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1. 发明专利

JP2014228393A 隙間測定装置审中-公开
标题翻译： GAP测量装置
公开(公告)号：JP2014228393A
公开(公告)日：2014-12-08
申请号：JP2013108223
申请日：2013-05-22
申请人：株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ , Harmonic Drive Syst Ind Co Ltd , 清野慧 , Satoshi Kiyono , 慧清野
发明人： HIRABAYASHI HIDEKI , HANAOKA HIROTAKE , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B11/24
CPC分类号： G01B11/14 , G01B11/08 , G01B11/105
摘要：【課題】広がりのある隙間の特定の点からの光を、マスクを使わずに受光可能な隙間測定装置を提案すること。【解決手段】隙間測定装置1は、測定対象の隙間3を照射する光源5と、隙間3の透過光による隙間像3Aを結像面7に結像させるレンズ光学系6と、レンズ光学系6の結像面7上に形成される隙間像3Aを受光する受光素子9とを有している。結像面7上には、所定口径の光通過用の穴8aを備えた穴付きマスク8が配置され、受光素子9は穴8aを介して隙間像3Aを受光する。広がりのある隙間の像を、レンズ光学系6で結像させ、当該レンズ光学系6の結像面7上において測定したい点に穴付きマスク8の穴8aを置くことで、隙間3における測定対象の点の隙間寸法を測定できる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够在不使用任何掩模的情况下接收来自延伸间隙中的特定点的光的间隙测量装置。解决方案：间隙测量装置1具有照射要测量的间隙3的光源5 ，形成由间隙3透射的光的间隙图像3A形成在图像形成面7上的透镜光学系统6，以及接收形成在图像形成面7上的间隙图像3A的光接收元件9 透镜光学系统6.在图像形成面7上设置有具有用于进行光通过的规定孔的孔8a的带孔掩模8，并且光接收元件9经由孔8a接收间隙图像3A。通过透镜光学系统6形成延伸间隙的图像，并且将孔眼8的孔8a放置在透镜光学系统6的图像形成面7上的待测点上，可以测量在间隙3中要测量的点的间隙尺寸。

2. 发明专利

JP2010156630A Method of optically measuring shape-position, and tool for forming gap 有权
标题翻译：光学测量方法和形成GAP的工具
公开(公告)号：JP2010156630A
公开(公告)日：2010-07-15
申请号：JP2008335717
申请日：2008-12-29
申请人： Harmonic Drive Syst Ind Co Ltd , Satoshi Kiyono , 株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ , 慧清野
发明人： KANEKO NAOKI , HANAOKA HIROTAKE , YAMAZAKI HIROSHI , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B11/24 , G01B11/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To propose a method of optically measuring shapes-positions capable of precisely measuring the contour shapes and positions of target objects by detecting transmission light images of light through gaps.
SOLUTION: A planar tool 4 for forming gaps is prepared, which includes a recessed end face 3 a size larger than an ideal contour shape of a projection 1 of a tool 2. An end face 5 of an arc-shaped recessed contour is formed at the deepest section of the end face 3. The projection 1 is allowed to enter the end face 3 and is allowed to approach gradually while observing the width of a gap 6 between the end face 3 and a contour shape portion of the projection 1; the approach is stopped when the width of the gap 6 reaches a dimension of Δ1, and a gap 7 wider than the gap 6 is formed locally between the end face 5 and a tip section 1a. A light source 8 is disposed at one side in a thickness direction of the tool 2 and the tool 4 for forming a gap for applying measurement light to the gap 7, and a transmission light image of light through the gap 7 is detected by a light receiving device 9, such as a CCD camera, disposed at the other side. The actual contour shape and position of the tip section 1a having a minute radius of curvature can be grasped clearly from the transmission light image.
COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提出一种通过检测通过间隙的透射光图像来光学测量形状位置的方法，其能够精确地测量目标对象的轮廓形状和位置。解决方案：制备用于形成间隙的平面工具4，其包括大于工具2的突起1的理想轮廓形状的凹入端面3。圆弧形凹形轮廓的端面5 形成在端面3的最深部分。允许突起1进入端面3，并且在观察端面3与突出部的轮廓形状部分之间的间隙6的宽度的同时逐渐接近 1; 当间隙6的宽度达到Δ1的尺寸时停止接近，并且在端面5和尖端部1a之间局部形成有比间隙6宽的间隙7。光源8设置在工具2的厚度方向的一侧和用于形成用于向间隙7施加测量光的间隙的工具4，并且通过光检测通过间隙7的光的透射光图像接收装置9，例如CCD相机，设置在另一侧。可以从透射光图像清楚地掌握具有微小曲率半径的尖端部分1a的实际轮廓形状和位置。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

3. 发明专利

JP2009098092A Relative height detector 审中-公开
标题翻译：相对高度检测器
公开(公告)号：JP2009098092A
公开(公告)日：2009-05-07
申请号：JP2007272296
申请日：2007-10-19
申请人： Harmonic Drive Syst Ind Co Ltd , Satoshi Kiyono , 株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ , 慧清野
发明人： HANAOKA HIROTAKE , YAMAZAKI HIROSHI , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B5/02 , G01B21/22
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To propose a relative height detector capable of detecting the relative height among two or three projecting points with a simple structure.
SOLUTION: The relative height detector 1 comprises inclination display plates 2, which are mounted on spheres a, b as measurement objects mounted on a reference plane 5a in the point contact state. Angle sensors 3 are built in the inclination display plates 2, and the inclination angles of the inclination display plates 2 in inclination posture corresponding to the height difference of the spheres a, b are measured by the angle sensors 3. An arithmetic unit 4 detects the height difference of the spheres a, b based on the inclination angle θx and the known distance L1 between the spheres a, b. Since the minute height difference of the spheres a, b is indicated as a comparatively large inclination angle of the inclination display plates 2, the height difference between the spheres a, b can be detected with high resolution based on the inclination angle.
COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提出一种能够以简单结构检测两个或三个突出点之间的相对高度的相对高度检测器。解决方案：相对高度检测器1包括倾斜显示板2，它们以安装在点接触状态的参考平面5a上的测量对象安装在球体a，b上。角度传感器3内置在倾斜显示板2中，倾斜显示板2的倾斜姿态对应于球体a，b的高度差的倾斜角度由角度传感器3测量。运算单元4检测基于倾斜角θx和球体a，b之间的已知距离L1，球体a，b的高度差。由于球体a，b的微小高度差被表示为倾斜显示板2的相对大的倾斜角度，因此可以基于倾斜角以高分辨率检测球体a，b之间的高度差。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

4. 发明专利

JP2013104788A Autonomous calibration method of angle detector, angle detector, circumferential scale calibration device, and calibration device of angle detector 有权
标题翻译：角度检测器，角度检测器，圆周校准校准装置的自动校准方法和角度检测器的校准装置
公开(公告)号：JP2013104788A
公开(公告)日：2013-05-30
申请号：JP2011249053
申请日：2011-11-14
申请人： Harmonic Drive Syst Ind Co Ltd , 株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ , Satoshi Kiyono , 慧清野
发明人： YAMAZAKI HIROSHI , HANAOKA HIROTAKE , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01D5/244
CPC分类号： G01D5/24452
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an autonomous calibration method of an angle detector, which is capable of accurately calculating a scale error in each angular position of one rotation by employing a sequential two-points method.SOLUTION: In the autonomous calibration method of an angle detector, a first scale reading head 11 and a second scale reading head 12 are arranged at an angular interval α which does not equally divide one rotation by an integer but equally divides a plurality of rotations N by an integer M, and readings of the first and second scale reading heads 11 and 12 during N rotations of divided circles are taken into a data reader 13 at preliminarily determined data sampling intervals. The data reader 13 generates data based on a sequential two-points method, which is obtained at the data sampling intervals and relates to an angle scale error of the divided circles 4 and 5, from the difference between readings of the first and second scale reading heads 11 and 12, and the fact that an average of data during the plurality of rotations N is zero is utilized to obtain a scale error (calibration value) of the divided circles 4 and 5 by combining data.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种角度检测器的自主校准方法，其能够通过采用顺序两点法精确地计算一个旋转的每个角位置的刻度误差。解决方案：在角度检测器的自主校准方法中，第一刻度读取头11和第二刻度读取头12以不等于一个旋转除以整数但是将多个等分除数的角度间隔α布置的旋转数N乘以整数M，并且在分割圆圈的N个旋转期间的第一和第二刻度读数头11和12的读数以预先确定的数据采样间隔被带入数据读取器13。数据读取器13基于以数据采样间隔获得的顺序二点方法生成数据，并且与第一和第二刻度读数之间的读数之差与分割圆圈4,5的角度比例误差有关磁头11和12以及多个旋转N中的数据的平均值为零的事实被利用以通过组合数据来获得划分的圆圈4和5的刻度误差（校准值）。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

5. 发明专利

JP2009229312A Contour shape measuring method 有权
标题翻译：轮廓形状测量方法
公开(公告)号：JP2009229312A
公开(公告)日：2009-10-08
申请号：JP2008076603
申请日：2008-03-24
申请人： Harmonic Drive Syst Ind Co Ltd , Satoshi Kiyono , 株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ , 慧清野
发明人： HANAOKA HIROTAKE , NAKAZAWA YOSHIJI , KINO MANABU , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B11/24
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a non-contact measuring method for accurately and efficiently measuring gear teeth shapes, screw shapes, teeth shapes, pitches of a screw or the like.
SOLUTION: The contour shape measuring method includes: preparing a compensating object 2 provided with a compensating contour shape 2a making a gap 3 with regular intervals along an ideal contour shape of a contour shape of an object to be measured 1; reading change of the gap 3 being a deviation from the ideal contour shape of the object to be measured 1 as change of a passing light amount of light irradiated on a measuring point P1 of the gap 3 from a light source 4 in a light receiving device 5; and enhancing measurement resolution of the contour shape up to a limit of resolution concerning light intensity change having a light receiving element of high precision independently of an optical limit concerning image resolution seen in a conventional contour projector.
COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于准确有效地测量齿轮形状，螺钉形状，齿形，螺杆等间距的非接触式测量方法。轮廓形状测量方法包括：准备具有补偿轮廓形状2a的补偿对象2，沿着待测对象物1的轮廓形状的理想轮廓形状形成具有规则间隔的间隙3; 读取距离待测物体1的理想轮廓形状的间隙3的变化，作为在光接收装置中从光源4照射在间隙3的测量点P1上的光的通过光量的变化 5; 并且提高轮廓形状的测量分辨率，直到达到关于具有高精度的光接收元件的光强度变化的分辨率极限，而与常规轮廓投影仪中所见的关于图像分辨率的光学限制无关。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

6. 发明专利

JP2014200901A 加工装置有权
标题翻译：加工设备
公开(公告)号：JP2014200901A
公开(公告)日：2014-10-27
申请号：JP2013081101
申请日：2013-04-09
申请人：尚一島田 , Shoichi Shimada , 尚一島田 , 宇田豊 , Yutaka Uda , 豊宇田 , 清野慧 , Satoshi Kiyono , 慧清野 , 株式会社ナガセインテグレックス , Nagase Integrex Co Ltd
发明人： SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI , GO YASUYUKI
IPC分类号： B24B37/00
摘要：【課題】駆動系のブレの影響を抑えつつ、ワークの表面を高精度にラッピング加工できる加工装置を提供する。【解決手段】ワークWの移動時に、ラッピングヘッド4は、ワークWの被加工面WPに倣って保持部3に対して揺動し、このとき被加工面WPの相対的に高い部位には研磨パッド4a、4b、4cのいずれかが強く当たり研磨圧が高まり、相対的に低い部位には研磨パッド4a、4b、4cのいずれかが弱く当たり研磨圧が低くなる。このように被加工面WPの研磨量を局所的に調整することができるから、被加工面WPに対して繰り返し加工することで、駆動系のブレ等にかかわらず、高精度な平面形状にラッピング加工できる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够以高精度研磨工件表面的处理装置，同时减少驱动系统的模糊的影响。解决方案：当工件W移动时，研磨头4相对于保持件滑动此时，抛光垫4a，4b和4c中的任一个强烈地撞击处理过的表面WP的较高部分以增加抛光压力，并且任何抛光垫4a， 4b和4c对处理表面的相对低的部分较弱地击打以降低抛光压力。由此，能够对处理后的表面WP的研磨量进行局部调整，而不管驱动系统的模糊等等，处理后的表面WP能够被重复处理成高精度的扁平形状。

7. 发明专利

JP2014200900A 加工装置有权
标题翻译：加工设备
公开(公告)号：JP2014200900A
公开(公告)日：2014-10-27
申请号：JP2013081100
申请日：2013-04-09
申请人：尚一島田 , Shoichi Shimada , 尚一島田 , 宇田豊 , Yutaka Uda , 豊宇田 , 清野慧 , Satoshi Kiyono , 慧清野 , 株式会社ナガセインテグレックス , Nagase Integrex Co Ltd
发明人： SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI , GO YASUYUKI
IPC分类号： B24B37/27 , B24B37/02
摘要：【課題】簡素な加工装置を用いて、円筒状のワークに対して高精度にラッピング加工を行える加工装置を提供する。【解決手段】モータ2を回転させることで、チャック3とともにワークWが回転し、静止している研磨パッド8がワークWの外周面を研磨する。このとき、フレーム4は、ワイヤ5により吊り下げ保持されているので、ワークWの軸線直交方向に移動可能である。従って、チャック3に回転振れが生じた場合には、コイルバネ7を介してフレーム4が力を受けて、ワークWの軸線直交方向に移動し、フレーム4の中心は、常にワークWの軸線直交断面形状の基礎円中心に来るので、回転振れによって研磨量が局所的に増減することを抑制できる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种简单构造的处理装置，其可以高精度地进行圆柱形工件的研磨处理。解决方案：通过马达2的旋转，工件W与卡盘3一起旋转，研磨垫8静止磨损工件W的外周面。此时，由于框架4被电线5悬挂和保持，工件W能够在与工件W的轴线正交的方向上移动。因此，当卡盘3发生旋转振动时，框架4通过螺旋弹簧7接收力并且沿与工件W的轴线正交的方向移动，并且框架4的中心总是位于基圆与工件W的轴线正交的截面形状，从而防止由于旋转振动引起的磨损量的局部增加或减少。

8. 发明专利

JP2014013226A Calibration method of interference shape measurement mechanism 有权
标题翻译：干涉形状测量机制的校准方法
公开(公告)号：JP2014013226A
公开(公告)日：2014-01-23
申请号：JP2012187134
申请日：2012-08-28
申请人： Satoshi Kiyono , 慧清野
发明人： KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B11/24 , G01B9/02
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a novel calibration method of an interference shape measurement machine not using a three-surface aligning method, capable of highly accurately measuring a straight shape by the interference shape measurement machine and measuring a surface shape by using the result.SOLUTION: A systematic error of an interference shape measurement mechanism and an unknown shape error of a measured object are separated in two directions to obtain two straight shape data. Such calibrated straight shape data groups are associated with each other to constitute a surface, and calibration as a surface is completed.
摘要翻译：要解决的问题：为了提供不使用三面对准方法的干涉形状测量机的新颖的校准方法，能够通过干涉测量机高精度地测量直线形状并且通过使用该结果来测量表面形状。解决方案：测量对象的干涉形状测量机构和未知形状误差的系统误差在两个方向上分离，以获得两个直形数据。这种校准的直形数据组彼此相关联以构成表面，并且完成了作为表面的校准。

9. 发明专利

JP2010197350A Sensor holder and sensor support device 有权
标题翻译：传感器支架和传感器支持装置
公开(公告)号：JP2010197350A
公开(公告)日：2010-09-09
申请号：JP2009045788
申请日：2009-02-27
申请人： Satoshi Kiyono , Nagase Integrex Co Ltd , Shoichi Shimada , Yutaka Uda , 豊宇田 , 尚一島田 , 株式会社ナガセインテグレックス , 慧清野
发明人： YAMAGUCHI MASAO , GO YASUYUKI , SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B21/00 , G01B21/30
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress displacement of a vertical direction in three sensors attached to a rod-like sensor holder. SOLUTION: Since a deflection quantity of the sensor holder SH is calculated by considering a concentrated mass and a distribution mass of a beam of two-point support when the sensors SS1-SS3 are fixed in previously determined holes HL1-HL3 to direct a direction of a detection axis to a vertical direction, the displacement of the vertical direction of the sensors SS1-SS3 is zero only by arranging the sensors SS1-SS3 in the holes HL1-HL3 since a position where deflections due to gravity of fixed positions of the three sensors SS1-SS3 are equal is determined. Thereby accurate measurement is enabled. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：抑制安装在棒状传感器保持器上的三个传感器中的垂直方向的位移。解决方案：由于当传感器SS1-SS3固定在预先确定的孔HL1-HL3中时，通过考虑两点支撑梁的集中质量和分布质量来计算传感器支架SH的偏转量，以引导检测轴向垂直方向的方向，传感器SS1-SS3的垂直方向的位移仅通过将传感器SS1-SS3布置在孔HL1-HL3中，因为由于固定位置的重力引起的偏移的位置确定三个传感器SS1-SS3相等。从而能够进行准确的测量。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

10. 发明专利

JP2010066139A Level 有权
标题翻译：水平
公开(公告)号：JP2010066139A
公开(公告)日：2010-03-25
申请号：JP2008232999
申请日：2008-09-11
申请人： Satoshi Kiyono , Obishi Keiki Seisakusho:Kk , 株式会社大菱計器製作所 , 慧清野
发明人： KIYONO SATOSHI , SHIMAZU KATSUYOSHI
IPC分类号： G01C9/12 , G01C9/06
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a new principle and a new structure for building a level which is small in sized, light in weight, high in accuracy, and can quickly response, and to provide the level which has performance required by an industrial world. SOLUTION: The level includes a support frame LW which is not changed in shape according to the direction of gravity, nor changed in the direction, a pendulum W which is suspended from the support frame LW by a wire rod FS and changed in posture according to the direction of gravity, an angle detecting plane on which a light beam from a light source OPS fixed to the support frame LW is made incident and fixed on the pendulum W, and light receiving parts PD1 and PD2 which receive light beam from the light source OPS reflected on or transmitted through the angle detecting plane. The relative change in the postures of the pendulum W and the support frame LW is detected. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一个新的原理和新的结构，用于建立一个体积小，重量轻，精度高，可以快速响应的水平，并提供具有所需性能的水平一个工业世界。解决方案：该液位包括一根根据重力方向不变形的支撑框架LW，也不改变方向，摆杆W由线材FS悬挂在支撑框架LW上并改变根据重力方向的姿势，将固定在支撑框架LW上的来自光源OPS的光束入射并固定在摆动W上的角度检测平面，以及从该光接收部PD1和PD2接收来自光源OPS在角度检测平面上反射或透射。检测摆W和支架LW的姿势的相对变化。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

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