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    • 3. 发明申请
    • PRODUCTION METHOD FOR A MICROMECHANICAL COMPONENT CONSISTING OF A CARRIER AND A SEMICONDUCTOR CHIP
    • HERSTELLUNNGSVERFAHREN用于微机械组件由载体和半导体芯片的
    • WO2009149979A3
    • 2010-09-23
    • PCT/EP2009054695
    • 2009-04-21
    • BOSCH GMBH ROBERTBENZEL HUBERTHENNING FRANKSCHARPING ARMINSCHELLING CHRISTOPH
    • BENZEL HUBERTHENNING FRANKSCHARPING ARMINSCHELLING CHRISTOPH
    • B81C3/00G01L9/00
    • B81C3/001B81B2201/0264B81C2201/019G01L9/0055
    • The invention relates to a production method for a micromechanical component. The method has the following steps: provision of a first composite (W1; W1'; W1''; W1''') of a plurality of semiconductor chips (SC1, SC2, SC3; SC2''; SC1''', SC2'''; SC3'''); provision of a second composite (W2; W2') of a corresponding plurality of carrier substrates (SS1, SS2, SS3; SS1''', SS2''', SS3'''); printing of a structured adhesion promoter layer (SG) onto the first front surface (V1; V1'; V1''; V1''') and/or the second front surface (V2; V2'''), said layer having degassing channels (SK, KG); connection of the first front surface (V1; V1'; V1''; V1''') to the second front surface (V2; V2''') by means of the structured adhesion promoter layer (SG) by the application of pressure, in such a way that each semiconductor chip (SC1, SC2,SC3; SC2''; SC1''', SC2'''; SC3''') is connected to a corresponding carrier substrate (SS1, SS2, SS3; SS1''',SS2''', SS3''') corresponding to a respective micromechanical component, permitting a gas in the ambient atmosphere to escape to the exterior through the degassing channels (SK, KG).
    • 本发明提供了一种用于制造微机械部件的方法。 该方法包括以下步骤:提供一个第一网络(W1,W1 'W1' '; W1' '') “; '”,SC2' SC1” 的多个半导体芯片(SC1,SC2,SC3,SC2的'; SC3 “ ';提供第二复合物(W2)W2' 的相应的多个载体衬底(SS1,SS2,SS3的); SS1 '' 'SS2' '',SS3 ''');(印刷图案化的粘合促进层SG)上 包括其中Ausgasungskanäle(SK,KG)(V1,V1 'V1',V1' ''),所述第一前表面( '' 和/或第二前表面V2 V2“);将所述第一前表面( V1; V1 'V1',V1' '')和第二前表面(V2; V2 ''“)通过所述结构化粘合剂层SG)(下施加压力,使得每个半导体芯片(SC1,SC2,SC3; SC2“; SC1 '' 'SC2' '' - SC3 '' ')(与相应的载体衬底SS1,SS2,SS3; SS1' '',SS2 ''',SS3' '')对应于相应的mikromec hanischen装置连接,其特征在于,一个气体通过Ausgasungskanäle(SK,KG)周围大气可以逸出到外部。
    • 4. 发明申请
    • SENSOR
    • WO02082096A3
    • 2003-05-08
    • PCT/DE0200621
    • 2002-02-20
    • BOSCH GMBH ROBERTFRANZ JOCHENKOHN OLIVERHENNING FRANKMAUTE MATTHIAS
    • FRANZ JOCHENKOHN OLIVERHENNING FRANKMAUTE MATTHIAS
    • G01P15/02B81B3/00G01P15/08G01P15/125H01L29/84B81B7/00
    • B81B3/0051B81B2201/0235B81B2203/051G01P15/08G01P15/125G01P2015/0817G01P2015/0831
    • The invention relates to a sensor whose sensor structure is realized in a micromechanical component and which has parts that can move in relation to the stationary substrate of the component. The sensor comprises at the least the following: a self-supporting seismic mass (1); a spring arrangement with at least one spring (2), whereby the seismic mass (1) is joined to the substrate via the spring arrangement; an overload protection for limiting the displacement of the spring arrangement or of the seismic mass (1) in at least one direction, and; means for detecting the displacements of the spring arrangement or of the seismic mass (1). According to the invention, constructive measures with which the striking forces can be reduced in order to prevent shell blowouts and thus resulting pre-damages to the sensor structure as well as to prevent a formation of particles. To this end, the overload protection is provided in the form of at least one flat stop (3) for at least one moving part of the sensor structure. Alternatively or complementary thereto, the overload protection is provided in the form of at least one elastic stop (7) for at least one moving part of the sensor structure.
    • 用于传感器,其传感器结构在微机械部件和相对部件的固定基板包括移动部件,并且还包括至少实现:自支撑振动质量(1),具有至少一个弹簧(2)弹簧装置,其中,所述地震 是质量(1)通过连接到衬底,用于限制所述弹簧装置的偏转和震动块(1)的过载的保护,在至少一个方向和弹簧组件用于感测所述弹簧装置的偏转和振动质量的(1) 利用该止动力可以减小,从而防止贻贝暴发提出的结构措施引起了传感器结构的初始损伤和颗粒形成。 为了这个目的,作为一个过载保护根据至少在传感器结构中的至少一个可移动部分的平面止动件(3)提供了本发明。 或者或另外,作为过载保护根据至少一个弹性止动件(7),用于至少在传感器结构的可移动部分提供了本发明。
    • 5. 发明申请
    • PRODUCTION METHOD FOR A MICROMECHANICAL COMPONENT, CORRESPONDING COMPOSITE COMPONENT AND CORRESPONDING MICROMECHANICAL COMPONENT
    • 对于微机械部件,这样的部件复合材料和相应的微机械结构制作工艺
    • WO2009149979A2
    • 2009-12-17
    • PCT/EP2009054695
    • 2009-04-21
    • BOSCH GMBH ROBERTBENZEL HUBERTHENNING FRANKSCHARPING ARMINSCHELLING CHRISTOPH
    • BENZEL HUBERTHENNING FRANKSCHARPING ARMINSCHELLING CHRISTOPH
    • B81C1/00
    • B81C3/001B81B2201/0264B81C2201/019G01L9/0055
    • The invention relates to a production method for a micromechanical component, to a corresponding composite component and to a corresponding micromechanical component. The method has the following steps: provision of a first composite (W1; W1'; W1''; W1''') of a plurality of semiconductor chips (SC1, SC2, SC3; SC2''; SC1''', SC2'''; SC3'''), the first composite having a first front surface (V1; V1'; V1''; V1''') and a first rear surface (R1; R1'; R1''; R1'''); provision of a second composite (W2; W2') of a corresponding plurality of carrier substrates (SS1, SS2, SS3; SS1''', SS2''', SS3'''), the second composite having a second front surface (V2; V2''') and a second rear surface (R2; R2'''); printing of a structured adhesion promoter layer (SG) onto the first front surface (V1; V1'; V1''; V1''') and/or the second front surface (V2; V2'''), said layer having degassing channels (SK, KG); alignment of the first front surface (V1; V1'; V1''; V1''') and the second front surface (V2; V2''') corresponding to a plurality of micromechanical components, each having a semiconductor chip (SC1, SC2, SC3; SC2''; SC1''', SC2'''; SC3''') and a corresponding carrier substrate (SS1, SS2, SS3; SS1''', SS2''', SS3'''); connection of the first front surface (V1; V1'; V1''; V1''') and the second front surface (V2; V2''') by means of the structured adhesion promoter layer (SG) by the application of pressure, in such a way that each semiconductor chip (SC1, SC2,SC3; SC2''; SC1''', SC2'''; SC3''') is connected to a corresponding carrier substrate (SS1, SS2, SS3; SS1''',SS2''', SS3''') corresponding to a micromechanical component, permitting a gas in the ambient atmosphere to escape to the exterior through the degassing channels (SK, KG); and separation of the micromechanical components.
    • 本发明提供了一种用于微机械部件,相应的装置和相应的复合微机械部件的制造方法。 该方法包括以下步骤:提供一个第一网络(W1,W1 'W1' '; W1' '') '的多个半导体芯片(SC1,SC2,SC3,SC2的'; SC1 ''”,SC2' '' ; SC3 '' '),所述第一复合材料的第一前表面(V1,V1'; '; V1' V1 '' ')和第一后表面(R1; R1',R1',R1 ''“) 包括: 提供第二复合物; '(; '',SS2 ''”,SS3' '' 的相应的多个载体基质SS1,SS2,SS3 SS1)的(W2 W2)',其中所述第二化合物,第二前表面(V2; V2 '' ')和第二后表面(R2; R2' 包括 ''); 印刷图案化的粘合促进层(SG)的第一前表面( '; V1' V1 V1 'V1' '')和/或第二前表面(V2; V2 '''),其Ausgasungskanäle(SK,KG) 包括: 对准第一前表面(“; V1” V1 V1“ V1' ‘’);对应于多个微机械装置,每个具有一个半导体芯片(SC1,SC2,SC3和第二前表面(V2‘’” V2) ; '; SC3'; SC2 '' SC1 '' 'SC2' '' ')和对应的支撑基板(SS1,SS2,SS3; SS1' '' 有,连接 ')',SS2 ''',SS3' 第一前表面(“; V1” V1 V1“ V1' ‘’)和第二前表面(V2; V2‘’”)在与压力,使得每一个半导体芯片的应用图案化的粘合促进层(SG)(SC1, SC2,SC3,SC2 ''; SC1 ''; SC3 '' ')与相应的载体基板(SS1,SS2,SS3,' 'SC2' '对应于SS1' ')',SS2 ''',SS3' '' 被连接到相应的微型机械装置,其特征在于,一个气体通过Ausgasungskanäle(SK,KG)周围大气可以逸出到外部,和微机械部件的分离。
    • 7. 发明专利
    • Verfahren zur Beschichtung einer Oberfläche
    • DE10355038B4
    • 2022-09-08
    • DE10355038
    • 2003-11-25
    • BOSCH GMBH ROBERT
    • HENNING FRANKMÜLLER LUTZSÄTTLER MICHAEL
    • C23C16/24C23C16/30C23C16/56
    • Verfahren zur Herstellung einer Schicht (140) auf einer Oberfläche (141), wobei die Schicht (140) antihaftende Eigenschaften aufweist und wobei die Oberfläche (141) in Form einer mikromechanischen Struktur ausgeführt ist und zur Beschichtung einem Silan ausgesetzt wird, dadurch gekennzeichnet, dass als Silan eine Verbindung oder eine Mischung von Verbindungen aus einer Gruppe von Verbindungen der allgemeinen FormelR1R2-SiX2, wobei X für Fluor, Brom, einen Alkoxyrest oder einen Acetoxyrest steht, R1ein unfluorierter Alkylrest mit mehr als 2 Kohlenstoffatomen, ein Allylrest oder ein mindestens einen Aromaten beinhaltender Rest ist und R2ein unfluorierter Alkyl-oder ein Allylrest ist, oderR1-SiX3, wobei X für Chlor steht und R1ein mindestens einen Aromaten beinhaltender Rest oder ein chlorierter Alkylrest ist, oderR1R2-SiX2, wobei X für Chlor steht und R1ein mindestens einen Aromaten beinhaltender Rest oder ein chlorierter Alkylrest ist und R2ein Alkyl-oder ein Allylrest ist oderR1R2-SiX2, wobei X für Fluor, Brom, einen Alkoxyrest mit mehr als 2 Kohlenstoffatomen oder einen Acetoxyrest steht und wobei R1kein fluorierter Alkylrest, kein Methylrest und kein Phenylrest ist und R2ein unfluorierter Alkyl- oder ein Allylrest ist oderR1R2R3-SiX, wobei X für Fluor, Brom, lod, einen Alkoxyrest oder einen Acetoxyrest steht und R1, R2, R3kein Wasserstoff und kein fluorierter Alkylrest ist, oderdass als Silan eine Verbindung oder eine Mischung von Verbindungen aus der Gruppe13-(Trichlorsilylmethyl)-Heptacosan, 11-(Trichlorsilylmethyl)-Heptacosan, Hexadecyltrichlorsilan, Methyltriethoxysilan, Methyltriacetoxysilan, Isopropyltrichlorsilan, Dimethyldichlorsilan, silylierte Amine, phenylgruppenhaltige Silazane, 1,3-Divinyltetramethyldisilazan, 1,1,3,3,5,5 Hexamethylcyclotrisilazan, , Trimethylpentaphenyltrisiloxane DC 705, N,O-Bis(trimethylsilyl)acetamide, N,O-Bis(trimethylsilyl)trifluoracetamid, N-Methyl-Ntrimethylsilyltrifluoracetamid, N,O-Bis(trimethylsilyl)carbamat,verwendet wird, wobei das Silan mittels eines CVD-Verfahrens aus der Gasphase abgeschieden wird, in einem separaten Schritt überschüssiges Silan durch Abpumpen entfernt wird und nachfolgend das abgeschiedene Silan durch Zugabe von Wasserdampf vollständig hydrolisiert wird.