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1. 发明专利

TW201031024A 發光元件及其製造方法 LIGHT-EMITTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：发光组件及其制造方法 LIGHT-EMITTING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW201031024A
公开(公告)日：2010-08-16
申请号：TW098104423
申请日：2009-02-11
申请人：晶元光電股份有限公司
发明人：徐宸科 , 蘇文正 , 莊家銘 , 歐震
IPC分类号： H01L
CPC分类号： H01L33/22 , H01L33/0095 , H01L33/20
摘要：本發明揭示一種發光元件及其製造方法,其步驟至少包含:提供一基板,此基板具有一第一主要表面與一第二主要表面;形成複數發光疊層於上述基板之第一主要表面上;形成一蝕刻保護層於發光疊層上;以不連續性雷射於基板上形成複數不連續之孔洞;蝕刻複數不連續之孔洞;以及沿著複數不連續之孔洞劈裂基板以形成發光元件。上述發光元件之基板側壁至少包含一第一結構面與一第二結構面,其中第一結構面係一實質平整表面而第二結構面係一實質不平整表面。
简体摘要：本发明揭示一种发光组件及其制造方法,其步骤至少包含:提供一基板,此基板具有一第一主要表面与一第二主要表面;形成复数发光叠层于上述基板之第一主要表面上;形成一蚀刻保护层于发光叠层上;以不连续性激光于基板上形成复数不连续之孔洞;蚀刻复数不连续之孔洞;以及沿着复数不连续之孔洞噼裂基板以形成发光组件。上述发光组件之基板侧壁至少包含一第一结构面与一第二结构面,其中第一结构面系一实质平整表面而第二结构面系一实质不平整表面。

2. 发明专利

TWI488250B 晶粒分類裝置有权
简体标题：晶粒分类设备
公开(公告)号：TWI488250B
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：TW102106851
申请日：2009-07-23
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：徐宸科 , HSU, CHEN KE , 紀喨勝 , CHI, LIANG SHENG , 陳俊昌 , CHEN, CHUN CHANG , 蘇文正 , SU, WIN JIM , 林徐振 , LIN, HSU CHENG , 蔡美玲 , TSAI, MEI LING , 劉益龍 , LIU, YI LUNG , 歐震 , OU, CHEN
IPC分类号： H01L21/67 , B65G47/90

3. 发明专利

TW201334103A 晶粒分類裝置审中-公开
简体标题：晶粒分类设备
公开(公告)号：TW201334103A
公开(公告)日：2013-08-16
申请号：TW102106851
申请日：2009-07-23
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：徐宸科 , HSU, CHEN KE , 紀喨勝 , CHI, LIANG SHENG , 陳俊昌 , CHEN, CHUN CHANG , 蘇文正 , SU, WIN JIM , 林徐振 , LIN, HSU CHENG , 蔡美玲 , TSAI, MEI LING , 劉益龍 , LIU, YI LUNG , 歐震 , OU, CHEN
IPC分类号： H01L21/67 , B65G47/90
摘要：一種晶粒分類裝置，包含一晶粒承載部，具有一第一面以及相對於第一面之第二面；一晶圓，包含一第一晶粒貼附於第一面之第一位置；一第一晶粒接收部，具有一第三面以及相對於第三面之第四面，第三面位於第一面之對側；一施壓器，藉由施壓器施壓於第二面對應於第一位置之處，使得第一晶粒與第三面互相貼附；以及一分離器，藉由分離器減弱第一晶粒與第一面之間的貼附力。
简体摘要：一种晶粒分类设备，包含一晶粒承载部，具有一第一面以及相对于第一面之第二面；一晶圆，包含一第一晶粒贴附于第一面之第一位置；一第一晶粒接收部，具有一第三面以及相对于第三面之第四面，第三面位于第一面之对侧；一施压器，借由施压器施压于第二面对应于第一位置之处，使得第一晶粒与第三面互相贴附；以及一分离器，借由分离器减弱第一晶粒与第一面之间的贴附力。

4. 发明专利

TWI481074B 發光二極體及其製造方法有权
简体标题：发光二极管及其制造方法
公开(公告)号：TWI481074B
公开(公告)日：2015-04-11
申请号：TW098146640
申请日：2009-12-31
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：徐宸科 , HSU, CHEN KE , 余學志 , YU, HSUEH CHIH , 蘇文正 , SU, WIN JIM , 歐震 , OU, CHEN
IPC分类号： H01L33/20

5. 发明专利

TW201123332A 發光元件之缺陷檢測方法及系統 AN LED DEFECT DETECTION METHOD AND SYSTEM THEREOF 审中-公开
简体标题：发光组件之缺陷检测方法及系统 AN LED DEFECT DETECTION METHOD AND SYSTEM THEREOF
公开(公告)号：TW201123332A
公开(公告)日：2011-07-01
申请号：TW098146170
申请日：2009-12-30
申请人：晶元光電股份有限公司
发明人：歐震 , 徐宸科 , 陳俊昌 , 蘇文正 , 郭端祥
IPC分类号： H01L , G01N
摘要：一種發光元件之缺陷檢測方法，應用於檢測一待測發光元件，可利用一能階大於待測發光元件之檢測光源照射待測發光元件，以激發待測發光元件發出螢光，而當待測發光元件具有缺陷時，缺陷便會被螢光照射而顯示出來。根據以上方法之精神，本發明亦提出一種發光元件之缺陷檢測系統，包括有用以承載待測發光元件之一承載體，用以向待測發光元件發射前述檢測光源的一光源發射單元、以及一用以判斷所測得缺陷之判斷單元。
简体摘要：一种发光组件之缺陷检测方法，应用于检测一待测发光组件，可利用一能阶大于待测发光组件之检测光源照射待测发光组件，以激发待测发光组件发出萤光，而当待测发光组件具有缺陷时，缺陷便会被萤光照射而显示出来。根据以上方法之精神，本发明亦提出一种发光组件之缺陷检测系统，包括有用以承载待测发光组件之一承载体，用以向待测发光组件发射前述检测光源的一光源发射单元、以及一用以判断所测得缺陷之判断单元。

6. 发明专利

TWI470823B 發光元件及其製造方法有权
简体标题：发光组件及其制造方法
公开(公告)号：TWI470823B
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：TW098104423
申请日：2009-02-11
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：徐宸科 , HSU, CHEN KE , 蘇文正 , SU, WIN JIM , 莊家銘 , CHUANG, CHIA MING , 歐震 , OU, CHEN
IPC分类号： H01L33/00 , H01L33/22
CPC分类号： H01L33/22 , H01L33/0095 , H01L33/20

7. 发明专利

TWI435471B 發光二極體晶粒及其製法有权
简体标题：发光二极管晶粒及其制法
公开(公告)号：TWI435471B
公开(公告)日：2014-04-21
申请号：TW099139469
申请日：2010-11-16
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：歐震 , OU, CHEN , 陳俊昌 , CHEN, CHUN CHANG , 蘇文正 , SU, WIN JIM , 房蓓珊 , FANG, PEI SHAN , 李宛蓉 , LEE, WAN JUNG
IPC分类号： H01L33/00

8. 发明专利

TW201104776A 晶粒分類裝置 CHIP SORTING APPARATUS 审中-公开
简体标题：晶粒分类设备 CHIP SORTING APPARATUS
公开(公告)号：TW201104776A
公开(公告)日：2011-02-01
申请号：TW098124963
申请日：2009-07-23
申请人：晶元光電股份有限公司
发明人：徐宸科 , 紀喨勝 , 陳俊昌 , 蘇文正 , 林徐振 , 蔡美玲 , 劉益龍 , 歐震
IPC分类号： H01L , B65G
CPC分类号： H01L22/20 , H01L21/67005 , H01L21/67132 , H01L21/67271 , Y10S156/93 , Y10S156/941 , Y10T156/1111 , Y10T156/1116 , Y10T156/1158 , Y10T156/1168 , Y10T156/1179 , Y10T156/1195 , Y10T156/1917 , Y10T156/1933 , Y10T156/1983
摘要：一種晶粒分類裝置，包含一晶粒承載部，具有一第一面以及相對於第一面之第二面；一晶圓，包含一第一晶粒貼附於第一面之第一位置；一第一晶粒接收部，具有一第三面以及相對於第三面之第四面，第三面位於第一面之對側；一施壓器，藉由施壓器施壓於第二面對應於第一位置之處，使得第一晶粒與第三面互相貼附；以及一分離器，藉由分離器減弱第一晶粒與第一面之間的貼附力。
简体摘要：一种晶粒分类设备，包含一晶粒承载部，具有一第一面以及相对于第一面之第二面；一晶圆，包含一第一晶粒贴附于第一面之第一位置；一第一晶粒接收部，具有一第三面以及相对于第三面之第四面，第三面位于第一面之对侧；一施压器，借由施压器施压于第二面对应于第一位置之处，使得第一晶粒与第三面互相贴附；以及一分离器，借由分离器减弱第一晶粒与第一面之间的贴附力。

9. 发明专利

TWI411130B 發光二極體及其製造方法有权
简体标题：发光二极管及其制造方法
公开(公告)号：TWI411130B
公开(公告)日：2013-10-01
申请号：TW099101750
申请日：2010-01-21
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：徐宸科 , HSU, CHEN KE , 陳俊昌 , CHEN, CHUN CHANG , 余學志 , YU, HSUEH CHIH , 蘇文正 , SU, WIN JIM , 歐震 , OU, CHEN
IPC分类号： H01L33/00

10. 发明专利

TWI395281B 晶粒分類裝置有权
简体标题：晶粒分类设备
公开(公告)号：TWI395281B
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：TW098124963
申请日：2009-07-23
申请人：晶元光電股份有限公司 , EPISTAR CORPORATION
发明人：徐宸科 , HSU, CHEN KE , 紀喨勝 , CHI, LIANG SHENG , 陳俊昌 , CHEN, CHUN CHANG , 蘇文正 , SU, WIN JIM , 林徐振 , LIN, HSU CHENG , 蔡美玲 , TSAI, MEI LING , 劉益龍 , LIU, YI LUNG , 歐震 , OU, CHEN
IPC分类号： H01L21/67 , B65G47/90
CPC分类号： H01L22/20 , H01L21/67005 , H01L21/67132 , H01L21/67271 , Y10S156/93 , Y10S156/941 , Y10T156/1111 , Y10T156/1116 , Y10T156/1158 , Y10T156/1168 , Y10T156/1179 , Y10T156/1195 , Y10T156/1917 , Y10T156/1933 , Y10T156/1983

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