大致平坦的延伸，一个检测装置（1），与所述光，其沿着Detektierungsstrahlengangs的从样品区的Detektierungsachse（Z）（P）发射的检测，所述照明轴线（X）和Detektierungsachse（Z）和横向轴线（Y）和Detektierungsachse（Z）处于非零角度向对方，所述检测设备（1）包括设置在Detektierungsstrahlengang Detektierungsobjektiv一阀（2）和分割用于将Detektierungs光束路径分为两条部分光束路径（14，15）的装置其中，在所述部分光束路径（14，15）每个都具有一个固定的溶解布置方向区域检测器（4）或（4“），其上待检测的光可以被成像，并且分束装置包括至少一个二向色分束器（13，40）。在这样的显微镜，在在近无穷大的光束路径中的二向色分束器（13）（12）相对于所述位置敏感区域检测器（4，4“）被布置成，厚度为至少3mm。在所述两个部分光束路径（14，15）是光学成像元件“用于成像的光的各区域检测器（4）或（4上被检测（5）或（5）”）布置。此外，在这两个部分光束路径中的至少一个（14，15）被布置在至少一个摇摆板，用于产生光束沿两个相互正交的方向横向于所述Detektierungsachse（Z）偏移，所以该自动叠加来自两个表面检测器（4，4“）中读出的测量值是vornehmbar。

2. 发明申请

WO2011036095A1 MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：显微镜
公开(公告)号：WO2011036095A1
公开(公告)日：2011-03-31
申请号：PCT/EP2010/063666
申请日：2010-09-17
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , LIPPERT, Helmut , WALD, Matthias , GOELLES, Michael , HAUSCHILD, Robert
发明人： LIPPERT, Helmut , WALD, Matthias , GOELLES, Michael , HAUSCHILD, Robert
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/06 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/16 , G02B26/08 , G02B27/0911
摘要： Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, umfassend eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, sowie eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z), sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen. Die Beleuchtungseinrichtung (19) umfaßt dabei erste Lichtblatterzeugungsmittel, diese wiederum umfassen Mittel zur Erzeugung eines rotationssymmetrischen Lichtstrahls und Abtastmittel zur lichtblattförmigen Abtastung des Probenbereichs (P) entlang der Querachse (Y) in einem vorgegebenen Zeitintervall. Bei einem solchen Mikroskop umfaßt die Beleuchtungseinrichtung (19) zweite Lichtblatterzeugungsmittel, diese wiederum umfassen ein erstes astigmatisch wirkendes optisches Element (27) mit mindestens einer astigmatischen Linse zur Erzeugung eines statischen Lichtblatts. Außerdem sind Auswahlmittel vorgesehen, mit denen zur Erzeugung des Lichtblattes entweder die ersten oder die zweiten Lichtblatterzeugungsmittel oder beide gemeinsam auswählbar sind.
摘要翻译：本发明涉及包含产生与光片以照明样本区域（P），一个照明装置（19）的显微镜，其在照明轴线（X）的照明光束路径的方向上和在横向轴线（Y）的方向横向于照明的轴线（X）是大致平坦的延长，和一个检测装置（1），与所述光，该光沿着从样品区的Detektierungsstrahlengangs（P）的一个Detektierungsachse（Z）发射的检测，所述照明轴线（X）和Detektierungsachse（Z ）和横向轴线（Y）和Detektierungsachse（Z）相互之间保持一个非零角度。该照明装置（19），从而包括第一光片生成装置进而包括用于产生旋转对称的光束和扫描装置，以在预定的时间间隔沿横向轴线（Y）的样品区（P）的光的片状扫描。在这样的显微镜，照明装置（19）包括第二光片生成装置依次包括第一散光作用在具有至少用于产生静态光片像散透镜的光学元件（27）。此外，选择装置由产生光片，或者第一或第二光片生成装置或两者共同提供可选择的。

3. 发明申请

WO2011036094A1 MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：显微镜
公开(公告)号：WO2011036094A1
公开(公告)日：2011-03-31
申请号：PCT/EP2010/063665
申请日：2010-09-17
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , LIPPERT, Helmut , WALD, Matthias , POWER, Christopher , HAUSCHILD, Robert
发明人： LIPPERT, Helmut , WALD, Matthias , POWER, Christopher , HAUSCHILD, Robert
IPC分类号： G02B21/02 , G02B21/24 , G02B21/06
CPC分类号： G02B21/241 , G02B21/002 , G02B21/06
摘要： Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, umfassend eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, außerdem umfassend eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z) sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen, und wobei die Detektierungseinrichtung außerdem im Detektierungsstrahlengang ein Detektierungsobjektiv (2) umfaßt. Bei einem solchen Mikroskop umfaßt die Detektierungseinrichtung (1) außerdem ein von einer Frontlinse des Detektierungsobjektivs (2) räumlich getrennt angeordnetes und von dieser unabhängig verstellbares optisches Detektierungselement, mittels dessen die Größe eines Detektierungsbildfeldes stufenlos variierbar ist, und / oder mittels dessen eine Detektierungsfokusebene im Probenbereich (P) stufenlos verschiebbar ist.
摘要翻译：本发明涉及包含产生与光片以照明样本区域（P），一个照明装置（19）的显微镜，其在照明轴线（X）的照明光束路径的方向上和在横向轴线（Y）的方向横向于照明的轴线（X），也大致平坦展开，其包括一个检测装置（1），与所述光，其沿着Detektierungsstrahlengangs的从样品区的Detektierungsachse（Z）（P）发射的检测，所述照明轴线（X）和Detektierungsachse（ Z）和横向轴线（Y）和Detektierungsachse（Z）相互之间保持一个非零角度，并且其中，所述检测装置还包括在Detektierungsobjektiv Detektierungsstrahlengang（2）。在这样的显微镜，所述检测装置（1）还包括所述Detektierungsobjektivs的前透镜（2）在空间上分开且光学从此独立可调的检测元件，借助于该一个Detektierungsbildfeldes的大小排列的一个无限可变，和/或借助于所述一个Detektierungsfokusebene样本区域的（P）是连续移动的。

4. 发明申请

WO2011036096A1 MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：显微镜
公开(公告)号：WO2011036096A1
公开(公告)日：2011-03-31
申请号：PCT/EP2010/063667
申请日：2010-09-17
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , LIPPERT, Helmut , WOLLESCHENSKY, Ralf , HAUSCHILD, Robert
发明人： LIPPERT, Helmut , WOLLESCHENSKY, Ralf , HAUSCHILD, Robert
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/06 , G02B21/0032 , G02B21/0076
摘要： Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, welches eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges (35) und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, sowie eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z), sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen, umfaßt. Die Beleuchtungseinrichtung (19) umfaßt auch Mittel zur Umlenkung von Beleuchtungslicht in einen weiteren Beleuchtungsstrahlengang (36) und zur Erzeugung eines weiteren Lichtblatts, wobei das Lichtblatt und das weitere Lichtblatt den Probenbereich (P) auf der gleichen Beleuchtungsachse (X) aus entgegengesetzten Richtungen beleuchten, sowie Umschaltmittel zur Umschaltung des Beleuchtungslichts zwischen dem Beleuchtungsstrahlengang (35) und dem weiteren Beleuchtungsstrahlengang (36). Die Detektierungseinrichtung (1) umfaßt auch ein Detektierungsobjektiv (2) zur Abbildung von aus dem Probenbereich (P) abgestrahltem Licht auf einen ortsauflösenden Flächendetektor (4) zur ortsabhängigen Detektierung des Lichts. Bei einem solchen Mikroskop umfassen die Umschaltmittel ein schnell schaltbares Umschaltelement mit einer Schaltzeit von weniger als 10 ms, wobei eine vorgegebene Integrationszeit des Flächendetektors (4) und die Schaltzeit des Umschaltelements so aufeinander abgestimmt sind, daß der Probenbereich (P) während der Integrationszeit auf der Beleuchtungsachse (X) mindestens einmal aus jeder Richtung beleuchtet wird.
摘要翻译：本发明涉及具有照明装置（19）产生与光片以照明样本区域（P），一个显微镜，其在照明轴线（X）的照明光束路径（35）的方向上和在一横向轴线的方向（Y）横向于所述照明轴线（X），是近似平面的延长，和一个检测装置（1），与所述光，该光沿着从样品区的Detektierungsstrahlengangs（P）的一个Detektierungsachse（Z）发射的检测，所述照明轴线（X）和 Detektierungsachse（Z）和横向轴线（Y）和Detektierungsachse（Z）相互之间保持一个非零角度包括。该照明装置（19）还包括用于在进一步的照明光束路径偏转的照明光装置（36）和用于产生另外的光片，所述光片与其它光片材上的相同的照明轴从相反方向（X）的光的样品区（P），和切换装置，用于切换照明光束路径（35）和所述另外的照明光束路径（36）之间的照明光。所述检测装置（1）还包括一个Detektierungsobjektiv（2），用于从样本区域（P）出射的光为光的依赖于位置的检测位置敏感区域检测器（4）的映射。在这样的显微镜，所述开关装置包括具有小于10ms的切换时间快速切换的切换，与区域检测器（4）和所述开关元件的开关时间的预定积分时间是匹配的，使得在积分时间对样品区域（P）照明轴线（X）在每个方向上被照亮至少一次。

5. 发明申请

WO2009043472A2 VERFAHREN ZUR MIKROSKOPISCHEN DREIDIMENSIONALEN ABBILDUNG EINER PROBE 审中-公开
标题翻译：用于样品的显微三维成像的方法
公开(公告)号：WO2009043472A2
公开(公告)日：2009-04-09
申请号：PCT/EP2008/007686
申请日：2008-09-16
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , LIPPERT, Helmut , RADT, Benno , KEMPE, Michael , DIETRICH, Christian
发明人： LIPPERT, Helmut , RADT, Benno , KEMPE, Michael , DIETRICH, Christian
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/24 , G02B21/36
CPC分类号： G06T7/97 , G02B21/002 , G02B21/244 , G02B21/367
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf Verfahren zur dreidimensionalen Abbildung einer Probe, bei dem Bildinformationen aus unterschiedlichen Ebenen in der Tiefe der Probe ortsaufgelöst gespeichert werden und anschließend aus diesen Bildin formationen das dreidimensionale Bild der Probe rekonstruiert wird. Bei einem derartigen Verfahren, das sich auf die Methode der Selective-Plane-Illumination-Microscopy (SPIM) bezieht, ist erfindungsgemäß vorgesehen, daß - das Beleuchtungslicht mit einer Referenzstruktur beaufschlagt wird, - mindestens ein fluoreszierendes Referenzobjekt neben oder in der Probe positioniert wird, - aus mindestens einer Detektionsrichtung Bilder von der Referenzstruktur des Beleuchtungslichts, des Referenzobjektes oder einer als Referenzstruktur geeigneten Probenstruktur aufgenommen und bewertet werden, - anhand des Ergebnisses das Lichtblatt in eine optimale Position gebracht wird, - aus mehreren Detektionsrichtungen Bildinformationen von dem Referenzobjekt und von der Probe gespeichert werden, - anhand der vom Referenzobjekt gespeicherten Bildinformationen Transformationsoperatoren gewonnen und diese der Rekonstruktion der dreidimensionalen Abbildung der Probe aus den von der Probe gespeicherten Bildinformationen zugrunde gelegt werden.
摘要翻译：
本发明涉及一种用于样品的三维成像，方法，其中，从不同的平面中空间分辨＆OUML样品的深度的图像信息;被存储并随后＆ST这个的ROAD端画中画地层样品的三维图像重建是。在这种涉及选择性平面照明显微镜（SPIM）方法的方法中，根据本发明。只要＆s; - 所述照明光施加到参考结构， - 至少一个荧光基准对象被定位成邻近或样品内， - 至少一个检测方向上的图像被记录和由参考对象或适当的参考结构样本结构的照明光的参考结构评价 - 的基础上结果，光片被带入的最佳位置， - 从所存储的从所述样品的图像信息从所述参考对象的图像信息变换算符存储的数据的基础上，使样品的三维图像的重建得到的 - 被存储的多个参考对象和检测方向的图像信息的样本的基于。

6. 发明申请

WO2008131840A3 PROBENHALTERUNG FÜR EIN MIKROSKOP 审中-公开
公开(公告)号：WO2008131840A3
公开(公告)日：2008-11-06
申请号：PCT/EP2008/002681
申请日：2008-04-04
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , LIPPERT, Helmut , POWER, Christopher , DIETRICH, Christian , RADT, Benno
发明人： LIPPERT, Helmut , POWER, Christopher , DIETRICH, Christian , RADT, Benno
IPC分类号： G02B21/26
摘要： Die Erfindung betrifft eine Probenhalterung für ein Mikroskop, umfassend eine mit einer Immersionsflüssigkeit gefüllte Probenkammer (1), in der sich eine in ein transparentes Einbettmedium eingebettete Probe (3) in einem Halter befindet, wobei die Probenkammer eine obere Öffnung aufweist, Mittel zur Translation der Probe relativ zu einem Detektionsobjektiv des Mikroskops, sowie Mittel zur Rotation der Probe um eine im wesentlichen vertikale Rotationsachse, die in einer Ebene liegt, die mit der optischen Achse des Detektionsobjektives einen von Null verschiedenen Winkel einschließt. Bei einer solchen Probenhalterung weisen die Mittel zur Rotation der Probe einen Rotationsantrieb (4) mit einer Magnetkupplung (5, 6) oder einen oberhalb der Probenkammer angeordneten Riemen- und/oder Zahnrad-Rotationsantrieb auf, die die Rotationsbewegung auf den Halter übertragen, oder die Rotationsbewegung wird direkt über die Bewegung der gesamten Probenkammer erreicht.

7. 发明申请

WO2009100830A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM RÄUMLICHEN HOCHAUFLÖSENDEN ABBILDEN EINER STRUKTUR EINER PROBE 审中-公开
标题翻译：装置和方法对样品的结构的空间高分辨率成像
公开(公告)号：WO2009100830A1
公开(公告)日：2009-08-20
申请号：PCT/EP2009/000677
申请日：2009-02-03
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , WOLLESCHENSKY, Ralf , LIPPERT, Helmut , POWER, Christopher , RADT, Benno
发明人： WOLLESCHENSKY, Ralf , LIPPERT, Helmut , POWER, Christopher , RADT, Benno
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/10 , G01N21/64
CPC分类号： G02B21/002 , G01N21/6458 , G02B21/10 , G02B27/58
摘要： Vorrichtung und Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe, insbesondere ein Mikroskop, charakterisiert durch ein beugungsbegrenztes Auflösungsvolumen, mit mehreren zwischen unterschiedlichen Zuständen umschaltbaren Farbstoffmolekülen (UF), wobei mindestens ein Zustand fluoreszierend ist, die Fluoreszenz mit einem Objektiv (O) gesammelt und mit einem optischen System auf einen ortsauflösenden Detektor abgebildet wird, wobei die UF in mindestens einem Teil der Probe eine Verteilungsdichte aufweisen, die größer ist als das Inverse des beugungsbegrenzten Auflösungsvolumens; einer oder mehrere Lichtquellen zur Aussendung einer Umschaltstrahlung, um eine erste Untermenge der UF in der Probe umzuschalten und zur Aussendung einer Anregungsstrahlung, um die erste Untermenge der UF anzuregen, wobei mindestens eine der Lichtquellen derart angeordnet ist, dass sie die Probe durchstrahlt und eine Umschaltung und / oder Fluoreszenzanregung der UF in der Probe zumindest in einer Richtung annähernd senkrecht zur optischen Achse und insbesondere im Fokus des Objektives (O) erfolgt, wobei vorteilhaft die Umschaltung eine Photoaktivierung oder -deaktivierung der UF ist und die Lichtquelle zur Umschaltung und / oder die Lichtquelle zur Anregung eine Fokussieranordnung zur Erzeugung eines in Richtung der Beleuchtung ausgedehnten zumindest in einer Richtung zumindest annähernd senkrecht zur optischen Achse des Objektivs linienartigen Beleuchtungsbereiches vorgesehen ist.
摘要翻译：装置和试样的结构的高空间分辨率成像，尤其是显微镜，其特征在于通过衍射限制的分辨率体积，具有多个可切换的之间不同状态染料分子（UF）的方法，所述至少一个条件是荧光的，收集到的荧光与目标（O）和由位置敏感检测器上的光学系统成像，所述UF具有在比衍射极限分辨率体积的倒数越大，样品的至少一部分上的分布密度; 一个或多个用于发射切换辐射来切换所述样品中的UF的第一子集和用于发送激发辐射来激发UF，其中所述光源中的至少一个被布置为使得其照射所述样品的所述第一子集多个光源，并切换和/或样品中的UF的荧光激发发生在一个方向上至少近似垂直于所述光轴，并且特别是在物镜的焦点（O），其中，有利地，所述开关是光激活或UF的失活和光源，用于切换和/或是用于在照明的方向上产生激动人心的聚焦光源的方向上至少延伸垂直于该目标线状照明区域的光学轴至少大致设置之一。

8. 发明申请

WO2009043485A1 VERFAHREN UND OPTISCHE ANORDNUNG ZUR UNTERSUCHUNG EINER PROBE 审中-公开
标题翻译：方法和系统样品的光学调查
公开(公告)号：WO2009043485A1
公开(公告)日：2009-04-09
申请号：PCT/EP2008/007784
申请日：2008-09-18
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , POWER, Christopher , LIPPERT, Helmut , DIETRICH, Christian , RADT, Benno
发明人： POWER, Christopher , LIPPERT, Helmut , DIETRICH, Christian , RADT, Benno
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/18
CPC分类号： G02B21/361 , G02B21/008 , G02B21/06
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Untersuchung einer Probe (1). Die Probe (1) ist um eine Rotationsachse rotierbar und in alle drei Raumrichtungen verschiebbar gelagert. Sie wird über eine erste Beleuchtungseinrichtung mit einem Lichtblatt parallel zur Rotationsachse beleuchtet. Von der Probe (1) abgestrahltes Licht wird über ein Abbildungsobjektiv (7) mit einer optischen Achse, die die Ebene des Lichtblatts senkrecht schneidet, auf eine Detektierungseinrichtung als Schnittbild abgebildet. Es werden mehrere Schnittbilder der Probe bei verschiedenen Einstellungen des Rotationswinkels aufgenommen, für einen Teil der Schnittbilder wird die Probe (1) zwischen den Aufnahmen gedreht und/oder verschoben. Die aufgenommenen Schnittbilder werden registriert und zu einem ersten Datensatz von räumlichen Bilddaten der Probe (1) fusioniert. Bei einem solchen Verfahren wird die Probe (1) über eine zweite Beleuchtungseinrichtung senkrecht zur Rotationsachse beleuchtet, wobei das Abbildungsobjektiv (7) mindestens einen Teil der Probe (1) als Schattenbild auf die Detektierungseinrichtung projiziert, und wobei mehrere Schattenbilder der Probe (1) aufgenommen werden und mindestens für einen Teil der Schattenbilder die Probe (1) zwischen den Aufnahmen gedreht und/oder verschoben wird. Aus den aufgenommenen Schattenbildern wird mittels eines Rückprojektionsalgorithmus ein zweiter Datensatz von räumlichen Bilddaten der Probe (1) konstruiert.
摘要翻译：本发明涉及一种方法以及用于将样品（1）的分析的装置。将样品（1）可绕旋转轴线旋转，并安装在所有三个空间方向。它是由一个第一照明装置具有平行于旋转轴线的光片照射。样品（1）照射的光经由具有相交在垂直于检测装置作为剖视图的光片的平面中的光轴上的摄像透镜（7）成像。在旋转角的不同的设置记录的样品的几个截面图像，对于切片图象的一个部分，将样品（1）在所述接收和/或移动之间转动。切割记录的图像被登记，并且样品的空间图像数据的第一数据集（1）稠合。在这样的方法中，样品（1）经由第二照明装置竖直照射到旋转轴，其中，所述成像透镜（7）的至少一部分样品（1）投影为在检测装置的阴影图像，并与多个样品的阴影影像的吸收（1）并且是用于（1）接收和/或移动之间转动的阴影画像的至少一部分的样本。从所捕获的阴影画像，将样品（1）的空间图像数据的第二数据集由一个反投影算法的手段构成。

9. 发明申请

WO2009149873A1 VERFAHREN ZUM EINBETTEN EINER BIOLOGISCHEN PROBE IN EINE TRANSPARENTE MATRIX ZUR UNTERSUCHUNG MITTELS SINGLE-PLANE-ILLUMINATION-MIKROSKOPIE 审中-公开
标题翻译：方法嵌入生物样品中的一个透明的矩阵分析，使用单平面照明显微镜
公开(公告)号：WO2009149873A1
公开(公告)日：2009-12-17
申请号：PCT/EP2009/004081
申请日：2009-06-06
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , HELLMICH, Wibke , RADT, Benno , LIPPERT, Helmut , SELCHOW, Olaf , HAESE, Jürgen , WOLF, Uwe
发明人： HELLMICH, Wibke , RADT, Benno , LIPPERT, Helmut , SELCHOW, Olaf , HAESE, Jürgen , WOLF, Uwe
IPC分类号： G02B21/32 , G02B21/34
CPC分类号： G01N1/28 , G02B21/32 , G02B21/34
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Positionieren und Ausrichten einer vorzugsweise biologischen Probe (6) im Detektionsbereich des Objektivs einer mikroskopischen Anordnung. Erfindungsgemäß weist das Verfahren der vorstehend genannten Art folgende Verfahrensschritte auf : - Einbringen einer Probe in ein zunächst flüssiges transparentes Medium, vorzugsweise Agarose-Gel (5), - Überführen des Mediums vom flüssigen in den festen Zustand, wobei die Probe (6) innerhalb des Mediums fixiert wird, die Transparenz des Mediums jedoch erhalten bleibt, - Positionieren des verfestigten Mediums in der mikroskopischen Anordnung so, daß sich die darin eingeschlossene Probe (6) im Detektionsbereich des Objektivs befindet. Weiterhin wird eine Vorrichtung zum Positionieren und Ausrichten einer vorzugsweise biologischen Probe (6) im Detektionsbereich des Objektivs einer mikroskopischen Anordnung vorgeschlagen.
摘要翻译：本发明涉及一种用于定位和对准在显微镜装置的透镜的检测范围的优选的生物样品（6）的方法。根据本发明，上述类型的方法的以下方法步骤： - 将试样导入第一液体透明介质，优选琼脂糖凝胶（5）， - 所述介质从液体转移到固态，其中所述样品（6）内的介质是固定的，所述介质的透明度，然而，被保持， - 凝固介质的定位在显微镜装置，使得封闭在其中的样品（6）位于所述透镜的检测区域。此外，用于定位和对准在显微镜装置的透镜的检测范围的优选的生物样品（6）的装置，提出了

10. 发明申请

WO2009080210A3 MIKROSKOP MIT LICHTBLATT-BELEUCHTUNG 审中-公开
公开(公告)号：WO2009080210A3
公开(公告)日：2009-07-02
申请号：PCT/EP2008/010455
申请日：2008-12-10
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , LIPPERT, Helmut , WOLLESCHENSKY, Ralf
发明人： LIPPERT, Helmut , WOLLESCHENSKY, Ralf
IPC分类号： G02B21/10 , G02B27/58 , G02B21/16
摘要： Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, umfassend ein Abbildungsobjektiv (4) zur Abbildung einer Probe (3) auf einen Detektor und Mittel zur Beleuchtung der Probe mit einem Lichtblatt (7) in der Fokusebene des Abbildungsobjektivs (4), umfassend eine kohärentes Licht abstrahlende Beleuchtungsquelle. Bei einem solchen Mikroskop umfassen die Mittel zur Beleuchtung eine Besseloptik (8, 10), die aus dem Lichtstrahl (5) mindestens zwei ebene Wellen (6) erzeugt und den ebenen Wellen (6) Ausbreitungsrichtungen vorgibt, wobei die Ausbreitungsrichtung jeder der ebenen Wellen (6) mit der Fokusebene jeweils einen spitzen Winkel einschließt, dessen Betrag für jede der ebenen Wellen (S) gleich ist, so daß die ebenen Wellen (6) in der Fokusebene konstruktiv interferieren, wodurch ein Lichtblatt (7) erzeugt wird. In ähnlicher Weise können die Mittel zur Beleuchtung auch ein optisches Element, mit dem aus dem Lichtstrahl (5) ein rotationssymmetrischer Besselstrahl erzeugt wird, zur dynamischen Erzeugung eines Lichtblatts (7) umfassen.

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