专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP2014200901A 加工装置有权
标题翻译：加工设备
公开(公告)号：JP2014200901A
公开(公告)日：2014-10-27
申请号：JP2013081101
申请日：2013-04-09
申请人：尚一島田 , Shoichi Shimada , 尚一島田 , 宇田豊 , Yutaka Uda , 豊宇田 , 清野慧 , Satoshi Kiyono , 慧清野 , 株式会社ナガセインテグレックス , Nagase Integrex Co Ltd
发明人： SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI , GO YASUYUKI
IPC分类号： B24B37/00
摘要：【課題】駆動系のブレの影響を抑えつつ、ワークの表面を高精度にラッピング加工できる加工装置を提供する。【解決手段】ワークWの移動時に、ラッピングヘッド4は、ワークWの被加工面WPに倣って保持部3に対して揺動し、このとき被加工面WPの相対的に高い部位には研磨パッド4a、4b、4cのいずれかが強く当たり研磨圧が高まり、相対的に低い部位には研磨パッド4a、4b、4cのいずれかが弱く当たり研磨圧が低くなる。このように被加工面WPの研磨量を局所的に調整することができるから、被加工面WPに対して繰り返し加工することで、駆動系のブレ等にかかわらず、高精度な平面形状にラッピング加工できる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够以高精度研磨工件表面的处理装置，同时减少驱动系统的模糊的影响。解决方案：当工件W移动时，研磨头4相对于保持件滑动此时，抛光垫4a，4b和4c中的任一个强烈地撞击处理过的表面WP的较高部分以增加抛光压力，并且任何抛光垫4a， 4b和4c对处理表面的相对低的部分较弱地击打以降低抛光压力。由此，能够对处理后的表面WP的研磨量进行局部调整，而不管驱动系统的模糊等等，处理后的表面WP能够被重复处理成高精度的扁平形状。

2. 发明专利

JP2014200900A 加工装置有权
标题翻译：加工设备
公开(公告)号：JP2014200900A
公开(公告)日：2014-10-27
申请号：JP2013081100
申请日：2013-04-09
申请人：尚一島田 , Shoichi Shimada , 尚一島田 , 宇田豊 , Yutaka Uda , 豊宇田 , 清野慧 , Satoshi Kiyono , 慧清野 , 株式会社ナガセインテグレックス , Nagase Integrex Co Ltd
发明人： SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI , GO YASUYUKI
IPC分类号： B24B37/27 , B24B37/02
摘要：【課題】簡素な加工装置を用いて、円筒状のワークに対して高精度にラッピング加工を行える加工装置を提供する。【解決手段】モータ2を回転させることで、チャック3とともにワークWが回転し、静止している研磨パッド8がワークWの外周面を研磨する。このとき、フレーム4は、ワイヤ5により吊り下げ保持されているので、ワークWの軸線直交方向に移動可能である。従って、チャック3に回転振れが生じた場合には、コイルバネ7を介してフレーム4が力を受けて、ワークWの軸線直交方向に移動し、フレーム4の中心は、常にワークWの軸線直交断面形状の基礎円中心に来るので、回転振れによって研磨量が局所的に増減することを抑制できる。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种简单构造的处理装置，其可以高精度地进行圆柱形工件的研磨处理。解决方案：通过马达2的旋转，工件W与卡盘3一起旋转，研磨垫8静止磨损工件W的外周面。此时，由于框架4被电线5悬挂和保持，工件W能够在与工件W的轴线正交的方向上移动。因此，当卡盘3发生旋转振动时，框架4通过螺旋弹簧7接收力并且沿与工件W的轴线正交的方向移动，并且框架4的中心总是位于基圆与工件W的轴线正交的截面形状，从而防止由于旋转振动引起的磨损量的局部增加或减少。

3. 发明专利

JP2010197350A Sensor holder and sensor support device 有权
标题翻译：传感器支架和传感器支持装置
公开(公告)号：JP2010197350A
公开(公告)日：2010-09-09
申请号：JP2009045788
申请日：2009-02-27
申请人： Satoshi Kiyono , Nagase Integrex Co Ltd , Shoichi Shimada , Yutaka Uda , 豊宇田 , 尚一島田 , 株式会社ナガセインテグレックス , 慧清野
发明人： YAMAGUCHI MASAO , GO YASUYUKI , SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B21/00 , G01B21/30
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress displacement of a vertical direction in three sensors attached to a rod-like sensor holder. SOLUTION: Since a deflection quantity of the sensor holder SH is calculated by considering a concentrated mass and a distribution mass of a beam of two-point support when the sensors SS1-SS3 are fixed in previously determined holes HL1-HL3 to direct a direction of a detection axis to a vertical direction, the displacement of the vertical direction of the sensors SS1-SS3 is zero only by arranging the sensors SS1-SS3 in the holes HL1-HL3 since a position where deflections due to gravity of fixed positions of the three sensors SS1-SS3 are equal is determined. Thereby accurate measurement is enabled. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：抑制安装在棒状传感器保持器上的三个传感器中的垂直方向的位移。解决方案：由于当传感器SS1-SS3固定在预先确定的孔HL1-HL3中时，通过考虑两点支撑梁的集中质量和分布质量来计算传感器支架SH的偏转量，以引导检测轴向垂直方向的方向，传感器SS1-SS3的垂直方向的位移仅通过将传感器SS1-SS3布置在孔HL1-HL3中，因为由于固定位置的重力引起的偏移的位置确定三个传感器SS1-SS3相等。从而能够进行准确的测量。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

4. 发明专利

JP2010286430A Calibration device and straight shape measuring device 有权
标题翻译：校准装置和直线形状测量装置
公开(公告)号：JP2010286430A
公开(公告)日：2010-12-24
申请号：JP2009142045
申请日：2009-06-15
申请人： Satoshi Kiyono , Nagase Integrex Co Ltd , Shoichi Shimada , Yutaka Uda , 豊宇田 , 尚一島田 , 株式会社ナガセインテグレックス , 慧清野
发明人： YAMAGUCHI MASAO , GO YASUYUKI , ITATSU TAKESHI , SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B21/30
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a calibration device capable of calibrating a zero point of a three-point method probe quickly, accurately and easily, while keeping robustness to an environment of the three-point method, and to provide a straight shape measuring device.
SOLUTION: Three displacement sensors SS1-SS3 which are calibration objects are relatively fixed to disks CP1-CP3, and each circumference of the three disks CP1-CP3 is measured at a rotation angle θ=0° by using each displacement sensor SS1-SS3, to thereby determine a first measured value, and each circumference of the three disks CP1-CP3 is measured at the rotation angle θ=180° by using each displacement sensor SS1-SS3, to thereby determine a second measured value, and each displacement sensor can be calibrated based on the first measured value and the second measured value.
COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够快速，准确和容易地校准三点法测头的零点的校准装置，同时保持对三点法的环境的鲁棒性，并提供直线形状测量装置。
解决方案：作为校准对象的三个位移传感器SS1-SS3相对固定到盘CP1-CP3，并且通过使用每个位移传感器SS1以旋转角θ= 0°测量三个盘CP1-CP3的每个周长 -SS3，从而确定第一测量值，并且通过使用每个位移传感器SS1-SS3以旋转角θ= 180°测量三个盘CP1-CP3的每个周长，从而确定第二测量值，并且每个位移传感器可以基于第一测量值和第二测量值进行校准。版权所有（C）2011，JPO＆INPIT

5. 发明专利

JP2011169815A Calibration device and measuring device 有权
标题翻译：校准装置和测量装置
公开(公告)号：JP2011169815A
公开(公告)日：2011-09-01
申请号：JP2010035065
申请日：2010-02-19
申请人： Satoshi Kiyono , Shoichi Shimada , Yutaka Uda , 豊宇田 , 尚一島田 , 慧清野
发明人： SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B21/22 , G01B11/26
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a calibration device and a straight form measuring device which can rapidly, accurately and simply realize a zero point calibration of an angle two point method probe by maintaining a robustness to an environment of the angle two point method.
SOLUTION: The calibration device fixes two angle sensors SS1 to SS2 as objects to be calibrated relative to disks CP1 to CP2. At a turning angle θ=0°, inclination angles of two polygon mirrors CP1 to CP2 are measured by using the angle sensors SS1 to SS2 respectively to obtain a first measured value. At a turning angle θ=180°, inclination angles of the two polygon mirrors CP1 to CP2 are measured by using the angle sensors SS1 to SS2 to obtain a second measured value. In accordance with the first measured value and the second measured value, a zero point error of the angle sensor can be calibrated.
COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种校准装置和直形测量装置，其可以通过保持对角度两点的环境的鲁棒性来快速，准确和简单地实现角度二点法探针的零点校准方法。
解决方案：校准装置将两个角度传感器SS1至SS2固定为要相对于盘CP1至CP2进行校准的对象。在转角θ= 0°的情况下，分别使用角度传感器SS1〜SS2测定两个多面镜CP1〜CP2的倾斜角度，得到第一测定值。在转角θ= 180°时，通过使用角度传感器SS1〜SS2来测定两个多面镜CP1〜CP2的倾斜角度，得到第二测定值。根据第一测量值和第二测量值，可以校准角度传感器的零点误差。版权所有（C）2011，JPO＆INPIT

6. 发明专利

JP2013057693A Measuring device 有权
标题翻译：测量工具
公开(公告)号：JP2013057693A
公开(公告)日：2013-03-28
申请号：JP2012286552
申请日：2012-12-28
申请人： Shoichi Shimada , 尚一島田 , Yutaka Uda , 豊宇田 , Satoshi Kiyono , 慧清野
发明人： SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B11/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a position detection device capable of positioning accurately a tip of an object on a target object surface, such as a processing tool on a processing surface.SOLUTION: Light source light flux is focused on a desired position on a target object surface, and intensity change of reflected light and change of a beam direction distribution of reflected light flux which are generated when bringing a tip of an object close to the focused point are detected, and the object is brought close to the target object surface with high resolution and positioned.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种位置检测装置，其能够将目标物体表面上的物体的尖端（例如处理工具上的处理工具）精确地定位。解决方案：光源光通量聚焦在目标物体表面上的所需位置，反射光的强度变化以及使物体的尖端靠近时产生的反射光通量的光束方向分布的变化检测到聚焦点，并以高分辨率和定位使物体靠近目标物体表面。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

7. 发明专利

JP2010139306A measuring device 审中-公开
标题翻译：测量工具
公开(公告)号：JP2010139306A
公开(公告)日：2010-06-24
申请号：JP2008314274
申请日：2008-12-10
申请人： Satoshi Kiyono , Shoichi Shimada , Yutaka Uda , 豊宇田 , 尚一島田 , 慧清野
发明人： SHIMADA SHOICHI , UDA YUTAKA , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B11/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a position detection device capable of positioning accurately the tip of an object on a target object surface, such as a processing tool on a processing surface. SOLUTION: A light source light flux is focused on a desired position on the target object surface, and an intensity change of reflected light and a change of a beam direction distribution of a reflected light flux which are generated when bringing the object tip close to the focused point are detected, and the object is brought close to the target object surface with high resolution and positioned. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种位置检测装置，其能够将物体的尖端准确地定位在目标物体表面上，例如处理工具上的处理工具。解决方案：将光源光束聚焦在目标物体表面上的所需位置上，反射光的强度变化以及当使物体尖端产生的反射光束的光束方向分布的变化接近聚焦点被检测到，物体靠近目标物体表面高分辨率和定位。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

8. 发明专利

JP2014228393A 隙間測定装置审中-公开
标题翻译： GAP测量装置
公开(公告)号：JP2014228393A
公开(公告)日：2014-12-08
申请号：JP2013108223
申请日：2013-05-22
申请人：株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ , Harmonic Drive Syst Ind Co Ltd , 清野慧 , Satoshi Kiyono , 慧清野
发明人： HIRABAYASHI HIDEKI , HANAOKA HIROTAKE , KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B11/24
CPC分类号： G01B11/14 , G01B11/08 , G01B11/105
摘要：【課題】広がりのある隙間の特定の点からの光を、マスクを使わずに受光可能な隙間測定装置を提案すること。【解決手段】隙間測定装置1は、測定対象の隙間3を照射する光源5と、隙間3の透過光による隙間像3Aを結像面7に結像させるレンズ光学系6と、レンズ光学系6の結像面7上に形成される隙間像3Aを受光する受光素子9とを有している。結像面7上には、所定口径の光通過用の穴8aを備えた穴付きマスク8が配置され、受光素子9は穴8aを介して隙間像3Aを受光する。広がりのある隙間の像を、レンズ光学系6で結像させ、当該レンズ光学系6の結像面7上において測定したい点に穴付きマスク8の穴8aを置くことで、隙間3における測定対象の点の隙間寸法を測定できる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够在不使用任何掩模的情况下接收来自延伸间隙中的特定点的光的间隙测量装置。解决方案：间隙测量装置1具有照射要测量的间隙3的光源5 ，形成由间隙3透射的光的间隙图像3A形成在图像形成面7上的透镜光学系统6，以及接收形成在图像形成面7上的间隙图像3A的光接收元件9 透镜光学系统6.在图像形成面7上设置有具有用于进行光通过的规定孔的孔8a的带孔掩模8，并且光接收元件9经由孔8a接收间隙图像3A。通过透镜光学系统6形成延伸间隙的图像，并且将孔眼8的孔8a放置在透镜光学系统6的图像形成面7上的待测点上，可以测量在间隙3中要测量的点的间隙尺寸。

9. 发明专利

JP2014013226A Calibration method of interference shape measurement mechanism 有权
标题翻译：干涉形状测量机制的校准方法
公开(公告)号：JP2014013226A
公开(公告)日：2014-01-23
申请号：JP2012187134
申请日：2012-08-28
申请人： Satoshi Kiyono , 慧清野
发明人： KIYONO SATOSHI
IPC分类号： G01B11/24 , G01B9/02
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a novel calibration method of an interference shape measurement machine not using a three-surface aligning method, capable of highly accurately measuring a straight shape by the interference shape measurement machine and measuring a surface shape by using the result.SOLUTION: A systematic error of an interference shape measurement mechanism and an unknown shape error of a measured object are separated in two directions to obtain two straight shape data. Such calibrated straight shape data groups are associated with each other to constitute a surface, and calibration as a surface is completed.
摘要翻译：要解决的问题：为了提供不使用三面对准方法的干涉形状测量机的新颖的校准方法，能够通过干涉测量机高精度地测量直线形状并且通过使用该结果来测量表面形状。解决方案：测量对象的干涉形状测量机构和未知形状误差的系统误差在两个方向上分离，以获得两个直形数据。这种校准的直形数据组彼此相关联以构成表面，并且完成了作为表面的校准。

10. 发明专利

JP2010066139A Level 有权
标题翻译：水平
公开(公告)号：JP2010066139A
公开(公告)日：2010-03-25
申请号：JP2008232999
申请日：2008-09-11
申请人： Satoshi Kiyono , Obishi Keiki Seisakusho:Kk , 株式会社大菱計器製作所 , 慧清野
发明人： KIYONO SATOSHI , SHIMAZU KATSUYOSHI
IPC分类号： G01C9/12 , G01C9/06
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a new principle and a new structure for building a level which is small in sized, light in weight, high in accuracy, and can quickly response, and to provide the level which has performance required by an industrial world. SOLUTION: The level includes a support frame LW which is not changed in shape according to the direction of gravity, nor changed in the direction, a pendulum W which is suspended from the support frame LW by a wire rod FS and changed in posture according to the direction of gravity, an angle detecting plane on which a light beam from a light source OPS fixed to the support frame LW is made incident and fixed on the pendulum W, and light receiving parts PD1 and PD2 which receive light beam from the light source OPS reflected on or transmitted through the angle detecting plane. The relative change in the postures of the pendulum W and the support frame LW is detected. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一个新的原理和新的结构，用于建立一个体积小，重量轻，精度高，可以快速响应的水平，并提供具有所需性能的水平一个工业世界。解决方案：该液位包括一根根据重力方向不变形的支撑框架LW，也不改变方向，摆杆W由线材FS悬挂在支撑框架LW上并改变根据重力方向的姿势，将固定在支撑框架LW上的来自光源OPS的光束入射并固定在摆动W上的角度检测平面，以及从该光接收部PD1和PD2接收来自光源OPS在角度检测平面上反射或透射。检测摆W和支架LW的姿势的相对变化。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式